CN102066961B - 磁盘驱动器测试系统中的振动隔离 - Google Patents

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Abstract

一种磁盘驱动器测试槽(500)，包括壳体(550)，壳体(550)具有测试室(560)，测试室(560)用于容纳和支撑载有磁盘驱动器(600)的磁盘驱动器输送器(400)以进行测试。壳体还具有开口端(561)，开口端提供了进入测试室的入口，用于将载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器插入和移除以进行测试。磁盘驱动器测试槽还包括与壳体连接的安装板(504)。一个或者更多隔离器(520，530)设置于壳体和安装板之间。一个或者多个隔离器可操作性地抑制振动能量在壳体和安装板之间传播。

Description

磁盘驱动器测试系统中的振动隔离
技术领域
本公开涉及磁盘驱动器测试系统中的振动隔离。
背景技术
磁盘驱动器生产商通常要对其所生产的磁盘驱动器进行测试，以符合批量需求。为了测试大量相串联或者并联的磁盘驱动器，就要有测试装置和技术。生产商倾向于对于大量磁盘驱动器以批量或同时进行测试。磁盘驱动器测试系统通常包括具有多个测试槽的一个或者多个支架，测试槽容纳磁盘驱动器以进行测试。在一些情形下，磁盘驱动器放置在承载器中，承载器用作从测试支架装载或卸载磁盘驱动器。
紧邻磁盘驱动器周围的测试环境被严格控制。测试环境中的最小温度变化对测试环境的准确性和磁盘驱动器的安全性来说至关重要。具有较高性能、较快转速和较小磁头间隙的最新一代磁盘驱动器对振动更敏感。过度的振动会影响测试结果的可靠性以及电连接的完整性。在测试条件下，驱动器本身可以通过支撑结构或者固定装置将振动传导到相邻单元。这种振动“串扰”与外部振源结合在一起造成了碰撞故障、磁头松动、非重复性偏离(NRRO)，这些会导致产量下降以及生产成本的增加。现有的磁盘驱动器测试系统使用自动化和结构支撑系统，该自动化和结构支撑系统使得系统中过度振动和/或需要占用大的空间。
在一些情况下，为了防止不期望的振动，磁盘驱动器被夹紧到承载器上和/或测试器支架上，从而抑制或者缓冲振动。一种众所周知的抑制磁盘驱动器所引起的振动的影响的方式是，将磁盘驱动器安装到安装装置(例如，承载器)，从而使得安装装置的旋转中心位于磁盘驱动器占用空间的外部。例如，图1示出了传统的磁盘驱动器安装装置(例如，用于磁盘驱动器测试装置50)。如图1所示，装置50包括承载器52，承载器52具有用于容纳磁盘驱动器600的磁盘驱动器容纳部54。(例如，利用紧固件56和/或夹具57)磁盘驱动器600与承载器52刚性连接。承载器52容纳于底座60的室62中，底座60可以包括多个室(例如，多行和/或多列机架)。安装装置支撑底座60中的承载器52，从而使得承载器52的旋转中心58远离磁盘驱动器容纳部54和磁盘驱动器600。已知安装装置包括，例如销64，承载器52可以围绕销64而进行枢轴转动。箭头70示出了承载器52相对于底座60的合成运动，该合成运动由承载器52中磁盘驱动器600的磁盘620的旋转(箭头72)引起。
发明内容
在一方面，一种磁盘驱动器测试槽包括：壳体，该壳体具有测试室，用于容纳和支撑载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器以进行测试。壳体还具有开口端，开口端提供了进入测试室的入口，用于将载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器插入和移除以进行测试。磁盘驱动器测试槽还包括安装板，安装板连接到壳体。一个或者更多隔离器设置于壳体和安装板之间。该一个或者多个隔离器可操作性地抑制振动能量在壳体和安装板之间传播。
实施例可以包括一个或者更多以下特征。
在一些实施例中，主体构件包括一个或者更多压铆螺柱，压铆螺柱将主体构件连接到一个或者更多隔离器中的至少一个。
在一些实施例中，一个或者更多隔离器包括公-母隔离器。公-母隔离器可以包括由聚氨酯弹性体形成的主体。
在一些实施例中，一个或者更多隔离器包括一个或者更多垫圈。在一些实例中，该一个或者更多垫圈能够相对于安装板移动。在一些实例中，壳体包括多个接触柱，每个接触柱都与相对应的垫圈之一相接合。接触柱可以设置于壳体的与开口端相对的第一端。安装板可以包括主体构件以及凸缘构件，凸缘构件连接到主体构件，并且构造为容纳以及支撑垫圈。凸缘构件可以构造为将垫圈支撑于与主体构件间隔开的位置上。在一些实例中，凸缘构件包括多个叉状开口，每个叉状开口都构造为容纳并且支撑垫圈之一。壳体以预压垫圈的方式连接到垫圈。垫圈由热塑性乙烯树脂形成。在一些实例中，一个或者更多隔离器还包括一个或者更多公-母隔离器，设置于壳体和安装板之间。
在一些实施例中，一个或者更多隔离器包括多个所述隔离器，每个隔离器都设置于壳体和安装板之间，其中多个隔离器中的每个都可操作性地抑制振动能量在壳体和安装板之间传播。
在一些实施例中，在没有磁盘驱动器和磁盘驱动器输送器的情况下，测试槽壳体基本没有装载可动部件。
根据另一方面，一种磁盘驱动器测试系统包括多个测试槽。每个测试槽都包括壳体和安装板组件。每个壳体都具有：测试室，用于容纳并且支撑载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器以进行测试；以及开口端，提供进入测试室的入口，用于将载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器插入和移除以进行测试。安装板组件连接到壳体。磁盘驱动器测试系统还包括底座，底座具有多个测试槽容器，每个测试槽容器都构造为容纳并且支撑测试槽之一。每个测试槽容器都包括相对应的插件导轨组件，插件导轨组件构造为与安装板组件之一可释放地相接合。
实施例可以包括一个或者多个下述特征。在一些实施例中，每个测试槽都能够独立地从底座移除。
在一些实施例中，安装板组件可操作性地抑制振动能量在测试槽壳体和底座之间传播。
在一些实施例中，至少一个安装板组件包括安装板，以及一个或者更多隔离器，隔离器置于安装板和相关联的测试槽壳体之一之间。该一个或者多个隔离器可操作性地抑制振动能量在相关联的壳体之一和安装板之间传播。安装板可以包括安装凸缘，安装凸缘的尺寸设计成适合于插件导轨组件之一，从而在相关联的测试槽和底座之间形成机械连接。该一个或者更多隔离器可包括一个或者更多垫圈。在一些情形中，垫圈能够相对于安装板移动。壳体可包括多个接触柱，每个接触柱都与相对应的垫圈之一相接合。该一个或者更多隔离器可以包括一个或者更多公-母隔离器。
在一些实施例中，底座包括测试电子电路，测试电子电路构造为将功能性测试例行程序传送给测试槽之一中的磁盘驱动器。在一些实例中，至少一个测试槽还包括连接接口电路，连接接口电路构造为将测试电子电路与至少一个测试槽的测试室中的磁盘驱动器电连通。
在一些实施例中，在测试槽容器中，测试槽相互之间能够互换。
在又一方面，一种磁盘驱动器测试系统包括多个测试槽。每个测试槽都包括壳体，壳体具有：测试室，用于容纳并且支撑载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器以进行测试；以及开口端，提供进入测试室的入口，用于将载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器插入和移除以进行测试。每个测试槽还包括安装板以及设置于壳体和安装板之间的一个或者更多隔离器。该一个或者多个隔离器可操作性地抑制振动能量在壳体和安装板之间传播。磁盘驱动器测试系统还可以包括底座，底座具有多个测试槽容器，每个测试槽容器都构造为容纳并且支撑测试槽之一。在一些实例中，每个测试槽都能够独立地从底座移除。
实施例可以包括一个或者更多以下特征。在一些实施例中，每个测试槽容器都构造为与测试槽安装板之一可释放地相接合，从而将相关联的测试槽机械地连接到底座。
在一些实施例中，隔离器可操作性地抑制振动能量在测试槽壳体和底座之间传播。
在一些实施例中，隔离器包括垫圈。
在一些实施例中，隔离器包括公-母隔离器。
在一些实施例中，在没有磁盘驱动器和磁盘驱动器输送器的情况下，测试槽壳体基本没有装载可动部件。
在一些实施例中，底座包括测试测试电子电路，测试电子电路构造为将功能性测试例行程序传送给测试槽之一中的磁盘驱动器。在一些实例中，测试槽中第一测试槽包括连接接口电路，连接接口电路构造成在测试电子电路与测试槽中第一测试槽的测试室中的磁盘驱动器之间形成电连通。
在一些实施例中，在测试槽容器中，测试槽相互之间能够互换。
在另一方面，一种磁盘驱动器测试槽包括壳体，壳体具有：测试室，测试室用于容纳并且支撑载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器以进行测试；以及开口端，开口端提供进入测试室的入口，用于将载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器插入和移除以进行测试。磁盘驱动器测试槽还可以包括：安装板，连接到壳体；以及多个浮动接触件，设置于壳体和安装板之间，并且可操作性地抑制振动能量在壳体和安装板之间传播。浮动接触件能够相对于安装板进行移动。
在下面的附图和描述中，将对于本发明的一个或者多个实施例进行详细阐述。通过说明书和附图以及权利要求，本发明的其他特征、目的和优点将变得显而易见。
附图说明
图1是现有技术中磁盘驱动器安装装置的示意图。
图2是磁盘驱动器测试系统的立体图。
图3A是测试支架的立体图。
图3B是图3A的测试支架的槽库的详尽立体图。
图4是测试槽组件的立体图。
图5A是转运站的立体图。
图5B是搬运箱和磁盘驱动器的立体图。
图6A是磁盘驱动器测试系统的俯视图。
图6B是磁盘驱动器测试系统的立体图。
图7A和图7B是磁盘驱动器输送器的立体图。
图8A是支撑磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器的立体图。
图8B是为了插入到测试槽中而对准的装载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器的立体图。
图9和图10是自测试和功能性测试电路的示意图。
图11是测试槽的立体图。
图12是安装板组件的立体图。
图13是公-母隔离器的立体图。
图14A-图14C是测试槽壳体的立体图。
图15A-图15D示出了测试槽的装配。
图16和图17是测试槽的前立体图和后立体图，示出了安装到测试槽壳体的连接接口板。
图18是测试槽的立体图，示出了通过遮盖物被封闭起来的测试槽壳体的后部。
图19是其中带有磁盘驱动器的测试槽的平面图。
图20A-图20F示出了测试槽壳体相对于图19的测试槽的安装板组件的运动。
图21A-图21C示出了壳体的浮动中心的运动。
图22A-图22D示出了测试槽在测试支架的槽库中的安装。
各个附图中，相似的参考标号表示相似的部件。
具体实施例
如图2所示，磁盘驱动器测试系统10包括：多个测试支架100(例如，示出的10个测试支架)、转运站200以及机器人300。如图3A和图3B中所示，每个测试支架100通常包括底座102。底座102可以由多个构件104(例如，挤压铝构件、钢管构件和/或组合构件)组成，该多个构件被固定在一起，并且共同限定了多个槽库110。每个槽库110都能支撑多个测试槽组件120。如图4所示，每个测试槽组件120都包括磁盘驱动器输送器400和测试槽500。磁盘驱动器输送器400用于(例如，从转运站200)获取磁盘驱动器600，以及用于将磁盘驱动器600输送到测试槽500之一中以进行测试。
参见图5A，在一些实施例中，转运站200包括转运站壳体210和设置于转运站壳体210上的多个搬运箱设置支撑系统220。每个搬运箱设置支撑系统220都构造为将磁盘驱动器搬运箱260容纳并支撑于设置位置，以通过机器人300进行操作。
在一些实施例中，每个搬运箱设置支撑系统220都设置于转运站壳体210的相同侧，并且布置为相互垂直。每个搬运箱设置支撑系统220相互之间都具有不同高度。在一些实例中，如图5A所示，搬运箱设置支撑系统220包括搬运箱支撑臂226，搬运箱支撑臂226构造为由磁盘驱动器搬运箱260具有的相应臂沟槽266(图5B)容纳。
搬运箱推进器230设置于转运站壳体210上，并且构造为与之相对运动。搬运箱推进器230构造为在搬运箱设置支撑系统220和中转区250之间转运搬运箱260，搬运箱设置支撑系统220用以通过磁盘驱动器测试系统10(例如，通过机器人300)进行操作，在中转区250，(例如，通过操作人员)将搬运箱260装入到转运站200中并且从转运站200中卸下。
如图5B所示，搬运箱260包括搬运箱体262，搬运箱体262具有多个磁盘驱动器容器264(例如，示出了18个)，每个磁盘驱动器容器264都构造为容纳磁盘驱动器600。每个磁盘驱动器容器264都包括磁盘驱动器支撑件265，磁盘驱动器支撑件265构造为支撑所容纳的磁盘驱动器600的中间部分，以使得能够沿着非中间部分对磁盘驱动器600进行操纵。搬运箱体262还具有臂沟槽266，臂沟槽266构造为与转运站壳体210的搬运箱支撑臂226(图5A)相接合，从而支撑搬运箱260(例如，以通过机器人300(图2)而进行操作)。
如图6A和图6B所示，机器人300包括机械臂310和设置于机械臂310顶部的机械手312(图6A)。机械臂310具有与地面316垂直的第一轴线314，并且机械臂310可操作性地围绕第一轴线314旋转预定弧度，并且从第一轴线314径向延伸。机械臂310构造为，通过在转运站200和测试支架100之一之间转运磁盘驱动器600从而独立地操作每个测试槽500。具体地，机械臂310构造为利用机械手312将磁盘驱动器输送器400从测试槽500之一中移除，接着，利用磁盘驱动器输送器400从转运站200处的磁盘驱动器容器264之一中拾取磁盘驱动器600，然后，将磁盘驱动器输送器400(其中带有磁盘驱动器600)返回到测试槽500以对磁盘驱动器600进行测试。在测试之后，机械臂310将磁盘驱动器输送器400连同所支撑的磁盘驱动器600一起从测试槽500之一中取回，并且通过操纵磁盘驱动器输送器400(即，利用机械手312)将其返回到转运站200的磁盘驱动器容器264之一中。
参见图7A和图7B，磁盘驱动器输送器400包括框架410和夹紧机构450。框架410包括面板412。如图7A所示，沿着第一面414，面板412具有缺口416。缺口416可以与机械臂310的机械手312(图6A)可释放地接合，这样使得机械臂310能够抓取并且移动输送器400。如图7B所示，面板412还包括斜边417。当将框架410插入到测试槽500之一时，面板412的斜边417紧靠测试槽500的互补斜边562(图14A)，以形成密封，如下所述，这样有助于抑制空气进出测试槽500。例如，当磁盘驱动器输送器400通过机器人300插入到测试槽500以及从测试槽500中移除的时候，这样特别有好处。在使用中，利用机器人300(例如，利用机器人300的机械手312，抓取输送器400的缺口416或者以其他方式与输送器400的缺口416相接合)将磁盘驱动器输送器400之一从测试槽500之一中移除。框架410具有由侧壁418和底板420形成的基本呈U字形的开口415，侧壁418和底板420共同使得框架410适于包围住搬运箱260(图5B)中的磁盘驱动器支撑件265(图5B)，从而(例如，通过机械臂300)使得磁盘驱动器输送器400移动进入容纳在搬运箱260的磁盘驱动器容器264之一中的磁盘驱动器600之一下面的位置中。接着，(例如，通过机械臂310)将磁盘驱动器输送器400抬升到接合磁盘驱动器600的位置上，以从搬运箱260中的磁盘驱动器支撑件265上移除。
如图8A和图8B所示，在磁盘驱动器600在磁盘驱动器输送器400的框架410中处于适当位置的情形下，通过机械臂310(图6A)能够将磁盘驱动器输送器400和磁盘驱动器600一起移动，以放置到测试槽500之一中。机械手312(图6A)还构造为对设置于磁盘驱动器输送器400中的夹紧机构450进行初始致动。对于机械手的详细描述以及能够与这里所描述的内容相结合的其他细节和特征，可以在下述与这个一起同时提交的美国专利申请中找到，该美国专利申请的名称为“Transferring Disk Drives Within Disk Drive Testing Systems”，代理人案号：18523-073001，发明人：Evgeny Polyakov等，以及所分配的序列号为12/104,536，将上述申请的全部内容结合于此以供参考。这使得在输送器400从搬运箱260移动到测试槽500之前，就能够对夹紧机构450进行致动，以抑制磁盘驱动器600在移动期间相对于磁盘驱动器输送器400移动。在插入到测试槽500之前，机械手312再次致动夹紧机构450，以释放框架410中的磁盘驱动器600。这样使得磁盘驱动器输送器400能够插入到测试槽500之一中，直到磁盘驱动器600通过磁盘驱动器连接器610与测试槽连接器574(图16)相接合而处于测试位置为止。夹紧机构450还可以构造为一旦被容纳到测试槽500中，就与测试槽500相接合，以抑制磁盘驱动器输送器400相对于测试槽500的运动。在该实施例中，一旦磁盘驱动器600处于测试位置，夹紧机构450(例如，通过机械手312)再次被接合，以抑制磁盘驱动器输送器400相对于测试槽500的运动。如此，夹紧输送器400有助于减小在测试期间的振动。对于夹紧机构450的详细描述以及能够与这里所描述的内容相结合的其他细节和特征，可以在下述于2007年12月18日提交的美国专利申请中找到，该美国专利申请的名称为“DISKDRIVE TRANSPORT CLAMPING AND TESTING”，代理人案号：18523-067001，发明人：Brian Merrow等，以及所分配的序列号为11/959,133，上述申请的全部内容结合于此以供参考。
参见图9，在一些实施例中，磁盘驱动器测试系统10还包括与测试槽500连通的至少一台计算机130。计算机130可以提供磁盘驱动器600的存量控制和/或自动化接口，以控制磁盘驱动器测试系统10。测试电子电路160与每个测试槽连通。测试电子电路160构造为与容纳于测试槽500中的磁盘驱动器600连通。
参见图10，电源系统170向磁盘驱动器测试系统10供电。电源系统170能够监控和/或调节供给测试槽500中容纳的磁盘驱动器600的电能。在图10中所示的实例中，每个测试支架100中的测试电子电路160包括与至少一个测试槽500连通的至少一个自检系统180。自检系统180测试支架100和/或诸如测试槽500的具体子系统是否正常工作。自检系统180包括集群控制器181、一个或者更多连接接口电路182以及与连接接口电路182电连通的一个或者更多阻塞接口电路(blockinterface circuit)183，其中，每个连接接口电路182都与测试槽500中容纳的磁盘驱动器600电连通。在一些实例中，集群控制器181构造为运行一个或者更多测试程序，该程序具有磁盘驱动器600的大约120项自检和/或60项功能性测试的能力。连接接口电路182和阻塞接口电路183构造为自检。然而自检系统180能够包括自检电路184，自检电路184构造为在磁盘驱动器测试系统10的一个或者多个部件上执行或者控制自检例行程序。集群控制器181可以通过以太网(例如，千兆以太网)与自检电路184连通，自检电路184可以与阻塞接口电路183连通，然后通过通用异步收发器(UART)串行链接连通到连接接口电路182和磁盘驱动器600。UART通常是单独的(或者部分的)集成电路，用于与计算机或者外围设备串行接口进行串行连通。阻塞接口电路183构造为控制供给测试槽500的电能和测试槽500的温度，每个阻塞接口电路183都可以控制一个或者更多测试槽500和/或磁盘驱动器600。
在一些实例中，测试电子电路160还可以包括与至少一个测试槽连通的至少一个功能性测试系统190。功能性测试系统190对所容纳的磁盘驱动器600是否正常运行进行测试，其中，磁盘驱动器600通过磁盘驱动器输送器400而保持和/或支撑在测试槽500中。功能性测试可以包括对磁盘驱动器600的功率进行测试，对运行温度进行测试，对读写数据的能力进行测试，以及对在不同温度下的读写数据的能力(例如，在热条件下读并且在冷条件下写，反之亦然)进行测试。功能性测试可以对磁盘驱动器600的每个存储器扇区进行测试，或者只是随机采样。该功能性测试可以对磁盘驱动器600周围空气的运行温度进行测试，并且还可以对与磁盘驱动器600连通的数据完整性进行测试。功能性测试系统190包括集群控制器181和与集群控制器181电连通的至少一个功能性接口电路191。连接接口电路182与容纳于测试槽500中的磁盘驱动器600和功能性接口电路191电连通。功能性接口电路191构造为将功能性测试例行程序传送到磁盘驱动器600。功能性测试系统190可以包括通信开关192(例如，千兆以太网)，以使得集群控制器181与一个或者更多功能性接口电路191之间电连通。优选地，计算机130、通信开关192、集群控制器181以及功能性接口电路191都连通在以太网上。然而，也可以使用其他形式的通信。功能性接口电路191可以通过Parallel AT Attachment(硬盘接口，也被称为IDE、ATA、ATAPI、UDMA和PATA)、SATA、SAS(Serial AttachedSCSI)与连接接口电路182连通。
测试槽
如图11所示，每个测试槽500都包括壳体550，壳体550安装到安装板组件502，并且由安装板组件502支撑。如图12所示，安装板组件502包括安装板504，安装板504包括主体构件506、凸缘构件508以及把手510。主体构件506还包括诸如可以从PennEngineering ofDanboro，PA购得的一对压铆螺柱(示出了一个)，压铆螺柱压配合到主体构件506的通孔514中。压铆螺柱512通常包括螺纹螺钉部516和设置于螺钉部516的第一端517上的头部518。如图12所示，螺纹螺钉部穿过主体构件506中的通孔514，头部518与主体构件506以压配合方式相接合，从而固定压铆螺柱512，防止其相对于主体构件506运动。
安装板组件502还包括一对隔离器(例如，公-母隔离器520)。如图13所示，公-母隔离器520通常包括由机械振动隔离材料(比如，例如硬度在大约45的邵氏A硬度和大约60的邵氏A硬度之间的聚氨酯弹性体)形成的主体部522。主体部522夹在母螺纹紧固件524(设置于主体部522的第一端525上)和公螺纹紧固件526(设置于主体部522的第二端527上)之间。如图12所示，通过将公-母隔离器520的母螺纹紧固件524拧紧到压铆螺柱512之一上，公-母隔离器520被固定到主体构件506。
仍旧参见图12，安装板组件502还包括一对隔离器(例如，垫圈530)。垫圈530可以由机械振动隔离材料(比如，具有例如大约45的邵氏A硬度和大约60的邵氏A硬度之间硬度的热塑性乙烯树脂)形成。
这种多个隔离器的布置还具有调节测试槽500(例如，通过选择隔离器)的能力，以对所关注的具体频率和轴线进行更好地隔离。例如，如果驱动器对于绕Y轴旋转(围绕驱动器的长轴旋转)敏感，隔离器(例如，公-母隔离器520和/或垫圈530)能够被制造得更硬(例如，代替以更坚硬的部件)，以限制绕Y轴旋转。如图12所示，凸缘构件508具有一对U字形的凹口或者叉状开口532，每个U字形的凹口或者叉状开口532都构造为容纳并支撑垫圈530之一。主体构件506还具有一对安装凸缘534，如下所述，安装凸缘534构造为与测试支架底座102的形成安装连接。
参见图14A和图14B，如上所述，每个测试槽500都还包括具有基座552的壳体550、第一直立壁553a和第二直立壁553b以及第一遮盖物554a和第二遮盖物554b。在所示的实施例中，第一遮盖物554a与基座552和直立壁553a、553b一体模制成型。壳体550具有内腔556，内腔556包括后部557和前部558。前部558具有测试室560，用于容纳并且支撑磁盘驱动器输送器400之一。基座552、直立壁553a、553b以及第一遮盖物554a共同限定了第一开口端561，第一开口端561提供了进入测试室560的入口(例如，用于插入和移除磁盘驱动器输送器400)，斜边562与插入到测试槽500中的磁盘驱动器输送器400的面板412紧靠，以形成密封，从而抑制空气流通过第一开口端561进出测试槽500。第一直立壁553a具有入口孔551和出口孔555。入口孔551和出口孔555在壳体550的外表面559(图14B和图14C)和内腔556之间延伸。
如图14A所示，内腔556的后部557包括一对通孔563，该对通孔563构造为将公-母隔离器520的公螺纹紧固件526(例如，见图12和图13)容纳到其中。如图14B所示，通孔563从内腔556延伸，直到沿着壳体550的基座552的底面565形成的一对埋头孔凹室564。如下面更详细的描述，每个埋头孔凹室564都构造为将相对应公-母隔离器520的主体部522容纳到其中。壳体550还包括多个安装孔549，以容纳例如螺钉的安装硬件，用于将第二遮盖物554b和连接接口板570(如下所述；例如还可参见图16)安装到壳体550。
参见图14C，壳体550还包括沿着壳体550的第二端567设置的一对接触柱566。将接触柱566的尺寸设计为能够与安装板组件502的垫圈530相接合。如图15A所示，首先将垫圈530套在接触柱566上，然后将壳体550安装到安装板组件502。接着，如图15B所示，壳体550的第二端567与安装板504对准，从而使得接触柱566和垫圈530基本与凸缘构件508中的叉状开口532相对准。当适当对准时，公-母隔离器520将至少部分地处于埋头孔凹室564(图14B)中。如图15C所示，在对准之后，壳体550按照箭头568所示的方向相对于安装板504移动，从而使得垫圈530和通孔563相对于叉状开口532停止移动，并且使得公螺纹紧固件526穿过通孔563而进入内腔556中。如图15D所示，随着垫圈530和接触柱566设置于叉状开口532中，以及隔离器520的公螺纹紧固件526延伸到内腔556中，螺纹螺母569与公螺纹紧固件526紧固连接，从而壳体550和安装板组件502之间形成了牢固的机械连接。
如图16所示，内腔556的后部557容纳有连接接口板570，连接接口板570载有连接接口电路182(图9和图10)。连接接口板570在壳体550的测试室560和第二端567之间延伸。多个电子连接器572沿着连接接口板570的远端573设置。电子连接器572将连接接口电路182与相关联的测试支架100中的测试电子电路160(例如，自检系统180和/或功能性测试系统190)电连通。连接接口板570还包括设置在连接接口板570的近端575的测试槽连接器574，测试槽连接器574将连接接口电路182和测试槽500中的磁盘驱动器600之间电连通。如图16所示，测试槽壳体550还可以包括设置于内腔556中的管道540。管道540构造为将气流从入口孔551(即，从壳体550外部的源头)运送到测试室560。管道540构造为对设于测试室560中磁盘驱动器600下方的气流进行引导，使得返回气流流过磁盘驱动器600并且回到出口孔555。电子加热组件726设置于管道540中的第一开口542中，并且构造为对穿过管道540的气流进行加热。电子加热组件726包括加热器散热器728和电子加热装置(例如电阻加热器729)。电阻加热器729电连接到连接接口板570，并且构造为(例如，通过连接接口电路182)与测试电子电路160电连通。电阻加热器729可操作性地将(例如，由测试电子电路160提供的)电流转换为热能，该热能用于加热加热器散热器728，进而加热穿过管道540的气流。在没有磁盘驱动器600和磁盘驱动器输送器400的情况下，壳体500基本不装载移动的部件。对电子加热组件726的详细描述以及能够与这里所描述的内容相结合的其他细节和特征，可以在同时提交的美国专利申请中找到，该美国专利申请的名称为“Temperature Control within Disk Drive TestingSystems”，代理人案号：18523-063001，发明人：Brian Merrow，以及所分配的序列号为12/105,103，将上述申请的全部内容并入本申请作为参考。
如图17所示，连接接口板570与沿着壳体550的第二端567的垫圈530相交叠，从而将垫圈530全部地或者至少部分地夹在凸缘构件508和连接接口板570之间。连接接口板570(例如，利用紧固件576)与壳体550紧固连接，并以这种方式预压垫圈530。垫圈530被机械地预压，以达到最佳抗振动和抗冲撞性能。通过将垫圈530预压5％而达到最佳抗振动和抗冲撞性能。
参见图18，一旦进行了安装，公-母隔离器520(图12)使得壳体550能够相对于安装板504以所有六个自由度(即，X、Y、Z、偏转(Roll)、俯仰(Pitch)和转动(Yaw))进行运动。在除了Y轴负方向以外的所有方向上，垫圈530被基本约束在叉状开口532中。如图20A所示，垫圈530和叉状开口532有效地形成一对浮动接触件件(图20A中示出了一个)，即，第一浮动接触件580a和第二浮动接触件580b(例如参见图19)，壳体可以围绕第一浮动接触件580a和第二浮动接触件580b相对于安装板504(例如，以摇动方式)运动。
参见图19，振动通常是由于磁盘驱动器600中的磁盘620(例如，磁片)如箭头581所示旋转而产生的。结果，在测试期间，进行测试的磁盘驱动器600中磁盘620的旋转和磁头的运动会引起壳体550的运动。如图20A-图20C所示，这种设置使得垫圈530和接触柱566能够在相对应的叉状开口532(也可参见图12)中移动，从而使得壳体550相对于安装板504的位置能够产生位移。具体地，垫圈530能够进行线性运动，例如，在叉状开口532中沿着X轴从一边运动到另一边(如图20A中箭头535所示)，和/或沿着Y轴从前到后运动(如图20B中箭头536所示)。垫圈530还能够沿着相对应的叉状开口532的边缘533运动，如图20C中的箭头537所示。这样，垫圈530和隔离器520的柔韧性，使得壳体550相对于安装板504的位置能够产生位移，并且相对于安装板504能够进行旋转。例如，分别如图20D-图20F所示，这种构造使得壳体550能够相对于安装板504，沿着或者围绕X轴旋转(如图20D中的箭头538所示)，沿着或者围绕Y轴旋转(如图20E中的箭头539所示)，和/或沿着或者围绕Z轴旋转(如图20F中的箭头541所示)。结果是壳体550相对于安装板504的复杂运动，该复杂运动包含了图20A-图20F所示出和描述的所有运动。这种顺应性用作抑制振动从测试槽500之一传播到临近测试槽500的其他零部件。然而，所示结构中没有单个约束，该单个约束能够将壳体550相对于安装板504的任何可能运动约束为围绕任何具体轴线或围绕任一固定点的旋转运动之一。
例如，图21A-图21C示出了，当单一或者固定旋转中心将浮动位置假设为壳体550沿着或者围绕Z轴旋转地震荡时，为何X-Y平面中不存在所述单一或者固定旋转中心，部分原因是由于壳体550相对于安装板504沿着或者围绕X轴和Y轴平移运动。如图21A-图21C所示，随着壳体550如箭头582(图21A)、箭头584(图21B)和箭头586(图21C)所示在第一浮动接触件580a和第二浮动接触件580b之间来回摆动，壳体550的旋转中心由第一点P1(图21A所示)转换到第二点P2(图21B所示)，接着转换到第三点P3(图21C所示)等等。通过沿着或者围绕X轴和/或Y轴(分别在图20D和图20E示出)旋转壳体550(从而壳体具有在三维中浮动的旋转运动)，可以进一步实现壳体550相对于安装板504的运动。
而且，通过在Y轴正方向上限制垫圈530和接触柱566，凸缘构件508还提供了一组固定表面，在将磁盘驱动器输送器400(其中有或者没有磁盘驱动器600)插入到壳体550的测试室560期间，壳体可以紧靠在该固定表面上，使得磁盘驱动器输送器400不会在测试壳体中发生旋转。如图22A-图22C所示，每个槽库110都包括多个测试槽容器122，每个测试槽容器122都构造为容纳和支撑测试槽500之一。每个测试槽容器122都包括一对插件导轨组件124。这对插件导轨组件124的尺寸设计为能够容纳安装板504的安装凸缘534(例如，见图18)。插件导轨组件124可以包括，例如凸轮锁或者翼形螺钉，以将插件导轨组件124和安装板组件502机械连接，从而将安装板组件502连接到地面上。由于插件导轨组件124只与安装板组件502相接合，而不与测试槽壳体550相接合，因此壳体550不仅可以相对于相应的安装板504移动，还能够相对于相应的测试支架底座102移动。如此，通过隔离器(例如，公-母隔离器520和垫圈530)，安装板组件502支持了测试支架底座102和相应测试槽500之间的隔离，并且二者之间不存在刚性连接。结果，减小了振动从共有的测试支架100中的一个测试槽500向其他测试槽500的传播。这种振动可以，例如，由测试槽500之一中的磁盘驱动器600的旋转产生，或者由从测试槽500之一中插入和/或移除磁盘驱动器输送器400(其中带有或不带有磁盘驱动器600)而产生。来源于测试支架100本身的振动(例如，由测试支架100中的冷却风扇的旋转而产生)，在到达测试槽500中的单个测试室560之前也被隔离或者抑制。这种结构还能够容许测试槽500单个插入到测试支架100中，以及单个从测试支架100中移除，如图22D所示。
能够与这里所描述的内容相结合的其他细节和特征，可以在下述于2007年12月18日提交的美国专利申请中找到，该美国专利申请之一的名称为“DISK DRIVE TESTING”，代理人案号：18523-064001，发明人：Edward Garcia等，以及所分配的序列号为11/958,817；另一件美国专利申请的名称为“DISK DRIVE TESTING”，代理人案号：18523-062001，发明人：Edward Garcia等，以及所分配的序列号为11/958,788。能够与这里所描述的内容相结合的其他细节和特征，还可以在同时提交的美国专利申请中找到，该美国专利申请之一的名称为“Disk Drive Emulator And Method Of Use Thereof”，代理人案号：18523-065001，发明人：Edward Garcia，以及所分配的序列号为12/104,594；另一件美国专利申请的名称为“Transferring Disk DrivesWithin Disk Drive Testing Systems”，代理人案号：18523-073001，发明人：Evgeny Polyakov等，以及所分配的序列号为12/104,536；另一件美国专利申请的名称为“Temperature Control within Disk DriveTesting Systems”，代理人案号：18523-076001，发明人：Brian Merrow，以及所分配的序列号为12/105,061；另一件美国专利申请的名称为“Bulk feeding Disk Drives To Disk Drive Testing Systems”，代理人案号：18523-077001，发明人：Scott Noble等，以及所分配的序列号为12/104,869；另一件美国专利申请的名称为“Temperature Control withinDisk Drive Testing Systems”，代理人案号：18523-078001，发明人：Brian Merrow等，以及所分配的序列号为12/105,069；另一件美国专利申请的名称为“Enclosed Operating Area for Disk Drive TestingSystems”，代理人案号：18523-079001，发明人：Brian Merrow，以及所分配的序列号为12/105,041；以及另一件美国专利申请的名称为“Temperature Control within Disk Drive Testing Systems”，代理人案号：18523-081001，发明人：Brian Merrow，以及所分配的序列号为12/105,107。将所有上述申请的全部内容并入本申请作为参考。
已经描述了多个实施例。然而，可以理解，在不背离本公开的精神和范围的情况下，可以进行多种改变。因此，其他实施例也包含在在权利要求的范围内。

Claims (13)

1.一种磁盘驱动器测试槽，包括：
壳体，所述壳体具有：
测试室，用于容纳和支撑载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器以进行测试，以及
开口端，提供进入所述测试室的入口，用于将载有所述磁盘驱动器的所述磁盘驱动器输送器插入和移除以进行测试；
安装板，连接到所述壳体；以及
一个或者更多隔离器，设置于所述壳体和所述安装板之间，所述一个或者多个隔离器可操作性地抑制振动能量在所述壳体和所述安装板之间传播，其中，所述一个或者更多隔离器包括一个或更多公-母隔离器和一个或更多垫圈，其中，在除了沿所述磁盘驱动器的长轴的Y轴负方向以外的所有方向上，所述一个或者更多垫圈被约束在凸缘构件的相对应的U字形的凹口或者叉状开口，并且其中，所述一个或者更多垫圈可在相对应的U字形的凹口或者叉状开口中运动，其中，所述凸缘构件被包括在所述安装板中；
其中，一个或者更多压铆螺柱将所述安装板的主体构件连接到所述一个或者更多公-母隔离器中的至少一个。
2.一种磁盘驱动器测试槽，包括：
壳体，所述壳体具有：
测试室，用于容纳和支撑载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器以进行测试，以及
开口端，提供进入所述测试室的入口，用于将载有所述磁盘驱动器的所述磁盘驱动器输送器插入和移除以进行测试；
安装板，连接到所述壳体；以及
一个或者更多隔离器，设置于所述壳体和所述安装板之间，所述一个或者多个隔离器可操作性地抑制振动能量在所述壳体和所述安装板之间传播，其中，所述一个或者更多隔离器包括一个或更多公-母隔离器和一个或更多垫圈，其中，在除了沿所述磁盘驱动器的长轴的Y轴负方向以外的所有方向上，所述一个或者更多垫圈被约束在凸缘构件的相对应的U字形的凹口或者叉状开口，并且其中，所述一个或者更多垫圈可在相对应的U字形的凹口或者叉状开口中运动，其中，所述凸缘构件被包括在所述安装板中。
3.根据权利要求2所述的磁盘驱动器测试槽，其中，所述壳体包括多个接触柱，每个所述接触柱都与相对应的所述垫圈之一相接合。
4.根据权利要求3所述的磁盘驱动器测试槽，其中，所述接触柱设置于所述壳体的与所述开口端相对的第一端。
5.根据权利要求2所述的磁盘驱动器测试槽，其中，所述安装板包括：
主体构件；
其中，所述凸缘构件连接到所述主体构件，并且构造为容纳以及支撑所述垫圈。
6.根据权利要求5所述的磁盘驱动器测试槽，其中，所述凸缘构件构造为将所述垫圈支撑在与所述主体构件间隔开的位置中。
7.根据权利要求2所述的磁盘驱动器测试槽，其中，所述壳体以预压所述垫圈的方式与所述垫圈连接。
8.根据权利要求2所述的磁盘驱动器测试槽，其中，所述垫圈由热塑性乙烯树脂形成。
9.一种磁盘驱动器测试系统，包括：
多个测试槽，每个所述测试槽都包括：
壳体，所述壳体具有：
测试室，用于容纳并且支撑载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器以进行测试，
开口端，提供了进入所述测试室的入口，用于将载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器插入和移除以进行测试；以及
安装板组件，连接到所述壳体并且包括安装板，以及
一个或者更多隔离器，设置于所述壳体和所述安装板之间，所述一个或者多个隔离器可操作性地抑制振动能量在所述壳体和所述安装板之间传播，其中，所述一个或者更多隔离器包括一个或更多公-母隔离器和一个或更多垫圈，其中，在除了沿所述磁盘驱动器的长轴的Y轴负方向以外的所有方向上，所述一个或者更多垫圈被约束在凸缘构件的相对应的U字形的凹口或者叉状开口，并且其中，所述一个或者更多垫圈可在相对应的U字形的凹口或者叉状开口中运动，其中，所述凸缘构件被包括在所述安装板中；以及
底座，具有多个测试槽容器，每个所述测试槽容器都构造为容纳并且支撑所述测试槽之一，其中，每个所述测试槽容器都包括相对应的插件导轨组件，所述插件导轨组件构造为与所述安装板组件之一可释放地相接合，并且其中，每个所述测试槽都能够独立地从底座移除；
其中，在没有磁盘驱动器和磁盘驱动器输送器的情况下，每个所述测试槽壳体基本上不载有移动部件。
10.一种磁盘驱动器测试系统，包括：
多个测试槽，每个所述测试槽包括：
壳体，所述壳体具有：
测试室，用于容纳并且支撑载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器以进行测试，
开口端，提供了进入所述测试室的入口，用于将载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器插入和移除以进行测试；以及安装板组件，连接到所述壳体并且包括安装板；以及
一个或者更多隔离器，设置于所述壳体和所述安装板之间，所述一个或者多个隔离器可操作性地抑制振动能量在所述壳体和所述安装板之间传播，其中，所述一个或者更多隔离器包括一个或更多公-母隔离器和一个或更多垫圈，其中，在除了沿所述磁盘驱动器的长轴的Y轴负方向以外的所有方向上，所述一个或者更多垫圈被约束在凸缘构件的相对应的U字形的凹口或者叉状开口，并且其中，所述一个或者更多垫圈可在相对应的U字形的凹口或者叉状开口中运动，其中，所述凸缘构件被包括在所述安装板中；以及
底座，具有多个测试槽容器，每个所述测试槽容器都构造为容纳并且支撑所述测试槽之一，其中每个所述测试槽容器都包括相对应的插件导轨组件，所述插件导轨组件构造为与所述安装板组件之一可释放地相接合，并且其中每个所述测试槽都能够独立地从所述底座移除；
其中所述安装板包括安装凸缘，所述安装凸缘的尺寸设计成适合于对应的插件导轨组件之一，从而在相关联的测试槽和底座之间形成机械连接。
11.一种磁盘驱动器测试系统，包括：
多个测试槽，每个所述测试槽包括：
壳体，所述壳体具有：
测试室，用于容纳并且支撑载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器以进行测试，
开口端，提供了进入所述测试室的入口，用于将载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器插入和移除以进行测试；
安装板组件，连接到所述壳体并且包括安装板；以及
一个或者更多隔离器，设置于所述壳体和所述安装板之间，所述一个或者多个隔离器可操作性地抑制振动能量在所述壳体和所述安装板之间传播，其中，所述一个或者更多隔离器包括一个或更多公-母隔离器和一个或更多垫圈，其中在除了沿所述磁盘驱动器的长轴的Y轴负方向以外的所有方向上，所述一个或者更多垫圈被约束在凸缘构件的相对应的U字形的凹口或者叉状开口，并且其中，所述一个或者更多垫圈可在相对应的U字形的凹口或者叉状开口中运动，其中，所述凸缘构件被包括在所述安装板中；以及
底座，具有多个测试槽容器，每个所述测试槽容器都构造为容纳并且支撑所述测试槽之一，其中每个所述测试槽容器都包括相对应的插件导轨组件，所述插件导轨组件构造为与所述安装板组件之一可释放地相接合，并且其中每个所述测试槽都能够独立地从所述底座移除；
其中，在所述测试槽容器中，所述测试槽相互之间能够互换。
12.一种磁盘驱动器测试系统，包括：
多个测试槽，每个所述测试槽包括：
壳体，所述壳体具有：
测试室，用于容纳并且支撑载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器以进行测试，以及
开口端，提供了进入所述测试室的入口，用于将载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器插入和移除以进行测试，安装板组件，连接到所述壳体并且包括安装板，以及
一个或者更多隔离器，设置于所述壳体和所述安装板之间，所述一个或者多个隔离器可操作性地抑制振动能量在所述壳体和所述安装板之间传播，其中，所述一个或者更多隔离器包括一个或更多公-母隔离器和一个或更多垫圈，其中，在除了沿所述磁盘驱动器的长轴地Y轴负方向以外的所有方向上，所述一个或者更多垫圈被约束在凸缘构件的相对应的U字形的凹口或者叉状开口，并且其中，所述一个或者更多垫圈可在相对应的U字形的凹口或者叉状开口中运动，其中，所述凸缘构件被包括在所述安装板中；以及
底座，具有多个测试槽容器，每个所述测试槽容器都构造为容纳并且支撑所述测试槽之一，其中每个所述测试槽容器都包括相对应的插件导轨组件，所述插件导轨组件构造为与所述安装板组件之一可释放地相接合；
其中每个所述测试槽都可从所述底座独立地移除。
13.一种磁盘驱动器测试系统，包括：
多个测试槽，每个所述测试槽包括：
壳体，所述壳体具有：
测试室，用于容纳并且支撑载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器以进行测试，以及
开口端，提供了进入所述测试室的入口，用于将载有磁盘驱动器的磁盘驱动器输送器插入和移除以进行测试，
安装板组件，连接到所述壳体并且包括安装板，以及
一个或者更多隔离器，设置于所述壳体和所述安装板之间，所述一个或者多个隔离器可操作性地抑制振动能量在所述壳体和所述安装板之间传播，其中，所述一个或者更多隔离器包括一个或更多公-母隔离器和一个或更多垫圈，其中，在除了沿所述磁盘驱动器的长轴的Y轴负方向以外的所有方向上，所述一个或者更多垫圈被约束在凸缘构件的相对应的U字形的凹口或者叉状开口，并且其中，所述一个或者更多垫圈可在相对应的U字形的凹口或者叉状开口中运动，其中，所述凸缘构件被包括在所述安装板中；以及
底座，具有多个测试槽容器，每个所述测试槽容器都构造为容纳并且支撑所述测试槽之一，其中每个所述测试槽容器都包括相对应的插件导轨组件，所述插件导轨组件构造为与所述安装板组件之一可释放地相接合，并且其中每个所述测试槽都可从所述底座独立地移除；
其中每个所述测试槽容器都被构造成可释放地接合所述测试槽安装板之一，从而机械地连接相关的测试槽到所述底座。
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