DE10032015A1

DE10032015A1 - Testelement-Analysegerät

Info

Publication number: DE10032015A1
Application number: DE10032015A
Authority: DE
Inventors: Hans-Peter Haar; George B K Meacham
Original assignee: Roche Diagnostics GmbH
Current assignee: Roche Diagnostics GmbH
Priority date: 2000-07-01
Filing date: 2000-07-01
Publication date: 2002-01-10
Also published as: JP3400438B2; US6787109B2; EP1176421A3; EP1176421A2; US20020037238A1; JP2002048786A

Abstract

Analysesystem zur analytischen Untersuchung einer Probe, insbesondere einer Körperflüssigkeit. Es besteht aus Testelementen (3), die zur Durchführung einer Analyse mit einer zu untersuchenden Probe (8) in Kontakt gebracht werden und einem Auswertegerät (2) mit einer Testelementhalterung (5) zur Positionierung des Testelememtes (3) in einer Meßposition und einer Meß- und Auswertelektronik (15). Die Meß- und Auswerteelektronik (15) des Auswertegerätes (2) weist eine Temperaturkorrektureinrichtung (18) auf, um bei der Ermittlung des Analyseresultates die zum Zeitpunkt der Messung in der Meßzone (7) herrschende Temperatur zu berücksichtigen. Die Temperaturkorrektureinrichtung (18) schließt eine Temperaturverlauf-Abbildungseinrichtung (20) zur stromlosen Rückverfolgung des dem Meßzeitpunkt vorausgehenden Temperaturverlaufs ohne dem Meßzeitpunkt vorausgehenden Verbrauch an elektrischer Energie ein.

Description

Die Erfindung betrifft ein Testelement-Analysesystem zur analytischen Untersuchung einer Probe, insbesondere einer Körperflüssigkeit von Menschen oder Tieren. Zu dem System gehören zwei Bestandteile, nämlich Testelemente, die zur Durchführung einer Analyse mit einer zu untersuchenden Probe in Kontakt gebracht werden und an denen in einer Meßzone eine für die Analyse charakteristische meßbare Veränderung stattfindet, und ein Auswertegerät mit einer Positionierungseinrichtung zur Positionierung des Test elementes in einer Meßposition, einer Meßeinrichtung zur Messung der charakteristischen Veränderung und einer Aus werteelektronik zur Ermittlung eines auf dem Ergebnis der Messung basierenden Analyseresultates.

Testelement-Analysesysteme sind insbesondere in der Medi zin für die Analyse von Urin und Blut gebräuchlich. Die Testelemente haben meist die Form von Teststreifen, je doch sind auch andere Formen von Testelementen, bei spielsweise flache, näherungsweise quadratische Plätt chen, gebräuchlich.

In der Regel enthalten die Testelemente Reagenzien, deren Reaktion mit der Probe zu einer detektierbaren Verände rung des Testelementes führt, die mit dem zu dem System gehörigen Auswertegerät gemessen wird. Gebräuchlich sind insbesondere photometrische Analysesysteme, bei denen die Reaktion eine Farbänderung in einer Nachweisschicht des Testelementes verursacht, die photometrisch gemessen wird. Daneben haben elektrochemische Analysesysteme eine erhebliche Bedeutung, bei denen infolge der Reaktion eine elektrisch meßbare elektrochemische Veränderung des Test elementes stattfindet. Neben diesen mit Reagenzien arbei tenden Analysesystemen werden auch reagenzfreie Analy sesysteme diskutiert, bei denen nach Kontaktierung des Testelementes mit der Probe eine analytisch charakteri stische Eigenschaft der Probe selbst (beispielsweise deren optisches Absorptionsspektrum) gemessen wird. Die Erfindung ist grundsätzlich für alle diese Verfahren verwendbar.

Teilweise werden Testelement-Analysesysteme in medizini schen Labors eingesetzt. Die Erfindung richtet sich je doch insbesondere auf Anwendungsfälle, bei denen die Ana lyse durch den Patienten selbst durchgeführt wird, um seinen Gesundheitszustand laufend zu überwachen ("home monitoring"). Von besonderer medizinischer Bedeutung ist dies für die Behandlung von Diabetikern, die die Konzen tration von Glucose in ihrem Blut mehrfach täglich be stimmen müssen, um ihre Insulininjektionen danach einzu stellen. Für derartige Zwecke müssen die Auswertegeräte leicht, klein, batteriebetrieben, kostengünstig und robust sein.

Ein grundlegendes Problem besteht darin, daß die für die Analyse charakteristische Meßgröße meist stark tempera turabhängig ist. Diese Temperaturabhängigkeit liegt häu fig bei ein bis zwei Prozent pro Grad. Im Bereich des home-monitoring ist es unvermeidlich, daß das Analyse system starken Temperaturänderungen ausgesetzt ist. Dort muß mit Schwankungen der Temperatur von mindestens ± 5° gerechnet werden, wobei wesentlich höhere Temperatur schwankungen vorkommen können, wenn die Messung auch un ter ungewöhnlichen Bedingungen (beispielsweise im Auto oder im Freien) möglich sein soll.

Um die daraus resultierenden Meßungenauigkeiten zu ver meiden, wurde vorgeschlagen, die Meßzone des Testelemen tes mittels einer entsprechenden Temperierungseinrichtung auf eine bestimmte konstante Temperatur zu temperieren. Beispielsweise ist in dem US-Patent 5,035,862 die Tempe rierung individueller Testfelder von Urinteststreifen mittels induktiver Beheizung beschrieben. Derartige Ver fahren sind jedoch bei kleinen batteriebetriebenen Gerä ten wegen des hohen Energieverbrauches unpraktikabel.

Bei manchen Analysesystemen erfolgt eine Temperaturmes sung, um eine Korrektur von durch Temperaturschwankungen verursachten Meßfehlern zu ermöglichen. Dies geschieht üblicherweise mittels eines elektrischen Temperatursen sors (z. B. mittels eines Thermoelementes oder Thermowi derstandes). Wegen der baulichen Gegebenheiten gebräuch licher Analysesysteme ist der Temperatursensor entfernt von der Meßzone des Testelementes lokalisiert. Infolge dessen ist er thermisch getrennt von der Meßzone, d. h. er ist nicht derartig mit der Meßzone thermisch gekoppelt, daß die gemessene Momentantemperatur jederzeit mit der tatsächlichen Temperatur der Meßzone übereinstimmt. Er wird nachfolgend als Umgebungstemperatursensor ATS (Ambient Temperature Sensor) bezeichnet.

Die Auswerteelektronik solcher Systeme schließt eine Tem peraturkorrektureinrichtung ein, um bei der Ermittlung des Analyseresultates die zum Zeitpunkt der Messung herr schende Temperatur zu berücksichtigen. Eine solche Korrektur setzt jedoch voraus, daß die tatsächliche Tem peratur in der Meßzone des Analyseelements zum Zeitpunkt der Messung mit der von dem ATS gemessenen Momentantempe ratur übereinstimmt. Insbesondere im Bereich des home monitoring ist diese Bedingung vielfach nicht erfüllt, weil die Lebensumstände des Patienten es erfordern, daß er Analysen an verschiedenen Orten und unter wechselnden Temperaturbedingungen durchführt. Diese Temperaturschwan kungen können zu großen Abweichungen der von dem ATS ge messenen Momentantemperatur gegenüber der tatsächlichen Temperatur in der Meßzone des Testelementes führen.

Zur Lösung dieses Problems wird in dem US-Patent 5,972,715 vorgeschlagen, an der Halterung des Testelemen tes in dem Auswertegerät oder an dem Testelement selbst eine Temperaturmeßfläche vorzusehen, die mit einem ther mochromen Flüssigkristall (TLC) beschichtet ist. Die Tem peratur des TLC wird durch eine photometrische Messung ermittelt. Dadurch, daß sich die Temperaturmeßstelle in enger Nachbarschaft zu der Meßzone des Testelementes be findet, soll der Unterschied zwischen der gemessenen Tem peratur und der tatsächlichen Temperatur der Meßzone minimiert werden. Dies wird mit guter Genauigkeit jedoch nur erreicht, wenn das Testelement selbst mit dem TLC be schichtet ist. Dies führt jedoch zu erheblichen zusätzli chen Kosten bei der Herstellung der Testelemente. Außer dem läßt sich eine akzeptable Genauigkeit der Temperatur messung nur mit einem hohen meßtechnischen Aufwand errei chen.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Analyse system zur Verfügung zu stellen, mit dem durch eine ver besserte Temperaturkompensation eine erhöhte Meßgenauig keit erreicht wird. Dies soll auf eine Art und Weise ge schehen, die den Anforderungen an home-monitoring-Systeme gerecht wird. Insbesondere soll die Verbesserung nicht zu einer nennenswerten Erhöhung des Gewichtes, der Größe oder des Batterieverbrauchs des Auswertegerätes führen.

Die Aufgabe wird bei einem Analysesystem der vorstehend erläuterten Art dadurch gelöst, daß die Temperaturkorrek tureinrichtung eine Temperaturverlauf-Abbildungseinrich tung zur stromlosen Rückverfolgung des dem Meßzeitpunkt vorausgehenden Temperaturverlaufs ohne dem Meßzeitpunkt vorausgehenden Verbrauch an elektrischer Energie ein schließt.

Das Temperaturverlauf-Abbildungssystem ermöglicht es, bei der Auswertung des Meßsignales und der Ermittlung des Analyseresultates den dem Meßzeitpunkt vorausgehenden Verlauf der Temperatur in der Umgebung des Gerätes zu be rücksichtigen. Dadurch kann eine wesentlich verbesserte Information über die im Bereich der Meßzone des Testele mentes tatsächlich herrschende Temperatur gewonnen wer den. Wenn beispielsweise das Auswertegerät 10 Minuten vor der Messung aus einer kalten Umgebung (z. B. ein im Freien bei 10°C abgestelltes Auto) in eine wesentlich wärmere Umgebung (z. B. einen Wohnraum mit 20°C) gebracht wurde, wird diese starke Temperaturerhöhung von dem Temperatur verlauf-Abbildungssystem angezeigt. In diesem Fall ist davon auszugehen, daß die von einem ATS angezeigte Momen tantemperatur nicht der tatsächlichen Umgebungstemperatur entspricht (also kein thermisches Gleichgewicht zu der Umgebung besteht). Die Temperatur in der Meßzone des Testelementes folgt Temperaturänderungen in der Umgebung wesentlich schneller als ein in dem Gehäuse des Gerätes fixierter ATS, weil der Wärmeübergang von der Umgebung zu der Testzone besser und die Wärmekapazität des Testele mentes vergleichsweise gering ist. Die dadurch bedingte Nacheilung der in dem Gerät gemessenen Momentantemperatur gegenüber der tatsächlichen Temperatur der Meßzone kann aufgrund der Anzeige des Temperaturverlauf-Abbildungssy stems und entsprechender in die Auswerteelektronik ein programmierter Erfahrungswerte abgeschätzt werden. Auf Basis dieser Information kann das Analyseresultat korri giert oder - falls eine Korrektur wegen zu starker Tempe raturänderungen nicht möglich ist - die Ermittlung des Analyseresultats abgebrochen und ein Fehlersignal ange zeigt werden.

Ein wesentliches Merkmal der Erfindung besteht darin, daß in dem Zeitraum, auf den sich der Temperaturverlauf be zieht, keine elektrische Energie verbraucht wird. Eine in diesem Sinne stromlos arbeitendes Temperaturverlauf-Ab bildungseinrichtung kann zu außerordentlich günstigen Kosten realisiert werden. Sie wird nachfolgend als STHD (System Temperature History Device) bezeichnet.

Das erfindungsgemäße System ist vor allem für die home monitoring-Analyse besser geeignet als ein in dem US- Patent 5,405,511 beschriebenes System, bei dem die Tempe ratur mittels eines ATS in regelmäßigen Abständen elek trisch gemessen und auf Basis des gemessenen Temperatur verlaufes eine Korrekturtemperatur durch Extrapolation bestimmt wird. Dazu ist es notwendig, die Temperaturmes sungen vor der Analyse über einen ausreichend langen Zeitraum fortlaufend oder in bestimmten Abständen durch zuführen. Um die damit verbundene Wartezeit vor Durchfüh rung des Tests zu vermeiden, werden auch dann Temperatur messungen im Abstand von einigen Minuten durchgeführt, wenn das Gerät ausgeschaltet ist. Dadurch kann die Extra polation auf die Korrekturtemperatur unmittelbar nach dem Einschalten des Geräts durchgeführt werden, jedoch auf Kosten eines erhöhten Batterieverbrauchs, weil die Gerä teelektronik jeweils im Abstand von wenigen Minuten zur Bestimmung der Temperatur in Betrieb gesetzt werden muß.

Die STHD kann auf unterschiedliche Weise realisiert sein. Beispielsweise kann ein temperaturempfindlicher Flüssig kristall-Chip, der in thermischem Kontakt zu einer größe ren thermischen Masse steht (beispielsweise auf einen Me tallkörper aufgeklebt ist) verwendet werden. Die Abbil dung des Temperaturverlaufes basiert dabei darauf, daß Änderungen der Umgebungstemperatur zu einer unterschied lich raschen Änderung der Farbe der Flüssigkristalle in verschiedenen Zonen des Chip führen, wobei diese Farbän derungen meßtechnisch (photometrisch) nachgewiesen werden können.

Einfacher und deswegen bevorzugt ist jedoch eine Ausfüh rungsform, bei der die STHD eine thermische Masse und mehrere, an unterschiedlichen Stellen lokalisierte elek trische Temperatursensoren einschließt, wobei mindestens ein als Temperaturverlauf-Kontrollsensor THS (Temperature History Sensor) bezeichneter Temperatursensor im Innern der thermischen Masse lokalisiert ist. Die thermische Masse wird von einem Festkörper mit konstanter hoher Wär mekapazität gebildet. Sie ist in dem Auswertegerät wär meisoliert befestigt, d. h. gegenüber den übrigen Geräte bauteilen möglichst vollständig thermisch isoliert, so daß ihre Temperatur möglichst weitgehend nur von dem an der Oberfläche der thermischen Masse stattfindenen Wärme austausch mit der Umgebungsluft abhängt.

Gemäß einer bevorzugten Ausgestaltung ist ein zu der STHD gehörender Temperatursensor, der als Referenzsensor RTS (Reference Temperature Sensor) bezeichnet wird, derartig in der Nähe der thermischen Masse, aber ohne Kontakt zu dieser, lokalisiert, daß er die Temperatur der Umgebungs luft in der Nachbarschaft der thermischen Masse mißt. Dieser Temperatursensor kann gleichzeitig als ATS der Temperaturkorrektureinrichtung dienen. Bei dieser Ausge staltung basiert die Funktion der STHD auf dem Vergleich der im Innern der thermischen Masse gemessenen Temperatur mit der Temperatur der Umgebungsluft in ihrer Nachbar schaft. Wenn beide Temperaturen übereinstimmen, ist davon auszugehen, daß sich die Umgebungstemperatur in dem der Messung vorausgehenden Zeitraum nicht geändert hat. Wenn die Temperatur der thermischen Masse geringer ist als die Temperatur der Umgebung, läßt dies auf eine dem Meßzeit punkt vorausgehende Temperaturerhöhung schließen. Im um gekehrten Fall (thermische Masse wärmer als Umgebungstem peratur) ist die Temperatur gefallen.

Bei dieser Ausführungsform wird das Material der thermi schen Masse vorzugsweise so gewählt, daß der von der Wär meleitfähigkeit des Materials bestimmte Temperaturaus gleich in ihrem Innern im Vergleich zu der Wärmeübertra gung zwischen der Umgebungsluft und der thermischen Masse schnell ist. Diese Bedingung ist für die meisten typi schen Festkörpermaterialien, insbesondere Metalle, aber auch Kunststoffe, erfüllt, weil deren Wärmeleitfähigkeit im Vergleich zu dem an ihrer Oberfläche stattfindenden Wärmeaustausch mit der Umgebungsluft hoch ist. Die mei sten Festkörper sind deswegen isotherme Wärmespeicherele mente. Ein nennenswerter Temperaturgradient kann sich nur an der Oberfläche solcher Festkörpermaterialien ausbil den, während interne Temperaturgradienten im Inneren sol cher Materialien so gering sind, daß sie nur mit sehr ho hem Aufwand gemessen werden können.

Es ist jedoch auch möglich, die thermische Masse aus ei nem Material herzustellen, dessen Wärmeleitfähigkeit so niedrig ist, daß Änderungen der Umgebungstemperatur zu Temperaturgradienten im Innern der thermischen Masse füh ren, die ohne besonderen meßtechnischen Aufwand mit guter Genauigkeit gemessen werden können. Als Material, das diese Bedingung erfüllt und zugleich eine ausreichend hohe Wärmekapazität hat, sind stark poröse Isolator-Mate rialien wie beispielsweise poröse Gläser oder Keramiken geeignet. Bei Verwendung eines solchen Materials für die thermische Masse stehen vorzugsweise beide Temperatursen soren der STHD in Kontakt zu der thermischen Masse, wobei die Differenz der Temperaturanzeigen der beiden Tempera tursensoren ein Maß für die den Meßzeitpunkt vorausge hende Änderung der Umgebungstemperatur ist. Mit anderen Worten bildet bei einer solchen STHD der aus der zeitli chen Änderung der Umgebungstemperatur resultierende räum liche Temperaturgradient in der thermischen Masse eine Information über den dem Meßzeitpunkt vorausgehenden zeitlichen Temperaturverlauf. Dabei ist zweckmäßigerweise einer der Temperatursensoren in der Nähe der in Kontakt zu der Umgebungsluft stehenden Grenzschicht der thermi schen Masse lokalisiert. Er wird nachfolgend als Masse- Grenzschicht-Sensor MBLS (Mass Boundary Layer Sensor) bezeichnet. Der zweite Sensor (THS) sollte möglichst weit von dieser Grenzschicht entfernt im Innern der thermi schen Masse lokalisiert sein.

Die Erfindung wird nachfolgend anhand von in den Figuren dargestellten Ausführungsbeispielen näher erläutert. Die beschriebenen Besonderheiten können einzeln oder in Kom bination verwendet werden, um bevorzugte Ausgestaltungen der Erfindung zu schaffen. Es zeigen

Fig. 1 eine Teil-Schnittdarstellung eines erfindungs gemäßen Analysesystems;

Fig. 2 eine perspektifische Darstellung einer für die Erfindung geeigneten STHD;

Fig. 3 eine Teil-Schnittdarstellung der STHD nach Fig. 2;

Fig. 4 eine graphische Darstellung der zeitlichen Än derung des Meßwertes eines THS im Inneren einer thermischen Masse bei einer Ausführungsform ge mäß der Fig. 2 und 3;

Fig. 5 eine Teil-Schnittdarstellung einer alternativen Ausführungsform einer STHD;

Fig. 6 eine Schema-Darstellung einer alternativen Formgebung einer thermischen Masse.

Das in in Fig. 1 dargestellte Analysesystem 1 besteht aus einem Auswertegerät 2 und zur einmaligen Verwendung vor gesehenen (disposiblen) Testelementen 3.

Das Auswertegerät 2 hat eine Testelement-Halterung 5, mit der ein Testelement 3 in der in Fig. 1 dargestellten Meß position positioniert wird. Das Testelement 3 ist durch geeignete Mittel, beispielsweise einer Blattfeder 6, in der Meßposition fixiert.

Zur Durchführung einer Messung wird Probenflüssigkeit in eine Meßzone 7 des Testelementes 3 gebracht. Bei der dar gestellten Ausführungsform geschieht dies dadurch, daß ein Blutstropfen 8 auf eine am Ende des Testelementes 3 vorgesehene Probenauftragszone 9 aufgebracht und von dort in einem Kapillarspalt 10 zu der Meßzone 7 gesaugt wird. In der Meßzone 7 befindet sich eine Reagenzschicht 12, die von der Probenflüssigkeit aufgelöst wird und mit de ren Bestandteilen reagiert.

Die Reaktion führt zu einer meßbaren Veränderung in der Meßzone 7. Im dargestellten Fall eines elektrochemischen Testelementes erfolgt die Messung einer elektrischen Meß größe mittels in der Meßzone vorgesehener, in den Figuren nicht dargestellter Elektroden. In der Meßposition wird ein Kontakt zwischen den Elektroden des Testelementes 3 und Anschlußkontakten 14 der Testelementelement-Halterung 5 hergestellt. Die Anschlußkontakte 14 sind mit einer Meß- und Auswerteelektronik 15 verbunden, die im Hinblick auf eine möglichst kompakte Bauweise und hoher Zuverläs sigkeit hochintegriert ist. Im dargestellten Fall besteht sie im wesentlichen aus einer Leiterplatine 16 und einem Spezial-IC (ASIC) 17. Insoweit ist das Analysesystem kon ventionell konstruiert und bedarf keiner näheren Erläute rung.

Ein Bestandteil der Meß- und Auswerteelektronik 15 ist eine Temperaturkorrektureinrichtung 18 mit einer Tempera turverlauf-Abbildungseinrichtung STHD 20, die in den Fig. 2 und 3 detaillierter dargestellt ist. Sie besteht im wesentlichen aus einer kugelförmigen wärmeisoliert befestigten thermischen Masse 22, einem ersten, im Zentrum der thermischen Masse 20 lokalisierten Temperatursensor (THS) 23 und einem zweiten, in der Nähe der thermischen Masse, aber ohne Kontakt zu dieser lokalisierten Temperatursensor (RTS) 24, der zugleich der ALS der Temperaturkorrektureinrichtung ist. Es handelt sich um eine STHD des oben erläuterten ersten Typs, bei der die Wärmeleitfähigkeit der thermischen Masse 22 so hoch ist, daß sie ein isothermes Wärmespeicherelement bildet. Der erste Temperatursensor kann deshalb an nahezu beliebiger Stelle in der thermischen Masse 22 angeordnet sein. Auch die äussere Form der thermischen Masse 22 ist bei dieser Ausführungsform von geringer Bedeutung für die Funktion.

Wichtig ist jedoch, daß die thermische Masse 22 so befe stigt ist, daß ihre Temperatur im wesentlichen nur von der Temperatur der Umgebungsluft abhängt und daß eine ra tionelle und kostengünstige Fertigung möglich ist. Um diese Ziele zu erreichen ist die thermische Masse 22 bei der dargestellten bevorzugten Ausführungsform in eine Leiterplatine 16 integriert, wobei vorzugsweise eine ge meinsame Leiterplatine 16 sowohl für die Meß- und Auswer teelektronik 15 als auch für die STHD verwendet wird. In der Leiterplatine 16 sind in der Umgebung der thermischen Masse 22 Ausnehmungen 26 vorgesehen, die so ausgebildet sind, daß die thermische Masse nur von relativ dünnen Fingern 27 berührt und gehalten wird, so daß in geringem Umfang eine Wärmeübertragung von der Leiterplatine 16 zu der thermischen Masse 22 stattfindet. Der erste Tempera tursensor 23 befindet sich in einer Bohrung 29 der ther mischen Masse 22, die nach dem Einbringen des Temperatur sensors mit einem Gießharz 30 gefüllt wird.

Der zweite Temperatursensor 24 ist in einer der Ausneh mungen 26 an seinem Drähten frei gespannt aufgehängt. Beide Sensoren 23, 24 sind über Kontaktpunkte 31 mit nicht dargestellten Leiterbahnen der Platine 16 verbunden.

In einer praktischen Ausführungsform wurde die thermische Masse 23 von einer Aluminiumkugel mit einem Durchmesser von 6 mm gebildet, die in der dargestellten Weise in ei ner 0,8 mm starken Leiterplatine aus Kunststoff befestigt wurde. Als Temperatursensoren wurden Thermistoren mit ei nem Durchmesser von 0,25 mm und Leitungsdrähten von 0,025 mm verwendet.

Das Temperaturänderungsverhalten (thermal response) eines solchen Systems bei einer plötzlichen Temperaturänderung von 18° auf 22° ist in Fig. 4 dargestellt, wobei auf der Abszisse die Zeit in Sekunden und auf der Ordinate die Temperatur in Grad C angegeben ist. Es zeigt sich, daß die innerhalb von drei Minuten stattfindende Tempera turänderung gut meßbar ist. Aus dem Vergleich der mit dem THS 23 und dem RTS 24 gemessenen Temperaturen kann man demzufolge auf Temperaturänderungen in der Vergangenheit schließen. Durch Wahl der Größe der thermischen Masse läßt sich die Trägheit der STHD so einstellen, daß sie der Meßsituation des Analysegerätes entspricht. Die Zeit konstante der Temperaturänderung der STHD sollte nähe rungsweise der Zeitkonstanten entsprechen, mit der die Temperaturänderung des ATS der Änderung der Temperatur in der Meßzone nacheilt.

Bei der dargestellten Ausführungsform bildet ein einziger Temperatursensor 24 einerseits den ATS der Temperatur- Korrektureinrichtung und andererseits den RTS der STHD. Dies ist kostengünstig und deshalb zweckmäßig. Grundsätz lich besteht auch die Möglichkeit, unabhängig von der STHD einen ATS an anderer Stelle in dem Gerät vorzusehen.

Fig. 5 zeigt eine Ausführungsform der STHD, die dem oben erwähnten zweiten Typ entspricht, bei dem die thermische Masse der STHD eine sehr geringe thermische Leitfähigkeit bei gleichzeitig ausreichend hoher Wärmekapazität hat.

Bei einer solchen Ausführungsform ist es wichtig, daß der im Inneren der thermischen Masse angebrachte THS 23 so lokalisiert ist, daß der Abstand zwischen Sensor und al len Punkten von Grenzflächen der thermischen Masse 22, die nicht gegenüber der Umgebungsluft lokalisiert sind, im wesentlichen gleich groß ist. Im dargestellten Fall, bei dem die thermische Masse eine Kugel ist, die nahezu an ihrer gesamten Oberfläche in thermischem Kontakt zu der Umgebungsluft steht, bedeutet dies, daß der THS im Zentrum der thermischen Masse lokalisert sein sollte.

Der MBLS 24 ist in diesem Fall an der Oberfläche der thermischen Masse 22 angeordnet. Schwankungen der Tempe ratur in der Umgebung einer solchen STHD führen zur Aus bildung räumlicher Temperaturgradienten im Inneren der thermischen Masse 32, die mit zwei oder mehreren in bzw. an der thermischen Masse verteilten Temperatursensoren registriert werden und eine sehr detaillierte Rückverfol gung des dem Meßzeitpunkt vorausgehenden Temperaturver laufs ermöglichen, ohne daß in dem den Meßzeitpunkt vor ausgehenden Zeitraum elektrische Energie verbraucht wird.

Die erwähnte Bedingung, daß zwischen dem THS 23 und Punk ten der Oberfläche, die nicht thermisch isoliert sind, ein gleichmäßiger Abstand eingehalten werden soll, läßt sich auf unterschiedliche Weise realisieren. Fig. 6 zeigt beispielsweise eine Prinzipsskizze von einer Ausge staltung, bei die thermische Masse kreisscheibenförmig ist, wobei die Flachseiten der Kreisscheibe durch Isola torelemente 34 gegenüber der Umgebungsluft thermisch iso liert sind und der THS 23 im Zentrum der Kreisscheibe lo kalisert ist.

Claims

1. Analysesystem zur analytischen Untersuchung einer Probe, insbesondere einer Körperflüssigkeit von Men schen oder Tieren umfassend
Testelemente (3), die zur Durchführung einer Analyse mit einer zu untersuchenden Probe (8) in Kontakt ge bracht werden, wobei in einer Meßzone (7) des Test elementes (3) eine für die Analyse charakteristische meßbare Veränderung stattfindet, und
ein Auswertegerät (2) mit einer Testelementhalterung (5) zur Positionierung des Testelementes (3) in eine Meßposition und einer Meß- und Auswerteelektronik (15) zur Messung der charakteristischen Veränderung und zur Ermittlung eines auf dem Ergebnis der Messung basierenden Analyseresultates,
wobei die Meß- und Auswerteelektronik (15) eine Tem peraturkorrektureinrichtung (18) aufweist, um bei der Ermittlung des Analyseresultates die zum Zeitpunkt der Messung in der Meßzone (7) herrschende Temperatur auf Basis einer mittels eines entfernt von der Meß zone lokalisierten Temperatursensors durchgeführten Temperaturmessung zu berücksichtigen,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Temperaturkorrektureinrichtung (18) eine Tempera turverlauf-Abbildungseinrichtung (20) zur stromlosen Rückverfolgung des dem Meßzeitpunkt vorausgehenden Temperaturverlaufs ohne dem Meßzeitpunkt vorausgehen den Verbrauch an elektrischer Energie einschließt.

2. Analysesystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeich net, daß die Temperaturverlauf-Abbildungseinrichtung (20) eine wärmeisoliert befestigte thermische Masse (22) und mehrere an unterschiedlichen Stellen lokali sierte Temperatursensoren einschließt, wobei minde stens ein erster der Temperatursensoren ein im Innern der thermischen Masse lokalisierter Temperaturver lauf-Kontrollsensor (23) ist.

3. Analysesystem nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich net, daß ein zweiter Temperatursensor als Referenz sonsor (24) des Temperaturverlauf-Abbildungssystems in der Nähe der thermischen Masse 22, aber ohne Kon takt mit dieser, lokalisiert ist.

4. Analysesystem nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich net, daß die Wärmeleitfähigkeit der thermischen Masse (32) so niedrig ist, daß Änderungen der Umgebungstem peratur zu meßbaren Temperaturgradienten im Innern der thermischen Masse führen, die ein Abbild der zeitlichen Änderung der Umgebungstemperatur innerhalb eines Zeitraums von mindestens fünf Minuten darstel len und daß mindestens zwei Temperatursensoren (22, 23) der Temperaturverlauf-Abbildungseinrichtung (20) in Kontakt mit der thermischen Masse lokalisiert sind.

5. Analysesystem nach Anspruch 4, dadurch gekennzeich net, daß einer der Temperatursensoren (24) an der Oberfläche der thermischen Masse lokalisiert ist.

6. Analysesystem nach einem der Ansprüche 2 bis 5, da durch gekennzeichnet, daß der Temperaturverlauf-Kon trollsensor (23) in der thermischen Masse so lokali siert ist, daß der Abstand zwischen dem Sensor (23) und allen Punkten nicht thermisch isolierter Grenz flächen der thermischen Masse im wesentlichen gleich groß ist.

7. Analysesystem nach Anspruch 6, dadurch gekennzeich net, daß die thermische Masse (22, 32) kugelförmig, ihre Oberfläche thermisch gegenüber der Umgebungsluft nicht isoliert und der Temperaturverlauf-Kontrollsen sor (23) im Zentrum der thermischen Masse lokalisiert ist.

8. Analysesystem nach Anspruch 6, dadurch gekennzeich net, daß die thermische Masse (22, 32) kreisscheiben förmig ist, die Flachseiten der Kreisscheibe gegen über der Umgebungsluft thermisch isoliert sind und der Temperaturverlauf-Kontrollsensor (23) im Zentrum der Kreisscheibe lokalisiert ist.