CN1508593A - 测量液晶显示面板研磨量的设备和方法 - Google Patents

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Abstract

一种用来测量液晶显示面板研磨量的设备包括一用来研磨单元液晶显示面板上、下边缘部分的研磨单元，一用来产生单元液晶显示面板的上边缘部分研磨面图像的第一成像系统，以及一用来产生单元液晶显示面板的下边缘部分研磨面图像的第二成像系统。

Description

测量液晶显示面板研磨量的设备和方法
本申请要求享有2002年12月17日在韩国递交的韩国专利申请P2002-080862号的权益，该申请可供参考。
技术领域
本发明涉及测量显示面板研磨量的设备和方法，具体涉及一种测量液晶显示面板研磨量的设备和方法。
背景技术
为了提高制造液晶显示装置的产量，通常要在第一大尺寸玻璃基板上形成多个薄膜晶体管阵列基板，并在第二大尺寸玻璃基板上形成多个滤色片基板。然后将第一和第二基板粘结到一起而同时形成多个单元液晶显示面板。这样就需要一个将液晶显示面板切割成多个单元液晶显示面板的步骤。
单元液晶显示面板的切割一般是这样进行的，用一个硬度比第一和第二玻璃基板硬度更高的轮子在第一和第二基板之一的表面上形成划线，以便沿着划线扩展裂缝。
图1是按照现有技术的多个单元液晶显示面板的一个截面图。在图1中，多个薄膜晶体管阵列基板1沿着多个滤色片基板2的侧面突出。还要沿着薄膜晶体管阵列基板1与滤色片基板2没有重叠的边缘部分形成栅极焊盘单元(未表示)和数据焊盘单元(未表示)。这样就能在第二基板30上形成滤色片基板2，并用对应着在第一基板20上形成的薄膜晶体管阵列基板1突出部分的虚拟区31将所述滤色片基板2隔离开。
适当地设置单元液晶显示面板，以便有效利用第一和第二基板20和30的面积。一般还要用区域32将单元液晶显示面板隔离开。
在包括薄膜晶体管阵列基板1的第一基板20和包括滤色片基板2的第二基板30彼此粘结之后，将液晶显示面板切割成单个的单元液晶显示面板。在切割过程中相应地去掉虚拟区31和区域32。
图2是按照现有技术的单元液晶显示面板的一个平面图。图2中的单元液晶显示面板10包括：一个图像显示单元13，其中的液晶盒按矩阵形式布置；一个栅极焊盘部分14，将图像显示单元13的栅极线(GL1到GLm)连接到提供有栅极信号的栅极驱动集成电路(未表示)；以及一个数据焊盘部分15，将图像显示单元13的数据线(DL1到DLn)连接到提供有图像信息的数据驱动集成电路(未表示)。栅极焊盘部分14和数据焊盘部分15是沿着薄膜晶体管阵列基板1的边缘部分形成的，并且，相对于滤色片基板2来说，从薄膜晶体管阵列基板1的短边和长边伸出。
尽管图中没有表示，在薄膜晶体管阵列基板1上数据线DL1到DLn与栅极线GL1到GLm的各个交叉部分上形成用来开关液晶盒的一个薄膜晶体管。进而将一个象素电极连接到薄膜晶体管，用来对液晶盒提供一个电场，并提供一个钝化膜来保护数据线DL1到DLn和栅极线GL1到GLm，其中的薄膜晶体管和象素电极形成在薄膜晶体管阵列基板1上。还要在滤色片基板2上设置由黑色矩阵(black matrix)分隔开并涂敷在液晶盒区域上的多个滤色片和作为形成在薄膜晶体管阵列基板1上的象素电极的配对电极(counter electrode)的公共透明电极。
在薄膜晶体管阵列基板1和滤色片基板2之间形成一个盒间隙，从而由二者之间形成的间隙将两基板分隔开。用沿着图像显示单元13外围形成的密封剂(未表示)粘结薄膜晶体管阵列基板1和滤色片基板2，并在薄膜晶体管阵列基板1和滤色片基板2之间的间隙内形成一个液晶层(未表示)。
尽管没有表示，在薄膜晶体管阵列基板1的边缘部分形成一个短路棒，以防止在对薄膜晶体管阵列基板1上的导电薄膜进行构图时出现的静电放电。在液晶显示面板切割成单个单元液晶显示面板之后去掉短路棒。这样，需要研磨单元液晶显示面板的边缘部分以去掉短路棒。此外，研磨单元液晶显示面板的边缘部分会不利地在单元液晶显示面板的边缘部分内部引起由外部冲击而产生碎片。因此，操作人员可能会受到单元液晶显示面板边缘部分的尖锐碎片的伤害。
图3是按照现有技术用于液晶显示面板的一种研磨装置的示意图。图3中的研磨装置包括：用来装载切割的单元液晶显示面板10的装载单元50；一个研磨单元53，其接收装载在装载单元50上的单元液晶显示面板10，在一个研磨台51上对准单元液晶显示面板10，并且用一个高速旋转的研磨轮52研磨单元液晶显示面板10的边缘部分；以及一个卸载单元54，从研磨单元53上接收并卸下研磨后的单元液晶显示面板10。
图4是按照现有技术一种用来测量液晶显示面板研磨量的设备的透视图。在图4中，研磨单元液晶显示面板10的边缘部分，从而沿着上、下表面形成倾斜的边沿部分。一般来说，对单元液晶显示面板10上形成有短路棒的上边缘部分的研磨量比单元液晶显示面板10的下边缘部分要大。
为了测量单元液晶显示面板10的研磨量，要在单元液晶显示面板10边缘部分的上边安装一个照相机60来产生单元液晶显示面板10的上边缘部分的图像。随着操作人员检查单元液晶显示面板10的上边缘部分的图像，操作人员就能确定研磨量是否合适。
图5是按照现有技术用照相机产生的一幅照片图像的平面图。在图5中，由照相机60(图4中的)拍摄的图像C1显示出单元液晶显示面板10的上边缘部分的研磨宽度W1。然而，这种液晶显示面板研磨量测量设备存在以下的缺点。首先，由于照相机60(图4中的)是安装在单元液晶显示面板10边缘部分的上侧，只能获得单元液晶显示面板10上边缘部分的照片图像。这样就无法获得单元液晶显示面板10下边缘部分的照片图像，因而无从确定单元液晶显示面板10下边缘部分的研磨量是否合适。由此可能造成单元液晶显示面板10的下边缘部分有缺陷，这会导致有缺陷的液晶显示面板并使产量下降。
发明内容
本发明具体涉及一种用来测量液晶显示面板研磨量的装置及方法，能够基本上消除因现有技术的局限和缺点造成的这些问题。
本发明的目的是提供一种测量单元液晶显示面板的上、下边缘部分研磨量的装置。
本发明的目的是提供一种测量单元液晶显示面板的上、下边缘部分研磨量的方法。
以下要说明本发明的附加特征和优点，一部分可以从说明书中看出，或者是通过对本发明的实践来学习。采用说明书及其权利要求书和附图中具体描述的结构就能实现并达到本发明的目的和其他优点。
为了按照本发明的意图实现上述目的和其他优点，以下要具体和广泛地说明，一种用来测量液晶显示面板研磨量的设备包括：一用来研磨单元液晶显示面板上、下边缘部分的研磨单元；一用来产生单元液晶显示面板上边缘部分研磨面图像的第一成像系统；以及一用来产生单元液晶显示面板下边缘部分研磨面图像的第二成像系统。
按照另一方面，一种用来测量液晶显示面板研磨量的系统包括一成像系统，它沿着液晶显示面板的上、下边缘部分产生液晶显示面板被研磨的上、下边缘部分的图像。
按照再一方面，一种用来测量液晶显示面板研磨量的方法包括用一研磨单元研磨单元液晶显示面板的上、下边缘面，并且用一成像系统产生单元液晶显示面板被研磨的上、下边缘面的图像。
应该意识到以上的概述和下文的详细说明都是解释性的描述，都是为了进一步解释所要求保护的发明。
附图说明
所包括的用来便于理解本发明并且作为本申请一个组成部分的附图表示了本发明的实施例，连同说明书一起可用来解释本发明的原理。在附图中：
图1是按照现有技术的多个单元液晶显示面板的一个截面图；
图2是按照现有技术的单元液晶显示面板的一个平面图；
图3是按照现有技术的一种用于液晶显示面板的研磨设备的示意图；
图4是按照现有技术的一种用来测量液晶显示面板研磨量的设备的透视图；
图5是按照现有技术用照相机产生的一幅照片图像的平面图；
图6是按照本发明的一例用来测量液晶显示面板研磨量的设备的透视图；
以及
图7A和7B是按照本发明用图6中的第一和第二成像系统产生的照片图像的平面图。
具体实施方式
以下要具体参照在附图中表示的本发明的最佳实施例。
图6是按照本发明的一例用来测量液晶显不面板研磨量的设备的透视图。在图6中，一种用来测量液晶显示面板研磨量的设备可以包括用来研磨单元液晶显示面板100上、下边缘部分的研磨单元110，用来产生单元液晶显示面板100的上边缘部分研磨面图像的第一成像系统120，以及用来产生单元液晶显示面板100的下边缘部分研磨面图像的第二成像系统130。研磨单元110包括一个研磨台111，在其上可以装载单元液晶显示面板100，以及用来研磨单元液晶显示面板100上、下边缘部分的多个研磨轮(未表示)。
尽管图中没有表示，单元液晶显示面板100是由粘结在一起的薄膜晶体管阵列基板和滤色片基板构成的，使得薄膜晶体管阵列基板的一个短边和一个长边比滤色片基板的侧边更加突出。还可以在薄膜晶体管阵列基板和滤色片基板粘结到一起的区域上设置一个图像显示部分，在该部分可以按矩阵结构形成多个象素。
在薄膜晶体管阵列基板的图像显示部分上可以彼此交叉地形成沿水平方向布置的多条栅极线和沿垂直方向布置的多条数据线。进而在栅极线和数据线的交叉区域所限定的矩形区域上按矩阵结构来布置多个象素。这多个象素可以单独包括一薄膜晶体管作为其开关器件和象素电极。
滤色片基板的图像显示部分可以包括由黑色矩阵和公共电极隔开的红、绿、蓝滤色片，并且象素电极的配对电极可以形成在薄膜晶体管阵列基板上。可以用沿着图像显示部分的外边沿形成的一种密封剂将薄膜晶体管阵列基板和滤色片基板粘结一起。可以用照相平板印刷工艺在薄膜晶体管阵列基板或滤色片基板上形成随意散布的球形衬垫料或带有图形的衬垫料(例如圆柱形衬垫料)。这样，粘结在一起的薄膜晶体管阵列基板和滤色片基板之间可以具有一定的间隙，其中可以在间隙内形成一个液晶层。可以在薄膜晶体管阵列基板和滤色片基板粘结到一起后用真空注入法形成液晶层，或者可以将液晶材料滴注到薄膜晶体管阵列基板和滤色片基板中的至少一个上，并将薄膜晶体管阵列基板和滤色片基板粘结到一起来形成液晶层。
可以沿着薄膜晶体管阵列基板上突出的短边形成一个栅极焊盘部分，该部分电连接到栅极线以向栅极线提供驱动信号。还可以沿着薄膜晶体管阵列基板上突出的长边形成一个数据焊盘部分，该部分电连接到数据线以向数据线提供图像信息。
在图6中，可以将单元液晶显示面板100的上、下边缘部分研磨成包括一倾斜的边缘部分。例如，对单元液晶显示面板100上可以形成短路棒的上边缘部分的研磨量可以比单元液晶显示面板100下边缘部分的研磨量大。
可以分别沿着单元液晶显示面板100的上、下边缘部分布置第一和第二成像系统120和130。例如，第一和第二成像系统120和130之一或是二者可以包括一个用来产生单元液晶显示面板100上、下边缘部分的图像的电荷耦合装置(CCD)。可以利用在单元液晶显示面板100的上、下边缘部分设置的对准标记(未表示)将第一和第二成像系统120和130分别对准到单元液晶显示面板100的上、下边缘部分。这样就能用单元液晶显示面板100上、下边缘部分研磨面的图像来测量单元液晶显示面板100上、下边缘部分的研磨量。
例如，第一和第二成像系统120和130可以沿着单元液晶显示面板100的上、下边缘部分产生用来测量研磨量的图像。或是由第一和第二成像系统120和130在单元液晶显示面板100上、下边缘部分的一个或多个位置上产生单元液晶显示面板100上、下边缘部分研磨面的图像，用这种图像来测量研磨量。
随着研磨单元110的研磨台111的旋转和移动，第一成像系统120能够在单元液晶显示面板100上表面的预定位置上产生用来测量单元液晶显示面板100上表面研磨量的图像。而第二成像系统130能够在单元液晶显示面板100下表面的预定位置上产生用来测量研磨量的图像。这样就不再需要额外的步骤来对单元液晶显示面板100的下表面研磨量进行校正。
图7A和7B是按照本发明用图6中的第一和第二成像系统产生的照片图像的平面图。在图7A和7B中，由第一成像系统120产生的图像C11能显示出单元液晶显示面板100上边缘部分的研磨宽度W11，而第二成像系统130产生的图像C12能显示出单元液晶显示面板100下边缘部分的研磨宽度W12。例如，在单元液晶显示面板100上可以形成短路棒的上边缘部分的研磨量可以比单元液晶显示面板100的下边缘部分的研磨量大。这样，单元液晶显示面板100上边缘部分的研磨宽度W11就会比单元液晶显示面板100下边缘部分的研磨宽度W12宽。
这样，操作人员就能根据用第一和第二成像系统120和130产生的图像C11和C12来检测单元液晶显示面板100上、下边缘部分的研磨量。如果所执行的研磨有缺陷，就能通过适当控制设置在研磨单元110内部的研磨轮(未表示)来校正单元液晶显示面板100上、下边缘部分的研磨量。
本领域的技术人员能够看出，无需脱离本发明的原理或范围还能对按照本发明用来测量液晶显示面板研磨量的设备和方法进行各种各样的修改和变更。因此，本发明应该覆盖属于权利要求书及其等效物范围内的修改和变更。

Claims (24)

1.一种用来测量液晶显示面板研磨量的设备，包括：
一用来研磨单元液晶显示面板上、下边缘部分的研磨单元；
一用来产生单元液晶显示面板上边缘部分研磨面图像的第一成像系统；
以及
一用来产生单元液晶显示面板下边缘部分研磨面图像的第二成像系统。
2.按照权利要求1所述的设备，其特征在于，研磨单元包括：
在其上装载有单元液晶显示面板的一个研磨台；以及
用来研磨单元液晶显示面板上、下边缘部分的多个研磨轮。
3.按照权利要求1所述的设备，其特征在于，单元液晶显示面板是通过将薄膜晶体管阵列基板和滤色片基板粘结在一起而形成的。
4.按照权利要求1所述的设备，其特征在于，第一和第二成像系统设置在研磨单元内。
5.按照权利要求1所述的设备，其特征在于，第一和第二成像系统包括一个电荷耦合装置(CCD)。
6.按照权利要求1所述的设备，其特征在于，用设置在单元液晶显示面板边缘部分的对准标记将第一和第二成像系统与单元液晶显示面板的边缘部分对准。
7.按照权利要求1所述的设备，其特征在于，第一和第二成像系统沿着单元液晶显示面板的上、下边缘部分产生研磨面的图像。
8.按照权利要求1所述的设备，其特征在于，第一和第二成像系统在单元液晶显示面板的上、下边缘部分的一个或多个位置上产生图像。
9.一种用来测量液晶显示面板研磨量的系统，包括：
一成像系统，用来沿着液晶显示面板上、下边缘部分产生液晶显示面板被研磨的上、下边缘部分的图像。
10.按照权利要求9所述的系统，其特征在于，液晶显示面板包括薄膜晶体管阵列基板和滤色片基板。
11.按照权利要求9所述的系统，其特征在于，成像系统设置在研磨单元内。
12.按照权利要求9所述的系统，其特征在于，成像系统包括至少一个电荷耦合装置(CCD)。
13.按照权利要求9所述的系统，其特征在于，用设置在液晶显示面板边缘部分的对准标记将成像系统与液晶显示面板的边缘部分对准。
14.按照权利要求9所述的系统，其特征在于，成像系统在液晶显示面板上、下边缘部分的相应位置产生图像。
15.一种用来测量液晶显示面板研磨量的方法，包括：
用一个研磨单元研磨单元液晶显示面板的上、下边缘面；并且
用一个成像系统产生单元液晶显示面板被研磨的上、下边缘面的图像。
16.按照权利要求15所述的方法，其特征在于，进一步包括：
将单元液晶显示面板装载到研磨单元的一个研磨台上；并且
用多个研磨轮研磨单元液晶显示面板的上、下边缘面。
17.按照权利要求15所述的方法，其特征在于，单元液晶显示面板包括一个薄膜晶体管阵列基板和一个滤色片基板。
18.按照权利要求15所述的方法，其特征在于，成像系统设置在研磨单元内。
19.按照权利要求15所述的方法，其特征在于，成像系统包括至少一个电荷耦合装置(CCD)。
20.按照权利要求15所述的方法，其特征在于，进一步包括用设置在单元液晶显示面板上、下边缘面的对准标记将成像系统与单元液晶显示面板的上、下边缘面对准。
21.按照权利要求15所述的方法，其特征在于，产生图像包括用成像系统产生单元液晶显示面板被研磨的上、下边缘面的图像。
22.按照权利要求15所述的方法，其特征在于，产生图像包括在单元液晶显示面板上、下边缘面的一个或多个位置上产生单元液晶显示面板被研磨的上、下边缘面的图像。
23.一种液晶显示面板，它具有采用权利要求15的方法来测量的研磨后的上、下边缘面尺寸。
24.一种液晶显示面板，它具有采用权利要求1的设备来测量的研磨后的上、下边缘面尺寸。
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