DE10147376A1 - Electronic component used in electronic devices comprises a plastic housing and a metallic support arranged in the housing with a semiconductor chip arranged on the metallic support using Flip-Chip technology - Google Patents

Electronic component used in electronic devices comprises a plastic housing and a metallic support arranged in the housing with a semiconductor chip arranged on the metallic support using Flip-Chip technology

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Abstract

Electronic component comprises a plastic housing (2) and a metallic support (3) arranged in the housing. A semiconductor chip (4) is arranged on the metallic support using Flip-Chip technology. The support has outer contacts (5) in complete material thickness (D) and outer contacts (6) of reduced material thickness (d). The outer contacts are connected directly to flip-chip contacts (7) of the active upper side (8) of the semiconductor chip (4). Independent claims are also included for (1) a system support for several electronic components; and (2) a process for the production of the system support.

Description

Die Erfindung betrifft ein elektronisches Bauteil und einen Systemträger sowie Verfahren zu deren Herstellung gemäß der Gattung der unabhängigen Ansprüche. The invention relates to an electronic component and a System carrier and method for their production according to the Genre of independent claims.

Elektronische Bauteile, die ein Kunststoffgehäuse aufweisen, können einen Halbleiterchip aufnehmen, der mittels Bondverbindungen mit einem Träger innerhalb des Kunststoffgehäuses verbunden ist. Derartige Bauteile, hergestellt durch Bondtechnologie, wie sie aus der Druckschrift DE 100 04 410 A1 bekannt sind, unterscheiden sich grundlegend von elektronischen Bauteilen, die einen Halbleiterchip mit einem metallischen Träger aufweisen, auf dem ein Halbleiterchip in Flip- Chip-Technik angeordnet ist, wie es aus der Druckschrift DE 199 21 867 C2 bekannt ist. Electronic components that have a plastic housing can accommodate a semiconductor chip that by means of Bond connections with a carrier within the plastic housing connected is. Such components, manufactured by Bonding technology, as described in the document DE 100 04 410 A1 are fundamentally different from electronic components that have a semiconductor chip with a have metallic carrier on which a semiconductor chip in flip Chip technology is arranged as it is from the document DE 199 21 867 C2 is known.

Ein Unterschied zwischen einer derartigen Flip-Chip-Montage zu einer Bondmontage ist, dass der Halbleiterchip bei der Flip-Chip-Montage nicht auf einer Chipinsel aufgebracht wird, sondern auf einer komplexen Umverdrahtungsplatte angeordnet ist, auf der Umverdrahtungsleitungen von den mikroskopisch kleinen Flip-Chip-Kontakthöckern zu makroskopisch großen Anschlußkontaktflächen geführt werden, um makroskopisch angeordnete und entsprechend große Außenkontakte des elektronischen Bauteils zu kontaktieren. Dabei wird um sicherzustellen, dass die mikroskopisch feinen Flip-Chip-Kontakte, wie Lothöcker, beim Auflöten auf entsprechende Metallflächen der Umverdrahtungsleitungen nicht unkontrolliert seitlich auseinanderfließen können, die Umverdrahtungsplatte mit einem Lötstopplack versehen. A difference between such a flip-chip assembly for a bond assembly is that the semiconductor chip at Flip-chip assembly is not applied to a chip island, but arranged on a complex rewiring plate is on the rewiring lines from the microscopic small flip-chip bumps to macroscopically large ones Terminal pads are made to be macroscopic arranged and correspondingly large external contacts of the to contact electronic component. It is about ensure that the microscopic flip chip contacts like Solder bump, when soldering onto appropriate metal surfaces Rewiring lines not uncontrolled on the side can flow apart, the rewiring plate with a Provide solder mask.

Sowohl die Herstellung einer Umverdrahtungsplatte als auch die Strukturierung einer Lötstoppmaske auf der Umverdrahtungsplatte erfordern komplexe und kostenintensive Herstellungsschritte. Somit ist ein elektronisches Bauteil mit einem Halbleiterchip in Flip-Chip-Montage wesentlich teurer als ein Bauteil in Bonddrahtmontage. Wird die Lötstoppmaske zur Verbilligung des elektronischen Bauteils in Flip-Chip-Montage weggelassen, so besteht nicht nur die Gefahr, dass das Lot der Flip-Chip-Löthöcker zerfließt und es zu keinem Kontakt kommt, sondern auch dass Kurzschlüsse entstehen, weil beim Aufbringen des Halbleiterchips auf die Umverdrahtungsplatte Löthöcker ineinander verfließen oder weil Lot in die Lücken zwischen benachbarten Anschlüssen eindringt und diese Anschlüsse elektrisch überbrückt. Both the manufacture of a rewiring board as well the structuring of a solder mask on the Rewiring boards require complex and costly Manufacturing steps. Thus, an electronic component with one Semiconductor chip in flip-chip assembly much more expensive than one Component in bond wire assembly. If the solder mask for Cheaper electronic component in flip-chip assembly omitted, there is not only a risk that the solder the flip chip solder bump dissolves and there is no contact comes, but also that short circuits occur because at Applying the semiconductor chip to the rewiring board Solder bumps flow into each other or because of solder in the gaps penetrates between adjacent connections and this Connections bridged electrically.

Aufgabe der Erfindung ist es, ein elektronisches Bauteil anzugeben, das in seinem Kunststoffgehäuse einen Halbleiterchip mit Flip-Chip-Kontakten in Flip-Chip-Montage aufweist, ohne eine Lötstoppmaske oder eine Umverdrahtungsplatte in dem Kunststoffgehäuse vorzusehen und zusätzlich mechanische und thermomechanische Belastungen der Flip-Chip-Verbindung zu reduzieren und Kriechwege für das Vordringen von Ionen und das Vordringen von Feuchte von außen zu dem Chip zu verlängern. The object of the invention is an electronic component specify that a semiconductor chip in its plastic housing with flip-chip contacts in flip-chip assembly, without a solder mask or a rewiring plate in the Provide plastic housing and additional mechanical and thermomechanical loads on the flip-chip connection reduce and creepage distances for the penetration of ions and that Moisture penetration from outside to extend the chip.

Gelöst wird diese Aufgabe mit dem Gegenstand der unabhängigen Ansprüche. Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den abhängigen Ansprüchen. This task is solved with the subject of the independent Expectations. Advantageous developments of the invention result itself from the dependent claims.

Gemäß der Erfindung weist das elektronische Bauteil ein Kunststoffgehäuse auf mit teilweise in dem Kunststoff angeordnetem metallischen Träger, wobei an dem metallischen Träger ein Halbleiterchip in Flip-Chip-Technik angeordnet ist. Der metallische Träger weist Außenkontakte in voller Materialstärke und Anschlußkontakte von verminderter Trägermaterialstärke auf, wobei die Anschlußkontakte mit verminderter Trägermaterialstärke unmittelbar mit Flip-Chip-Kontakten der aktiven Oberseite des Halbleiterchips verbunden sind. Dazu sind die Anschlußkontakte an den mikroskopisch kleinen Flip- Chip-Kontakten durch Haltestege von verminderter Trägermaterialstärke positioniert, während die makroskopischen Außenkontakte des elektronischen Bauteils über Haltestege mit verminderter Trägermaterialstärke mit den Anschlußkontakten verbunden sind. In diesem Zusammenhang wird unter mikroskopisch eine Größenordnung < 0,3 mm verstanden, die nur unter einem Lichtmikroskop meßbar ist und unter makroskopisch eine Größenordnung > 0,3 mm, die mit bloßem Auge meßbar ist. According to the invention, the electronic component has a Plastic housing with partly in the plastic arranged metallic carrier, being on the metallic Carrier a semiconductor chip is arranged in flip-chip technology. The metallic carrier has full external contacts Material thickness and contacts of reduced Carrier material thickness, with the connection contacts with reduced Carrier material thickness directly with flip-chip contacts Active top of the semiconductor chip are connected. To are the connection contacts on the microscopic flip Chip contacts through holding bars of diminished Carrier thickness positioned while the macroscopic External contacts of the electronic component with holding bars reduced thickness of the carrier material with the connection contacts are connected. In this context, under microscopic understood an order of magnitude <0.3 mm, which is only one Light microscope is measurable and under macroscopic one Size> 0.3 mm, which can be measured with the naked eye.

Ein Vorteil dieses elektronischen Bauteils besteht darin, dass der Halbleiterchip mit seinen Flip-Chip-Kontakten unmittelbar auf entsprechenden Anschlußkontakten eines metallischen Trägers angeordnet ist, so dass eine komplexe Umverdrahtungsplatte und die aufwendige Aufbringung von Lötstopplacken auf die Umverdrahtungsplatte entfallen. Somit wird bereits durch die Dimensionierung und Herstellung des metallischen Trägers eine Umverdrahtung über die Haltestege des metallischen Trägers verwirklicht. Es sind mit der erfindungsgemäßen Lösung keine zusätzlichen Komponenten notwendig, um von den in mikroskopischem Abstand angeordneten Flip-Chip- Kontakten eines Halbleiterchips auf die in makroskopischem Abstand angeordneten Anschlußkontakte des elektronischen Bauteils überzugehen. Auch die thermische und mechanische Entkopplung zwischen dem Halbleiterchip mit Flip-Chip-Kontakten und der Trägerstruktur ist auf denkbar einfache Weise durch die Haltestege mit verminderter Materialstärke gelöst. An advantage of this electronic component is that that the semiconductor chip with its flip chip contacts directly on the corresponding contacts metallic carrier is arranged so that a complex Rewiring board and the complex application of Solder resists on the rewiring plate are not required. Consequently is already through the dimensioning and manufacture of the metallic carrier rewiring via the holding bars of the metallic support. It is with the solution according to the invention requires no additional components, order from the flip-chip Contacts of a semiconductor chip on the in macroscopic Spacing the electronic contacts Component to pass. Even the thermal and mechanical Decoupling between the semiconductor chip with flip-chip contacts and the support structure is through in a very simple manner the retaining bars are loosened with reduced material thickness.

In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung sind die Außenkontakte auf der Unterseite des Kunststoffgehäuses angeordnet. Dazu können die Haltestege, die die Außenkontakte mit den Anschlußkontakten und den Flip-Chip-Kontakten verbinden, derart auf halbe Materialstärke gebracht werden, dass sie von der Unterseite des elektronischen Bauteils aus nicht sichtbar sind und somit vollständig in Kunststoffgehäusemasse eingebettet sind. Diese Ausführungsform der Erfindung hat den Vorteil, dass eine Verbindung der Außenkontakte mit entsprechenden Kontaktanschlußflächen einer Leiterplatte oder eines Keramiksubstrats zuverlässig durchgeführt werden kann, da ein Zerfließen des Verbindungsmittels zwischen den Außenkontakten des elektronischen Bauteils und den Kontaktanschlußflächen einer Leiterplatte oder eines Keramiksubstrats unterbunden wird. Somit kann ein derartiges elektronisches Bauteil äußerst präzise auf einer Leiterplatte oder einem Keramiksubstrat positioniert und mit diesem verbunden werden. In a further embodiment of the invention, the External contacts on the underside of the plastic housing arranged. To do this, the holding bars that the external contacts with connect the connection contacts and the flip-chip contacts, are brought to half the material thickness in such a way that not visible from the bottom of the electronic component are and therefore completely in plastic housing are embedded. This embodiment of the invention has the Advantage that a connection of the external contacts with corresponding contact pads of a circuit board or one Ceramic substrate can be performed reliably because of a Melting of the connecting means between the external contacts of the electronic component and the contact pads a circuit board or a ceramic substrate becomes. Such an electronic component can thus extremely precise on a printed circuit board or one Ceramic substrate positioned and connected to it.

Bei einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ist vorgesehen, dass Außenkontakte auf den Seitenrändern des elektronischen Bauteils angeordnet sind. Derartige Außenkontakte auf den Seitenrändern werden auch Außenrandkontakte genannt und haben den Vorteil, dass auf diese von den Seitenrändern des elektronischen Bauteils aus zugegriffen werden kann. Gleichzeitig lassen diese Außenrandkontakte des elektronischen Bauteils einen Zugriff von der Unterseite aus ebenfalls zu. Das hat den Vorteil, dass ein derartiges elektronisches Bauteil äußerst flexibel in die unterschiedlichen elektronischen Schaltungen und Testgeräte einbaubar ist. In another embodiment of the invention provided that external contacts on the side edges of the electronic component are arranged. Such external contacts the side edges are also called outer edge contacts and have the advantage that on these from the side edges of the electronic component can be accessed. At the same time, these external edge contacts of the electronic Access to the component from the bottom also. The has the advantage that such an electronic component extremely flexible in the different electronic Circuits and test devices can be installed.

Eine weitere Ausführungsform der Erfindung sieht vor, dass die Anschlußkontakte auf der Oberseite des Kunststoffgehäuses angeordnet sind. Bei einem derartigen Bauteil ergibt sich in vorteilhafter Weise die Möglichkeit, sowohl von der Unterseite des elektronischen Bauteils als auch von der Oberseite des elektronischen Bauteils aus auf die Kontakte des elektronischen Bauteils, die mit dem Halbleiterchip mit Flip-Chip- Kontakten in Verbindung stehen, von der Oberseite aus über die Anschlußkontakte sowie von der Unterseite aus über die Außenkontakte Zugriff zu haben. Damit erfüllt ein derartiges elektronisches Bauteil eine vorteilhafte Voraussetzung für die Stapelmöglichkeit derartiger Bauteile. Another embodiment of the invention provides that the contacts on the top of the plastic housing are arranged. Such a component results in advantageously the possibility of both the Bottom of the electronic component as well as from the top of the electronic component from on the contacts of the electronic component with the semiconductor chip with flip chip Contacts, from the top over the contacts and from the bottom of the To have external contacts access. This fulfills such a requirement electronic component an advantageous prerequisite for the possibility of stacking such components.

Bei einer weiteren Ausführungsform der Erfindung weisen die Anschlußkontakte Kontaktsockel auf, die eine zu den Flip- Chip-Kontakten des Halbleiterchips kongruente Kontaktanschlußfläche aufweisen und mit den Flip-Chip-Kontakten verbunden sind. Durch die auf den Kontaktanschlußflächen angebrachten Kontaktsockel besteht eine weitere Möglichkeit, die Dimension der Anschlußkontakte weiter zu vermindern und auf die Größe der Flip-Chip-Kontakte abzustimmen, so dass eine kongruente Kontaktanschlußfläche zu den Flip-Chip-Kontakten auf den Anschlußkontakten verwirklicht wird. Diese Ausführungsform der Erfindung erleichtert das Verbinden des metallischen Trägers mit dem Halbleiterchip in Flip-Chip- Technologie und verhindert ein breites Verlaufen des Lotes. In a further embodiment of the invention, the Connection contacts on the contact base, one to the flip Chip contacts of the semiconductor chip congruent Have contact pad and with the flip-chip contacts are connected. By the on the contact pads attached contact base there is another way that Dimension of the connecting contacts to further reduce and to match the size of the flip chip contacts so that one congruent contact pad to the flip-chip contacts is realized on the connecting contacts. This Embodiment of the invention facilitates the connection of the metallic carrier with the semiconductor chip in flip-chip Technology and prevents the solder from spreading.

In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung sind die Außenkontakte mit den Anschlußkontakten teilweise über elektrisch leitende Haltestege mechanisch und/oder elektrisch verbunden. Dabei weisen die Haltestege eine verminderte Trägermaterialstärke auf. Die Haltestege haben demnach zwei Funktionen in dieser Ausführungsform. Einerseits halten sie die Außenkontakte und die Anschlußkontakte in Position für eine Verpackung des elektronischen Bauteils in einer Kunststoffgehäusemasse und zum anderen verbinden die Haltestege die Außenkontakte mit den Anschlußkontakten, während diese wiederum mit den Flip-Chip-Kontakten des Halbleiterchips verbunden sind. In a further embodiment of the invention, the External contacts with the connection contacts partly over electrically conductive holding bars mechanically and / or electrically connected. The holding bars have a reduced Backing material thickness. The holding bars therefore have two Functions in this embodiment. On the one hand, they stop the external contacts and the connecting contacts in position for a packaging of the electronic component in one Plastic housing compound and on the other hand connect the holding bars the external contacts with the connecting contacts, while this again with the flip-chip contacts of the semiconductor chip are connected.

Aufgrund der verminderten Trägermaterialstärke der Haltestege wird in vorteilhafter Weise eine Entkopplung der mechanischen und thermomechanischen Belastung der Flip-Chip-Verbindung zwischen Anschlußkontakten und Flip-Chip-Kontakten realisiert, die die Belastung der empfindlichen Flip-Chip-Kontakte in hohem Maße reduziert. Außerdem sind die Kriechwege für ein Vordringen von Ionen und/oder von Feuchte von außen zum Chip durch das Kunststoffgehäuse gegenüber den bekannten Lösungen verlängert. Das hat den Vorteil, dass die Lebensdauer derartiger elektronischer Bauteile verbessert wird. Due to the reduced thickness of the support webs is advantageously a decoupling of the mechanical and thermomechanical loading of the flip-chip connection between connection contacts and flip-chip contacts realized the load on the sensitive flip-chip contacts greatly reduced. In addition, the creepage distances are for one Penetration of ions and / or moisture from the outside to the chip through the plastic housing compared to the known solutions extended. The advantage is that the lifespan such electronic components is improved.

In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ist es vorgesehen, dass der Träger eine Potentialleitung aufweist, welche zumindest teilweise eine verminderte Trägermaterialstärke aufweist und von Kunststoffmasse umgeben ist. Eine derartige Potentialleitung hat den Vorteil, dass sie quer durch das Kunststoffgehäuse angeordnet werden kann und somit eine zusätzliche Verankerung für Haltestege und Anschlußkontakte sowie Außenkontakte darstellt. Außerdem kann von einer derartigen Leitung ein Potential, z. B. Masse oder Versorgung auf unterschiedliche Anschlußkontakte und Außenkontakte verteilt werden. In another embodiment of the invention it is provided that the carrier has a potential line, which at least partially a reduced substrate thickness has and is surrounded by plastic mass. Such Potential line has the advantage that it runs across the Plastic housing can be arranged and thus a additional anchoring for holding bars and connecting contacts and external contacts. In addition, from one such a line a potential, for. B. mass or supply different connection contacts and external contacts distributed become.

Das Kunststoffgehäuse weist in einer weiteren Ausführungsform der Erfindung auf seiner Unterseite Aussparungen auf, die teilweise in Haltestegen zu Anschlußkontakten und/oder in Haltestegen zu Außenkontakten angeordnet sind und diese durchtrennen. Eine derartige Durchtrennung der Haltestege mit Hilfe von Aussparungen, die von der Unterseite des Kunststoffgehäuses eingebracht werden, ist äußerst nützlich, wenn diese Haltestege lediglich der Positionierung, nicht aber zur Herstellung von elektrischen Verbindungen dienen. Somit kann durch einen einfachen Trennschritt nach dem Verpacken einer Vielzahl von elektronischen Bauteilen auf der Unterseite eine mechanische Verbindung zwischen Außenkontakten und Anschlußkontakten oder Außenkontakten und Masseleitung durchtrennt werden, um isolierte, einzelne Außenkontakte auf der Unterseite des elektronischen Bauteils zu schaffen. In a further embodiment, the plastic housing has of the invention on its underside cutouts that partly in holding bridges to contacts and / or in Retaining bars are arranged to external contacts and these cut. Such a severing of the holding webs with Using cutouts from the bottom of the Plastic housings are extremely useful when these holding bars only for positioning, but not for Making electrical connections. So can through a simple separation step after packing one Variety of electronic components on the bottom one mechanical connection between external contacts and Connection contacts or external contacts and ground line cut to insulated, single external contacts on the To create the bottom of the electronic component.

Derartige Aussparungen können in einer Ausführungsform der Erfindung auf der Unterseite des Kunststoffgehäuses durch Sägen eingebracht werden, so dass die Unterseite des Gehäuses Sägenuten aufweist, die eine vorbestimmte Anzahl von Haltestegen elektrisch unterbrechen. Diese Unterbrechung von Haltestegen wird nur vorgesehen für die Haltestege, die lediglich eine mechanische Funktion beim Verpacken des elektronischen Bauteils in ein Kunststoffgehäuse vorsehen. Such cutouts can be in one embodiment of the Invention on the underside of the plastic housing Saws are brought in so that the bottom of the case Saw grooves having a predetermined number of Interrupt the holding bars electrically. This interruption of Holding bars are only provided for the holding bars that just a mechanical function when packing the Provide electronic component in a plastic housing.

Bei einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ist es vorgesehen, dass auch einige Außenkontakte eine verminderte Trägermaterialstärke aufweisen und auf ihrer Oberseite einen Kontaktsockel tragen, der eine Kontaktanschlußfläche aufweist, die kongruent zu einem Flip-Chip-Kontakt ist. Mit dieser Ausführungsform wird erreicht, dass an vorgesehenen Positionen unmittelbar die Flip-Chip-Kontakte in Außenkontakte übergehen können, indem die Flip-Chip-Kontakte und ihre mikroskopisch kleinen Anschlußkontaktflächen mit den entsprechend verminderten und kongruenten Kontaktanschlußfläche eines auf halbe Materialstärke reduzierten oder verminderten Außenkontaktes aufgebracht werden kann. Das kann vor allem im Zentrum des elektronischen Bauteils aus Platzgründen ein Vorteil sein. Lediglich im Bereich der kongruenten Kontaktanschlußflächen weisen diese Außenkontakte die volle Materialstärke des Trägers auf. In a further embodiment of the invention it is provided that some external contacts also diminished Have carrier material thickness and one on the top Wear contact base that has a contact pad has, which is congruent to a flip-chip contact. With This embodiment achieves that provided Positions the flip-chip contacts directly into external contacts can pass by the flip chip contacts and their microscopic connection contact surfaces with the accordingly reduced and congruent contact pad one reduced or reduced to half the material thickness External contact can be applied. This can especially in Center of the electronic component for reasons of space Be an advantage. Only in the area of congruent Contact pads have these external contacts the full Material thickness of the carrier.

Das elektronische Bauteil weist bei einer weiteren Ausführungsform der Erfindung gekröpfte Haltestege auf. Diese Haltestege sind zwischen Anschlußkontakten auf der Oberseite des elektronischen Bauteils und Außenkontakten auf der Unterseite des elektronischen Bauteils angeordnet und verbinden diese elektrisch und mechanisch. Somit werden über die gekröpften Haltestege die Anschlußkontakte auf der Oberseite des elektronischen Bauteils mechanisch fixiert und elektrisch verbunden, was den Vorteil hat, dass das elektronische Bauteil einen Zugriff sowohl von der Oberseite als auch von der Unterseite zu den Flip-Chip-Kontakten des Halbleiterchips ermöglicht. Darüber hinaus ist bei dieser Ausführungsform der Erfindung der Halbleiterchip mit seinen Flip-Chip-Kontakten hängend an den Anschlußkontakten angeordnet. Gleichzeitig bieten die gekröpften Haltestege einen beschränkten Schutz der Flip-Chip-Verbindungen bei dem Verpacken des Trägers in einer Kunststoffgehäusemasse, da bei diesem Vorgang die gekröpften Stege die Ränder des Halbleiterchips vor mechanischer Beschädigung durch Formwerkzeuge schützen. The electronic component has another Embodiment of the invention cranked retaining webs. This Retaining bars are between contacts on the top of the electronic component and external contacts on the bottom arranged of the electronic component and connect them electrical and mechanical. Thus, the cranked Retaining bars connect the contacts on the top of the electronic component mechanically fixed and electrical connected, which has the advantage that the electronic component access from both the top and the Bottom side to the flip-chip contacts of the semiconductor chip allows. In addition, in this embodiment, the Invention of the semiconductor chip with its flip-chip contacts arranged hanging on the connection contacts. simultaneously the cranked retaining bars offer limited protection the flip-chip connections when packaging the carrier in a plastic housing compound, because in this process the cranked ridges the edges of the semiconductor chip Protect mechanical damage from molds.

In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ist auf der Oberseite des elektronischen Bauteils eine Umverdrahtungsschicht angeordnet. Dabei verbindet die Umverdrahtungsschicht über Umverdrahtungsleitungen die Anschlußkontakte auf der Oberseite des elektronischen Bauteils mit Außenkontakten auf der Oberseite des Bauteils. Das hat den Vorteil, dass über sehr kurze Leitungen ein weiteres elektronisches Bauteil direkt auf das erste aufgebaut werden kann, z. B. ein Speicherbauteil auf ein Logikbauteil. Es ist keine gesonderte Umverdrahtungsplatte in Form einer Leiterplatte aus organischem oder keramischen Trägermaterial mit beidseitiger strukturierter Metallisierung und Durchkontaktierungen erforderlich, sondern die Bauteiloberfläche selbst ist gleichzeitig Träger für Umverdrahtungsleitungen. Dadurch können mehrere elekronische Bauteile z. B. eines Chipsatzes sehr kompakt und mit weniger Verbindungsstellen vertikal integriert werden, mit vielen Vorteilen gegenüber einer flächigen Modulintegration, z. B. geringerer Platzbedarf, kurze Leitungen, einfache Testbarkeit der Einzelbauteile, Reparaturmöglichkeit durch Austausch von Bauteilen eines Stapels, weil er nicht als Ganzes umspritzt oder vergossen ist. In a further embodiment of the invention is on the Top of the electronic component one Rewiring layer arranged. The redistribution layer connects via rewiring the connection contacts on the Top of the electronic component with external contacts the top of the component. That has the advantage that over very short lines another electronic component can be built directly on the first, e.g. B. a Memory component on a logic component. It is not a separate one Rewiring board in the form of an organic circuit board or ceramic carrier material with double-sided structured metallization and plated-through holes required, rather, the component surface itself is the carrier for rewiring lines. This allows several electronic components such. B. a chipset very compact and with fewer joints are vertically integrated with many advantages over extensive module integration, z. B. less space, short lines, simple Testability of the individual components, possibility of repair through Exchange components of a stack because it is not as a whole is encapsulated or potted.

Durch die gekröpften Haltestege bei dieser Ausführungsform der Erfindung sind die Anschlußkontakte auf der Oberseite ohne entsprechende Umverdrahtung nicht deckungsgleich mit den Außenkontakten auf der Unterseite angeordnet. In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung sind die mit der Umverdrahtungsschicht erzeugten Außenkontakte auf der Oberseite zu den Außenkontakten auf der Unterseite deckungsgleich angeordnet sind. Ein derartiges elektronisches Bauteil weist nun an identischen Stellen auf der Oberseite und der Unterseite Außenkontakte auf für jeweils einen Flip-Chip-Kontakt im Inneren des elektronischen Bauteils. Diese Ausführungsform der Erfindung hat den Vorteil, dass mit gleichen Prüfeinrichtungen und mit gleichen Testverfahren sowohl die Unterseite als auch die Oberseite der elektronischen Bauteils getestet werden kann. Through the cranked retaining webs in this embodiment of the invention are the contacts on the top without corresponding rewiring not congruent with the External contacts arranged on the underside. In a Another embodiment of the invention are those with the Rewiring layer generated external contacts on the top to the External contacts are congruently arranged on the underside are. Such an electronic component now instructs identical places on the top and bottom External contacts for one flip-chip contact each Inside of the electronic component. This embodiment of the Invention has the advantage that with the same Test facilities and with the same test procedures both the bottom and also tested the top of the electronic component can be.

Darüber hinaus ergibt sich die Möglichkeit, eine weitere Ausführungsform eines elektronischen Bauteils anzugeben, bei dem mehrere elektronische Bauteile aufeinander gestapelt werden. Die deckungsgleich angeordneten Außenkontakte auf der Oberseite und der Unterseite des elektronischen Bauteils können in dem vertikalen Stapel durch einfache Maßnahmen elektrisch miteinander verbunden werden. Derartige Maßnahmen können in einer Leitklebstofftechnik oder in einer Löttechnik bestehen, so dass ein kompaktes, elektronisches Bauteil aus mehreren aufeinander gestapelten elektronischen Bauteilen entsteht. Kennzeichen dieses Stapels ist es, dass einerseits Halbleiterchips mit Flip-Chip-Kontakten in dem Stapel angeordnet sind und andererseits gekröpfte Haltestege elektrisch die Außenkontakte auf der Unterseite mit Anschlußkontakten auf der Oberseite verbinden, die ihrerseits über Umverdrahtungsleitungen mit Außenkontakten auf der Oberseite elektrisch verbunden sind. There is also the possibility of another Specify embodiment of an electronic component in which several electronic components are stacked on top of each other. The congruent external contacts on the Top and bottom of the electronic component can electrical in the vertical stack by simple measures be connected to each other. Such measures can in a conductive adhesive technique or a soldering technique, making a compact, electronic component from several stacked electronic components. The hallmark of this stack is that on the one hand Semiconductor chips with flip-chip contacts arranged in the stack are and on the other hand cranked holding webs electrically External contacts on the underside with connection contacts on the Connect top, which in turn over Rewiring cables with external contacts on the top electrical are connected.

Bei einem weiteren Aspekt der Erfindung ist es vorgesehen, dass ein Systemträger für mehrere elektronische Bauteile konzipiert wird. Dieser Systemträger weist strukturierte Bauteilpositionen für jedes der elektronischen Bauteile auf, wobei jede Bauteilposition von einem Systemträgerrahmen umgeben ist. Gleichzeitig weist der Systemträger in seinem Randbereich Perforationen auf, mit denen die Position der einzelnen Bauteilpositionen für einen entsprechenden Bestückungsautomaten definiert werden. In jeder der Bauteilpositionen weist der Systemträgerrahmen Haltestege zu Außenkontakten und Haltestege zu Anschlußkontakten in Richtung auf einen zentralen Bereich in der Bauteilposition auf. Alle Außenkontakte und alle Anschlußkontakte sind somit in ihrer Position fixiert, so dass ein korrektes Aufsetzen eines Halbleiterchips mit Flip-Chip-Kontakten auf den Anschlußkontakten erfolgen kann. Dieses wird in einem Bestückungsautomaten durchgeführt. Dabei ist weder eine Chipinsel für das Befestigen des Halbleiterchips erforderlich, noch sind Umverdrahtungsplatten mit Lötstoppmustern vorzusehen. Ein derartiger Systemträger verbilligt somit die Herstellung elektronischer Bauteile. In a further aspect of the invention, it is provided that that a system carrier for several electronic components is conceived. This system carrier has structured Component positions for each of the electronic components, each component position surrounded by a leadframe is. At the same time, the system carrier points in its Perforations on the edge, with which the position of each Component positions for a corresponding one Pick and place machines can be defined. Points in each of the component positions the system carrier frame retaining webs to external contacts and Holding bridges to connecting contacts towards a central one Area in the component position. All external contacts and all connection contacts are thus fixed in their position, so that a correct placement of a semiconductor chip with Flip-chip contacts can be made on the connection contacts. This is done in an automatic placement machine. there is not a chip island for attaching the Semiconductor chips are required, rewiring boards are also included To provide solder stop patterns. Such a system carrier thus cheaper the production of electronic components.

In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung weisen die Außenkontakte eine volle Systemträgermaterialstärke auf. Dabei zeigen die Außenkontakte ein Profil im Querschnitt über dieser Systemträgermaterialstärke auf, das Vorsprünge im Mittenbereich der Materialstärke zeigt. Diese Vorsprünge im Mittenbereich der Materialstärke verbessern die Verankerung der Außenkontakte in der Kunststoffgehäusemasse beim Verpacken der elektronischen Bauteile. In a further embodiment of the invention, the External contacts have a full system carrier material thickness. The external contacts show a profile in cross section this system carrier material thickness, the projections in Center area of material thickness shows. These projections in Center of the material thickness improve the anchorage of the External contacts in the plastic housing compound during packaging of the electronic components.

Bei einer weiteren Ausführungsform der Erfindung weisen die Anschlußkontakte eine verminderte Systemträgermaterialstärke auf. Somit können die Außenkontakte äußerst filigran ausgeführt werden und zu den Flip-Chip-Kontakten des Halbleiterchips, die in einem mikroskopisch kleinen Abstand voneinander angeordnet sind, geführt werden, ohne dass es zu Kurzschlüssen zwischen den Haltestegen und insbesondere zwischen den Anschlußkontakten kommt. Ausserdem werden sie dadurch später vollständig von der Kunststoffgehäusemasse umhüllt und geschützt. In a further embodiment of the invention, the Terminal contacts a reduced system carrier material thickness on. The external contacts can thus be extremely delicate run and to the flip chip contacts of the Semiconductor chips that are at a microscopic distance from each other are arranged to be performed without it Short circuits between the holding bars and especially between the Connection contacts comes. It also makes them later completely encased by the plastic housing compound and protected.

Die Außenkontakte können bei einer weiteren Ausführungsform der Erfindung in mindestens einer Bauteilposition in einem Außenring angeordnet sein. Diese Außenkontakte in dem Außenring weisen gleichzeitig Außenkontaktflächen auf der Unterseite und auf den Randseiten des elektronischen Bauteils auf und ermöglichen somit einen Zugriff auf diese Außenkontakte von mehreren Seiten aus. Ferner kann zwischen Haltestegen) für Außenkontakte eines Außenring Haltestege eines weiteren inneren Ringes aus Außenkontakten angeordnet sein. In a further embodiment, the external contacts can of the invention in at least one component position in one Outer ring may be arranged. These external contacts in the Outer ring also have external contact surfaces on the Bottom and on the edges of the electronic component and thus allow access to these external contacts from several sides. You can also choose between for external contacts of an outer ring retaining webs of another inner ring can be arranged from external contacts.

Bei einer weiteren Ausführungsform des Systemträgers weisen die Haltestege eine verminderte Trägermaterialstärke auf. Damit werden die Haltestege flexibler und somit auch die Außenkontakte beziehungsweise die Anschlußkontakte, die mit diesen Haltestegen verbunden sind. Das hat den Vorteil, dass die Verbindung zu den Flip-Chip-Kontakten des Halbleiterchips geringer belastet wird. In a further embodiment of the system carrier the retaining webs have a reduced base material thickness. This will make the holding bars more flexible and therefore also the External contacts or the connecting contacts with these Ties are connected. This has the advantage that the Connection to the flip-chip contacts of the semiconductor chip is less burdened.

In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ist es vorgesehen, dass der Systemträger eine Potentialleitung aufweist, welche sich von einer Seite des Systemträgerrahmens zur gegenüberliegenden Seite des Systemträgerrahmens erstreckt. Diese Potentialleitung kann einerseits elektrisch eingesetzt werden, um an vorgesehene Außenkontakte beziehungsweise an entsprechend vorgesehene Anschlußkontakte ein Potential zu legen, andererseits kann sie auch gleichzeitig die mechanische Stabilität der filigranen Struktur in jeder Bauteilposition erhöhen. Dadurch wird die Sicherheit der Positionierung der Flip-Chip-Kontakte des Halbleiterchips auf dem Systemträger in jeder Bauteilposition verbessert. In another embodiment of the invention it is provided that the system carrier has a potential line, which extends from one side of the lead frame to extends opposite side of the leadframe. On the one hand, this potential line can be used electrically are to be provided on external contacts or correspondingly provided connection contacts to a potential on the other hand, it can also simultaneously mechanical stability of the filigree structure in each Increase component position. This ensures the security of the positioning the flip-chip contacts of the semiconductor chip on the System carrier improved in every component position.

Die Potentialleitung weist in einer weiteren Ausführungsform der Erfindung zumindest teilweise eine verminderte Systemträgermaterialstärke auf und ist dort in die Kunststoffgehäusemasse einbettbar. Das hat den Vorteil, dass die Potentialleitung verankert ist und selbst zumindest in kritischen Bereichen von der Unterseite des elektronischen Bauteils nicht unmittelbar kontaktiert werden kann. Vielmehr werden entsprechende Außenkontakte vorgesehen, die über Haltestege quer zur Masseleitung mit dieser in Verbindung stehen. Ferner kann die Potentialleitung an den beiden Seiten des Gehäusebauteils von außen kontaktiert werden, was eine Funktionsprüfung erleichtert. Ausserdem behindert eine Potentialleitung mit verringerter Materialdicke das Umhüllen mit Kunsstoffgehäusemasse weniger. Bei einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ist es vorgesehen, dass der Systemträger gekröpfte Haltestege aufweist, die eine Auswölbung gegenüber dem Systemträgerrahmen bilden. Somit entsteht in jeder Bauteilposition eine derartige Auswölbung aus gekröpften Haltestegen, womit Anschlußkontakte auf der Oberseite und die Außenkontakte auf der Unterseite beim Vergießen des Systemträgers in jeder Bauteilposition zu einem elektronischen Bauteil angeordnet werden. In another embodiment, the potential line has the invention at least partially a diminished System carrier material thickness and is there in the Plastic housing compound can be embedded. This has the advantage that the Potential line is anchored and even at least in critical Areas from the bottom of the electronic component can be contacted directly. Rather be Corresponding external contacts are provided which cross to the holding webs Earth line in connection with this. Furthermore, the Potential line on both sides of the housing component from be contacted outside, which is a functional test facilitated. In addition, a potential line also impedes reduced material thickness encasing with plastic housing compound fewer. In another embodiment of the invention it provided that the leadframe cranked retaining webs has a bulge against the Form system carrier frame. This creates one in each component position such bulge from cranked retaining webs, with what Connection contacts on the top and the external contacts on the Bottom when casting the system carrier in each Component position can be arranged to an electronic component.

Die Außenkontakte weisen in einer weiteren Ausführungsform der Erfindung eine verminderte Systemträgermaterialstärke und einen Kontaktsockel auf, der eine Kontaktanschlußfläche aufweist, die kongruent zu einer Kontaktfläche eines in Flip- Chip-Technik anzuordnenden Halbleiterchips ist. Somit läßt sich für eine definierte Anzahl von Außenkontakten, die unmittelbar einem Flip-Chip-Kontakt gegenüberliegen, jeweils ein Außenkontakt direkt anbringen, indem die kongruente, mikroskopisch kleine Kontaktanschlußfläche des Kontaktsockels des Außenkontaktes mit der Anschlußkontaktfläche eines in Flip-Chip-Technik anzuordnenden Halbleiterchips verbunden werden kann. Das kann vor allem im Zentrum des Bauteils aus Platzgründen vorteilhaft sein. In a further embodiment, the external contacts have the invention a reduced system material thickness and a contact base on a contact pad which is congruent to a contact surface of a flip-in Chip technology is to be arranged semiconductor chips. Thus leaves for a defined number of external contacts that directly opposite a flip-chip contact, in each case attach an external contact directly by the congruent, microscopic contact pad of the contact base of the external contact with the connection contact surface of an in Flip-chip technology connected semiconductor chips connected can be. This can be done especially in the center of the component Be advantageous for reasons of space.

Eine weitere Ausführungsform der Erfindung sieht vor, dass die Anschlußkontakte eines Systemträgers eine Prägung aufweisen, welche einen Sockel aufweist, der eine zu einer Anschlusskontaktfläche eines in Flip-Chip-Technik anzuordnenden Halbleiterchips kongruente Kontaktanschlußfläche aufweist. Durch eine derartige Prägung wird einerseits die Materialstärke der Anschlußkontakte weiter vermindert und andererseits das Material teilweise in einen zu den Anschlußkontaktflächen eines in Flip-Chip-Technik anzuordnenden Halbleiterchips angepaßten Kontaktsockels umgeformt. Diese Prägetechnik kann noch auf dem Niveau des Systemträgers eingesetzt werden, um eine derartige Ausbildung von Anschlußkontakten zu erreichen. Weiter wird durch den Kontaktsockel ein breites Verfliessen von Lot verhindert. Another embodiment of the invention provides that the connection contacts of a system carrier an embossing have, which has a base that one to one Connection contact surface of a to be arranged in flip-chip technology Has semiconductor chips congruent contact pad. With such an embossing, on the one hand Material thickness of the contacts further reduced and on the other hand, the material partially into one Terminal contact surfaces to be arranged in flip-chip technology Formed semiconductor chips adapted contact base. This stamping technique can still be used at the level of the system carrier, to such a formation of contacts to reach. The contact base also makes a wide one Prevents solder from flowing.

Somit steht für die Weiterverarbeitung ein Systemträger zur Verfügung, der einerseits exakt positionierte und mechanisch gehaltene Anschlußkontakte einer speziellen Prägung vorsieht, die exakt auf die Anordnung von mikroskopisch kleinen Flip- Chip-Kontakten ausgerichtet und angepaßt sind. Andererseits sieht der Systemträger makroskopisch angeordnete Außenkontakte vor, die unmittelbar nach dem Vergießen des Systemträgers in einer Kunststoffgehäusemasse für Funktionstests von der Unterseite des in Kunststoffgehäusemasse verpackten Systemträgers aus zur Verfügung stehen. A system carrier is thus available for further processing Available, on the one hand, exactly positioned and mechanically provides held contacts of a special stamping, which exactly on the arrangement of microscopic flip Chip contacts are aligned and adjusted. on the other hand the system carrier sees macroscopically arranged External contacts before that immediately after potting the system carrier in a plastic housing compound for functional tests of the Bottom of the packaged in plastic case System carrier are available from.

Ein Verfahren zur Herstellung eines Systemträgers aus einer Metallplatte oder einem Metallband als Systemträgerrohling weist folgende Verfahrensschritte auf:

  • - Maskieren der Oberseite und der Unterseite des Systemträgerrohlings mit unterschiedlichen, zueinander unsymmetrisch strukturierten Ätzmasken,
  • - doppelseitiges Ätzen des maskierten Systemträgerrohlings unter einseitigem Dünnätzen von Haltestegen und Anschlußkontakten, sowie einem vorbestimmten Anteil der Außenkontakte und/oder der Potentialleitungen,
  • - Entfernen der unsymmetrischen Ätzmasken,
  • - Strukturieren der Anschlußkontakte zu Anschlußkontakten verminderter Materialstärke mit Kontaktsockel, der eine Kontaktanschlußfläche aufweist, die kongruent zu einem Flip-Chip-Kontakt eines Halbleiterchips ist,
  • - Strukturieren einer vorbestimmten Anzahl von Außenkontakten verminderter Materialstärke zu Außenkontakten mit Kontaktsockeln, die eine Kontaktanschlußfläche aufweisen, die kongruent zu einem Flip-Chip-Kontakt eines Halbleiterchips ist.
A method for producing a system carrier from a metal plate or a metal strip as a system carrier blank has the following method steps:
  • Masking the top and bottom of the system carrier blank with different etching masks which are structured asymmetrically with respect to one another,
  • double-sided etching of the masked system carrier blank with one-sided thin etching of retaining webs and connecting contacts, and a predetermined proportion of the external contacts and / or the potential lines,
  • - removing the asymmetrical etching masks,
  • Structuring of the connection contacts to connection contacts of reduced material thickness with a contact base which has a contact connection surface which is congruent with a flip-chip contact of a semiconductor chip,
  • - Structuring a predetermined number of external contacts of reduced material thickness to external contacts with contact sockets that have a contact pad that is congruent with a flip-chip contact of a semiconductor chip.

Ein derartiges Verfahren hat den Vorteil, dass mit relativ kostengünstigen Mitteln ein komplexer Systemträger herstellbar wird, der für jede Bauteilposition ein filigranes Muster aus Haltestegen, Anschlußkontakten und Außenkontakten aufweist. Durch die Vernetzung der Haltestege wird dabei mechanisch die Position der einzelnen Außenkontakte und Anschlußkontakte gesichert und somit ermöglicht, dass zuverlässig ein Halbleiterchip in Flip-Chip-Technik in jeder Bauteilposition angeordnet werden kann. Erst nach dem Anbringen des Halbleiterchips und nach einem Vergießen in einer Kunststoffgehäusemasse wird dieses Netz aus Haltestegen durchtrennt, so dass an definierten Stellen Außenkontakte auf der Unterseite des elektronischen Bauteils zugänglich sind und innerhalb der Kunststoffmasse eine Verbindung zwischen Anschlußkontakten des Trägers und Flip-Chip-Kontakten besteht. Such a method has the advantage that with relative a complex system carrier at low cost a filigree pattern can be produced for each component position from holding bars, connecting contacts and external contacts having. Through the networking of the footbridges mechanically the position of the individual external contacts and Connections secured and thus enables that a reliable Semiconductor chip in flip-chip technology in every component position can be arranged. Only after attaching the Semiconductor chips and after potting in one Plastic housing compound is cut through this network of retaining webs, so that external contacts on the underside of the electronic component are accessible and within the Plastic compound a connection between contacts of the carrier and flip-chip contacts.

In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung erfolgt das Strukturieren der Anschlußkontakte und/oder der vorbestimmten Anzahl von Außenkontakten mittels Prägetechnik. Diese Technik hat den Vorteil, dass gleichzeitig für mehrere Anschlußkontakte und Außenkontakte ein Sockel aufgeprägt werden kann, während die Anschlußkontakte beim Prägen gleichzeitig weiter dünn geformt werden. In a further embodiment of the invention, this is done Structuring the connection contacts and / or the predetermined Number of external contacts using stamping technology. This technique has the advantage that for several at the same time Connection contacts and external contacts can be stamped on a base, while the connection contacts continue to coincide at the same time be formed thin.

Eine weitere Ausführungsform der Erfindung sieht vor, dass das Strukturieren der vorbestimmten Anzahl von Außenkontakten mittels doppelseitiger Ätztechnik erfolgt. Bei dieser doppelseitigen Ätztechnik kann in vorteilhafter Weise auf der einen Seite des Außenkontaktes ein Sockel entstehen, der eine verminderte, mikroskopisch kleine Kontaktanschlußfläche aufweist, die kongruent zu den Anschlußkontaktflächen der Flip- Chip-Kontakte ist, während auf der Unterseite des elektronischen Bauteils eine Außenkontaktfläche zur Verfügung gestellt wird, die makroskopische Ausmaße annimmt. Another embodiment of the invention provides that structuring the predetermined number of external contacts using double-sided etching technology. At this double-sided etching technology can advantageously on the one On the side of the external contact, a socket is created reduced, microscopic contact pad which is congruent to the connection contact surfaces of the flip Chip contacts is while on the bottom of the electronic component an external contact surface provided that takes on macroscopic dimensions.

Bei einer weiteren Durchführungsform des Verfahrens werden die Haltestege teilweise gekröpft, so dass Anschlußkontakte gegenüber dem Systemträgerrahmen angehoben werden und dabei Auswölbungen in jeder Bauteilposition gebildet werden, welche die Halbleiterchips in Flip-Chip-Technik hängend aufnehmen können. Derartige Auswölbungen erleichtern gleichzeitig das Justieren der Bauteilpositionen in einem Bestückungsautomaten und schützen somit die empfindlichen Halbleiterchips, die in dem Bestückungsautomaten hängend in die Bauteilpositionen eingebracht werden. Dazu werden die Anschlußkontakte derart angeordnet, dass sie der Anordnung von Flip-Chip-Kontakten, der in Flip-Chip-Technik zu montierenden Halbleiterchips entsprechen. In another implementation of the procedure the holding bars partially cranked so that connecting contacts to be raised relative to the leadframe while doing so Bulges are formed in each component position, which hang the semiconductor chips in flip-chip technology can. Such bulges make it easier at the same time Adjustment of the component positions in an automatic placement machine and thus protect the sensitive semiconductor chips that are in hanging from the placement machine in the component positions be introduced. For this purpose, the connection contacts are such arranged that the arrangement of flip-chip contacts, the semiconductor chips to be assembled using flip-chip technology correspond.

Während die Flip-Chip-Kontakte des Halbleiterchips in einer mikroskopisch feinen Anordnung vorhanden sind, werden die Außenkontakte in einer Matrixform angeordnet mit makroskopischen Abständen und sind über Haltestege mechanisch und elektrisch mit den Anschlußkontakten, die kongruent zu den Flip- Chip-Kontakten angeordnet sind, verbunden. Der Übergang von der Matrixform der Außenkontakte des Systemträgers zu der mikroskopischen Anordnung der Flip-Chip-Kontakte wird über die dünngeätzten oder dünn geformten Haltestege verwirklicht, so dass Umverdrahtungsplatten und andere weitere Komponenten nicht erforderlich sind, um ein erfindungsgemäßes elektronisches Bauteil zu realisieren. While the flip-chip contacts of the semiconductor chip in one microscopic arrangement are present, the External contacts arranged in a matrix form with macroscopic distances and are mechanical and via holding bars electrically with the connection contacts that are congruent to the flip Chip contacts are arranged, connected. The transition from the matrix form of the external contacts of the system carrier to the microscopic arrangement of the flip-chip contacts is made over the thin-etched or thin-shaped holding webs realized, so that rewiring boards and other other components are not necessary to an inventive to realize electronic component.

Ein Verfahren zur Herstellung eines elektronischen Bauteils mit einem Kunststoffgehäuse und einem in dem Kunststoffgehäuse in Flip-Chip-Technik angeordneten Halbleiterchip hat folgende Verfahrensschritte:

  • - Herstellen eines Systemträgers mit mehreren Bauteilpositionen, die von einem Systemträgerrahmen umgeben sind und eine Struktur mit Außenkontakten, Anschlußkontakten und dazwischen angeordneten Haltestegen verminderter Systemträgermaterialstärke aufweisen, wobei die Anschlußkontakte und eine vorbestimmte Anzahl von Außenkontakten mit Sockelansätzen strukturiert werden, die zu Flip- Chip-Kontakten des Halbleiterchips kongruente Kontaktanschlußflächen aufweisen,
  • - elektrisches Verbinden eines Halbleiterchips mit seinen Flip-Chip-Kontakten in Flip-Chip-Technik mit den Kontaktanschlußflächen der Anschlußkontakte und/oder der vorbestimmten Anzahl von Außenkontakten in jeder Bauteilposition,
  • - Verpacken der Bauteilpositionen in einer Kunststoffgehäusemasse,
  • - Einbringen von Aussparungen auf der Unterseite des Systemträgers in jeder Bauteilposition zum Auftrennen von Haltestegen, die nicht für eine elektrische Verbindung vorgesehen sind, an entsprechend vorbestimmten Stellen,
  • - Auftrennen des Systemträgers zu einzelnen elektronischen Bauteilen.
A method for producing an electronic component with a plastic housing and a semiconductor chip arranged in the plastic housing using flip-chip technology has the following method steps:
  • - Manufacture of a system carrier with a plurality of component positions, which are surrounded by a system carrier frame and have a structure with external contacts, connecting contacts and interposed holding bars of reduced system carrier material thickness, the connecting contacts and a predetermined number of external contacts being structured with base attachments which form flip-chip contacts of the semiconductor chip have congruent contact pads,
  • electrical connection of a semiconductor chip with its flip-chip contacts using flip-chip technology to the contact connection areas of the connection contacts and / or the predetermined number of external contacts in each component position,
  • - packaging of the component positions in a plastic housing compound,
  • Introducing cutouts on the underside of the system carrier in each component position in order to separate holding webs, which are not intended for an electrical connection, at correspondingly predetermined locations,
  • - Unraveling the system carrier into individual electronic components.

Dieses Verfahren hat den Vorteil, dass mehrere Verfahrensschritte gleichzeitig für eine Vielzahl von elektronischen Bauteilen durchgeführt werden können. Während das Bestücken des Systemträgers mit Halbleiterchips in einem Bestückungsautomaten durchgeführt werden kann, wobei einzelne Halbleiterchips in Flip-Chip-Technik auf oder in den Bauteilpositionen eingebaut werden, kann die Kunststoffgehäusemasse als eine gesamte Schicht auf den Systemträger aufgebracht werden, so dass eine Kunststoffplatte mit eingebautem Systemträger für mehrere Bauteilpositionen und fertig verbundenen Halbleiterchips in Flip-Chip-Technologie entsteht. Diese Kunststoffplatte kann für mehrere Bauteile auf der Unterseite strukturiert werden, indem Aussparungen mittels Sägetechnik oder Lasertechnik eingebracht werden, um die Außenkontakte auf der Unterseite des elektronischen Bauteils zu vereinzeln und alle Haltestege zu durchtrennen, die lediglich mechanischer Positionierung von Außenkontakten dienen. Mit einer derartigen Technologie sind Einsparungen verbunden, da die Verfahrensschritte für mehrere elektronische Bauteile gleichzeitig durchgeführt werden können. This procedure has the advantage of several Process steps simultaneously for a variety of electronic Components can be carried out. While loading of the system carrier with semiconductor chips in one Pick and place machines can be carried out, with individual Semiconductor chips in flip-chip technology on or in the component positions can be installed, the plastic housing compound as one entire layer can be applied to the system carrier, so that a plastic plate with built-in system carrier for multiple component positions and fully connected Semiconductor chips in flip-chip technology are created. This Plastic plate can hold several components on the bottom can be structured by using cut-outs or Laser technology can be introduced to the external contacts on the Separate bottom of the electronic component and all To cut holding bars, which are only mechanical Positioning of external contacts. With such a Technology is linked to savings as the Process steps for several electronic components at the same time can be carried out.

Ein weiteres Durchführungsbeispiel des Verfahrens sieht vor, dass das Auftrennen von Haltestegen durch Einbringen von Sägenuten auf der Unterseite des Systemträgers und/oder auf der Unterseite des elektronischen Bauteils durchgeführt wird. Diese Sägenuten haben den Vorteil, dass sie sehr genau in ihrer Schnittiefe eingestellt werden können und dass die Sägenuten mit einer relativ einfachen Technik einbringbar sind. Another example of implementation of the method provides that the separation of holding bars by introducing Saw grooves on the underside of the system carrier and / or on the Bottom of the electronic component is carried out. These saw grooves have the advantage that they are very precise their depth of cut can be adjusted and that the Saw grooves can be introduced with a relatively simple technique.

In einem weiteren Durchführungsbeispiel des Verfahrens ist vorgesehen, dass das Auftrennen von Haltestegen durch Einbringen von Aussparungen auf der Unterseite des elektronischen Bauteils zum Trennen der Haltestege an vorbestimmten Stellen mittels Laserabtrag durchgeführt wird. Diese Laserabtragstechnik hat den Vorteil, dass die Bauteile nicht durch Sägenuten auf der Unterseite geschwächt werden, sondern lediglich punktuell Aussparungen durch Laserabtrag dort angebracht werden, wo Haltestege, die nur mechanischen Zwecken dienen, aufgetrennt werden sollen. Another implementation example of the method is provided that the separation of holding bars by Making recesses on the bottom of the electronic component for separating the holding webs at predetermined Places is carried out by laser ablation. This Laser ablation technology has the advantage that the components cannot pass through Saw grooves are weakened on the bottom, but only selective cutouts by laser ablation there be attached where holding bars that are only mechanical purposes serve, to be separated.

In einem weiteren Ausführungsbeispiel des Verfahrens ist vorgesehen, dass in dem Systemträger in jeder Bauteilposition eine Auswölbung durch Kröpfung der Haltestege eingebracht wird, in welcher der Halbleiterchip in Flip-Chip-Technik angeordnet wird. Derartige Auswölbungen durch Kröpfung der Haltestege haben darüber hinaus den Vorteil, dass sie in Grenzen den Halbleiterchip vor Beschädigung bei dem Einbringen der Kunststoffgehäusemasse schützen. In another embodiment of the method provided that in the system carrier in each component position a bulge introduced by cranking the retaining webs in which the semiconductor chip in flip-chip technology is arranged. Such bulges caused by cranking the Holding bars also have the advantage that they are limited the semiconductor chip from damage when introducing the Protect the plastic housing compound.

In einem weiteren Durchführungsbeispiel des Verfahrens wird beim Verpacken der Anordnung aus Halbleiterchip und Bauteilposition mit Auswölbungen in einer Kunststoffgehäusemasse ein Formwerkzeug eingesetzt, wobei das Formwerkzeug eine Formkavität aufweist, bei der sich die Außenkontakte in eine untere Dichtfolie und die Anschlußkontakte in eine obere Dichtfolie einprägen, so dass nach dem Spritzgußprozess die Anschlußkontakte aus der Oberseite des Kunststoffgehäuses um wenige Mikrometer herausragen und die Außenkontakte auf der Unterseite des Kunststoffgehäuses um wenige Mikrometer herausragen. Bei dieser Doppelfolienvergußtechnik besteht die Möglichkeit, dass das Freiliegen der Außenkontakte auf der Unterseite und der Anschlußkontakte auf der Oberseite durch das Eindrücken der Kontakte in die Dichtfolie gewährleistet wird. Somit kann die Funktion der einzelnen elektronischen Bauteile noch auf dem Systemträger und nach Einbringen der oben beschriebenen Aussparungen unmittelbar getestet werden. In another implementation example of the method when packaging the arrangement of semiconductor chip and Component position with bulges in a plastic housing compound Mold used, the mold a Has mold cavity, in which the external contacts in a lower Sealing film and the contacts in an upper sealing film emboss so that after the injection molding process Connection contacts from the top of the plastic housing by a few Stick out micrometer and the external contacts on the bottom of the plastic housing protrude a few micrometers. at This double-film potting technique offers the possibility that the exposure of the external contacts on the bottom and of the connection contacts on the top by pressing in the contacts in the sealing film is guaranteed. So can the function of the individual electronic components the system carrier and after introducing the above Cutouts can be tested immediately.

In einem weiteren Durchführungsbeispielen des Verfahrens sind zusätzliche Verfahrensschritte vorgesehen, um auf der Oberseite der Kunststoffgehäusemasse Außenkontakte zu schaffen zum direkten Aufbau mindestens eines weiteren elektronischen Bauelements. Dazu werden die Oberseiten der elektronischen Bauteile nach dem Verpacken der elektronischen Bauteile auf dem Systemträger mit einer Umverdrahtungsstruktur beschichtet. Diese Umverdrahtungsstruktur weist Umverdrahtungsleitungen auf, die sich von den auf der Oberseite angeordneten Anschlußkontakten zu Kontaktanschlußflächen auf der Oberseite erstrecken. Diese Kontaktanschlußflächen auf der Oberseite des elektronischen Bauteils sind Endflächen der Umverdrahtungsleitungen. In another implementation examples of the method are additional procedural steps are envisaged to take place on the To create the top of the plastic housing compound external contacts for the direct construction of at least one further electronic Component. To do this, the tops of the electronic Components after packaging the electronic components the lead frame with a rewiring structure coated. This rewiring structure has Rewiring lines that differ from those located on the top Contacts to contact pads on the top extend. These contact pads on the top of the electronic component are end faces of the Rewiring.

Die Kontaktanschlussflächen werden mit Außenkontakten durch ein selektives Aufbringen dieser Außenkontakte auf der Oberseite des elektronischen Bauteils in Positionen bestückt, die den Positionen der Außenkontakte auf der Unterseite eines zweiten elektronischen Bauteils entsprechen. Durch diese zusätzlichen Verfahrensschritte wird vorteilhaft erreicht, dass auf derartigen elektronischen Bauteilen mit gekröpften Haltestegen, flip-chip-montierten Halbleiterchips und mit umverdrahteten Anschlußkontakten zu Außenkontakten andere elektronische Bauteile direkt aufgebaut werden können, mit kurzen Verbindungen und ohne zusätzliche Umverdrahtungsplatten Durch die Umverdrahtung können so stapelfähige elektronische Bauteile gebildet werden. Es können somit mehrere Bauteile vertikal übereinander zu einem neuen, komplexen elektronischen Bauteil oder Modul gestapelt werden. The contact pads are made with external contacts a selective application of these external contacts on the Top of the electronic component is populated in positions that the positions of the external contacts on the underside of a correspond to the second electronic component. Through this additional process steps is advantageously achieved in that on such electronic components with cranked Retaining bars, flip-chip-mounted semiconductor chips and with rewired connection contacts to external contacts others electronic components can be assembled directly with short Connections and without additional rewiring plates the rewiring can thus be stackable electronic Components are formed. It can therefore have multiple components vertically one above the other to a new, complex electronic Component or module can be stacked.

Ein weiteres Durchführungsbeispiel sieht vor, dass die Außenkontakte auf der Oberseite in Positionen selektiv aufgebracht werden, die den Positionen der Außenkontakte auf der Unterseite der elektronischen Bauteile entsprechen. Another implementation example provides that the External contacts on the top selectively applied in positions the positions of the external contacts on the Correspond to the bottom of the electronic components.

Durch dieses Verfahren entstehen Bauteile mit jeweils gleich positionierten Aussenkontakten an der Oberseite und an der Unterseite, die mit demselben Flip-Chip-Kontakt elektrisch verbunden sind. Das hat den Vorteil, dass das Bauteil sowohl von oben als auch von unten mit demselben Testequipment getestet werden kann und auch dass sehr einfach mehrere gleichartige Bauteile vertikal übereinander gestapelt werden können, beispielsweise Speicherbauteile. Dadurch lassen sich sehr flexibel verschiedene Speicherkapazitäten am gleichen Einbauplatz auf einer Leiterplatte realisieren. This process creates components with the same size positioned external contacts on the top and on the Underside that electrically with the same flip chip contact are connected. This has the advantage that the component is both from above as well as from below with the same test equipment can be tested and that very simply several similar components can be stacked vertically one above the other, for example memory components. This can be very flexibly different storage capacities on the same Realize installation space on a printed circuit board.

Eine weiteres Durchführungsbeispielen des Verfahrens sieht vor, dass das Aufbringen von Umverdrahtungsleitungen und Außenkontakten auf der Oberseite der elektronischen Bauteile gleichzeitig für mehrere Bauteile eines Systemträgers erfolgt. Dadurch, dass die Umverdrahtungsleitungen gleichzeitig für mehrere Bauteile auf einem Systemträger aufgebracht werden können, werden erhebliche Kosten eingespart, die sonst bei einer Nachbearbeitung von Einzelbauteilen anfallen würden. See another implementation example of the method before that the application of rewiring lines and External contacts on the top of the electronic components for several components of a system carrier at the same time he follows. Because the rewiring lines at the same time applied for several components on one system carrier considerable costs can be saved that otherwise arise when reworking individual components would.

Zusammenfassen wird mit dem erfindungsgemäßen Bauteil und dem erfindungsgemäßen Verfahren eine Flip-Chip-Montage in "leadless" QFN-Gehäusen ermöglicht. Darüber hinaus können Gehäuseformen geschaffen werden, die eine hohe Dichte an Außenkontakten auf der Unterseite eines elektronischen Bauteils in Matrixform aufweisen, wie es bei BGA-Gehäusen (ball grid arrey-Gehäusen) möglich ist. Jedoch wird bei dieser Technologie keine Umverdrahtungsplatte eingesetzt und auch keine Lötstoppmaske benötigt. Auch auf langgestreckte Lotsäulen und elastische Verbindungen zwischen Außenkontakten und Flip- Chip-Kontakten kann mit der erfindungsgemäßen Technologie verzichtet werden, da Haltestege mit verminderter Materialstärke vorgesehen werden können, die eine elastische Verbindung zwischen Außenkontakten und Flip-Chip-Kontakten des Halbleiterchips realisieren. Summarize with the component according to the invention and the inventive method a flip chip assembly in "leadless" QFN housings enabled. In addition, you can Housing shapes are created that have a high density External contacts on the underside of an electronic component in Have matrix form, as is the case with BGA housings (ball grid arrey housings) is possible. However, with this technology no rewiring plate used and none Solder mask required. Also on elongated solder columns and elastic connections between external contacts and flip Chip contacts can be made with the technology according to the invention to be dispensed with, since retaining webs with reduced Material thickness can be provided, which is an elastic Connection between external contacts and flip-chip contacts of the Realize semiconductor chips.

Die Formgebung der Anschlußkontakte mit einem Kontaktsockel kann durch Prägetechnik oder durch Ätztechnik erfolgen. Eine gezielte lokale Passivierung gegen Lotbenetzung, beispielsweise durch Oxidation einer durch Laser erhitzten Zone kann auf einfache Weise erfolgen. Eine flächige Passivierung kann durchgeführt werden, um eine Lotbenetzung des Systemträgers zu verhindern, wobei durch anschließendes Öffnen von Kontaktanschlussflächen auf den Anschlußkontakten beziehungsweise Kontaktsockeln z. B. mit Hilfe eines Lasers das Verbinden mit den Flip-Chip-Kontakten des Halbleiterchips auf begrenzte Flächen der Anschlußkontakte konzentriert werden kann. The shape of the connection contacts with a contact base can be done by embossing or by etching. A targeted local passivation against solder wetting, for example by oxidation of a zone heated by a laser done easily. A flat passivation can be carried out to solder the system carrier to prevent, by subsequently opening Contact connection areas on the connection contacts respectively Contact socket z. B. using a laser connecting with the flip chip contacts of the semiconductor chip to limited Areas of the contacts can be concentrated.

Wo immer es möglich und sinnvoll ist, wird als Schutz gegen mechanische Belastung und Feuchte ein Außenkontakt des Gehäuses nicht unmittelbar unter einem Flip-Chip-Kontakt angeordnet, sondern jeweils versetzt dazu über einen möglichst nicht geradlinig verlaufenden Haltesteg, wobei auch die Dicke des Haltesteges auf eine geringere Materialdicke des Systemträgers vermindert ist und wobei zumindest der geprägte Teil des Steges mit dem Kontaktsockel in der Lötzone für den Flip- Chip-Kontakt dünner geprägt ist als die übrige Stegdicke. Ein derartiger Verbindungssteg, der elektrisch die Außenkontakte mit den Anschlußkontakten verbindet, verläuft nach Möglichkeit innerhalb der Kunststoffpressmasse, um ihn vor Beschädigungen zu schützen und um zu verhindern, dass von außen unbeabsichtigt Kurzschlüsse eingebracht werden können. Wherever possible and sensible, it is used as protection against mechanical stress and moisture an external contact of the Housing not immediately under a flip-chip contact arranged, but not offset to one if possible rectilinear retaining web, the thickness of the Retaining webs to a smaller material thickness of the System carrier is reduced and wherein at least the embossed part of the Bridges with the contact base in the soldering zone for the flip Chip contact is thinner than the rest of the web thickness. On such connecting web, which is electrically the external contacts connects to the contacts, runs after Possibility within the plastic molding compound to get it in front To protect damage and to prevent outside unintentional short circuits can be introduced.

Durch das Einbringen oder Aufprägen von Kontaktsockeln wird in Verbindung mit den Haltestegen verminderter Materialstärke eine flexible Verbindung geschaffen, die mechanische und thermomechanische Belastungen der Flip-Chip-Kontakte reduziert. Erfindungsgemäß wird eine Technologie geschaffen, die der Erzeugung einer definierten Lotbenetzungsfläche für eine Flip-Chip-Montage auf Metallstrukturen ermöglicht. Diese Technologie ist insbesondere auch für fein strukturierte und nicht zwingend in einer Ebene liegende Metallstrukturen geeignet. Darüber hinaus ist die Technologie zur Herstellung von "leadless"-Gehäusen des QFN-Typs geeignet. Die technischen Möglichkeiten der neuen Technologie, wie beid- und halbseitiges Ätzen von der Systemträgerrohlingen, Prägen und Abkröpfen von Anschlußkontakten oder Herstellen von Zuleitungsstegen werden derart eingesetzt, dass sowohl ein gekapselter Flip-Chip einschließlich Unterfüllmaterialien als CSP (chip-sized-package) hergestellt werden kann, als auch substratfreie "fan-out- oder fan-in"-Lösungen zur Umverdrahtung. By inserting or stamping contact bases in connection with the retaining webs of reduced material thickness created a flexible connection, the mechanical and thermomechanical loads on the flip-chip contacts reduced. According to the invention, a technology is created which the creation of a defined solder wetting area for a Allows flip-chip mounting on metal structures. This Technology is especially for finely structured and metal structures not necessarily in one plane suitable. In addition, the technology to manufacture of "leadless" housings of the QFN type. The technical possibilities of the new technology, like both and half-sided etching of the system carrier blanks, embossing and Tapping off contacts or making Lead bars are used in such a way that both a encapsulated flip chip including underfill materials as CSP (chip-sized package) can be made as well Substrate-free "fan-out or fan-in" solutions for rewiring.

Die Erfindung wird nun anhand von Ausführungsformen mit Bezug auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert. The invention will now be described with reference to embodiments explained in more detail on the accompanying drawings.

Fig. 1 zeigt eine schematische Querschnittsansicht eines elektronischen Bauteils einer ersten Ausführungsform der Erfindung, Fig. 1 is a schematic cross-sectional view showing an electronic component of a first embodiment of the invention,

Fig. 2 zeigt einen schematischen Querschnitt durch einen Systemträger mit Ätzprofilen für elektronische Bauteile nach Fig. 1, Fig. 2 shows a schematic cross section through a system carrier with etch profiles of electronic components according to FIG. 1,

Fig. 3 zeigt eine schematische Ansicht einer Unterseite eines elektronischen Bauteils einer zweiten Ausführungsform der Erfindung, Fig. 3 is a schematic view showing an underside of an electronic component to a second embodiment of the invention,

Fig. 4 zeigt eine schematische Querschnittsansicht des elektronischen Bauteils der zweiten Ausführungsform der Erfindung entlang der Schnittlinie A-A in Fig. 3, FIG. 4 shows a schematic cross-sectional view of the electronic component of the second embodiment of the invention along the section line AA in FIG. 3,

Fig. 5 zeigt einen Ausschnitt einer schematischen Draufsicht auf eine Bauteilposition eines Systemträgers mit positioniertem Halbleiterchip in Flip-Chip- Technik vor dem Verpacken der Bauteilposition für ein elektronisches Bauteil einer dritten Ausführungsform der Erfindung, Fig. 5 shows a section of a schematic top view of a part position of a leadframe with a positioned semiconductor chip in a flip-chip technique before packaging of the component position for an electronic component of a third embodiment of the invention,

Fig. 6 zeigt einen schematischen Querschnitt durch ein elektronisches Bauteil der dritten Ausführungsform der Erfindung entlang der Schnittlinie B-B in Fig. 5, Fig. 6 shows a schematic cross-section through an electronic component of the third embodiment of the invention taken along section line BB in Fig. 5,

Fig. 7 zeigt einen schematischen Querschnitt durch ein elektronisches Bauteil einer vierten Ausführungsform der Erfindung, Fig. 7 shows a schematic cross-section through an electronic component of a fourth embodiment of the invention,

Fig. 8 zeigt einen schematischen Querschnitt durch ein elektronisches Bauteil, das einen Stapel aus elektronischen Bauteilen der vierten Ausführungsform der Erfindung aufweist. Fig. 8 shows a schematic cross-section through an electronic component, comprising a stack of electronic components of the fourth embodiment of the invention.

Fig. 1 zeigt eine schematische Querschnittsansicht eines elektronischen Bauteils 1 einer ersten Ausführungsform der Erfindung. Das Bezugszeichen 2 kennzeichnet ein Kunststoffgehäuse. Das Bezugszeichen 3 kennzeichnet einen metallischen Träger, auf dem ein Halbleiterchip 4 positioniert ist. Das Bezugszeichen 5 kennzeichnet Außenkontakte auf der Unterseite des elektronischen Bauteils 1, die um wenige Mikrometer aus der Kunststoffgehäusemasse 16 des Kunststoffgehäuses 2 herausragen. Das Bezugszeichen 6 kennzeichnet einen Anschlußkontakt und das Bezugszeichen 7 Flip-Chip-Kontakte des Halbleiterchips 4, die mit den Anschlußkontakten 6 des metallischen Trägers 3 über Kontaktanschlußflächen 13 der Anschlußkontakte 6 verbunden sind. Fig. 1 is a schematic cross-sectional view showing an electronic component 1 of a first embodiment of the invention. The reference number 2 denotes a plastic housing. The reference symbol 3 denotes a metallic carrier on which a semiconductor chip 4 is positioned. The reference number 5 denotes external contacts on the underside of the electronic component 1 , which protrude by a few micrometers from the plastic housing mass 16 of the plastic housing 2 . The reference number 6 denotes a connection contact and the reference number 7 flip-chip contacts of the semiconductor chip 4 , which are connected to the connection contacts 6 of the metallic carrier 3 via contact connection surfaces 13 of the connection contacts 6 .

Das Bezugszeichen 8 kennzeichnet eine aktive Oberseite des Halbleiterchips, auf der die Flip-Chip-Kontakte 7 angeordnet sind, wobei die Größenordnung und Abstände der Flip-Chip- Kontakte 7 mikroskopisch klein sind, was in diesem Zusammenhang eine Größenordnung betrifft, die erst mit Hilfe eines Lichtmikroskopes meßbar wird. Demgegenüber sind die Außenkontakte 5 auf der Unterseite 9 in Abständen angeordnet, die in eine makroskopische Größenordnung kommen, das heißt, diese Abstände sind mit bloßem Auge meßbar und erkennbar. The reference numeral 8 denotes an active upper side of the semiconductor chip, on which the flip-chip contacts 7 are arranged, the size and spacing of the flip-chip contacts 7 being microscopic, which in this context relates to an order of magnitude that can only be achieved with the aid of of a light microscope becomes measurable. In contrast, the external contacts 5 are arranged on the underside 9 at intervals which are of a macroscopic order, that is to say these intervals can be measured and recognized with the naked eye.

Das Bezugszeichen 9 kennzeichnet die Unterseite des Kunststoffgehäuses und damit auch die Unterseite des elektronischen Bauteils 1. Die Bezugsziffer 10 kennzeichnet die Seitenränder des elektronischen Bauteils und damit auch die Seitenränder des Kunststoffgehäuses. Das Bezugszeichen 11 kennzeichnet die Oberseite des Kunststoffgehäuses und damit auch die Oberseite des elektronischen Bauteils 1. The reference number 9 denotes the underside of the plastic housing and thus also the underside of the electronic component 1 . The reference number 10 identifies the side edges of the electronic component and thus also the side edges of the plastic housing. The reference symbol 11 denotes the top of the plastic housing and thus also the top of the electronic component 1 .

Das Bezugszeichen 14 kennzeichnet Haltestege, die die Außenkontakte 5 und die Anschlusskontakte 6 in Position halten bis das Verpacken des elektronischen Bauteils 1 in einer Kunststoffgehäusemasse 16 abgeschlossen ist. Die Haltestege 14 weisen in dieser ersten Ausführungsform der Erfindung die halbe Materialstärke D des Trägers 3 auf. Diese auf die halbe Materialstärke verminderte Materialstärke wird mit dem Buchstaben d gekennzeichnet. Die Höhe des elektronischen Bauteils setzt sich somit aus der Materialstärke D des Systemträgers im Bereich zwischen 0,05 und 1,2 mm zusammen und dem in Flip- Chip-Technik montierten Halbleiterchip 4 auf den Anschlußkontakten 6 des elektronischen Bauteils. Dieses trägt zur Höhe des elektronischen Bauteils im Bereich zwischen 0,05 und 1,2 mm bei, so dass sich eine Gesamthöhe H des elektronischen Bauteils im Bereich von etwa 0,1 bis 2,4 mm ergibt. Aufgrund der geringen Materialstärke der Haltestege 14 können diese äußerst filigran und elastisch hergestellt werden, so dass die Belastungen, die aufgrund von Ausdehungsunterschieden auf die Verbindung zwischen den mikroskopisch kleinen Flip-Chip- Kontakten 7 und den Anschlußkontakten 6 wirken reduziert werden. The reference numeral 14 designates holding webs which hold the external contacts 5 and the connecting contacts 6 in position until the packaging of the electronic component 1 in a plastic housing compound 16 has been completed. In this first embodiment of the invention, the holding webs 14 have half the material thickness D of the carrier 3 . This material thickness, reduced to half the material thickness, is marked with the letter d. The height of the electronic component is thus composed of the material thickness D of the system carrier in the range between 0.05 and 1.2 mm and the semiconductor chip 4 mounted in flip-chip technology on the connection contacts 6 of the electronic component. This contributes to the height of the electronic component in the range between 0.05 and 1.2 mm, so that a total height H of the electronic component results in the range from approximately 0.1 to 2.4 mm. Due to the low material thickness of the holding webs 14 , these can be produced in an extremely filigree and elastic manner, so that the stresses which act on the connection between the microscopic flip-chip contacts 7 and the connecting contacts 6 due to expansion differences are reduced.

Mit Fig. 1 werden vier unterschiedlich angeordnete Außenkontakte 42, 43, 44 und 45 im Querschnitt dargestellt, die jeweils eine besonders vorteilhafte Ausbildung von Außenkontakten darstellen. Der Außenkontakt 42 ist auf der Unterseite des elektronischen Bauteils angeordnet und hat gleichzeitig eine Außenkontaktfläche auf dem Seitenrand 10 des elektronischen Bauteils. Sämtliche Außenkontakte 42, die gleichzeitig auch Randseitenkontakte aufweisen, bilden einen äußeren Ring von Außenkontakten auf der Unterseite 9 des elektronischen Bauteils 1 und sind über Haltestege 14 mit einzelnen, mikroskopisch kleinen Flip-Chip-Kontakten 7 über die Anschlußkontakte 6 verbunden. With Fig. 1 are four differently arranged external contacts 42, shown 43, 44 and 45 in cross-section, each representing a particularly advantageous embodiment of external contacts. The external contact 42 is arranged on the underside of the electronic component and at the same time has an external contact surface on the side edge 10 of the electronic component. All external contacts 42 , which at the same time also have edge-side contacts, form an outer ring of external contacts on the underside 9 of the electronic component 1 and are connected via holding bars 14 to individual, microscopic flip-chip contacts 7 via the connecting contacts 6 .

Der Außenkontakt 43 ist ein Beispiel für einen Außenkontakt eines zweiten Ringes von Außenkontakten auf der Unterseite des elektronischen Bauteils und weist ein besonderes Profil des Außenkontaktes auf. Dieses Profil ist durch Vorsprünge in der Mitte des Querschnitts gekennzeichnet. Diese Vorsprünge entstehen bei der Herstellung des Trägers 3 für das elektronische Bauteil 1. Der Außenkontakt 43 aus dem zweiten Ring von Außenkontakten ist über einen relativ langen elastischen Haltesteg 14 von verminderter Trägermaterialstärke d mit einem Anschlußkontakt 6 verbunden. The external contact 43 is an example of an external contact of a second ring of external contacts on the underside of the electronic component and has a special profile of the external contact. This profile is characterized by protrusions in the middle of the cross section. These projections arise during the manufacture of the carrier 3 for the electronic component 1 . The external contact 43 from the second ring of external contacts is connected to a connection contact 6 via a relatively long elastic holding web 14 of reduced carrier material thickness d.

Der Anschlußkontakt 6 dieser Ausführungsform ist aus dem Material des Haltesteges 14 durch Prägen geformt, wobei ein Prägestempel den Anschlußkontakt 6 gegenüber der Materialdicke des Haltesteges 14 weiter vermindert und gleichzeitig einen Kontaktsockel 12 auf dem Anschlußkontakt 6 ausbildet. Der Kontaktsockel weist auf seinem äußeren Ende eine Kontaktanschlußfläche 13 auf, die kongruent zu der Anschlußkontaktfläche des Flip-Chip-Kontaktes 7 ist. Somit kann eine elektrische Verbindung von makroskopischen Außenkontakten 42 oder 43 zu mikroskopisch kleinen Anschlußkontakten 6 mit Hilfe des Kontaktsockels 12 geschaffen werden. The connection contact 6 of this embodiment is formed from the material of the holding web 14 by embossing, an embossing die further reducing the connection contact 6 compared to the material thickness of the holding web 14 and at the same time forming a contact base 12 on the connection contact 6 . The contact base has on its outer end a contact pad 13 which is congruent with the contact pad of the flip-chip contact 7 . An electrical connection from macroscopic external contacts 42 or 43 to microscopic connecting contacts 6 can thus be created with the aid of the contact base 12 .

Während die Außenkontakte 42 und 43 in einem Bereich der Kunststoffgehäusemasse 16 angeordnet sind, der frei von dem Halbleiterchip 4 gehalten ist, liegt der Anschlußkontakt 44 unterhalb des Halbleiterchips 4 und weist einen Haltesteg 14 auf, der von der vorgegebenen Position innerhalb einer Außenkontaktmatrix zu der Position eines Flip-Chip-Kontaktes 7 des Halbleiterchips 4 führt. Am Ende des Haltesteges 14 ist dieser wiederum zu einem Außenkontakt 6 mit Kontaktsockel 12 geformt. While the external contacts 42 and 43 are arranged in an area of the plastic housing mass 16 which is kept free from the semiconductor chip 4 , the connection contact 44 lies below the semiconductor chip 4 and has a holding web 14 which extends from the predetermined position within an external contact matrix to the position a flip-chip contact 7 of the semiconductor chip 4 leads. At the end of the holding web 14 , this is in turn formed into an external contact 6 with a contact base 12 .

Eine weitere Version eines Außenkontaktes auf der Unterseite 9 des elektronischen Bauteils 1 zeigt das Bezugszeichen 45. Bei diesem Außenkontakt 45 sind die Positionen des Außenkontaktes 45 und des Flip-Chip-Kontaktes 7 deckungsgleich, so dass hier ein speziell geformter Außenkontakt 45 gebildet wird, der auf der Unterseite des elektronischen Bauteils 1 eine makroskopische Fläche aufweist und im oberen Bereich des Außenkontaktes 45 auf die mikroskopisch kleine Fläche des Flip-Chip-Kontaktes 7 reduziert ist. Ein derartiger Außenkontakt, der unmittelbar mit einem Flip-Chip-Kontakt 7 verbunden ist, kann nur an Stellen eingesetzt werden, an denen die Flip-Chip-Kontakte makroskopische Abstände untereinander aufweisen. A further version of an external contact on the underside 9 of the electronic component 1 is shown by the reference symbol 45 . In this external contact 45 , the positions of the external contact 45 and the flip-chip contact 7 are congruent, so that a specially shaped external contact 45 is formed here, which has a macroscopic surface on the underside of the electronic component 1 and in the upper region of the external contact 45 is reduced to the microscopic area of the flip-chip contact 7 . Such an external contact, which is directly connected to a flip-chip contact 7 , can only be used at locations where the flip-chip contacts are at macroscopic distances from one another.

Neben den unterschiedlichen Versionen der Außenkontakte 42, 43, 44 und 45 zeigt die Fig. 1 eine vergrabene Potentialleitung 15, die quer durch das elektronische Bauteil 1 unterhalb des Halbleiterchips angeordnet ist. Diese Potentialleitung 15 kann einerseits Kontakte gleichen Potentials untereinander und mit dem Halbleiterchip 4 verbinden und andererseits dient sie der mechanischen Stabilisierung und Halterung von Außenkontakten und Anschlußkontakten über entsprechende Haltestege, die nach dem Verpacken des Systemträgers 23 mit aufgebrachtem Halbleiterchip 4 wieder getrennt werden. In addition to the different versions of the external contacts 42 , 43 , 44 and 45 , FIG. 1 shows a buried potential line 15 which is arranged across the electronic component 1 below the semiconductor chip. This potential line 15 can, on the one hand, connect contacts of the same potential to one another and to the semiconductor chip 4 and, on the other hand, it serves for the mechanical stabilization and holding of external contacts and connection contacts via corresponding holding bars, which are separated again after packaging the system carrier 23 with the semiconductor chip 4 applied.

Dazu werden Aussparungen 17 von der Unterseite des elektronischen Bauteils 1 aus in die Kunststoffgehäusmasse 16 an den Stellen eingebracht, an denen Haltestege 14, die lediglich mechanische Aufgaben hatten, getrennt werden. Haltestege, die auch eine elektrische Verbindung herstellen, werden demgegenüber nicht getrennt, wie es beispielsweise in Fig. 1 zwischen dem Außenkontakt 43 und dem Anschlußkontakt 6 gezeigt wird. Der metallische Träger 3, der sowohl Außenkontakte 5 als auch Haltestege 14 und zu Anschlußkontakten 6 geprägte Enden von Haltestegen 14 aufweist, wird aus einem Systemträger 23 gebildet, der mehrere Bauteilpositionen aufweist und innerhalb jeder Bauteilposition 50 des Systemträgers 23 einen derartigen metallischen Träger 3 für ein einzelnes elektronisches Bauteil 1 bildet. For this purpose, recesses 17 are introduced from the underside of the electronic component 1 into the plastic housing compound 16 at the points at which retaining webs 14 , which had only mechanical functions, are separated. In contrast, retaining bars, which also establish an electrical connection, are not separated, as is shown, for example, in FIG. 1 between the external contact 43 and the connection contact 6 . The metallic carrier 3 , which has both external contacts 5 and retaining webs 14 and ends of retaining webs 14 which are embossed with connection contacts 6 , is formed from a system carrier 23 which has a plurality of component positions and within each component position 50 of the system carrier 23 such a metallic carrier 3 for a forms individual electronic component 1 .

Fig. 2 zeigt einen schematischen Querschnitt durch einen Systemträger 23 mit Ätzprofilen für Komponenten 5, 6, 14 und 15 eines elektronischen Bauteils 1 nach Fig. 1. Komponenten mit gleichen Funktionen wie in Fig. 1 werden mit gleichen Bezugszeichen gekennzeichnet und nicht extra erörtert. FIG. 2 shows a schematic cross section through a system carrier 23 with etching profiles for components 5 , 6 , 14 and 15 of an electronic component 1 according to FIG. 1. Components with the same functions as in FIG. 1 are identified by the same reference symbols and are not discussed separately.

Dazu zeigt Fig. 2 einen schematischen Querschnitt durch einen Ausschnitt eines zu einem Systemträger 23 geätzten Systemträgerrohling 22, bei dem sich halbseitige Haltestege 14 mit vollseitigen Außenkontakten 5 abwechseln. Dabei werden die halbseitigen Stege 14 mittels nicht symmetrischer Ätzmaskentechnik erreicht. Das Rastermaß s für die halbseitigen Haltestege 14 im Wechsel mit einseitig stark verbreiterten, teils vollseitigen Außenkontakten 14 mit der schmaleren Breite w ist:

s = p + w,

wobei die Ätzlücke p

p = m + D

ist. Die Haltestege 14 sind in dieser schematischen Darstellung im Wechsel mit vollseitigen Außenkontakten 5 angeordnet, die auf der Oberseite 31 des Systemträgers 23 eine verminderte Breite w für Haltestege 14 oder für Kontaktanschlußflächen 13, 20 eines Anschlußkontaktes 6 beziehungsweise eines Außenkontaktes 5 auf der Systemträgeroberseite aufweisen, die mit der Breite von Flip-Chip-Kontakten 7 des Halbleiterchips 4 kompatibel ist. Auf der Unterseite 32 des Systemträgers 23 soll in dieser Ausführungsform der Erfindung eine größere Breite W für die Außenkontakte 5 realisiert werden. Wenn zwischen den vollseitigen Außenkontakten 5 jeweils ein halbseitiger Haltesteg 14 an der Oberseite 31 des Systemträgers 23 vorgesehen wird, so kann ein Rastermaß für die Außenkontakte 5 auf der Unterseite 32 des Systemträgers 23 erreicht werden, das bei der Ausführungsform nach Fig. 1 und Fig. 2 folgende Größenordnung hat:

S = W + w + 2m + d,

wobei W die Breite des Außenkontaktes 5 auf der Unterseite 32 des Systemträgers 23, w die Breite des halbseitigen Haltesteges 14 auf der Oberseite 31 des Systemträgers 23, m die Breite der Ätzöffnung und D die Materialdicke des Systemträgerrohlings 22 ist.
For this purpose, Fig. 2 shows a schematic cross section through a detail of an etched to form a system carrier 23 system carrier blank 22 alternate in which unilateral holding webs 14 with fully-side outer contacts 5. The half-sided webs 14 are achieved by means of non-symmetrical etching mask technology. The spacing s strong for the unilateral holding webs 14, alternating with one-sided widened part fully-side external contacts is w 14 with the narrower width:

s = p + w,

where the etching gap p

p = m + D

is. In this schematic representation, the holding webs 14 are arranged alternately with full-sided external contacts 5 , which have a reduced width w for holding webs 14 or for contact connecting surfaces 13 , 20 of a connecting contact 6 or an external contact 5 on the upper side of the system carrier on the upper side 31 of the system carrier 23 is compatible with the width of flip-chip contacts 7 of the semiconductor chip 4 . In this embodiment of the invention, a larger width W for the external contacts 5 is to be realized on the underside 32 of the system carrier 23 . When each unilateral holding rib 14 is provided on the top side 31 of the lead frame 23 between the fully-side external contacts 5, so a pitch for the external contacts 5 can be achieved 23 on the underside 32 of the leadframe, which in the embodiment of Fig. 1 and Fig. 2 has the following size:

S = W + w + 2m + d,

where W is the width of the external contact 5 on the underside 32 of the system carrier 23 , w is the width of the half-sided holding web 14 on the top 31 of the system carrier 23 , m is the width of the etching opening and D is the material thickness of the system carrier blank 22 .

Somit können bei geeigneter Strukturierung von nicht symmetrischen Ätzmasken 33 und 34 ausreichend große Außenkontakte 5 geschaffen werden, bei gleichzeitig minimalem Flächenbedarf für die Haltestege 14 und minimaler Breite w für Kontaktanschlußflächen 13, 20 zu Flip-Chip-Kontakten 7 des Halbleiterchips 4, wie sie in Fig. 1 gezeigt werden. Thus, with suitable structuring of non-symmetrical etching masks 33 and 34, sufficiently large external contacts 5 can be created, with at the same time minimal space requirement for the holding webs 14 and minimal width w for contact connection areas 13 , 20 for flip-chip contacts 7 of the semiconductor chip 4 , as shown in FIG Fig. 1 are shown.

Durch asymmetrische Ätzmasken 33 und 34 oben und unten kann mit halber Materialdicke D/2 bereichsweise auf der Ober- oder der Unterseite eine elektrische Leitung, wie eine Potentialleitung 15 oder in Form von Haltestegen 14, auf Kosten von Nachbarstegen verbreitert werden. Beispielsweise im Bereich der Außenkontakte 5 auf der Unterseite 32 des Systemträgers kann diese Verbreiterung stattfinden, so dass mit den verbreiterten Bereichen die Kontaktierung zu einer nicht gezeigten Leiterplatte erleichtert wird. Auf der Oberseite 31 des Systemträgers 23 bleibt das Rastermaß unverändert auf minimaler Größe erhalten, so dass auf der Unterseite 32 beispielsweise die dreifache Breite für Außenkontakte 5 mit

W = 3w

realisiert werden kann. Darüber hinaus liefert das asymmetrische Ätzen von zwei Ätzmasken 33 und 34 ein Profil der Außenkontakte 5 im Querschnitt und der Haltestege 14 im Querschnitt, die in den Mittenbereich des Trägers 3 beziehungsweise des Systemträgers 23 Vorsprünge aufweisen, die eine Verankerung der Komponenten 5, 14 und 15 in der Kunststoffgehäusemasse bewirken. Mit einer derartigen Ätztechnologie kann somit ein Außenkontakt 5 erzeugt werden, der in seinem oberen Materialbereich einen Kontaktsockel 19 aufweist mit verminderter Kontaktanschlußfläche 20, die in ihrer Breite w der Breite der Flip-Chip-Kontakte eines Halbleiterchips entspricht.
By means of asymmetrical etching masks 33 and 34 at the top and bottom, an electrical line, such as a potential line 15 or in the form of holding bars 14 , can be widened in regions with half the material thickness D / 2 on the top or bottom at the expense of neighboring bars. For example, this widening can take place in the area of the external contacts 5 on the underside 32 of the system carrier, so that the widened areas make it easier to make contact with a circuit board (not shown). On the upper side 31 of the system carrier 23 , the grid size remains unchanged at a minimal size, so that on the underside 32, for example, three times the width for external contacts 5

W = 3w

can be realized. In addition, the asymmetrical etching of two etching masks 33 and 34 provides a profile of the external contacts 5 in cross section and the holding webs 14 in cross section, which have protrusions in the central region of the carrier 3 and the system carrier 23 , respectively, which anchor the components 5 , 14 and 15 effect in the plastic housing compound. With such an etching technology, an external contact 5 can thus be produced, which in its upper material area has a contact socket 19 with a reduced contact pad 20 , the width w of which corresponds to the width of the flip-chip contacts of a semiconductor chip.

Fig. 3 zeigt eine schematische Ansicht einer Unterseite 9 eines elektronischen Bauteils 1 einer zweiten Ausführungsform der Erfindung. Komponenten mit gleichen Funktionen wie in den vorhergehenden Figuren werden mit gleichen Bezugszeichen gekennzeichnet und nicht extra erörtert. Fig. 3 of an electronic component 1 is a schematic view of a bottom 9 of a second embodiment of the invention. Components with the same functions as in the previous figures are identified by the same reference symbols and are not discussed separately.

Auf der Unterseite 9 des elektronischen Bauteils 1 sind in dieser zweiten Ausführungsform der Erfindung eine Vielzahl von Außenkontakten 5 in Ringen 25, 26, 27 und 28 angeordnet, wobei der Ring 25 nicht nur auf der Unterseite 9 eine Außenkontaktfläche aufweist, sondern als Außenring 24 auch Außenkontaktflächen auf den Seitenrändern 10 des elektronischen Bauteils 1 aufweist. Die gestrichelte Linie zeigt die Größe des Halbleiterchips 4, wobei sämtliche Außenkontaktringe 25, 26, 27 und 28 unterhalb des Halbleiterchips 4 angeordnet sind. Die Anschlußkontakte sind in dieser Ausführungsform der Erfindung in der Kunststoffgehäusemasse 16 vergraben und somit in dieser Darstellung nicht sichtbar. In this second embodiment of the invention, a plurality of external contacts 5 are arranged in rings 25 , 26 , 27 and 28 on the underside 9 of the electronic component 1 , the ring 25 not only having an external contact surface on the underside 9 but also as an outer ring 24 Has external contact surfaces on the side edges 10 of the electronic component 1 . The dashed line shows the size of the semiconductor chip 4 , with all the outer contact rings 25 , 26 , 27 and 28 being arranged below the semiconductor chip 4 . In this embodiment of the invention, the connection contacts are buried in the plastic housing compound 16 and are therefore not visible in this illustration.

Die Lage von zwei Anschlußkontakten 46 und 47 ist in diesem Beispiel gekennzeichnet und zeigt, dass diese Anschlußkontakte, die mit den Flip-Chip-Kontakten deckungsgleich angeordnet sind, nicht den Positionen der Außenkontakte 5 entsprechenden. Vielmehr sind Haltestege 14 erforderlich, um die Außenkontaktflächen mit den Anschlußkontakten zu verbinden. Die Haltestege 14 dienen bei dieser Ausführungsform der Erfindung der Positionierung der Außenkontakte 5 und dem Verbinden der Außenkontakte 5 mit den vergrabenen Anschlußkontakten. Soweit die Haltestege 14 nicht als elektrische Verbindung dienen, werden sie nach Verpacken des elektronischen Bauteils 1 von der Unterseite 9 des elektronischen Bauteils 1 aus aufgetrennt. In dieser Ausführungsform der Erfindung nach Fig. 3 weist die Unterseite Aussparungen 17 in Form von Sägenuten 18 auf, die sich quer über die Unterseite neuen des elektronischen Bauteils 1 erstrecken und sämtliche Haltestege 14 durchtrennen, so weit sie eine mechanische Halterung darstellen und keine elektrische Verbindung herstellen. The position of two connection contacts 46 and 47 is marked in this example and shows that these connection contacts, which are arranged congruently with the flip-chip contacts, do not correspond to the positions of the external contacts 5 . Rather, retaining webs 14 are required to connect the external contact areas to the connection contacts. In this embodiment of the invention, the holding webs 14 serve to position the external contacts 5 and to connect the external contacts 5 to the buried connection contacts. Insofar as the holding webs 14 do not serve as an electrical connection, they are separated from the underside 9 of the electronic component 1 after packaging of the electronic component 1 . In this embodiment of the invention according to FIG. 3, the underside has cutouts 17 in the form of saw grooves 18 , which extend across the underside of the new electronic component 1 and cut through all the holding webs 14 as far as they represent a mechanical holder and no electrical connection produce.

Fig. 4 zeigt eine schematische Querschnittsansicht des elektronischen Bauteils 1 der zweiten Ausführungsform der Erfindung entlang der Schnittlinie A-A in Fig. 3. Komponenten mit gleichen Funktionen wie in den vorhergehenden Figuren werden mit gleichen Bezugszeichen gekennzeichnet und nicht extra erörtert. FIG. 4 shows a schematic cross-sectional view of the electronic component 1 of the second embodiment of the invention along the section line AA in FIG. 3. Components with the same functions as in the previous figures are identified by the same reference numerals and are not discussed separately.

In dieser Ausführungsform der Erfindung sind ein Teil der Außenkontakte 5 unmittelbar in Positionen von Flip-Chip- Kontakten 7 angeordnet. Die Matrix der Flip-Chip-Kontakte 7wird, so weit sie nicht in der Schnittlinie A-A liegen, durch gestrichelte Linien markiert. Die Haltestege 14 liegen in dieser Ausführungsform der Erfindung auf der Unterseite des elektronischen Bauteils 1 und werden von den Sägenuten 18 durchtrennt, soweit sie lediglich von mechanischer Bedeutung sind. Der Querschnitt der Fig. 4 zeigt außerdem eine Potentialleitung 15, von der aus, wie in Fig. 3 zu sehen ist, mehrere Haltestege 29 quer angeordnet sind, die der Halterung oder der Potentialverbindung von Außenkontakten 5 dienen. Diese Potentialleitung 15 ist hier vollständig in Kunststoffgehäusemasse 16 eingebettet und hat den Vorteil, dass sie in jeder Bauteilposition einen zusätzlichen stabilisierenden Steg bildet, an dem sich Haltestege 14 für Außenkontakte 5 und Anschlußkontakte abstützen können. In this embodiment of the invention, part of the external contacts 5 are arranged directly in positions of flip-chip contacts 7 . The matrix of the flip-chip contacts 7 , as far as they are not in the section line AA, is marked by dashed lines. In this embodiment of the invention, the holding webs 14 lie on the underside of the electronic component 1 and are severed by the saw grooves 18 , insofar as they are only of mechanical importance. The cross section of FIG. 4 also shows a potential line 15 , from which, as can be seen in FIG. 3, a plurality of holding webs 29 are arranged transversely, which serve to hold or connect the potentials of external contacts 5 . This potential line 15 is completely embedded in plastic housing compound 16 and has the advantage that it forms an additional stabilizing web in each component position, on which retaining webs 14 for external contacts 5 and connection contacts can be supported.

Fig. 5 zeigt einen Ausschnitt einer schematischen Draufsicht auf eine Bauteilposition eines Systemträgers 23 mit positioniertem Halbleiterchip 4 in Flip-Chip-Technik vor dem Verpacken der Bauteilposition 50 zu einem elektronischen Bauteil 1 einer dritten Ausführungsform der Erfindung. Komponenten mit gleichen Funktionen wie in den vorhergehenden Figuren werden mit gleichen Bezugszeichen gekennzeichnet und nicht extra erörtert. Fig. 5 shows a section of a schematic top view of a part position of a leadframe 23 with a positioned semiconductor chip 4 in flip-chip technique, prior to packaging of the device position 50 to an electronic component 1 of a third embodiment of the invention. Components with the same functions as in the previous figures are identified by the same reference symbols and are not discussed separately.

Bei diesem Systemträger 23 ist zwischen dem Rand des Halbleiterchips 49 und den ersten beiden Reihen 51 und 52 von Außenkontakten 5 ein Kröpfungsbereich 53 vorgesehen, in dem die Haltestege 21 derart gekröpft sind, dass sie die Anschlußkontakte 6 auf der Oberseite 11 eines verpackenden elektronischen Bauteils 1 positionieren. Dieses Kröpfen der Haltestege 21 kann bei der Herstellung des Systemträgers 23 durchgeführt werden und bewirkt, dass das elektronische Bauteil 1 dieser dritten Ausführungsform der Erfindung sowohl auf der Unter- Seite 9 einen Zugriff zu den Flip-Chip-Kontakten 7 durch die Außenkontakte 5 ermöglicht, als auch von der Oberseite 11 durch die dort angeordneten Anschlußkontakte 6. In this system carrier 23 , a cranking area 53 is provided between the edge of the semiconductor chip 49 and the first two rows 51 and 52 of external contacts 5 , in which the retaining webs 21 are cranked in such a way that they connect the contacts 6 on the top 11 of a packaging electronic component 1 position. This crimping of the holding webs 21 can be carried out during the manufacture of the system carrier 23 and has the effect that the electronic component 1 of this third embodiment of the invention enables access to the flip-chip contacts 7 on the underside 9 through the external contacts 5 , as well as from the top 11 through the connection contacts 6 arranged there.

Fig. 6 zeigt einen schematischen Querschnitt durch ein elektronisches Bauteil 1 der dritten Ausführungsform der Erfindung entlang der Schnittlinie B-B in Fig. 5. Komponenten mit gleichen Funktionen wie in der vorhergehenden Figuren werden mit gleichen Bezugszeichen gekennzeichnet und nicht extra erläutert. FIG. 6 shows a schematic cross section through an electronic component 1 of the third embodiment of the invention along the section line BB in FIG. 5. Components with the same functions as in the previous figures are identified by the same reference numerals and are not specifically explained.

Im Gegensatz zu den vorhergehenden Ausführungsformen der Erfindung wird in der dritten Ausführungsform der Erfindung der Halbleiterchip 4 hängend an den Anschlußkontakten 6 angeordnet. Im Kröpfungsbereich 50 geht der Halbleitersteg 21 von dem Außenkontakt 5 auf der Unterseite 9 des elektronischen Bauteils 1 aus zu der Oberseite 11 des elektronischen Bauteils 1 und den zugehörigen Anschlußflächen 6. Dabei ist der Kröpfungsbereich 53 des auf verminderte Materialstärke d geätzten Haltesteges 21 vollkommen in Kunststoffgehäusemasse 16 nach Fertigstellung des elektronischen Bauteils 1 eingebettet. Ein derartiges Bauteil hat den Vorteil, dass elektrisch sowohl von der Oberseite 11 als auch von der Unterseite neuen aus auf die Flip-Chip-Kontakte 7 des Halbleiterchips 4 zugegriffen werden kann. In contrast to the previous embodiments of the invention, in the third embodiment of the invention the semiconductor chip 4 is arranged in a hanging manner on the connection contacts 6 . In the offset region 50 , the semiconductor web 21 extends from the external contact 5 on the underside 9 of the electronic component 1 to the top 11 of the electronic component 1 and the associated connection surfaces 6 . The offset region 53 of the holding web 21 etched to a reduced material thickness d is completely embedded in plastic housing compound 16 after the electronic component 1 has been completed . Such a component has the advantage that the flip-chip contacts 7 of the semiconductor chip 4 can be accessed electrically both from the top 11 and from the bottom.

Fig. 7 zeigt einen schematischen Querschnitt durch ein elektronisches Bauteil 1 einer vierten Ausführungsform der Erfindung. Komponenten mit gleichen Funktionen wie in den vorhergehenden Figuren werden mit gleichen Bezugszeichen gekennzeichnet und nicht extra erörtert. Fig. 7 shows a schematic cross-section through an electronic component 1 of a fourth embodiment of the invention. Components with the same functions as in the previous figures are identified by the same reference symbols and are not discussed separately.

Das elektronische Bauteil 1 der vierten Ausführungsform der Erfindung basiert auf den Prinzipien der dritten Ausführungsform der Erfindung, das heißt von den Außenkontakten 5 wird über gekröpfte Haltestege 21 der Außenkontakt 5 auf der Unterseite des elektronischen Bauteils mit Anschlußkontakten 6 auf der Oberseite des elektronischen Bauteils verbunden, so dass in der Kunststoffgehäusemasse 16 eine obere Kontaktmöglichkeit in mikroskopisch kleiner Anordnung für den Zugriff auf die Flip-Chip-Kontakte 7 besteht. Auf der Kunststoffgehäusemasse 16 kann nun eine Umverdrahtungsstruktur durch Aufbringen einer strukturierten Umverdrahtungsschicht 36 angeordnet werden. Diese Umverdrahtungsschicht 36 weist Umverdrahtungsleitungen 40 auf, die die Anschlußkontakte 6 auf der Oberseite des elektronischen Bauteils mit Außenkontaktflächen 41 der Umverdrahtungsleitungen verbinden. The electronic component 1 of the fourth embodiment of the invention is based on the principles of the third embodiment of the invention, that is to say of the external contacts 5 , the external contact 5 on the underside of the electronic component is connected to connection contacts 6 on the top of the electronic component via cranked retaining webs 21 , so that there is an upper contact possibility in a microscopic arrangement for access to the flip-chip contacts 7 in the plastic housing compound 16 . A redistribution structure can now be arranged on the plastic housing compound 16 by applying a structured redistribution layer 36 . This rewiring layer 36 has rewiring lines 40 which connect the connection contacts 6 on the upper side of the electronic component to external contact surfaces 41 of the rewiring lines.

Auf den Außenkontaktflächen 41 sind auf der Oberseite des elektronischen Bauteils Außenkontakte 37 angeordnet, die deckungsgleich zu Außenkontakten 5 auf der Unterseite des elektronischen Bauteils auf der Oberseite 11 des elektronischen Bauteils 1 verteilt sind. Ein derartiges elektronisches Bauteil 1 mit deckungsgleichen Außenkontakten 37 auf der Oberseite 11 des elektronischen Bauteils 1 und Außenkontakten 5 auf der Unterseite neuen des elektronischen Bauteils ist in der Lage zu größeren Einheiten gestapelt werden zu können. External contacts 37 are arranged on the external contact surfaces 41 on the upper side of the electronic component and are distributed congruently with external contacts 5 on the lower side of the electronic component on the upper side 11 of the electronic component 1 . Such an electronic component 1 with congruent external contacts 37 on the top 11 of the electronic component 1 and external contacts 5 on the underside of the new electronic component is capable of being stacked into larger units.

Fig. 8 zeigt einen schematischen Querschnitt durch ein elektronisches Bauteil 1, das einen Stapel aus elektronischen Bauteilen der vierten Ausführungsform der Erfindung aufweist. Komponenten mit gleichen Funktionen wie in den vorhergehenden Figuren werden mit gleichen Bezugszeichen gekennzeichnet und nicht extra erörtert. Fig. 8 shows a schematic cross-section through an electronic component 1 having a stack of electronic components of the fourth embodiment of the invention. Components with the same functions as in the previous figures are identified by the same reference symbols and are not discussed separately.

Zur vertikalen Stapelung der elektronischen Bauteile 1 der vierten Ausführungsform der Erfindung werden lediglich die Außenkontakte 37 auf der Oberseite eines jeden elektronischen Bauteils mit Außenkontakten 5 auf der Unterseite des darüberliegenden Bauteils verbunden, so dass ein Stapel von beliebig vielen elektronischen Bauteilen 1 der vierten Ausführungsform der Erfindung entstehen kann. Dieses komplexe, hochintegrierte elektronische Bauteil hat den Vorteil einer Platzersparnis durch vertikale Stapelung. Bezugszeichenliste 1 elektronisches Bauteil
2 Kunststoffgehäuse
3 metallischer Träger
4 Halbleiterchip
5 Außenkontakte
6 Anschlußkontakte
7 Flip-Chip-Kontakte
8 aktive Oberseite des Halbleiterchips
9 Unterseite des Kunststoffgehäuses
10 Seitenränder des elektronischen Bauteils
11 Oberseite des Kunststoffgehäuses
12 Kontaktsockel der Anschlußkontakte
13 kongruente Kontaktanschlußflächen
14 Haltestege
15 Potentialleitung
16 Kunststoffgehäusemasse
17 Aussparungen
18 Sägenuten
19 Kontaktsockel der Außenkontakte
20 Kontaktanschlußflächen der Außenkontakte
21 gekröpfte Haltestege
22 Systemträgerrahmen
23 Systemträger
24 Außenring
25, 26, 27, 28 Ringe von Außenkontakten
29 Haltestege an der Potentialleitung
30 Auswölbung
31 Oberseite des Systemträgers
32 Unterseite des Systemträgers
33 obere Ätzmaske
34 untere Ätzmaske
35 Systemträgerrohling
36 Umverdrahtungsschicht
37 Außenkontakte auf der Oberseite des elektronischen Bauteils
38 gestapelte elektronische Bauteile
39 Umverdrahtungsstruktur
40 Umverdrahtungsleitungen
41 Außenkontaktflächen der Umverdrahtungsleitungen
42, 43, 44, 45 Außenkontakte auf der Unterseite des elektronischen Bauteils
46, 47 Anschlußkontakte
48 Kröpfungsbereich
49 Rand des Halbleiterchips
50 Bauteilposition
51, 52 Reihen von Außenkontakten der Unterseite des elektronischen Bauteils
53 Kröpfungsbereich
h Bauteilhöhe
d verminderte Materialstärke des Trägers oder Systemträgers
D Materialstärke des Trägers oder des Systemträgers
For the vertical stacking of the electronic components 1 of the fourth embodiment of the invention, only the external contacts 37 on the top of each electronic component are connected to external contacts 5 on the underside of the component above, so that a stack of any number of electronic components 1 of the fourth embodiment of the invention can arise. This complex, highly integrated electronic component has the advantage of saving space through vertical stacking. Reference Signs List 1 electronic component
2 plastic housings
3 metallic supports
4 semiconductor chip
5 external contacts
6 connection contacts
7 flip-chip contacts
8 active top of the semiconductor chip
9 underside of the plastic housing
10 side edges of the electronic component
11 Top of the plastic case
12 contact bases of the contacts
13 congruent contact pads
14 holding bars
15 potential line
16 plastic housing compound
17 recesses
18 saw grooves
19 contact base of the external contacts
20 contact pads of the external contacts
21 cranked retaining bars
22 system carrier frame
23 system carrier
24 outer ring
25 , 26 , 27 , 28 rings of external contacts
29 holding bars on the potential line
30 bulge
31 Top of the system rack
32 Bottom of the system rack
33 upper etching mask
34 lower etching mask
35 System blank
36 Redistribution layer
37 external contacts on the top of the electronic component
38 stacked electronic components
39 Rewiring structure
40 rewiring lines
41 external contact surfaces of the rewiring lines
42 , 43 , 44 , 45 external contacts on the underside of the electronic component
46 , 47 contacts
48 Crank area
49 Edge of the semiconductor chip
50 component position
51 , 52 rows of external contacts on the underside of the electronic component
53 Crank area
h component height
d reduced material thickness of the carrier or system carrier
D Material thickness of the carrier or system carrier

Claims (40)

1. Elektronisches Bauteil mit einem Kunststoffgehäuse (2) und einem teilweise in dem Kunststoffgehäuse (2) angeordneten metallischen Träger (3), wobei an dem metallischen Träger (3) ein Halbleiterchip (4) in Flip-Chip- Technik angeordnet ist, und wobei der Träger Außenkontakte (5) in voller Trägermaterialstärke (D) und Anschlußkontakte (6) von verminderter Trägermaterialstärke (d) aufweist, wobei die Anschlußkontakte mit verminderter Trägermaterialstärke (d) unmittelbar mit Flip-Chip- Kontakten (7) der aktiven Oberseite (8) des Halbleiterchips (4) verbunden sind. 1. Electronic component with a plastic housing ( 2 ) and a partially in the plastic housing ( 2 ) arranged metallic carrier ( 3 ), wherein on the metallic carrier ( 3 ) a semiconductor chip ( 4 ) is arranged in flip-chip technology, and wherein the carrier has external contacts ( 5 ) in full carrier material thickness (D) and connecting contacts ( 6 ) of reduced carrier material thickness (d), the connecting contacts with reduced carrier material thickness (d) directly having flip-chip contacts ( 7 ) on the active top side ( 8 ) of the semiconductor chip ( 4 ) are connected. 2. Elektronisches Bauteil nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Außenkontakte (5) auf der Unterseite (9) des Kunststoffgehäuses (2) angeordnet sind. 2. Electronic component according to claim 1, characterized in that the external contacts ( 5 ) on the underside ( 9 ) of the plastic housing ( 2 ) are arranged. 3. Elektronisches Bauteil nach Anspruch 1 oder Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Außenkontakte (5) auf den Seitenrändern (10) des elektronischer Bauteils (1) angeordnet sind. 3. Electronic component according to claim 1 or claim 2, characterized in that the external contacts ( 5 ) on the side edges ( 10 ) of the electronic component ( 1 ) are arranged. 4. Elektronisches Bauteil nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Anschlußkontakte (6) auf der Oberseite (11) des Kunststoffgehäuses (2) angeordnet sind. 4. Electronic component according to one of the preceding claims, characterized in that the connection contacts ( 6 ) on the top ( 11 ) of the plastic housing ( 2 ) are arranged. 5. Elektronisches Bauteil nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Anschlußkontakte (6) Kontaktsockel (12) aufweisen, die eine zu den Flip-Chip-Kontakten (7) des Halbleiterchips (4) kongruente Kontaktanschlussfläche (13) aufweisen und mit den Flip-Chip-Kontakten (7) verbunden sind. 5. The electronic component according to any one of the preceding claims, characterized in that the connecting contacts (6) have contact base (12) having a to the flip-chip contacts (7) of the semiconductor chip (4) congruent contact pad (13) and with the flip-chip contacts ( 7 ) are connected. 6. Elektronisches Bauteil nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Außenkontakte (5) mit den Anschlußkontakten (6) teilweise über elektrisch leitende Haltestege (14) mechanisch und/oder elektrisch verbunden sind, wobei die Haltestege (14) eine verminderte Trägermaterialstärke (d) aufweisen. 6. The electronic component according to any one of the preceding claims, characterized in that the outer contacts (5) are mechanically electrically connected to the connecting contacts (6) partially electrically conductive holding webs (14) and / or wherein the holding webs (14), a reduced substrate strength (d). 7. Elektronisches Bauteil nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Träger (3) eine Potentialleitung (15) aufweist, welche zumindest teilweise eine verminderte Trägermaterialstärke (d) aufweist und von Kunststoffgehäusemasse (16) umgeben ist. 7. Electronic component according to one of the preceding claims, characterized in that the carrier ( 3 ) has a potential line ( 15 ) which at least partially has a reduced carrier material thickness (d) and is surrounded by plastic housing compound ( 16 ). 8. Elektronisches Bauteil nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Kunststoffgehäuse (2) auf seiner Unterseite (9) Aussparungen (17) aufweist, die teilweise in Haltestegen (14) zu Anschlußkontakten (6) und/oder in Haltestegen (14) zu Außenkontakten (5) angeordnet sind und diese durchtrennen. 8. Electronic component according to one of the preceding claims, characterized in that the plastic housing ( 2 ) on its underside ( 9 ) has recesses ( 17 ), some of which are in retaining webs ( 14 ) for connecting contacts ( 6 ) and / or in retaining webs ( 14 ) are arranged to external contacts ( 5 ) and cut them. 9. Elektronisches Bauteil nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Unterseite (9) des Kunststoffgehäuses (2) Sägenuten (18) als Aussparungen (17) aufweist, die eine vorbestimmte Anzahl von Haltestegen (14) elektrisch unterbrechen. 9. Electronic component according to one of the preceding claims, characterized in that the underside ( 9 ) of the plastic housing ( 2 ) has saw grooves ( 18 ) as recesses ( 17 ) which electrically interrupt a predetermined number of retaining webs ( 14 ). 10. Elektronische Bauteil nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass Außenkontakte (5) eine verminderte Trägermaterialstärke (d) und einen Kontaktsockel (19) aufweisen, der eine Kontaktanschlußfläche (20) aufweist, die kongruent zu Flip-Chip-Kontakten (7) des Halbleiterchips (4) ist und mit dem Flip-Chip-Kontakt (7) unmittelbar verbunden ist. 10. Electronic component according to one of the preceding claims, characterized in that external contacts ( 5 ) have a reduced carrier material thickness (d) and a contact base ( 19 ) which has a contact connection surface ( 20 ) which is congruent to flip-chip contacts ( 7 ) of the semiconductor chip ( 4 ) and is directly connected to the flip chip contact ( 7 ). 11. Elektronisches Bauteil nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das elektronische Bauteil (1) gekröpfte Haltestege (21) aufweist, die Anschlußkontakte (6) auf der Oberseite des elektronischen Bauteils (1) mit Außenkontakten (5) auf der Unterseite (9) des elektronischen Bauteils (1) elektrisch und mechanisch verbinden. 11. Electronic component according to one of the preceding claims, characterized in that the electronic component ( 1 ) has cranked retaining webs ( 21 ), the connection contacts ( 6 ) on the top of the electronic component ( 1 ) with external contacts ( 5 ) on the underside ( 9 ) of the electronic component ( 1 ) electrically and mechanically connect. 12. Elektronisches Bauteil nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, dass das elektronische Bauteile auf (1) auf seiner Oberseite (11) eine Umverdrahtungschicht (36) aufweist, wobei die Umverdrahtungschicht (36) die Anschlußkontakte (6) auf der Oberseite (11) mit Außenkontakten (37) auf der Oberseite (11) verbindet. 12. Electronic component according to claim 11, characterized in that the electronic component on ( 1 ) on its top ( 11 ) has a rewiring layer ( 36 ), the rewiring layer ( 36 ) having the connection contacts ( 6 ) on the top ( 11 ) Connects external contacts ( 37 ) on the top ( 11 ). 13. Elektronisches Bauteil nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die mit der Umverdrahtungsschicht (36) erzeugten Außenkontakte (37) auf der Oberseite (11) zu den Außenkontakten (5) auf Unterseite (9) deckungsgleich angeordnet sind. 13. Electronic component according to claim 12, characterized in that the external contacts ( 37 ) generated with the rewiring layer ( 36 ) on the upper side ( 11 ) to the external contacts ( 5 ) on the underside ( 9 ) are arranged congruently. 14. Elektronisches Bauteil nach Anspruch 12 oder 13, dadurch gekennzeichnet, dass mehrere elektronische Bauteile (1) vertikal übereinander zu einem gestapelten elektronischen Bauteil angeordnet sind, wobei die Außenkontakte (37) der Oberseite (11) mit den Außenkontakten (5) der Unterseite (9) des darüber angeordneten elektronischen Bauteils (1) elektrisch verbunden sind. 14. Electronic component according to claim 12 or 13, characterized in that a plurality of electronic components ( 1 ) are arranged vertically one above the other to form a stacked electronic component, the external contacts ( 37 ) on the top ( 11 ) having the external contacts ( 5 ) on the underside ( 9 ) of the electronic component ( 1 ) arranged above them are electrically connected. 15. Systemträger für mehrere elektronische Bauteile, der strukturierte Bauteilpositionen (50) für jedes elektronische Bauteil (1) aufweist, wobei jede Bauteilposition (50) von einem Systemträgerrahmen (22) umgeben ist und der Systemträger (23) in seinen Randbereichen eine Perforation aufweist, wobei sich von dem Systemträgerrahmen (22) in jeder Bauteilposition (50) Haltestege (14) zu Außenkontakten (5) und Haltestege (14) zu Anschlußkontakten (6) in Richtung auf einen zentralen Bereich in der Bauteilposition (50) erstrecken, wobei die Außenkontakte (5) in einer Matrix angeordnet sind und über Haltestege (14) elektrisch mit Anschlußkontakten (6) verbunden sind, die eine Anordnung aufweisen, die der Anordnung von Flipchipkontakten (7) eines in Flipchiptechnik in den Bauteilpositionen (50) anzuordnenden Halbleiterchips (4) entspricht. 15. system carrier for a plurality of electronic components, which has structured component positions ( 50 ) for each electronic component ( 1 ), each component position ( 50 ) being surrounded by a system carrier frame ( 22 ) and the system carrier ( 23 ) having a perforation in its edge regions, wherein, extending from the system support frame (22) in each device position (50) retaining webs (14) to external contacts (5) and retaining webs (14) to connecting contacts (6) in the direction of a central portion in the component position (50) where the external contacts (5) are arranged in a matrix and are connected by retaining webs (14) electrically connected to terminal contacts (6) having an arrangement of the array of flip-chip contacts (7) of a to be arranged in flip-chip in the component positions (50) semiconductor chips (4) equivalent. 16. Systemträger nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, dass die Außenkontakte (5) eine volle Systemträgermaterialstärke (D) aufweisen. 16. System carrier according to claim 15, characterized in that the external contacts ( 5 ) have a full system carrier material thickness (D). 17. Systemträger nach Anspruch 15 oder Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass die Anschlußkontakte (6) eine verminderte Systemträgermaterialstärke (d) aufweisen. 17. System carrier according to claim 15 or claim 16, characterized in that the connection contacts ( 6 ) have a reduced system carrier material thickness (d). 18. Systemträger nach einem der Ansprüche 15 bis 17, dadurch gekennzeichnet, dass die Außenkontakte (5) in mindestens einer Bauteilposition (50) in einem Außenring (24) angeordnet sind, dessen Außenkontakte (5) Kontaktflächen an den Randseiten aufweisen. 18. System carrier according to one of claims 15 to 17, characterized in that the outer contacts ( 5 ) are arranged in at least one component position ( 50 ) in an outer ring ( 24 ), the outer contacts ( 5 ) of which have contact surfaces on the edge sides. 19. Systemträger nach einem der Ansprüche 15 bis 18, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen Haltestegen (14) für Außenkontakte (5) eines Außenring (24) Haltestege (14) eines weiteren inneren Ringes (26, 27, 28) aus Außenkontakten (5) angeordnet sind. 19. System carrier according to one of claims 15 to 18, characterized in that between retaining webs ( 14 ) for external contacts ( 5 ) of an outer ring ( 24 ) retaining webs ( 14 ) of a further inner ring ( 26 , 27 , 28 ) made of external contacts ( 5 ) are arranged. 20. Systemträger nach einem der Ansprüche 15 bis 19, dadurch gekennzeichnet, dass die Haltestege (14) eine verminderte Trägermaterialstärke (d) aufweisen. 20. System carrier according to one of claims 15 to 19, characterized in that the holding webs ( 14 ) have a reduced carrier material thickness (d). 21. Systemträger nach einem der Ansprüche 15 bis 20, dadurch gekennzeichnet, dass der Systemträger (23) eine Potentialleitung (15) aufweist, welche sich von einer Seite des Systemträgerrahmens (22) zur gegenüberliegenden Seite des Systemträgerrahmens (22) erstreckt und Haltestege (14) aufweist, wie sich von der Masseleitung (15) aus quer zur Längsrichtung der Masseleitung (15) erstrecken und Außenkontakte (5) und/oder Anschlußkontakte (6) mechanisch positionieren und/oder elektrisch mit der Potentialleitung (15) verbinden. 21. System carrier according to one of claims 15 to 20, characterized in that the system carrier ( 23 ) has a potential line ( 15 ) which extends from one side of the system carrier frame ( 22 ) to the opposite side of the system carrier frame ( 22 ) and retaining webs ( 14 ) has, how extend from the ground line ( 15 ) transversely to the longitudinal direction of the ground line ( 15 ) and mechanically position external contacts ( 5 ) and / or connection contacts ( 6 ) and / or electrically connect to the potential line ( 15 ). 22. Systemträger nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, dass die Potentialleitung (15) mindestens teilweise eine verminderte Systemträger (23) Materialstärke aufweist und in Kunststoffgehäusemasse (16) einbettbar ist. 22. System carrier according to claim 21, characterized in that the potential line ( 15 ) at least partially has a reduced system carrier ( 23 ) material thickness and can be embedded in plastic housing compound ( 16 ). 23. Systemträger nach einem der Ansprüche 15 bis 22, dadurch gekennzeichnet, dass der Systemträger (23) in jeder Bauteilposition (50) eine aus einer Matrix von Haltestegen (14), Anschlußkontakten (6) und/oder Außenkontakten (5) und/oder Potentialleitungen (15) geformte Auswölbung (30) gegenüber dem Systemträgerrahmen (22) aufweist. 23. System carrier according to one of claims 15 to 22, characterized in that the system carrier ( 23 ) in each component position ( 50 ) one of a matrix of retaining webs ( 14 ), connection contacts ( 6 ) and / or external contacts ( 5 ) and / or Has potential lines ( 15 ) shaped bulge ( 30 ) opposite the system carrier frame ( 22 ). 24. Systemträger nach einem der Ansprüche 15 bis 23, dadurch gekennzeichnet, dass Außenkontakte (5) eine verminderte Systemträgermaterialstärke (d) und einen Kontaktsockel (19) aufweisen, der eine Kontaktanschlußfläche (20) aufweist, die kongruent zu einem Flipchipkontakt (7) eines in Flipchiptechnik anzuordnenden Halbleiterchips (4) aufweist. 24. System carrier according to one of claims 15 to 23, characterized in that external contacts ( 5 ) have a reduced system carrier material thickness (d) and a contact base ( 19 ) which has a contact connection surface ( 20 ) which is congruent to a flip chip contact ( 7 ) Has semiconductor chips ( 4 ) to be arranged using flip-chip technology. 25. Systemträger nach einem der Ansprüche 15 bis 24, dadurch gekennzeichnet, dass der Systemträger (23) gekröpfte Haltestege (21) aufweist, die eine Auswölbung (30) gegenüber dem Systemträgerrahmen (22) bilden. 25. System carrier according to one of claims 15 to 24, characterized in that the system carrier ( 23 ) has cranked retaining webs ( 21 ) which form a bulge ( 30 ) relative to the system carrier frame ( 22 ). 26. Systemträger nach einem der Ansprüche 15 bis 25, dadurch gekennzeichnet, dass die Anschlußkontakte (6) eine Prägung aufweisen, welche einen Kontaktsockel (12) aufweist, der eine zu einem Flipchipkontakt (7) eines in Flipchiptechnik anzuordnenden Halbleiterchips (4) kongruente Kontaktanschlußfläche (13) aufweist. 26. System carrier according to one of claims 15 to 25, characterized in that the connection contacts ( 6 ) have an embossing which has a contact socket ( 12 ) which has a congruent contact pad to a flip chip contact ( 7 ) of a semiconductor chip ( 4 ) to be arranged using flip chip technology ( 13 ). 27. Verfahren zur Herstellung eines Systemträgers (23) aus einer Metallplatte oder einem Metallband als Systemträgerrohling (22), wobei das Verfahren folgende Verfahrensschritte aufweist: - Maskieren der Oberseite (31) und der Unterseite (32) des Systemträgerrohlings (22) mit unterschiedlichen zueinander unsymmetrisch strukturierten Ätzmasken (33, 34) an, - doppelseitiges Ätzen des maskierten Systemträgerrohlings (22) unter einseitigem Dünnätzen von Haltestegen (14) und Anschlußkontakten (6), sowie einem vorbestimmten Anteil der Außenkontakte (5) und/oder Potentialleitungen (15), - Entfernen der unsymmetrischen Ätzmasken (33, 34), - Strukturieren der Anschlußkontakte (6) zu Anschlußkontakten (6) verminderter Materialstärke (d) mit einem Kontaktsockel (12), der eine Kontaktanschlußfläche (13) aufweist, die kongruent zu einem Flipchipkontakte (7) eines in Flipchiptechnik anzuordnenden Halbleiterchips (4) ist, - Strukturieren der vorbestimmten Anzahl von Außenkontakten (5) verminderter Materialstärke (d) zu Außenkontakten (5) mit Kontaktsockel (19), der eine Kontaktanschlußfläche (20) aufweist, die kongruent hoch zu einem Flipchipkontakt (7) eines in Flipchiptechnik anzuordnenden Halbleiterchips (4) ist. 27. A method for producing a system carrier ( 23 ) from a metal plate or a metal strip as a system carrier blank ( 22 ), the method comprising the following method steps: Masking the top ( 31 ) and the bottom ( 32 ) of the system carrier blank ( 22 ) with different etching masks ( 33 , 34 ) which are structured asymmetrically with respect to one another, - double-sided etching of the masked system carrier blank ( 22 ) with one-sided thin etching of retaining webs ( 14 ) and connecting contacts ( 6 ), and a predetermined proportion of the external contacts ( 5 ) and / or potential lines ( 15 ), Removing the asymmetrical etching masks ( 33 , 34 ), - Structuring the connection contacts ( 6 ) to connection contacts ( 6 ) of reduced material thickness (d) with a contact base ( 12 ) which has a contact connection surface ( 13 ) which is congruent with a flipchip contact ( 7 ) of a semiconductor chip ( 4 ) to be arranged using flipchip technology, - Structuring the predetermined number of external contacts ( 5 ) of reduced material thickness (d) to external contacts ( 5 ) with a contact base ( 19 ) which has a contact connection surface ( 20 ) which is congruent high with a flipchip contact ( 7 ) of a semiconductor chip ( 4 ) is. 28. Verfahren nach Anspruch 27, dadurch gekennzeichnet, dass das Strukturieren der Anschlußkontakte (6) und/oder der vorbestimmten Anzahl von Außenkontakten (5) mittels Prägetechnik erfolgt. 28. The method according to claim 27, characterized in that the connection contacts ( 6 ) and / or the predetermined number of external contacts ( 5 ) are structured by means of embossing technology. 29. Verfahren nach Anspruch 27 oder Anspruch 28, dadurch gekennzeichnet, dass das Strukturieren der vorbestimmten Anzahl von Außenkontakten (5) mittels doppelseitiger Ätztechnik erfolgt. 29. The method according to claim 27 or claim 28, characterized in that the structuring of the predetermined number of external contacts ( 5 ) is carried out by means of double-sided etching technology. 30. Verfahren nach einem der Ansprüche 27 bis 29, dadurch gekennzeichnet, dass die Haltestege (11) teilweise gekröpft werden, so daß Anschlußkontakte (6) gegenüber dem Systemträgerrahmen (22) angehoben werden und Auswölbungen (30) in jeder Bauteilposition (50) gebildet werden, welche die Halbleiterchips (4) in Flipchiptechnik hängend aufnehmen können. 30. The method according to any one of claims 27 to 29, characterized in that the retaining webs ( 11 ) are partially cranked so that connection contacts ( 6 ) relative to the system carrier frame ( 22 ) are raised and bulges ( 30 ) are formed in each component position ( 50 ) be, which can hold the semiconductor chips ( 4 ) hanging in flip-chip technology. 31. Verfahren nach einem der Ansprüche 27 bis 30, dadurch gekennzeichnet, dass die Anschlußkontakte (6) derart angeordnet werden, dass sie der Anordnung von Flipchipkontakten (7) der in Flipchiptechnik zu montierenden Halbleiterchips (4) entsprechen. 31. The method according to any one of claims 27 to 30, characterized in that the connection contacts ( 6 ) are arranged such that they correspond to the arrangement of flip-chip contacts ( 7 ) of the semiconductor chips ( 4 ) to be mounted using flip-chip technology. 32. Verfahren nach einem der Ansprüche 27 bis 31, dadurch gekennzeichnet, dass die Außenkontakte (5) in einer Matrixform angeordnet werden und über Haltestege (14) mechanisch und elektrisch mit Anschlußkontakten (6) verbunden werden. 32. The method according to any one of claims 27 to 31, characterized in that the external contacts ( 5 ) are arranged in a matrix form and are mechanically and electrically connected to terminal contacts ( 6 ) via retaining webs ( 14 ). 33. Verfahren zur Herstellung eines elektronischen Bauteils (1) mit einem Kunststoffgehäuse (2) und einem in dem Kunststoffgehäuse (2) in Flipchiptechnik angeordneten Halbleiterchip (4), wobei das Kunststoffgehäuse (2) Außenkontakte (5) in voller Trägermaterialstärke (D) und Anschlußkontakte (6) von verminderter Materialstärke (d) eines Systemträgers (23) aufweist und die Anschlußkontakte (6) unmittelbar mit Flipchipkontakten (7) der aktiven Oberseite (8) des Halbleiterchips (4) verbunden sind, wobei das Verfahren folgende Verfahrensschritte aufweist: - Herstellen eines Systemträgers (23) mit mehreren Bauteilpositionen (50), die von einem Systemträgerrahmen (22) umgeben sind und eine Struktur mit Außenkontakten (5), Anschlußkontakten (6) und dazwischen angeordneten Haltestegen (14) verminderter Systemträgermaterialstärke (d) aufweisen, wobei die Anschlußkontakte (6) und eine vorbestimmte Anzahl von Außenkontakten (5) mit Sockelkontakten (12, 19) strukturiert werden, die zu Flipchipkontakten (7) des Halbleiterchips (4) kongruente Kontaktanschlußflächen (13) aufweisen, - elektrisches Verbinden eines Halbleiterchips (4) mit seinen Flipchipkontakten (7) in Flipchiptechnik mit den Kontaktanschlußflächen (13) der Anschlußkontakte (6) und/oder der vorbestimmten Anzahl von Außenkontakten (5) in jeder Bauteilposition (50), - Verpacken der Bauteilpositionen (50) in einer Kunststoffgehäusemasse (16), - Einbringen von Aussparungen (17) auf der Unterseite (9) des Systemträgers (23) in jeder Bauteilposition (50) zum Auftrennen von Haltestegen (14), die nicht für eine elektrische Verbindung vorgesehen sind, an entsprechend vorbestimmten Stellen, - Auftrennen des Systemträgers (23) zu einzelnen elektronischen Bauteilen (1). 33. A method for manufacturing an electronic component (1) with a plastic housing (2) and, disposed in the plastic housing (2) in flip-chip semiconductor chip (4), wherein the plastic housing (2) external contacts (5) in full carrier material thickness (D) and Has connection contacts ( 6 ) of reduced material thickness (d) of a system carrier ( 23 ) and the connection contacts ( 6 ) are directly connected to flip-chip contacts ( 7 ) of the active top side ( 8 ) of the semiconductor chip ( 4 ), the method having the following method steps: Producing a system carrier ( 23 ) with a plurality of component positions ( 50 ) which are surrounded by a system carrier frame ( 22 ) and have a structure with external contacts ( 5 ), connecting contacts ( 6 ) and holding webs ( 14 ) of reduced system carrier material thickness (d) arranged between them, wherein the connection contacts ( 6 ) and a predetermined number of external contacts ( 5 ) are structured with base contacts ( 12 , 19 ) which have contact connection surfaces ( 13 ) congruent with flipchip contacts ( 7 ) of the semiconductor chip ( 4 ), - Electrical connection of a semiconductor chip ( 4 ) with its flipchip contacts ( 7 ) using flipchip technology to the contact connection surfaces ( 13 ) of the connection contacts ( 6 ) and / or the predetermined number of external contacts ( 5 ) in each component position ( 50 ), - Packing the component positions ( 50 ) in a plastic housing compound ( 16 ), - Providing recesses ( 17 ) on the underside ( 9 ) of the system carrier ( 23 ) in each component position ( 50 ) for separating retaining webs ( 14 ), which are not intended for an electrical connection, at correspondingly predetermined locations, - Unraveling the system carrier ( 23 ) into individual electronic components ( 1 ). 34. Verfahren nach Anspruch 33, dadurch gekennzeichnet, dass das Auftrennen von Haltestegen (14) durch Einbringen von Sägenuten (18) auf der Unterseite (9) des Systemträgers (23) und/oder auf der Unterseite (9) des elektronischen Bauteils (1) durchgeführt wird. 34. The method according to claim 33, characterized in that the separation of retaining webs ( 14 ) by introducing saw grooves ( 18 ) on the underside ( 9 ) of the system carrier ( 23 ) and / or on the underside ( 9 ) of the electronic component ( 1 ) is carried out. 35. Verfahren nach Anspruch 33 oder Anspruch 34 dadurch gekennzeichnet, dass das Auftrennen von Haltestegen (14) durch Einbringen von Aussparungen (17) auf der Unterseite (9) des elektronischen Bauteils (1) zum Trennen der Haltestegen (14) an vorbestimmten Stellen mittels Laserabtrag durchgeführt wird. 35. The method according to claim 33 or claim 34, characterized in that the opening of holding webs ( 14 ) by introducing cutouts ( 17 ) on the underside ( 9 ) of the electronic component ( 1 ) for separating the holding webs ( 14 ) by means of predetermined points Laser ablation is carried out. 36. Verfahren nach einem der Ansprüche 33 bis 35, dadurch gekennzeichnet, dass das in den Systemträger (23) an jeder Bauteilposition (50) eine Auswölbung (30) durch Kröpfung der Haltestege (21) eingebracht wird, in welcher der Halbleiterchip (4) in Flipchiptechnik angeordnet wird. 36. Method according to one of claims 33 to 35, characterized in that a bulge ( 30 ) is introduced into the system carrier ( 23 ) at each component position ( 50 ) by cranking the holding webs ( 21 ) in which the semiconductor chip ( 4 ) is arranged in flip-chip technology. 37. Verfahren nach einem der Ansprüche 33 bis 36, dadurch gekennzeichnet, dass beim Verpacken der Anordnung aus Halbleiterchip (4) und Bauteilposition mit Auswölbungen (30) in einer Kunststoffgehäusemasse (16) ein Formwerkzeug eingesetzt wird, das eine Formkavität aufweist, bei der sich die Außenkontakte (5) in eine untere Dichtfolie und die Anschlußkontakte (6) in eine obere Dichtfolie einprägen, so daß nach den Spritzgußprozeß die Anschlußkontakte (6) aus der Oberseite (11) des Kunststoffgehäuses (2) um wenige Mikrometer herausragen und die Außenkontakte (5) auf der Unterseite (9) des Kunststoffgehäuses (2) um wenige Mikrometer herausragen. 37. The method according to any one of claims 33 to 36, characterized in that when packaging the arrangement of semiconductor chip ( 4 ) and component position with bulges ( 30 ) in a plastic housing compound ( 16 ), a mold is used which has a mold cavity in which the external contacts (5) in a lower sealing film and the connecting contacts (6) in an upper sealing foil memorize so that the plastic housing (2) protrude in accordance with the injection molding process, the connecting contacts (6) from the upper side (11) to a few micrometers, and the outer contacts ( 5 ) protrude on the underside ( 9 ) of the plastic housing ( 2 ) by a few micrometers. 38. Verfahren nach einem der Ansprüche 33 bis 37, dadurch gekennzeichnet, dass das nach dem Verpacken der elektronischen Bauteile (1) auf dem Systemträger (23) die Oberseiten (11) der elektronischen Bauteile (1) mit einer Umverdrahtungstruktur (39) beschichtet werden, wobei die Umverdrahtungsstruktur (39) Umverdrahtungsleitungen (40) aufweist, die sich von den auf der Oberfläche (11) angeordneten Anschlußkontakten (6) zu Kontaktanschlußflächen (41) auf der Oberseite (11) erstrecken, und Außenkontakte (37) auf der Oberseite (11) der elektronischen Bauteile (1) aufweisen. 38. The method according to any one of claims 33 to 37, characterized in that after the packaging of the electronic components ( 1 ) on the system carrier ( 23 ) the top sides ( 11 ) of the electronic components ( 1 ) are coated with a rewiring structure ( 39 ) , wherein the rewiring structure ( 39 ) has rewiring lines ( 40 ) which extend from the connection contacts ( 6 ) arranged on the surface ( 11 ) to contact connection surfaces ( 41 ) on the top side ( 11 ), and external contacts ( 37 ) on the top side ( 11 ) of the electronic components ( 1 ). 39. Verfahren nach Anspruch 38, dadurch gekennzeichnet, dass, die Außenkontakte (37) auf der Oberseite (11) in Positionen selektiv aufgebracht werden, die den Positionen der Außenkontakte (5) auf der Unterseite der elektronischen Bauteile (1) entsprechen. 39. The method according to claim 38, characterized in that the external contacts ( 37 ) on the top ( 11 ) are selectively applied in positions corresponding to the positions of the external contacts ( 5 ) on the underside of the electronic components ( 1 ). 40. Verfahren nach einem der Ansprüche 38 oder Anspruch 39, dadurch gekennzeichnet, dass das Aufbringen von Umverdrahtungsleitungen (40) und Außenkontakten (37) auf der Oberseite (11) der elektronischen Bauteile (1) gleichzeitig für mehrere Bauteile (1) eines Systemträgers (23) erfolgt. 40. The method according to any one of claims 38 or claim 39, characterized in that the application of rewiring lines ( 40 ) and external contacts ( 37 ) on the top ( 11 ) of the electronic components ( 1 ) simultaneously for several components ( 1 ) of a system carrier ( 23 ) takes place.
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