CN1014551B - 自动分析装置 - Google Patents

自动分析装置

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Abstract

有关本发明的自动分析装置的特征是,由于做成用IC卡进行自动分析装置的驱动控制和测定数据的记忆保存,故使此种自动分析装置的操作性大幅度地简化,同时装置也大幅度地小型化,且能做到低成本化,且在自动分析装置发生故障的场合也能容易且迅速地推定其。故障处所并发现故障原因。

Description

本发明涉及自动地进行生物化学分析或免疫学分析的自动分析装置。
迄今,这种自动分析装置已提出有各种方案,但在近年来的很多自动分析装置中,已使装置极其复杂化、大型化、高价格化和高速化,且因操作非常复杂,必须固定有专门的操作者,因而存在的问题是人件费用很大。
且,对于不需要作很多血液检查的地区医院或中小医院,因为没有设置已有的这种大型自动分析装置的必要性,故其现状是依靠专门血液检查中心来进行本医院所负责医疗的患者的血液检查。
因此,在没有检查装置的上述地区医院或中小医院中在必须作紧急检查的场合,就会大大感到不便,且容易产生费用上的浪费,同时在有必要作分析数据和患者血液的核对作业或再检查的场合,存在的问题是得到结果要化很多的时间。
本发明是鉴于有关现状而提出的,其目的是提供一种简易型的自动分析装置,它是小型的能适合地区医院或中小医院的需要,且操作及结构又极为简易,且价格也低廉。
为达到上述目的,本发明所提出的一种自动分析装置,它适用于对多项目进行自动分析,该装置作成使保持着多个反应容器的反应容器台反复进行旋转、停止动作,并使各反应容器依次移送到取样位置、试剂分注位置、光学测定位置及洗净位置,且在沿着上述反应容器的移送路径上的上述各位置上配有:取样机构;试剂分注机构;光学测定机构及洗净机构。这些机构都由控制装置进行驱动控 制。同时反应容器内的液体由恒温装置加热到预定温度。其特征在于,上述取样机构、试剂分注机构、光学测定机构及洗净机构等各机构由输入到起动用IC卡的与测定项目相对应的起动用情报进行起动并进行驱动控制,同时上述起动程序和由光学测定机构所测定的数据保存到存储用IC卡中。
在本发明中,IC卡由起动用IC卡和存贮用IC卡组成。其起动用IC卡上输入有可有机地操纵和控制取样移送机构、取样机构、反应容器移送机构、试剂分注机构、试剂容器移送机构、试剂分注机构、光学测定机构和洗净机构用的指令信号。而其存贮用IC卡是记忆保存用光学测定机构所测定的数据。当然也能做成用一张IC卡兼作起动用和存贮用。
且在本发明中,恒温装置在用传热体所构成的恒温浴槽的底面上将多个加热体按预定间隔分别配设,并通过温度控制装置对这些各加热体单个地进行温度控制,以达到均匀地为恒温浴槽内的液体加热。
再者,关于反应容器的顺时针方向的步进运动,例如有36个反应容器以相等的圆周间隔安放在反应容器台的圆周上,传统的作法是使反应容器台向顺时针方向间歇地转动(即步进转动)10度(360/36度),这样每个反应容器每转动一次在顺时针方向里前进一个容器的间距,也可以使其转动360n+10度(n=1,2…)。实现上述运动。
与此相反,在本发明中,为了使反应容器台向顺时针方向前进10度,按照互补原理使反应容器台向反方向(反时针方向)旋转(360-10度)350度,其结果也是使各反应容器向顺时针方向前进10度(即对应一个容器的间距)。
图1为表示有关本发明的一实施例的自动分析装置的总构成的透视图,
图2为示意地表示同一自动分析装置的构成的平面说明图,
图3为同一自动分析装置的正面图,
图4为同一自动分析装置的右侧面图,
图5为表示恒温装置的概略构成的说明图,
图6为表示温度调整块的构成的电路方块图,
图7为液体冷却装置的平面图,
图8为图7中的Ⅷ-Ⅷ线的剖面图,
图9为电子冷却单元的概略构成说明图,
图10为表示N型半导体和P型半导体的配列实例的部分放大说明图,
图11为表示N型半导体和P型半导体的另一配列实例的部分放大说明图,
图12为表示自动分析装置的控制部的电路框图,
图13为表示IC卡的一例的说明图,
图14为表示显示装置的一显示例的说明图。
以下根据在附图中所表示的一实施例,对本发明作详细地说明。
根据本实施例的简易型自动分析装置A,如图1到图4及图12所示,大体上由分析部V和控制部W所构成。
分析部V的各构成部分有:将反应容器1按预定的定时移送到试料(血清)分注位置a、第1试剂分注位置b、第二试剂分注和搅拌位置c、光学测定位置d及洗净位置e1至e4的反应容器移送装置B;定量装有要测定的检体(血清)的取样容器2;将该取样容器2直线地移送到取样吸引位置f的取样容器移送装置(未图示);定量吸入位于该位置f取样容器2内的检体并分注到上述反应容器1内的取样机构的取样吸管3;将对应于测定项目的第1试剂分注到上述反应容器1内的试剂分注机构的第1试剂用吸管4;将对应于测 定项目的第2试剂分注到上述反应容器1内的试剂分注机构的第2试剂用吸管5;和该第2试剂吸管5连动的搅拌装置(未图示);光学测定机构7;洗净机构8;和将装有上述第1试剂及第2试剂的试剂瓶9向第1试剂吸引位置g或第2试剂吸引位置h移送的试剂装置10。
另一方面,控制部W则由下列部分构成,即对应于测定项目来控制上述各装置的驱动的CPU;可读出、写入的起动用IC卡11;安放该起动用IC卡11的读写装置12;选择对应于检体号,序号及被指定的检体号或序号的分析项目的开关群13;显示装置15;起动开关16;停止开关17;复位开关18;记忆保存由光学测定机构7所得到的数据并可读出、写入的存贮用IC卡120;安放该存贮用IC卡120的读写装置121;及打印出测定结果等的打印机19。且图中符号100表示转动自由地装在装置的箱体101上的2级开关方式的盖板,且图3中的符号20表示取样泵,21表示第1试剂用泵,22表示第2试剂用泵,23表示洗净泵,图4中的符号24则表示总开关。
反应容器移送装置B一边由下述的恒温装置60将保持在反应容器台(未图示)上的多个(36个)反应容器1加温到大致为身体温度(37℃),一边将其依次以每次一个间距间歇移送到所要的位置上。其特征在于上述反应容器台做成使反应容器在与想要作间歇移送的方向(顺时针)相反的方向(反时针)上进行旋转,且每一次旋转的角度(360°-α)比上述反应容器台的转一圈的角度360°要小一个对于间歇移送所必要的角度(α),其结果是使反应容器以和上述旋转的方向相反的方向每次间歇移送1个容器,实现容器的顺时针的步进移动。该反应容器的移送机构可使用公知的脉冲马达。
取样容器2每列10个,2列共20个,被保持在取样盒30内,各列的从右面数为1号、2号、3号……10号的各容器的轴心设定成定位于上述取样吸管3的旋转轨迹上。
这样保持取样容器2的取样盒30用由公知的横向运送机构所组成的上述取样容器移送装置,将上述各取样容器2依次间歇移送到取样吸引位置f上。
取样机构的取样吸管3和公知的取样吸管的构成相同,由下列构成,即一端支承在轴31上的臂32;配设在该臂32的另一端的吸管33;与该吸管33相连接,并可定量吸引上述取样并吐出到反应容器1内的取样泵20;和以所定的定时控制上述臂32从取样吸引位置f转向取样分注位置a再向洗净位置i,并在各位置上作升降控制的驱动装置(未图示)。
该取样的计量方式为使吸入系统内充满水,在通过空气使试料和水进行隔离的状态下作吸引计量之后,只吐出试料,其后由洗净机构从内部通以洗净水来洗净吸管33的内部。在其洗净时吸管33是被放置在吸管洗净位置i上,且在该位置i还能洗净附着在该吸管33的外表面的检体。
上述恒温装置60如图5所示,由装到浸渍有反应容器1的下部的恒温浴槽(未图示)的传热体61和配设在该传热体61上形成的恒温控制装置62所构成。
恒温控制装置62,如图6所示由下列各部分构成,即检测上述传热体61各位置上的温度的多个温度检测元件63,多个发热元件64,和根据用上述温度检测元件63所检出的温度情报来控制上述发热元件64的温度控制装置65。
温度检测元件63由热敏电阻等构成,多个温度检测元件每隔一定间隔分开装在上述恒温浴槽的底部。
用各温度检测元件63所检出的温度情报,用温度-电压变换器66将其电阻值的变化变换为电压,从温度-电压变换器66来的输出被输入到控制送往发热元件64的电压、电流的温度控制装置65。且上述温度-电压变换器66的输出电压用A-D(模拟-数字)变换器 67变换为数字值,该A-D变换器67的输出及输入装置68的输出则由运算处理装置69进行处理,该运算处理后的结果则由D-A(数字-模拟)变换器67’变换为模拟值而输入到上述温度控制装置65。
又,上述发热元件64由利用电阻线的发热现象的加热器构成。且温度控制装置65是根据来自温度检测元件63的情报对各发热元件64进行接通、断开控制,从而使传热体61在各安装位置处的温度均匀。
因而在输入装置68上一旦输入有对应于设定温度的温度情报,则来自该输入装置68的输出就被输入到上述运算处理装置69,根据预定的计算式求出在各温度检测元件63上的对应电阻值(用以产生将液体加热保持在37℃所需要的热量的电阻值)。另一方面,各温度检测元件63的电阻值的变化由温度-电压变换器66变换为电压,并在由A-D变换器67变换为数字信号之后,将该数字值输入到运算处理装置69。该运算处理装置69根据在温度-电压变换器66中所决定的变换系数进行上述运算处理,其运算结果输出到D-A变换器67’,D-A变换器67’可产生比较电压。即D-A变换器67’将温度-电压变换器67’的输出电压与产生上述比较电压的D-A变换器67’的输出电压进行比较,上述温度控制装置65根据该比较情报控制供给各温度检测元件的电压电流,由此使恒温浴槽内的液体,受到均匀加热。
根据这样构成的恒温装置60,很容易使恒温浴槽内的温度分布均匀,能使检体和试剂的化学反应均衡化。
上述试剂装置10如图2和图7所示由下列各部分构成,即具有装第1试剂的室9a及装第2试剂的室9b的试剂瓶9;对装载上述试剂瓶9的台40作旋转控制并将对应于测定项目的试剂移送到第1试剂吸引位置g或第2试剂吸引位置h的瓶移送装置(未图示);在第1试剂吸引位置g处从室9a内定量吸引出对应于测试项目的 第1试剂的试剂分注机构的第1试剂用吸管4和在第2试剂吸引位置h处从室9b内定量吸引出对应于测试项目的第2试剂的试剂分注机构的第2试剂用吸管5。又,配设在上述台40上的试剂瓶9放置在预定位置上,这些位置分别存贮在控制装置CPU内。又该试剂瓶9由例如以12个容器为1套构成,在测定项目不同的场合,构成能以单次操作的方式和其他的一套进行交换。且试剂瓶9内的试剂可用液体冷却装置80冷却到10~12摄氏度。
液体冷却装置80如图7到图10所示由下列部分构成,即由形成有多个成放射状地装有上述试剂瓶9的室82的平面圆形状的保温箱83;装在该保温箱83的上方开口部上并可装上或取掉的盖体84;配设在上述保温箱83的中央筒形部分83a内的电子冷却单元85;和将上述电子冷却单元85上所产生的热气强制排向外部的风扇86。
保温箱83由隔热材料构成,在上述中央筒形部分83a的室侧上,如图8所示,形成有大致成梳齿状的散热翅片87。
盖体84和上述保温箱83相同,形成平面圆形状,在其中央部上形成有与保温箱83的中央空隙83b相连通的空隙84b,同时该空隙84b的周壁部分84a向上方凸出而形成握持部。又在该盖体84上的对应位置上设有多个开口(未图示),该开口与用来吸引装在保温箱83内的试剂瓶9内的液体的孔(未图示)相连通。
电子冷却单元85其构成基本上如图9所示,将两种不同材料所形成的N型半导体88和P型半导体89用金属81a、81b、81c分别接合起来,一旦在例如图9上的箭头方向上有直流电流从电源流出,则通过金属81a进行接合的接合部q由于吸热效应而成为低温,又,通过金属81b、81c进行接合的接合部r则由于发热效应而成为高温,而产生珀尔贴效应。
因而,如图10所示,N型半导体88和P型半导体89沿着上述 中央筒形部分83a的周边方向交替配列,这些一对的N型半导体88和P型半导体89的上述室侧用金属81a进行连接,同时各N型半导体88和P型半导体89的上述中央空隙侧上则分别将金属81b、81c连接到直流电上,故能使室侧因吸热效应而成为低温区域,而中央空隙侧则成为高温区域。
又,作为其他的N型半导体88和P型半导体89的配列方法,如图11所示,将一对的N型半导体88和P型半导体89配设在上述中央筒形部分83a的纵向上,这些一对的N型半导体88和P型半导体89的上述室侧用金属81a进行连接,同时各N型半导体88和P型半导体89的上述中央空隙侧则分别连接有金属81b、81c,以其作为一组而在沿中央筒形部分83a的周边方向上配列多组,并将这些连接到直流电上就能因吸热效应使上述室侧成为低温区域,而中央空隙侧则成为高温区域。
当然,通过使直流电流的方向反向,能使珀尔贴效应可逆,且即使用N型导体和P型导体构成上述N型半导体88和P型半导体89,也能得到同样的效果。
这样做后,由于在接合部q处产生的冷气从散热翅片87导向室82,且在接合部r处产生的热气则通过风扇86强制地排出到冷却装置之外,故能使装在上述室82内的试剂瓶9内的液体有效地冷却。
又,上述冷却温度能通过调整上述直流电流的电压自由地设定液体冷却温度。当然,也可以将在接合部r处所产生的热用作例如对检体进行预加热。
根据这样构成的液体冷却装置,就不再需要如已有的液体冷却装置那样所需的蒸发器和冷凝器及引导冷气的长的流路,能使装置大幅度地小型化,同时由于能将冷气直接送到容器内,故冷却效率也能大幅度地提高。
对应于测定项目的试剂瓶9一旦来到预定的试剂吸引位置g、h则可通过上述第1及第2试剂用吸管4、5向反应容器1内进行试剂分注。
该第1及第2试剂用吸管4及5和公知的吸管装置的构成相同,由下列各部分构成,即一端支持在轴41、51上的臂42、52;配设在该臂42、52的另一端的吸管43、53;与该吸管43、53相连通,可吸引所要数量的试剂并吐出到反应容器1内的泵21、22;和以所定的定时控制上述臂42、52从各试剂吸引位置g、h旋转到试剂分注位置b、c再到洗净位置j、k并在各位置上作升降控制的各驱动装置(未图示)。
该试剂的计量方式是将吸入系统内事先充满水,在经空气使试剂和水隔离的状态下作吸引计量之后仅吐出试剂,其后由洗净机构从内部通以洗净水来洗净吸管43、53的内部。该洗净之时,吸管43、53放置在吸管洗净位置j、k上,该吸管43、53的外表面上所附着的检体等则在同一位置j、k上被洗净。
搅拌装置没有图示,但固定在上述第2试剂用吸管5上,随着臂52的转动而进行移送,在分注第2试剂之后马上对反应容器1内的试料作气泡搅拌,其后在第2试剂用吸管5的吸管洗净位置k上与同一吸管5一起洗净。
形成检测部或观测点的光学测定机构7以衍射光栅方式构成,并由下列各部分构成,即光源70,将从该光源70所照射的测定光配列到罗兰(ロ一ランド)圆上的多个受光元件71,将在对应于测定项目的受光元件71上所受光的光量变换为电压,并对该分析值进行处理的上述控制部CPU和记忆该数据的记忆部(未图示)。当然将光学测定机构7改变为采用滤光器的波长变换方式也可适用。
故,该光学测定机构7可每20秒对从反应容器1的洗净位置e1到测定结束位置1的全部反应容器1(在图示的实施例中为35容器 分)作连续测定,可得到各反应容器1的反应时间过程。
洗净机构8是为了供再次使用而洗净光学测定作业结束后的反应容器1的内部,由公知的吸液机构和洗净水供给机构所构成。
对这样构成的自动分析装置A进行驱动控制的起动用IC卡11及保存测定数据的存贮用IC卡120分别使用公知的能读出、写入的IC卡。
如表示其一例,则如图13所示,其构成为在卡片基体110上埋设集成电路化的数据记忆装置112,并能和上述读写装置12、121作情报交换。
即,上述起动用IC卡11及存贮用IC卡120,具备有基本上埋设在上述卡片基体110上的根据从上述读写装置12、121发出的数据信号接收光信号并传送到上述数据记忆装置112的受光元件113;埋设在上述卡片基体110上、将从上述读写装置12、121输出的数据信号变换为光信号,并发送到该读写装置12、121上的发光元件114;和埋设在上述卡片基体110上、产生上述数据记忆装置112及受光元件113及发光元件114的驱动电压的驱动电源115。
且,该起动用IC卡11及存贮用IC卡120是在用聚酯、氯乙烯等的合成树脂所形成的卡片基体110的内部,在所定的位置上配设有下列部分(未图示),即构成数据记忆装置112的CPU;形成数据存贮部的集成电路;由用来接收从上述读写装置12、121来的作为光信号送出的晶体振荡信号或数据输入信号及复位信号的光晶体管所组成的多个受光元件;由用于将从上述集成电路来的数据输出信号变换为光信号且输出到读写装置12、121的由发光二极管所组成的发光元件;和水银电池等的驱动电源。
上述集成电路是用E-EPROM(电气上可擦、可编程序的只读存贮器)构成的,该存贮器不用说能读出而且在电气上能重写。对应于编成组的多个分析项目的驱动控制装置,如图14所示,例如除输 入有6个组部分的量外,还输入有使用该自动分析装置A的操作者的姓名、登记号、职务、所属单位等的各种操作情报。
该分析项目的编组可只将设置的进行所需要的分析项目适当划分为多个组而形成,且如对自动分析装置的构成等进行考虑,则最好根据分析目的进行编组,如分为GOT、GPT等的肝功能分析组,BUN、CRNN、UA等的肾功能分析组或电解质分析组等。
在此场合,在自动分析装置A的显示装置90中,如图14所示,用该起动用IC卡11能分析的编组项目的一览表与序号一起显示在显示部的左侧,而在显示部的右侧则显示分析组号和该分析组的检查内容。序号是指取样容器2的机械流水号,在自动分析装置A上所设定的取样容器数(在图示的实施例中为20容器)的序号显示在纵向。该序号的选择是通过使开关群13中的适当开关接通而实现的。另一方面,分析组号和该分析组的检查内容,例如[1]表示肝功能检查组,[3]表示肾功能检查组那样,是用来显示开关群13中的那一个开关代表那一个分析号的。
因而,现在,对序号为2的检体,如使开关群13中的开关[3]接通,则在显示部的序号[2]的横向上显示出所选择的分析项目号[3]。
然后,在对于所有的序号的分析项目的选择结束且确认作业结束后,使起动开关93接通。一旦使起动开关93接通,则分析部V的各机构根据用开关群13所选择的控制信号进行所定的分析作业,分析数据在送到CPU后,该数据用打印机19打印出来,且通过读写装置121输入到存贮器用IC卡120上进行保存。
又,在上述存贮用IC卡120上忠实地输入有通过读写装置读取的操作情报及开关群13的操作程序,且通常做成除特定的人物(例如维修要员)外,都不能从配设在自动分析装置A的机器内的上述读写装置121内取出所记忆的情报。
读写装置12、121的构成也与公知的卡片读写装置相同,如在下面对其一例进行说明,则它具有对上述存贮用IC卡120等输出控制信号用的接线端子及对于起动用IC卡11等输入输出操作情报及开关群13的操作程序用的接线端子,同时在其内部(没有图示)配设有读出器电源部分、振荡器、IC卡收发信电路、运算部分及光源而构成。
这样构成的读写装置12、121是在光学上读取被输入到上述起动用IC卡11及存贮用IC卡120的有关操作的情报,并根据该情报将自动分析装置A的开关群13设定在可使用的状态,同时将用光学测定机构7所得到的测定数据或开关群13的操作程序输入到起动IC卡11和存贮用IC卡120。
又有关本实施例的自动分析装置A作成在常态时起动用IC卡11及存贮用IC卡120仅在分别放置在读写装置12、121内的场合被设定为准备好状态,且只有作为开关群13的动作开关的上述副开关(未图示)被设定在断开状态。该副开关被设计成当起动用IC卡11及存贮用IC卡120已放到读写装置12、121的所定位置,且判断出通过读写装置12、121所读取的工作情报是适用的,且在存贮用IC卡120已有记忆输入时才将开关群13设定为可使用状态。
关于上述构成在下面说明其动作。
首先,如将输入有所定的操作情报的起动用IC卡11插入到对应于读写装置12的卡片插入口,则读写装置12从其光源对起动用IC卡11的电源部照射光,而使卡片电源部产生电动势。因此在起动用IC卡11上由上述电动势产生驱动电压,从而使起动用IC卡11内的全部的电路部分都被设定在驱动状态。
而且,记忆在上述数据存贮部内的起动用数据,将从读写装置12的振荡器输出振荡信号供给起动用IC卡11的所定的受光元件,因此起动用IC卡11的CPU开始工作,从数据存贮部读出操作情 报。从该CPU读出的数据通过所定的发光元件变换为光信号,而发送到读写装置12。发送到该读写装置12的数据,在该读写装置12中完成所要的数据处理,其后读写装置12对副开关发出开关群13的接通动作信号,同时该操作情报输入到放置在上述读写装置121内的存贮用IC卡120。
另一方面,如通过上述起动用IC卡11将上述开关群13设定在可使用状态,则操作者可操作上述开关群13输入所要的分析条件,自动分析装置A跟随着该输入的操作程序进行规定的分析处理,而根据上述开关群13的操作程序也通过上述读写装置121依次自动地输入到存贮用IC卡120。
因而,当自动分析装置A中发生故障时,维修要员可将从读写装置121内取出的存贮用IC卡120放到设置在别处的所定的读出装置内,将输入到存贮用IC卡120内的情报在阴极射线管或打印机等上打出,通过对其判读可容易且迅速地发现该自动分析装置A的故障原因。
接着,通过使上述起动开关93作接通动作,上述取样盒30将各取样容器2间歇移送到取样吸引位置f,在该取样吸引位置f处用取样吸管3进行取样的吸引作业。其后,上述取样吸管3转动并定量分注吸引到反应容器1内的取样。
当以上的作业一结束,则保持反应容器1的反应容器台向图2的逆时针方向旋转35个间距(对应于350度)而停止,其结果是该反应容器1向着图2的顺时针方向每次间歇移送1个间距。以下,反应容器1反复进行下列动作即每当进行上述的取样分注或每隔20秒即向图2的逆时针方向回转35个间距而停止。
如反应容器1通过该反应容器移送装置来到第1试剂分注位置,与其同步地控制试剂台40转动,装有对应于测定项目的第1试剂的试剂瓶9a被移动到试剂吸引位置g、定量吸引出第1试剂,并 定量分注到来到上述第1试剂分注位置b的反应容器1内。
其后,反应容器1被移送到第2试剂分注、搅拌位置c,与其相呼应,控制试剂台40转动,将装有对应于测定项目的第2试剂的试剂瓶9b移送到第2试剂吸引位置h,在同一位置h上用第2试剂用吸引管5定量吸引第2试剂并分注到上述反应容器1内,且用搅拌装置进行气泡搅拌作业。
接着,上述反应容器1通过上述反应容器移送装置B顺次移送,每当向上述图2的逆时针方向旋转35个间距即横切光学测定装置7的光束,由此进行对应于测定顶目的所定光学测定,可求出各反应容器1的反应过程。
这样做后,结束了光学测定作业的反应容器1接着被移送到洗净装置81,在进行预定的洗净处理后再次被移送到取样分注位置a。
以上情况所得到的分析值用控制部CPU进行数据处理,并在打印机19中打印出来,且输入到存贮用IC卡120。又,当在途中发生要人为中止上述分析处理的场合等时接通停止开关94,且在再次使用起动用IC卡11的场合可将复位开关95接通。
又,在上述实施例中,是取适用于无接点式的光学式卡片的场合为例对IC卡进行说明的,但本发明并不限定为这种情况,例如也能使用有接点式的IC卡。
又,在上述实施例中,举例表示的场合为用项目开关13从多个分析组中选择一个组的场合,但亦可构成只能选择GOT,GPT,ZTT等单一项目。
再者,在本发明中也可以不是用2张IC卡来进行全部操作者的情报的输入和控制信号的输入及测定数据的保存,而是做成用大容量的IC卡或磁卡来进行自动分析装置的控制及测定数据的保存。
本发明,由于如以上所说明的那样能用IC卡选择所要的分析 项目,且能通过开关的接通、断开控制来选择对检体的项目,故操作极为简便,且能将整个装置做得紧凑且简易,其结果是由于能提供故障少成本低的简易型自动分析装置,故具有能廉价地提供适合于中小医院等的要求的自动分析装置等许多优良的效果。

Claims (4)

1、一种自动分析装置,适用于对多项目进行自动分析,该装置作成使保持着多个反应容器的反应容器台反复进行旋转、停止动作,并使各反应容器依次移送到取样位置、试剂分注位置、光学测定位置及洗净位置,且在沿着上述反应容器的移送路径上的上述各位置上配置有:取样机构;试剂分注机构;光学测定机构及洗净机构,这些机构都由控制装置进行驱动控制,同时反应容器内的液体由恒温装置加热到预定温度,其特征在于:
上述取样机构、试剂分注机构、光学测定机构及洗净机构等各机构由输入到起动用IC卡的与测定项目相对应的起动用情报进行起动并进行驱动控制,同时上述起动程序和由光学测定机构所测定的数据保存到存储用IC卡中。
2、如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于上述起动用情报含有用以使自动分析装置对应于测定项目而进行起动并进行驱动控制所必要的信号及操作者的姓名、登记号、职务、所属单位等的已符号化了的情报。
3、如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于上述恒温装置作成在用传热体构成的恒温浴槽的底面上每隔预定的间隔配置多个加热体,并通过温度控制装置对这些加热体单个地进行温度控制,从而使恒温浴槽内的液体均匀地进行加热。
4、如权利要求1所述的自动分析装置,其特征在于上述反应容器台做成使反应容器在与想要作间歇移送的方向(顺时针)相反的方向(反时针)上进行旋转,且每一次旋转的角度(360°-α)比上述反应容器台的转一圈的角度360°要小一个对于间歇移送所必要的角度(α),其结果是使反应容器以和上述旋转的方向相反的方向每次间歇移送1个容器,实现容器的顺时针的步进移动。
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Families Citing this family (78)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5215714A (en) * 1988-04-08 1993-06-01 Toa Medical Electronics Co., Ltd. Immunoagglutination measurement apparatus
JP2761385B2 (ja) * 1988-04-08 1998-06-04 東亜医用電子株式会社 免疫凝集測定装置
US5298502A (en) * 1988-12-12 1994-03-29 Fmc Corporation Method and composition for photodynamic treatment and detection of tumors
US5130095A (en) * 1989-03-13 1992-07-14 Beckman Instruments, Inc. Automatic chemistry analyzer
US5213762A (en) * 1989-03-13 1993-05-25 Beckman Instruments, Inc. Automatic chemistry analyzer
US5223222A (en) * 1989-03-13 1993-06-29 Beckman Instruments, Inc. Automatic chemistry analyzer
EP0387409B1 (en) * 1989-03-15 1993-10-27 Hewlett-Packard Company Pre-injection chromatographic sample sequencer
JPH03505637A (ja) * 1989-04-25 1991-12-05 バイオトラック,インコーポレイティド 分析装置の出力を改良するためのシステム
US5646046A (en) * 1989-12-01 1997-07-08 Akzo Nobel N.V. Method and instrument for automatically performing analysis relating to thrombosis and hemostasis
US5236666A (en) * 1989-12-01 1993-08-17 Akzo N.V. Temperature regulation in a sample handling system for an optical monitoring system
IE78906B1 (en) * 1989-12-01 1998-03-11 Akzo Nv Sample handling system for an optical monitoring system
US5183638A (en) * 1989-12-04 1993-02-02 Kabushiki Kaisha Nittec Automatic immunity analysis apparatus with magnetic particle separation
CA2077452C (en) * 1990-03-02 2000-10-24 Keith G. Copeland Automated biological reaction apparatus
US5595707A (en) * 1990-03-02 1997-01-21 Ventana Medical Systems, Inc. Automated biological reaction apparatus
FR2672126B1 (fr) * 1990-11-16 1994-04-08 Alcyon Analyser Sa Segment reactionnel pour analyseur automatique d'echantillons et analyseur equipe d'un segment.
EP0488247B1 (en) * 1990-11-28 1997-04-23 Hitachi, Ltd. Analyzing method and apparatus for liquid sample
FR2679661B1 (fr) * 1991-07-26 1994-10-14 Sfri Appareil d'analyse automatique d'echantillons.
US5646049A (en) 1992-03-27 1997-07-08 Abbott Laboratories Scheduling operation of an automated analytical system
US5635364A (en) 1992-03-27 1997-06-03 Abbott Laboratories Assay verification control for an automated analytical system
US5610069A (en) 1992-03-27 1997-03-11 Abbott Laboratories Apparatus and method for washing clinical apparatus
US5376313A (en) 1992-03-27 1994-12-27 Abbott Laboratories Injection molding a plastic assay cuvette having low birefringence
US5578494A (en) 1992-03-27 1996-11-26 Abbott Laboratories Cap actuator for opening and closing a container
US5605665A (en) 1992-03-27 1997-02-25 Abbott Laboratories Reaction vessel
US5627522A (en) 1992-03-27 1997-05-06 Abbott Laboratories Automated liquid level sensing system
US5575978A (en) 1992-03-27 1996-11-19 Abbott Laboratories Sample container segment assembly
US5536471A (en) 1992-03-27 1996-07-16 Abbott Laboratories Syringe with bubble flushing
US5960160A (en) 1992-03-27 1999-09-28 Abbott Laboratories Liquid heater assembly with a pair temperature controlled electric heating elements and a coiled tube therebetween
US5540890A (en) 1992-03-27 1996-07-30 Abbott Laboratories Capped-closure for a container
US6190617B1 (en) 1992-03-27 2001-02-20 Abbott Laboratories Sample container segment assembly
US5507410A (en) 1992-03-27 1996-04-16 Abbott Laboratories Meia cartridge feeder
EP0564907B1 (de) * 1992-04-06 1997-05-28 F. Hoffmann-La Roche Ag Analysenvorrichtung
JP3193443B2 (ja) * 1992-04-24 2001-07-30 オリンパス光学工業株式会社 自動分析装置
US5314825A (en) * 1992-07-16 1994-05-24 Schiapparelli Biosystems, Inc. Chemical analyzer
JP3387942B2 (ja) * 1992-08-12 2003-03-17 株式会社東芝 自動化学分析システム
DE4326342A1 (de) * 1993-08-05 1995-02-09 Boehringer Mannheim Gmbh Verfahren zur Analyse von Probenflüssigkeiten
USD381756S (en) * 1994-09-21 1997-07-29 Hitachi, Ltd. Immunity analyzer
JP3228645B2 (ja) * 1994-09-21 2001-11-12 株式会社日立製作所 免疫分析装置
EP1273920A3 (en) 1995-08-30 2004-06-30 Radiometer Medical A/S Apparatus for analysis with means for automatic introduction of reference fluid for the apparatus
JP3063584B2 (ja) * 1995-09-05 2000-07-12 株式会社日立製作所 自動分析装置
JP3326054B2 (ja) * 1995-09-05 2002-09-17 株式会社日立製作所 自動分析装置
JP3624203B2 (ja) * 1995-10-26 2005-03-02 アークレイ株式会社 分析装置
US6399023B1 (en) * 1996-04-16 2002-06-04 Caliper Technologies Corp. Analytical system and method
CA2237955A1 (en) * 1996-09-18 1998-03-26 Kabushiki Kaisha Tiyoda Seisakusho Liquid treating apparatus for biological sample
US5795784A (en) 1996-09-19 1998-08-18 Abbott Laboratories Method of performing a process for determining an item of interest in a sample
US5856194A (en) 1996-09-19 1999-01-05 Abbott Laboratories Method for determination of item of interest in a sample
AUPO855897A0 (en) * 1997-08-13 1997-09-04 Usf Filtration And Separations Group Inc. Automatic analysing apparatus II
AU781184B2 (en) * 1997-08-13 2005-05-12 Lifescan, Inc. Method and apparatus for automatic analysis
AU758963B2 (en) * 1997-08-13 2003-04-03 Lifescan, Inc. Method and apparatus for automatic analysis
EP1614475B1 (en) 1998-05-01 2007-05-30 Gen-Probe Incorporated Device for agitating the fluid contents of a container
US8337753B2 (en) * 1998-05-01 2012-12-25 Gen-Probe Incorporated Temperature-controlled incubator having a receptacle mixing mechanism
US6528026B2 (en) * 1998-08-13 2003-03-04 Symyx Technologies, Inc. Multi-temperature modular reactor and method of using same
US6811668B1 (en) 1999-06-22 2004-11-02 Caliper Life Sciences, Inc. Apparatus for the operation of a microfluidic device
US7338635B2 (en) * 2001-09-14 2008-03-04 Furuno Electric Company, Limited Analyzing apparatus
JP2003083979A (ja) * 2001-09-14 2003-03-19 Furuno Electric Co Ltd 分析装置
US7270785B1 (en) * 2001-11-02 2007-09-18 Ventana Medical Systems, Inc. Automated molecular pathology apparatus having fixed slide platforms
AU2003224987B2 (en) * 2002-04-15 2009-09-10 Ventana Medical Systems, Inc. Automated high volume slide staining system
US7468161B2 (en) 2002-04-15 2008-12-23 Ventana Medical Systems, Inc. Automated high volume slide processing system
US11249095B2 (en) 2002-04-15 2022-02-15 Ventana Medical Systems, Inc. Automated high volume slide processing system
WO2003091710A1 (en) * 2002-04-26 2003-11-06 Ventana Medical Systems, Inc. Automated molecular pathology apparatus having fixed slide platforms
US7648678B2 (en) 2002-12-20 2010-01-19 Dako Denmark A/S Method and system for pretreatment of tissue slides
US8262991B2 (en) * 2003-05-19 2012-09-11 Lattec I/S Apparatus for analysing fluid taken from a body
JP4130905B2 (ja) * 2003-06-23 2008-08-13 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置
CA2871777C (en) * 2005-03-10 2015-07-28 Matthew J. Hayes System and methods for detecting multiple optical signals
WO2006104006A1 (ja) * 2005-03-29 2006-10-05 Sysmex Corporation 検体分析方法および検体分析装置
CN1963527B (zh) * 2005-11-10 2011-12-14 深圳迈瑞生物医疗电子股份有限公司 全自动生化分析仪及其分析方法
CN101169452B (zh) * 2006-10-25 2011-12-21 佛山市德科机电设备有限公司 陶瓷砖质量检测方法和设备
EP2356423A1 (en) 2008-11-12 2011-08-17 Ventana Medical Systems, Inc. Methods and apparatuses for heating slides carrying specimens
JP2011149885A (ja) * 2010-01-25 2011-08-04 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
US8932523B2 (en) 2010-04-16 2015-01-13 Opko Diagnostics, Llc Systems and devices for analysis of samples
US9046507B2 (en) 2010-07-29 2015-06-02 Gen-Probe Incorporated Method, system and apparatus for incorporating capacitive proximity sensing in an automated fluid transfer procedure
WO2012116308A1 (en) 2011-02-24 2012-08-30 Gen-Probe Incorporated Systems and methods for distinguishing optical signals of different modulation frequencies in an optical signal detector
JP5876677B2 (ja) * 2011-06-20 2016-03-02 シスメックス株式会社 検体分析装置
JP5789635B2 (ja) 2013-04-26 2015-10-07 株式会社堀場製作所 全血血球免疫測定装置
ES2927378T3 (es) 2013-12-13 2022-11-04 Ventana Med Syst Inc Aparato de procesamiento de portaobjetos automatizado
CN103884798B (zh) * 2014-04-14 2015-09-09 江苏奥迪康医学科技有限公司 糖化血红蛋白分析仪试剂匹配装置及其工作方法
CN104678117B (zh) * 2015-02-15 2018-01-16 石家庄禾柏生物技术股份有限公司 一种自动控温的一体式定量采样加试剂装置检测仪
CN105067806B (zh) * 2015-08-03 2017-01-04 瑞莱生物科技(江苏)有限公司 一种全自动免疫荧光检测装置
JP6684025B2 (ja) * 2016-07-14 2020-04-22 株式会社日立ハイテク 自動分析装置

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH513393A (de) * 1969-08-28 1971-09-30 Greiner Electronic Ag Verfahren zur reihenweisen Durchführung chemischer und/oder physikalischer Analysen
US3703336A (en) * 1970-06-12 1972-11-21 Instrumentation Labor Inc Analysis system employing a plural chamber cuvette structure
DE2059501C3 (de) * 1970-12-03 1974-01-10 Siemens Ag, 1000 Berlin U. 8000 Muenchen Anordnung zum Sammeln, Transportieren und Verteilen von Untersuchungsgefässen
SE7513658L (sv) * 1974-12-06 1976-06-08 Hycel Inc Apparat och metod for kalibrering av kemisk analysator
JPS5936227B2 (ja) * 1975-09-26 1984-09-03 株式会社日立製作所 化学分析方法
US4115861A (en) * 1977-03-28 1978-09-19 Instrumentation Specialties Company Chemical analyzer
US4169125A (en) * 1977-04-14 1979-09-25 Baxter Travenol Laboratories, Inc. Modular chemical analysis system
USRE31150E (en) * 1977-06-20 1983-02-15 Coulter Electronics, Inc. Apparatus for monitoring chemical reactions and employing moving photometer means
DE2800256C2 (de) * 1978-01-04 1982-12-30 Friedr. Fingscheidt Gmbh, 5620 Velbert Türhalter für Fahrzeugtüren
JPS55144550A (en) * 1979-04-28 1980-11-11 Olympus Optical Co Ltd Automatic analyzer
JPS5739357U (zh) * 1980-08-18 1982-03-03
JPS5752996A (en) * 1980-09-17 1982-03-29 Olympus Optical Co Program inputting system for analyzer with plural computers
DE3137323A1 (de) * 1981-09-19 1983-11-24 Erwin Dr.-Ing. 1466 Luxembourg Gardosi Maschinenlesbarer informationstraeger
JPS5936227A (ja) * 1982-08-24 1984-02-28 Sharp Corp 液晶表示装置
DE3346532A1 (de) * 1982-12-22 1984-07-12 Olympus Optical Co., Ltd., Tokio/Tokyo Verfahren zum steuern eines analysiergeraets fuer chemische analysen
JPS6084686A (ja) * 1983-10-17 1985-05-14 Toshiba Corp 情報記録媒体の記録方式
JPS60117386A (ja) * 1983-11-29 1985-06-24 Toshiba Corp 情報伝達カ−ド
US4701600A (en) * 1986-03-27 1987-10-20 Data Card Corporation System for entering initializing data on the rear face of an integrated chip card

Also Published As

Publication number Publication date
NO882029D0 (no) 1988-05-10
FI882258A0 (fi) 1988-05-13
EP0282601A1 (en) 1988-09-21
FI882258A (fi) 1988-05-13
AU597433B2 (en) 1990-05-31
DK258188D0 (da) 1988-05-11
EP0282601A4 (en) 1989-01-17
EP0282601B1 (en) 1993-02-10
AU7965087A (en) 1988-04-07
KR880701887A (ko) 1988-11-05
KR960009767B1 (ko) 1996-07-24
ATE85709T1 (de) 1993-02-15
JPH0572548B1 (zh) 1993-10-12
US4919887A (en) 1990-04-24
NO882029L (no) 1988-05-10
WO1988002120A1 (en) 1988-03-24
CN87106417A (zh) 1988-05-04
DK258188A (da) 1988-07-11
DE3784161D1 (de) 1993-03-25
DE3784161T2 (de) 1993-05-27

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