CN1542784B - 兼容型光学拾取器以及其中光输出量的检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种兼容型光学拾取器，包括第一和第二光源，发出具有不同波长的光，第一和第二光电检测器，用于检测信息信号和/或误差信号，以及一种使用兼容型光学拾取器检测光输出量的方法。第一光电检测器监测第二光源的光输出量，第二光电检测器监测第一光源的光输出量。由于通过第一和第二光电检测器检测出用于监测第二和第一光源的光输出量的信号，因此不需要额外的前置光电检测器。这样，就减少了光学拾取器中光学组件的数量。同样，由于无需考虑在基面上安装光电检测器的空间，使得基面得以简化。这样既减少了低劣模子的数量，又延长了模子的使用寿命。

Description

兼容型光学拾取器以及其中光输出量的检测方法

技术领域

本发明涉及一种兼容型光学拾取器以及在拾取器中对光输出量进行检测的方法。

背景技术

近来，光学拾取器变得更加复杂，要求具有许多组件以满足需要，比如，兼容使用不同类型的光盘，倍速增加等。

然而，考虑到光学拾取器的空间限制以及迅速普及的便携式终端(如笔记本电脑等)，所以新的光学拾取器一定要简洁、纤巧。为了达到该目标，必须减少光学拾取器的组件数量。

对光学拾取器所包括的组件的尺寸以及数量进行简化，对于减少光学拾取器的制造成本以及简化基面设计都是非常重要的。

典型的光学拾取器包括有一个独立的前置光电检测器，以检测光源的光输出量。一般来说，前置光电检测器安装在一立方形或平板型分束器之后，所述分束器作为光拾取器进行光路转换的装置。

典型的包括独立前置光电检测器的光学拾取器存在以下问题：首先由于含有多个组件，所述光学拾取器的制造成本很高。其次，由于基面必须要留有安装前置光电检测器的空间，使得基面的结构变得复杂，这样在喷射模塑基面的过程中，导致构成基面的液体材料的流动较差。从而，经常出现劣质铸模，并且导致在喷射模塑基面中所使用的模子的使用寿命缩短。

发明内容

本发明提供一种设计用于监测光源光输出量的兼容型光学拾取器，其不需要额外的前置光电检测器，以及采用所述兼容型光学拾取器检测光输出量的方法。

本发明的一方面提供一种兼容型光学拾取器，它包括第一和第二光源，以及第一和第二光电检测器，可以兼容处理具有不同格式的第一和第二记录介质。第一光源，其所发出的第一光束具有适于第一记录介质的波长。第一光电检测器检测与第一记录介质相关的信息信号和/或误差信号。第二光源，其所发出第二光束具有适于第二记录介质的波长。第二光电检测器检测与第二记录介质相关的信息信号和/或误差信号。第一光电检测器通过检测从第二光源发出的、并经反射过程入射至第一光电检测器的部分第二光束，对第二光源的光输出量进行监测，和/或第二光电检测器通过检测从第一光源发出的，并经反射过程入射至第二光电检测器的部分第一光束，对第一光源的光输出量进行监测。

本发明的另一方面同样提供一种兼容型光学拾取器，它包括：第一和第二全息光学模块。第一全息光学模块，包括第一光源，其发出的第一光束具有适于第一记录介质的波长，用于改变第一光束路径的第一全息器件，第一光电检测器，用于接收由记录介质所反射的光；第二全息光学模块，包括第二光源，其发出的第二光束具有适于第二记录介质的波长，所述第二记录介质具有与第一介质不同的格式，用于改变第二光束路径的第二全息器件，第二光电检测器，用于接收记录介质所反射的光。第一光电检测器通过检测从第二光源发出的、并经反射过程入射至第一全息光学模块的部分第二光束，对第二光源的光输出量进行监测，和/或第二光电检测器通过检测从第一光源发出的，并经反射过程入射至第二全息光学模块的部分第一光束，对第一光源的光输出量进行监测。

优选的，兼容型光学拾取器进一步包括第一检测电路，其与第一光电检测器相耦合，所产生的监测信号正比于第二光源的光输出量；和/或第二检测电路，其与第二光电检测器相耦合，所产生的监测信号正比于第一光源的光输出量。

根据本发明的另一方面，第一光电检测器通过检测由第二光源发出的、经记录介质反射、然后入射至第一光电检测器的第二光束，对第二光源的光输出量进行监测，和/或第二光电检测器通过检测由第一光源发出的、经记录介质反射、然后入射至第二光电检测器的第一光束，对第一光源的光输出量进行监测。

在这种情况下，兼容型光学拾取器进一步包括一平板型分束器，其按照预定比率对第一和第二光束分别进行透射和反射。

根据本发明的一方面，一用于反射部分第一和/或第二光束的反射部件安装在第一和第二光源所发出的的第一和第二光束的公共路径上，第一光电检测器通过检测由第二光源发出的、经过反射过程入射至第一光电检测器的部分第二光束，对第二光源的光输出量进行监测，和/或第二光电检测器通过检测由第一光源发出的、经过反射过程入射至第二光电检测器的部分第一光束，对第一光源的光输出量进行监测。

在这种情况下，兼容型光学拾取器进一步包括一立方型分束器，该分束器按照一定比率透射和反射第一和第二光束。在该立方型光束分离器的表面安装反射部件。

优选的，第一和第二光源的其中一个所发出的光束具有适于记录和/或复制CD族记录介质的波长，而另一个光源所发出的光束具有适于记录和/复制DVD族记录介质的波长。

本发明的另一方面提供了一种通过兼容型光学拾取器对第一和/或第二光源的光输出量进行检测的方法，所述兼容型光学拾取器包括第一和第二光源，以及第一和第二光电检测器，可兼容处理具有不同格式的第一和第二记录介质。所述第一光源发出的第一光束具有适于第一记录介质的波长。第一光电检测器，检测与第一记录介质相关的信息信号和/或误差信号。第二光源，其所发出的第二光束具有适于第二记录介质的波长。第二光电检测器，检测与第二记录介质相关的信息信号和/或误差信号。在该方法中，首先使用第一光电检测器检测由第二光源发出的、经反射过程入射至第一光电检测器的部分第二光束，和/或使用第二光电检测器检测由第一光源发出的、经反射过程入射至第二光电检测器的部分第一光束。此后，由第一光电检测器所检测出的对应于第二光束的信号，得到第二光源的光输出量的监测信号，由第二光电检测器所检测出的对应于第一光束的信号，得到第一光源的光输出量的监测信号。

附图说明

通过参考以下附图及实施例，本发明的上述及其他特征，以及优点将更加清楚：

图1为本发明第一个实施例的兼容型光学拾取器的透视图；

图2为图1中全息光学模块的示意图；

图3为本发明第二个实施例的兼容型光学拾取器的透视图；

图4为图1和图3中检测电路的主要输出终端。

图5为依据本发明采用兼容型光学拾取器的兼容型光学记录和/或复制装置的的结构示意图。

具体实施方式

依据本发明的兼容型光学拾取器包括第一和第二光源，用以发出不同波长的光，第一和第二光电检测器用以检测信息信号和/或误差信号。通过第二光电检测器监测第一光源的光输出量，通过第一光电检测器监测第二光源的光输出量。

图1给出了本发明第一个实施例的兼容型光学拾取器的透视图。图1中，依据本发明第一个实施例，兼容型光学拾取器可以兼容采用两种或两种以上具有不同格式的记录介质，如高密度记录介质和低密度记录介质。图1中光学拾取器包括第一和第二全息光学模块20和30，物镜29，平板型分束器25，第一和第二准直透镜24和34，从而形成了一个光学结构。物镜29将入射光聚焦后形成一个光斑投射到记录介质10的表面上。平板型分束器25按照预定比透射送和反射入射光。第一和第二准直透镜24和34分别安装在第一全息光学模块和平板型分束器25，以及第二全息光学模块和平板型分束器25之间。

附图标记27和37表示反射镜。图1中兼容型光学拾取器的光学结构适合于细长型的光学拾取器，或适用于将其厚度减少至没有反射镜的光学拾取器的厚度的一半。依据本发明的光学拾取器可以没有反射镜27和37。

第一和第二全息光学模块20和30中均可以具有图2所示的结构。

在图2中，第一全息光学模块20包括第一光源21，第一全息器件23和第一光电检测器22。第一光源21发出具有预定波长的光，所述波长适用于记录和/或复制高密度记录介质。

第二全息光学模块30包括第二光源31，第二全息器件33和第二光电检测器32。第二光源31发出发出具有预定波长的光，所述波长适用于记录和/或复制地密度记录介质。第二光源31发出的光波长不同于第一光源21发出的光波长。

依据本发明第一个实施例，当光学拾取器兼容性地适用于CD和DVD时，第一光源21发出的第一光束21a优选地在红光波长范围内(例如，波长范围在645nm到680nm，优选为650nm)，第二光源31发出的第二光束31a优选地在红外波长范围内(例如，波长范围在770nm到810nm，优选为780nm)。可以使用半导体激光作为第一和第二光源21和31。

依据本发明第一个实施例，当光学拾取器兼容性地适用于DVD和下一代DVD时，第一光源21发出的第一光束21a优选地在蓝光波长范围内，第二光源31发出的第二光束31a优选地在红光波长范围内。

第一和第二全息器件23和33均作为光路转换装置。第一全息器件23透射第一光源21的第一光束21a，而不改变其光路，以±1阶衍射所入射的第一和第二光束21a和31a，并将所述的±1阶衍射光透射到第一光电检测器22。

同样的，第二全息器件33透射第一光源31的第一光束31a，而不改变其光路，以±1阶衍射所入射的第一和第二光束21a和31a，并将所述的±1阶衍射光透射到第一光电检测器32。

如前所述，第一光电检测器22接收入射至第一全息光学模块20的第一和第二光束21a和31a。更具体地，第一光电检测器22接收经记录介质10反射的、大部分经平板型分束器25透射的第一光束21a，以及检测来自于所接收到的第一光束21a的、与高密度光盘相关的信息信号和/或误差信号。第一光电检测器22也接收经记录介质10反射的、经平板型分光束25透射的少量第二光束31a，从所接收到的第二光束31a检测出第一监测信号，以监测第二光源31的光输出量。在接下来将要描述的本发明的第二个实施例中，由第一光电检测器22接收用于监测第二光源31光输出量的第二光束31a，经图3中的反射部件85进行反射，而不是用平板型分束器25进行反射。

如前所述，第二光电检测器32接收入射至第二全息光学模块30的第一和第二光束21a和31a。更具体地说，第二光电检测器32接收经记录介质10反射的、大部分经平板型分束器25透射的第二光束31a，以及检测来自于所接收到的第二光束21a的、与低密度光盘相关的信息信号和/或误差信号。第二光电检测器32也接收经记录介质10反射的、经平板型分光束25透射的少量第一光束21a，从所接收到的第一光束21a检测出第二监测信号，以监测第一光源21的光输出量。在接下来将要描述的本发明的第二个实施例中，由第二光电检测器32接收用于监测第一光源31光输出量的第一光束21a，经图3中的反射部件85进行反射，而不是用平板型分束器25进行反射。

根据本发明的第一个实施例，兼容型光学拾取器可以用立方型分束器或平板型分束器来代替第一和第二全息器件23和33。因此第一光源21和第一光电检测器22可以独立安装，对第二光源31和第二光电检测器也是同样。

优选的，平板型分束器25按照预定比率透射和反射第一和第二光束21a和31a。

例如，优选地，平板型分束器25透射大部分的第一光束21a，并反射余下的部分。在这种情况下，源于第一光源21的大部分第一光束21a经平板型分束器25传播至记录介质10。大部分第一光束21a被记录介质10反射，经平板型分束器25透射至第一全息光学模块20上，其余部分经平板型分束器25反射至第二全息光学模块30上。

因此，第二全息光学模块30的第二光电检测器32能够接收第一光源21的部分第一光束，从而监测第一光源21的光输出量。

而且，优选地，平板型分束器25反射大部分第二光束31a，并透射余下的部分。在这种情况下，平板型分束器25将源自第二光源31的大部分第二光束31a反射至记录介质10上。经记录介质10反射的大部分第二光速31a被平板型分束器25再次反射到第二全息光学模块30上，其余部分则由平板型分束器25透射至第一全息光学模块20上。因此，第一全息光学模块20的第一光电检测器22可以接收源自第二光源31的部分第二光束31a，以监测第二光源31的光输出量。

依据本发明的第一个实施例的兼容型光学拾取器包括平板型分束器25，通过采用对应于经记录介质10反射的第一光束21a、并经第二全息光学模块30的第二光电检测器32所检测出的信号，以及对应于经记录介质10反射的第二光束31a、并经第一全息光学模块20的第一光电检测器22所检测出的信号，对第一和/或第二光源21和/或31的光输出量进行监测。

参见图3，根据本发明的第二个实施例，为了监测第一和/或第二光源21和/或31的光输出量，兼容型光学拾取器包括位于第一光束21a和第二光束31a的公共光路上的反射部件85，用于反射第一和/或第二光束21a和/或31a，而不是采用经记录介质10a反射的第一和/或第二光束21a和/或31a。

而且，如图3所示，依据本发明第二个实施例的兼容型光学拾取器包括一立方型分束器80，按照预定比率透射和反射第一和第二光束21a和31a，以取代图1中的平板型分束器25。反射部件85可以安装在立方型分束器80的光发射表面上。反射部件85可以涂覆在立方型分束器85的光发射表面上，也可以作为一个独立部件连接到其光发射表面上。

依据本发明的第二个实施例，在兼容型光学拾取器中，可以使用平板型分束器25来代替立方型分束器80。同样，依据本发明第一个实施例，在兼容型光学拾取器中，可以使用立方型分束器80来代替平板型分束器25。

由于图3中使用了与图1中相同的附图标记以表示相似的光学部件，因此，这里就不再描述。

如图3所示，当反射部件85安装到第一和第二光束21a和31a的公共光路上时，第一光源21所发出的、经立方型(平板型)分束器80(25)透射的部分第一光束21a被反射部件85反射至第二全息光学模块30，然后入射至第二光电检测器32。同样，第二光源31所发出的、经立方型(平板型)分束器80(25)透射的部分第二光束31a被反射部件85反射至第一全息光学模块20，然后入射至第一光电检测器22。从而第一光电检测器22可以监测第二光源31的光输出量，和/或第二光电检测器32可以监测第一光源21的光输出量。

如图1和图3所示，依据本发明第一和第二实施例的每一兼容型光学拾取器进一步包括第一和/或第二检测电路40和/或50。第一检测电路40与第一光电检测器22相连，可以产生第一监测信号，用以监测第二光源31的光输出量。第二检测电路50与第二光电检测器32相连，可以产生第二监测信号，用以监测第一光源21的光输出量。这里，图1和图3中给出了具有第一和第二检测电路40和50的例子。第一和第二检测电路40和50为光电检测集成电路，分别与第一和第二光电检测器22和32相连。

优选的，第一检测电路40同样检测与高密度光学磁盘相关联的信息信号和/或误差信号，该信号由第一光电检测器22所检测，与第一光束21a相对应。优选的，第二检测电路50同样检测与低密度光学磁盘相关联的信息信号和/或误差信号，该信号由第二光电检测器32所检测，与第二光束31a相对应。

如图4所示，第一和第二检测电路40和50均包括一输出终端60用以输出第一和第二监测信号。输出终端60可以作为输出信息复制信号的输出终端，即射频信号。可选择地，输出终端60可以是独立添置的终端，用以输出与典型光电集成电路相关的监测信号。

现在对为何通过同一个输出终端输出监测信号和信息复制信号的原因进行解释。例如，在一个高密度磁盘的记录和复制过程中，第一全息光学模块20的第一光源21发出第一光束21a，第一全息光学模块20的第一光电检测器22检测与高密度光盘相关的信息信号和/或误差信号。因为在低密度磁盘的记录和/或复制过程中并没有使用到第二全息光学模块30的第二光源31和第二光电检测器32。这时，第二光电检测器32可以检测出经高密度光盘反射的部分第一光束21a，从对应于被检测的第一光束21a的信号产生第二监测信号，所述第二监测信号可以通过第二监测电路50的输出终端输出，所述输出终端是监测信号和信息复制信号所共用的。同样的，在低密度磁盘的记录和复制过程中，用以监测第二光源31光输出量的第一监测信号可以通过第一检测电路40的输出终端输出，该终端是监测信号和信息复制信号所共用的。

在图4给出的例子中，第一和第二检测电路40和50均包括一个控制器70，例如可变电阻，用以控制监测信号的放大比率。也就是说，控制器70的使用具有一定的优势，其可以对第一或第二监测信号的放大比率进行控制。

参考以上对本发明的描述，对于本领域中的普通技术人员来说，可以将第一和第二检测电路40和50设计成不同的结构，因此，在此不对第一和第二电路40和50的设计作详细地描述和图示。

在以上所描述的本发明第一和第二实施例的兼容型光学拾取器中，在高密度光盘的记录和或/复制过程中，通过第二光电检测器32检测与低密度光盘相关的信息信号和/或误差信号，以监测第一光源21的光输出量。在低密度光盘的记录和或/复制过程中，通过第一光电检测器22检测与高密度光盘相关的信息信号和/或误差信号，用以监测第二光源31的光输出量。因此，依据本发明第一和第二实施例的兼容型光学拾取器不需要额外的监测用光电检测器，与传统的前置光电检测器相比，可以减少组件的数量，并且不需要为安装传统的前置光电检测器留有空间。

现在以图1中给出的第一个实施例为例，对第一和第二全息光学模块20和30所发出的第一和第二光束21a和31a的透射进行描述。在此，在所描述的例子中，第一全息光学模块20适合记录和/或复制高密度光盘，如DVD，第二全息光学模块30适合记录和/或复制低密度光盘，如CD。

首先，当采用DVD作为记录介质时，第一光源21发出第一光束21a，该光束为发散光束。

第一光束21a直接经第一全息器件23透射，并经第一准直透镜24准直成为平行光。然后第一光束21a入射至平板型分束器25，并透射至物镜29。第一分光束21a入射至物镜29，会聚成一光斑投射至记录介质10的表面。

第一光束21a被记录介质10的记录表明所反射，然后经物镜29入射至平板型分束器25。大部分入射的第一光束21a经平板型分束器25透射至第一全息光学模块20，其余的被平板型分束器25反射至第二全息光学模块30。第一光束21a的大部分光和小部分光分别入射至第一和第二全息模块20和30，分别经第一和第二全息器件23和33进行衍射和透射，然后分别入射至第一和第二光电检测器22和32。第一检测电路40从第一光电检测器22所检测到的、与大部分第一光束21a相对应的信号中产生一个信息信号和/或误差信号。第二检测电路50从第二光电检测器32所检测到的、与少量第一光束21a相对应的信号中产生第二监测信号，用以监测光源21的光输出量。因此，当使用与第二光电检测器32所检测到的光相对应的信号来控制第一光源21的光输出量时，第一光源21所发出的光经控制使DVD具有精确的记录能力。

当采用CD作为记录介质时，第二光源31发出第二光束31a，该光束为发散光。第二光束31a直接经第二全息器件33透射，并经第二准直透镜34准直成为平行光。然后第二光束31a入射至平板型分束器25，大部分经透射至物镜29。第二分光束31a入射至物镜29，会聚成一光斑投射到记录介质10的表面上。第二光束31a经记录介质10的记录表面反射，然后经物镜29入射至平板型分束器25。大部分入射的第二光束21a经平板型分束器25反射至第二全息光学模块30，其余的经平板型分束器25透射至第一全息光学模块20。第一光束31a的大部分光和小部分光分别入射到第二和第一全息模块30和20上，分别经第二和全息第一图33和23衍射和透射，然后分别入射到第二和第一光电检测器32和22上。第二检测电路50从第二光电检测器32所检测到的、与大部分第二光束31a相对应的信号中产生一个信息信号和/或误差信号。第一检测电路40从第一光电检测器22所检测到的、与少量第二光束31a相对应的信号中产生第一监测信号，用以监测光源31的光输出量。因此，当使用与第一光电检测器22所检测的光相对应的信号来控制第二光源31的光输出量时，第二光源231所发出的光经控制使CD具有精确的记录能力。

依据本发明图3中的第二个实施例，兼容型光学拾取器中光的透射在上文中进行了充分的解释，在此就不进行描述。

依据本发明第一和第二实施例的兼容型光学拾取器可以有一个光学系统，在该系统中，源于第一光源21的第一光束21a经平板型或立体型分束器25或80反射至物镜29，源于第二光源31的第二光束31a经平板型或立体型分束器25或80透射至物镜29。

对本发明第一和第二实施例兼容型光学拾取器的以上描述，以及上面所描述的光输出量的检测方法仅仅作为范例，因此并不能限制本发明。可以对本发明在形式和细节上作出各种变化。

例如，依据本发明，兼容型光学拾取器可以设计成监测光源的光输出量，使得输出光仅适合于一种高密度光盘或一种低密度光盘。当然，这种光盘拾取器的结构可以从本发明的实施例中得到充分的解释，因此不作详细描述。

如上所述，依据本发明的兼容型光学拾取器，可以将信息信号记录到至少一部分CD系列的记录介质上和/或至少一部分DVD系列的记录介质上。

图5给出了依据本发明采用兼容型光学拾取器100的兼容型光学记录和/或复制装置的结构示意图。在图5中，兼容型光学记录和/或复制装置包括一纺锤形马达105，兼容型光学拾取器100，驱动器107和控制器109。纺锤形马达105带动记录介质10旋转，该记录介质为一光学信息存储介质。安装兼容型光学拾取器100使其可以在记录介质10的径向上移动，从而在记录介质10上复制和/或记录数据。驱动器107驱动纺锤形马达105和光学拾取器100。控制器109控制聚焦伺服系统，磁道伺服系统和/或兼容型光学拾取器100的倾斜伺服系统。附图标记102表示一转盘，附图标记103表示一夹住记录介质10的夹子。

兼容型光学拾取器100包括一光学系统，该光学系统设计用于兼容处理具有不同格式的记录介质，如DVD和CD。一传动装置(未示出)用于驱动物镜29。

记录介质10所反射的光被兼容型光学拾取器100中的光电检测器所检测，例如，考虑所采用的记录介质的类型，经本发明的兼容型光学拾取器的第一和/或第二全息光学模块20和30的第一和/或第二光电检测器22或32检测。所检测到的光信号被转换成电信号，电信号经驱动器107施加至控制器109，驱动器107控制纺锤形马达105的转速，并放大接收到的电信号，驱动兼容型光学拾取器100。控制器109根据从驱动器107接收到的电信号来控制聚焦伺服系统命令，磁道伺服系统命令和/或倾斜伺服系统命令，并将控制命令发送到驱动器107使得兼容型光学拾取器100可以进行聚焦、跟踪、和/或倾斜。

如前所述，采用本发明兼容型光学拾取器的兼容型光学记录和/或复制装置可以兼容处理具有不同格式的记录介质。

如前所述，在本发明的兼容型光学拾取器中，检测信息信号和/或误差信号的光电检测器用于检测对光源光输出量进行监测的信号，使得光源光输出量的监测不再需要额外的前置光电检测器。这样，构成光学拾取器的光学部件的数量得以减少，因此降低了光学拾取器的制造成本。

同样，不需要在基板上留有安装前置光电检测器的空间，使得基板得以简化。这样低劣的制模就减少了，模子的使用寿命得以延长。

Claims (14)

1.一种兼容型光学拾取器，可兼容处理具有不同格式类型的第一和第二记录介质，包括：

第一光源，其所发出的第一光束具有适于第一记录介质的波长；

第一光电检测器，检测与第一记录介质相关的信息信号和/或误差信号；

第二光源，其所发出的第二光束具有适于第二记录介质的波长；以及

第二光电检测器，检测与第二记录介质相关的信息信号和/或误差信号，

其中一反射部件安装在第一和第二光源所发出的第一和第二光束的公共路径上，该反射部件用于反射第一和第二光束中的每一个的一部分，第一光电检测器通过检测从第二光源发出的、经该反射部件反射并入射至第一光电检测器的部分第二光束，对第二光源的光输出量进行监测，且第二光电检测器通过检测从第一光源发出的、经该反射部件反射并入射至第二光电检测器的部分第一光束，对第一光源的光输出量进行监测。

2.权利要求1所述的光学拾取器，其特征在于，进一步包括：第一检测电路，它与第一光电检测器相耦合，所产生的监测信号正比于第二光源的光输出量；和第二检测电路，它与第二光电检测器相耦合，所产生的监测信号正比于第一光源的光输出量。

3.权利要求1所述的光学拾取器，其特征在于，进一步包括一平板型分束器，该分束器按照预定比率透射和反射第一和第二光束。

4.权利要求1所述的光学拾取器，其特征在于，进一步包括一立方型分束器，该分束器按照预定比率透射和反射第一和第二光束，其中所述反射部件位于所述立方型分束器的表面。

5.权利要求1所述的光学拾取器，其中第一和第二光源中的一个所发出的光束具有适于记录和/或复制CD族记录介质的波长，而另一个发出的光束则具有适于记录和/或复制DVD族记录介质的波长。

6.权利要求5所述的光学拾取器，其中该兼容光学拾取器能够将信息信号记录到至少部分CD族记录介质上和/或将信息信号记录到至少部分DVD族记录介质上。

7.一种兼容型光学拾取器，包括：

第一全息光学模块，包括第一光源、第一全息器件和第一光电检测器，所述第一光源发出的第一光束具有适于第一记录介质的波长，第一全息器件用于改变第一光束的路径，第一光电检测器用于接收由记录介质所反射的光；

第二全息光学模块，包括第二光源、第二全息器件和第二光电检测器，所述第二光源发出的第二光束具有适于第二记录介质的波长，所述第二记录介质具有与第一介质不同的格式，第二全息器件用于改变第二光束的路径，第二光电检测器用于接收记录介质所反射的光，

其中，一反射部件安装在第一和第二光源所发出的第一和第二光束的公共路径上，该反射部件用于反射第一和第二光束中的每一个的一部分，第一光电检测器通过检测从第二光源发出的、经该反射部件反射并入射至第一光电检测器的部分第二光束，对第二光源的光输出量进行监测，且第二光电检测器通过检测从第一光源发出的、经该反射部件反射并入射至第二光电检测器的部分第一光束，对第一光源的光输出量进行监测。

8.权利要求7所述的光学拾取器，其特征在于，进一步包括：

第一检测电路，它与第一光电检测器相耦合，所产生的监测信号正比于源自第二光源输出光的量；和

第二检测电路，它与第二光电检测器相耦合，所产生的监测信号正比于源自第一光源输出光的量。

9.权利要求7所述的光学拾取器，其特征在于，进一步包括一平板型分束器，该分束器按照预定比率透射和反射第一和第二光束。

10.权利要求7所述的光学拾取器，其特征在于，进一步包括一立方型分束器，该分束器按照预定比率透射和反射第一和第二光束，其中所述反射部件位于所述立方型分束器的表面。

11.权利要求7所述的光学拾取器，其中第一和第二光源中的一个所发出的光束具有适于记录和/或复制CD族记录介质的波长，而另一个发出的光束则具有适于记录和/或复制DVD族记录介质的波长。

12.权利要求11所述的光学拾取器，其中光学拾取器能够将信息信号记录到至少部分CD族记录介质上和/或将信息信号记录到至少部分DVD族记录介质上。

13.一种检测第一和第二光源光输出量的方法，在该方法中采用可兼容处理具有不同格式的第一和第二记录介质的兼容型光学拾取器，该兼容型光学拾取器包括：

第一光源，其发出的第一光束具有适于第一记录介质的波长；第一光电检测器，检测与第一记录介质相关的信息信号和/或误差信号；第二光源，其发出的第二光束具有适于第二记录介质的波长；第二光电检测器，检测与第二记录介质相关的信息信号和/或误差信号；以及一反射部件，安装在第一和第二光源所发出的第一和第二光束的公共路径上，用于反射第一和第二光束中的每一个的一部分，

该方法包括：使用第一光电检测器，检测第二光源发出的、经过该反射部件反射并入射至第一光电检测器的部分第二光束，且使用第二光电检测器，检测第一光源发出的、经该反射部件反射并入射至第二光电检测器的部分第一光束；以及

由第一光电检测器所检测出的对应于第二光束的信号，得到第二光源的光输出量的监测信号，且由第二光电检测器所检测出的对应于第一光束的信号，得到第一光源的光输出量的监测信号。

14.权利要求13所述的方法，其中第一和第二光源中的一个所发出的光束具有适于记录和/或复制CD族记录介质的波长，而另一个发出的光束则具有适于记录和/或复制DVD族记录介质的波长。

Images