DE102005058220A1 - Interferometric sample measurement - Google Patents

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Abstract

Es wird beschrieben eine Vorrichtung zur interferometrischen Messung einer Probe, insbesondere des Auges, mit einer Interferometeranordnung, welche einen ersten Meßstrahlengang, durch den ein Meßstrahl auf die Probe fällt, und einen ersten Referenzstrahlengang aufweist, durch den ein Referenzstrahl läuft, der mit dem Meßstrahl zur Interferenz gebracht wird, wobei die Interferometeranordnung einen zweiten Meß- und/oder zweiten Referenzstrahlengang aufweist, dessen/deren optische Weglänge sich von der eines der ersten Strahlengänge unterscheidet, wobei die Weglängendifferenz gemäß einem Abstand zweier in Tiefenrichtung der Probe beabstandeter Meßbereiche gewählt ist.It describes a device for interferometric measurement a sample, in particular of the eye, with an interferometer arrangement, which a first measuring beam path, through the one measuring beam falls to the test and a first reference beam path through which a reference beam running, the with the measuring beam is brought to interference, wherein the interferometer arrangement a second measuring and / or second reference beam path whose optical path length differs from that of one of the first optical paths, wherein the path length according to one Distance between two measuring regions spaced apart in the depth direction of the sample chosen is.

Figure 00000001
Figure 00000001

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung zur interferometrischen Messung einer Probe, insbesondere des Auges, mit einer Kurzkohärenz-Interferometeranordnung, welche einen Meßstrahlengang, durch den ein Meßstrahl auf die Probe fällt, und einen Referenzstrahlengang aufweist, durch den ein Referenzstrahl läuft, der mit dem Meßstrahl überlagert und zur Interferenz gebracht wird. Die Erfindung bezieht sich weiter auf ein Verfahren zur kurzkohärenzinterferometrischen Messung einer Probe, insbesondere des Auges, wobei durch einen ersten Meßstrahlengang ein Meßstrahl auf die Probe gerichtet wird und mit einem Referenzstrahl, der einen Referenzstrahlengang durchläuft, überlagert und zur Interferenz gebracht wird.The The invention relates to a device for interferometric Measurement of a sample, in particular of the eye, with a short-coherence interferometer arrangement, which a measuring beam path, through the one measuring beam falls to the test and a reference beam path through which a reference beam running, superimposed with the measuring beam and is brought to interference. The invention further relates to a method for short coherence interferometric Measuring a sample, in particular of the eye, wherein by a first measuring beam path a measuring beam is directed to the sample and with a reference beam, which is a reference beam path goes through, superimposed and is brought to interference.

Zur interferometrischen Messung oder Vermessung von Proben ist die optische Kurzkohärenztomographie (auch OCT) bekannt. Mit diesem Prinzip lassen sich mit hoher Empfindlichkeit optische Schnitte im Material vermessen, wobei axiale Auflösungen, d. h. Auflösungen entlang der optischen Einfallsachse der Strahlung, von wenigen Mikrometern erreicht werden. Das Prinzip basiert auf der optischen Interferometrie und verwendet für eine Auflösung in der Tiefenrichtung, d. h. entlang der optischen Achse, eine teilkohärente Lichtquelle.to interferometric measurement or measurement of samples is the optical Short coherence tomography (also known as OCT). With this principle can be with high sensitivity measuring optical sections in the material, with axial resolutions, d. H. resolutions along the optical axis of incidence of radiation, reached by a few microns become. The principle is based on optical interferometry and used for a resolution in the depth direction, d. H. along the optical axis, a partially coherent light source.

Eine bekannte Anwendung für die optische Kurzkohärenztomographie ist die Vermessung des Auges, insbesondere des menschlichen Auges. Die Carl Zeiss Meditec AG vertreibt dazu unter der Bezeichnung IOL-Master ein Gerät, das unter anderem die Augenlänge, d. h. den Abstand zwischen Corneascheitel und Fundus, bestimmt. Hierbei wird während der Messung die Weglänge des Referenzstrahls verändert. Anwendung findet das Gerät insbesondere im Rahmen der Katarakt-Chirurgie. Die Brechkraft einer zu implantierenden Intraokularlinse wird bei der Katarakt-Chirurgie und der refraktiven Augenchirurgie aus dem refraktiven Ausgangszustands des Auges, der akustisch oder optisch bestimmten Länge des Auges und einer Abschätzung der postoperativen Vorderkammertiefe bestimmt. Man benötigt also vor dem Eingriff genaue Kenntnis über diese Parameter. Der Scanvorgang des IOL-Masters liefert am Interferometerausgang ein Signal, aus dessen zeitlichem Ablauf die zu messenden Längen bestimmt werden. Dieser Scanvorgang braucht Zeit; Bewegungen des Probanden während der Messung haben Fehler oder ungenaue Ergebnisse zur Folge.A well-known application for the optical short-coherence tomography is the measurement of the eye, especially the human eye. Carl Zeiss Meditec AG sells this under the name IOL-Master a machine, that, among other things, the eye length, d. H. the distance between corneal vertex and fundus, determined. This is during during measuring the path length changed the reference beam. Application finds the device especially in the context of cataract surgery. The refractive power of a Intraocular lens to be implanted is used in cataract surgery and refractive eye surgery from the initial refractive state of the eye, the acoustically or optically determined length of the Eye and an estimate determines the postoperative anterior chamber depth. So you need it before detailed knowledge of the procedure these parameters. The scanning process of the IOL master supplies at the interferometer output a signal from whose timing the lengths to be measured are determined. This scan takes time; Movements of the subject during the Measurement results in errors or inaccurate results.

Weiter ist eine Fourieranalysierende Interferenzmethode bekannt. Zur Ortsauflösung in Tiefenrichtung zeichnet man ein Spektrum des Interferenzmusters zwischen Referenzstrahl und Meßstrahl auf, der an der Probe rückgestreut wurde. Diese Aufzeichnung kann simultan mittels eines Spektrometers (bei geeigneter Breitbandlichtquelle) oder sequentiell (bei durchstimmbaren Quellen) erfolgen. Die inverse Fouriertransformierte des Spektrums ermöglicht eine Rekonstruktion der Struktur entlang der Tiefenrichtung.Further For example, a Fourier-analyzing interference method is known. For the spatial resolution in Depth direction draws a spectrum of the interference pattern between reference beam and measuring beam on which backscattered at the sample has been. This recording can be done simultaneously by means of a spectrometer (with a suitable broadband light source) or sequentially (with tunable Sources). The inverse Fourier transform of the spectrum allows a reconstruction of the structure along the depth direction.

Der Erfindung liegt deshalb die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung der eingangs genannten Art so fortzubilden, daß größere Teilstrecken des Auges schnell gemessen werden können.Of the The invention is therefore based on the object, a device of to improve the aforementioned type so that larger sections of the eye quickly can be measured.

Diese Aufgabe löst die Erfindung dadurch, daß die Interferometeranordnung für unterschiedliche, axial beabstandete Probenbereiche hinsichtlich der Längen der Referenzstrahlengänge vorabgestimmt ist. Referenzstrahlengänge sind räumlich getrennt und unterschiedlich lang, wobei die Weglängendifferenz einen Abstand der Meßbereiche in der Probe vorgibt. Die OCT-Messung mißt dann nur die Abweichung von voreingestelltem Abstand. Die Strahlung aus dem jeweiligen Referenzstrahlengang wird mit dem Meßstrahl eigenständig überlagert und zur Detektion gebracht.These Task solves the invention in that the Interferometer arrangement for different, axially spaced sample areas in terms of lengths the reference beam paths is pre-agreed. Reference beam paths are spatially separated and different long, with the path length difference a distance of the measuring ranges pretending in the sample. The OCT measurement then only measures the deviation from preset distance. The radiation from the respective reference beam path is with the measuring beam independently overlaid and brought to detection.

Die Erfindung nutzt also die Fourier-Domain Kurzkohärenz-Interferometrie (FD OCT), welche das Wellenzahl-Spektrum des Signals am Interferometerausgang verwertet. Dieses Spektrum wird z. B. mittels eines Spektrometers aufgenommen, welches üblicherweise ein dispergierendes Element, beispielsweise ein Beugungsgitter, und eine fokussierende Optik sowie ein Detektor-Array, z. B. Photodioden-Arrays oder Array-Kameras, enthält. Das mittels des Detektorarrays registrierte Wellenlängenspektrum I(λ) wird beispielsweise mit Hilfe der Gittergleichung in das benötigte Signalspektrum oder K-Spektrum I(K) umgerechnet. Der von typischen Photodioden-Arrays oder Array-Kameras elektronisch ausgeführte Scan ist sehr schnell, er benötigt wenige Millisekunden oder Bruchteile einer Millisekunde. Gleiches gilt für das Durchstimmen frequenzveränderlicher Strahlungsquellen, wenn man mit spektral nichtselektiven Detektoren arbeitet. Damit ist die für Messungen an Patienten vorteilhafte „One-Shot"-Qualität, bei der die relevanten Meßdaten aus einer einzigen oder sehr kurzen Belichtung des Auges gewonnen werden, erreicht.The Invention thus uses the Fourier domain short-coherence interferometry (FD OCT), which is the wavenumber spectrum of the signal at the interferometer output recycled. This spectrum is z. B. by means of a spectrometer recorded, which is usually a dispersing element, for example a diffraction grating, and a focusing optic as well as a detector array, e.g. B. photodiode arrays or array cameras. The wavelength spectrum I (λ) registered by means of the detector array becomes, for example using the grid equation into the required signal spectrum or K-spectrum I (K) converted. That of typical photodiode arrays or array cameras electronically executed Scan is very fast, he needs a few milliseconds or fractions of a millisecond. The same applies to the tuning is more variable frequency Radiation sources when using spectrally non-selective detectors is working. This is the for Measurements of patients advantageous "one-shot" quality, in which the relevant measurement data obtained from a single or very short exposure of the eye be achieved.

Die Fourier-Transformation des K-Spektrums liefert ein tiefenabhängiges Signal mit Signalspitzen, deren z-Position die Wegdifferenz Referenzstrahl/Meßstrahl angibt.The Fourier transform of the K spectrum provides a depth-dependent signal with signal peaks whose z-position is the path difference reference beam / measuring beam indicates.

Die Auflösung Δz der Kurzkohärenz-Interferometrie hängt mit der Halbwertsbreite Δλ des Wellenlängenspektrums und dessen mittlerer Wellenlänge λ zusammen. Für ein Gauß'sches Spektrum erhält man:

Figure 00030001
The resolution Δz of the short-coherence interferometry depends on the half-width Δλ of the wavelength spectrum and its mean wavelength λ together. For a Gaussian spectrum one obtains:
Figure 00030001

Die Meßfeldtiefe z ist durch die Pixelzahl oder Anzahl N der Array-Photodioden in der Dispersionsrichtung des Spektrometers bzw. durch die Anzahl an Aufnahmen während des Durchstimmens begrenzt. Hier gilt

Figure 00030002
worin ΔK die Bandbreite der benutzten optischen Strahlung im K-Raum ist. Die Meßfeldtiefe ist also
Figure 00030003
The measuring field depth z is limited by the number of pixels or number N of the array photodiodes in the dispersion direction of the spectrometer or by the number of recordings during the tuning. Here applies
Figure 00030002
where ΔK is the bandwidth of the used optical radiation in K-space. The measuring field depth is thus
Figure 00030003

Sie hängt linear von der Pixelzahl des Spektrometers bzw. der Aufnahmenanzahl ab. Übliche Array-Pixelzahlen von N ≈ 1000 liefern Meßfeldtiefen Z von rund 5,3 mm. Der Ursprung des Meßfelds ist die „Wegdifferenz-Null-Position", das ist jene Position im Meßstrahl, für welche die optische Länge des Meßstrahls gleich der des Referenzstrahl ist.she hangs linear from the pixel number of the spectrometer or the number of shots. Usual array pixel counts from N ≈ 1000 provide measuring field depths Z of about 5.3 mm. The origin of the measurement field is the "path difference zero position", that is that position in the measuring beam, for which the optical length of the measuring beam is equal to the reference beam.

Die Erfindung kann verwirklicht werden durch eine Vorrichtung zur interferometrischen Messung einer Probe, insbesondere des Auges, mit einer Kurzkohärenz-Interferometeranordnung, welche einen Meßstrahlengang, durch den ein Meßstrahl auf die Probe fällt, und einen ersten Referenzstrahlengang aufweist, durch den ein Referenzstrahl läuft, der mit dem Meßstrahl überlagert und zur Interferenz gebracht wird, wobei die Interferometeranordnung mindestens einen zweiten Referenzstrahlengang aufweist, der vom ersten Referenzstrahlengang zumindest teilweise räumlich getrennt verläuft und dessen optischen Weglänge sich von der des ersten Referenzstrahlenganges unterscheidet, wobei die Weglängendifferenz gemäß einem Abstand zweier in Tiefenrichtung der Probe beabstandeter Probenbereiche gewählt ist und wobei eine Steuereinrichtung aus den detektierten überlagerten Strahlen mittels Fourier-Spektralanalyse unter Berücksichtigung der Weglängendifferenz der Referenzstrahlengänge den Abstand der Probenbereiche ermittelt. Analog kann die Erfindung realisiert werden durch ein Verfahren zur kurzkohärenz-interferometrischen Messung einer Probe, insbesondere des Auges, wobei durch einen Meßstrahlengang ein Meßstrahl auf die Probe gerichtet wird und mit einem Referenzstrahl, der einen ersten Referenzstrahlengang durchläuft, überlagert und zur Interferenz gebracht wird, wobei mindestens ein zweiter Referenzstrahlengang vorgesehen wird, der vom ersten Referenzstrahlengang zumindest teilweise getrennt verläuft und dessen optischen Weglänge sich von der des ersten Referenzstrahlenganges unterscheidet, wobei die Weglängendifferenz gemäß einem Abstand zweier in Tiefenrichtung der Probe beabstandeter Probenbereiche gewählt wird und die überlagerte Strahlung detektiert und daraus mittels Fourier-Spektralanalyse unter Berücksichtigung der Weglängendifferenz der Referenzstrahlengänge der Abstand der Probenbereiche ermittelt wird.The The invention can be realized by a device for interferometric Measurement of a sample, in particular of the eye, with a short-coherence interferometer arrangement, which a measuring beam path, through the one measuring beam falls to the test and a first reference beam path through which a reference beam running, superimposed with the measuring beam and to interference, the interferometer arrangement has at least one second reference beam path, the first reference beam path at least partially spatially separated extends and its optical path length differs from that of the first reference beam path, wherein the path length difference according to one Distance between two sample areas spaced in the depth direction of the sample chosen is and wherein a control device of the detected superimposed Beams by Fourier spectral analysis under consideration the path length difference the reference beam paths determined the distance of the sample areas. Analogously, the invention be realized by a method for short-coherence interferometric Measurement of a sample, in particular of the eye, wherein by a Meßstrahlengang a measuring beam is directed to the sample and with a reference beam, a first Traverses reference beam path, superimposed and is brought to interference, wherein at least a second reference beam path is provided, at least partially from the first reference beam path runs separately and its optical path length differs from that of the first reference beam path, wherein the path length difference according to one Distance between two sample areas spaced in the depth direction of the sample chosen is and the superimposed Radiation detected and from it by means of Fourier spectral analysis under consideration of path length the reference beam paths of Distance of the sample areas is determined.

In der Interferometeranordnung ist es für die Signalgüte vorteilhaft, die Strahlung aus den beiden Referenzstrahlengängen jeweils getrennt mit der von der Probe rückreflektierten Meßstrahlung zu überlagern und nachzuweisen. Es ist deshalb in einer Weiterbildung vorgesehen, daß die Interferometeranordnung eine Überlagerungseinrichtung aufweist, die die Referenzstrahlen aus den zwei Referenzstrahlengängen getrennt mit dem Meßstrahl aus dem Meßstrahlengang überlagert und die derart überlagerten Strahlen dann an eine Detektoreinrichtung zum Nachweis leitet, welche den beabstandeten Meßbereichen zugeordnete Meßsignale erzeugt. Analog ist für das Verfahren vorgesehen, daß die Strahlen aus den zwei Referenzstrahlengängen getrennt mit dem Meßstrahl aus dem Meßstrahlengang überlagert, die derart überlagerten Strahlen getrennt detektiert und den beabstandeten Meßbereichen zugeordnete Meßsignale erzeugt werden.In the interferometer arrangement, it is advantageous for the signal quality, the radiation from the two reference beam paths each separated with the reflected back from the sample measuring radiation to overlay and to prove. It is therefore provided in a development, that the Interferometeranordnung a superposition device having the reference beams separated from the two reference beam paths with the measuring beam superimposed from the Meßstrahlengang and the rays superimposed in this way then passes to a detector device for detection, which the spaced measuring ranges associated measuring signals generated. Analog is for the method provided that the Rays from the two reference beam paths separated with the measuring beam superimposed from the Meßstrahlengang, the superimposed so Detected separately beams and the spaced measuring ranges associated measuring signals be generated.

Die Trennung bei Überlagerung und Nachweis kann auf verschiedenste Art und Weise erfolgen. Zum einen ist eine zeitliche Trennung möglich. Der Meßstrahl wird also nacheinander mit den Referenzstrahlen aus den Referenzstrahlengängen überlagert und nachgewiesen. Dies hat den Vorteil, daß nur eine Detektoreinheit notwendig ist, auf Kosten einer etwas längeren Meßdauer. Daß nur eine Spektralanalysevorrichtung detektionsseitig notwendig ist, kann den Aufwand und damit die Kosten erheblich reduzieren. Es ist deshalb in einer Variante der Erfindung vorgesehen, daß die Überlagerungseinrichtung einen Umschaltmechanismus zum Umschalten zwischen den zwei Referenzstrahlengängen aufweist, so daß die Überlagerung für die zwei Referenzstrahlengänge sequentiell erfolgt. Für das Verfahren ist analog vorgesehen, daß zwischen den zwei Referenzstrahlengängen sequentiell umgeschaltet wird, so daß der Meßstrahl sequentiell mit Strahlung aus dem ersten und dem zweiten Referenzstrahlengang überlagert wird und die überlagerten Strahlen sequentiell detektiert werden.The Separation at overlay and proof can be done in a variety of ways. To the one is a temporal separation possible. The measuring beam is thus superimposed successively with the reference beams from the reference beam paths and proven. This has the advantage that only one detector unit is necessary, at the expense of a slightly longer measurement period. That only one spectral analysis device On the detection side is necessary, the effort and thus the cost reduce considerably. It is therefore in a variant of the invention provided that the superposition means a Switching mechanism for switching between the two reference beam paths, so that the overlay for the two reference beam paths is done sequentially. For the method is analogously provided that between the two reference beam paths sequentially is switched so that the measuring beam superimposed sequentially with radiation from the first and the second reference beam path is and the superimposed Rays are detected sequentially.

Eine höhere Meßgeschwindigkeit erreicht man zum anderen, wenn die Überlagerung derart ist, daß ein paralleler Nachweis der getrennt überlagerten Strahlen, d. h. der für die unterschiedlichen Meßbereiche erzeugten Interferenzmuster erfolgt. Ein erster Ansatz verwendet eine Polarisationstrennung. So sind beispielsweise zwei Referenzstrahlengänge vorgesehen, die zueinander orthogonal polarisierte Strahlung führen. Detektionsseitig sind dann ebenfalls zwei Detektoreinheiten vorgesehen, die ebenfalls zueinander orthogonale Strahlungsanteile der überlagerten Strahlung auswerten. Es ist für diese erste Variante deshalb zweckmäßig, daß die Überlagerungseinrichtung zur getrennten Überlagerung eine Polarisationstrennung einsetzt, so daß die Überlagerung und das Weiterleiten zur Detektoreinrichtung für die zwei Referenzstrahlengänge nach Polarisation getrennt und gleichzeitig erfolgt. Weiter ist es für das Verfahren zweckmäßig, daß zur getrennten Überlagerung eine Polarisationstrennung einsetzt wird, so daß die getrennte Überlagerung und Detektion für die zwei Referenzstrahlengänge nach Polarisation getrennt und gleichzeitig erfolgt.On the other hand, a higher measuring speed is achieved if the superimposition is such that a parallel detection of the separately superimposed beams, ie the interference pattern generated for the different measuring ranges, takes place. A first approach uses polarization separation. Thus, for example, two reference beam paths are provided which lead to each other orthogonally polarized radiation. On the detection side, two detector units are then also provided, which also mutually orthogonal radiation components of Evaluate superimposed radiation. It is therefore expedient for this first variant that the superimposition device uses a polarization separation for the separate superimposition, so that the superimposition and the forwarding to the detector device for the two reference beam paths are separated according to polarization and at the same time. Further, it is expedient for the method that a separate polarization separation is used for separate superposition, so that the separate superposition and detection for the two reference beam paths separated by polarization and takes place simultaneously.

Eine weitere Trennmöglichkeit ergibt sich in einer zweiten Variante durch die Verwendung verschiedener Wellenlängenbereiche. Die Referenzstrahlengänge können dann durch dichroitische Aufteilung der einfallenden Referenzstrahlung aneinander gekoppelt werden und einer entsprechenden Anzahl von Detektoreinrichtungen ist ebenfalls eine entsprechende dichroitische Trennung vorgeordnet. Es ist für diese zweite Variante deshalb zweckmäßig, daß die Überlagerungseinrichtung zur getrennten Überlagerung eine dichroitische Trennung einsetzt, so daß die Überlagerung und das Weiterleiten zur Detektoreinrichtung für die zwei Referenzstrahlengänge spektral getrennt und gleichzeitig erfolgt. Analog ist für das Verfahren vorgesehen, daß zur getrennten Überlagerung eine dichroitische Trennung einsetzt wird, so daß die getrennte Überlagerung und Detektion für die zwei Referenzstrahlengänge spektral getrennt und gleichzeitig erfolgt.A further separation possibility results in a second variant through the use of different Wavelength ranges. The reference beam paths can then by dichroic division of the incident reference radiation be coupled to each other and a corresponding number of Detector means is also a corresponding dichroic Separation upstream. It is for Therefore, this second variant expedient that the superposition of the separate overlay a dichroic separation, so that the overlay and the forwarding to the detector device for the two reference beam paths spectrally separated and simultaneously. Analog is for the process provided that to separate overlay a dichroic separation is used so that the separate overlay and detection for the two reference beam paths spectrally separated and simultaneously.

Eine weitere Trennung, die eine simultane Messung ermöglicht, liegt in einer räumlichen Trennung der überlagerten Strahlung. In dieser dritten Variante wird die Meßstrahlung räumlich auseinandergeführt und jeweils mit entsprechend räumlich getrennten Referenzstrahlen aus den Referenzstrahlengängen überlagert. Die räumliche Trennung kann insbesondere als Pupillenteilung realisiert sein, weshalb in einer Weiterbildung vorgesehen ist, daß die Überlagerungseinrichtung zur getrennten Überlagerung eine Pupillenteilung einsetzt, so daß die Überlagerung und das Weiterleiten zur Detektoreinrichtung für die zwei Referenzstrahlengänge in einer geteilten Pupille des Strahlenganges erfolgt.A further separation, which allows simultaneous measurement, lies in a spatial Separation of the superimposed Radiation. In this third variant, the measuring radiation spatial guided apart and each with corresponding spatial superimposed separated reference beams from the reference beam paths. The spatial Separation can be realized in particular as a pupil division, why is provided in a development that the superposition device for separate overlay a pupil division begins, so that the overlay and the forwarding to the detector device for the two reference beam paths takes place in a divided pupil of the beam path.

Das erfindungsgemäße Konzept verwendet, wie bereits erwähnt, Kurzkohärenz-FD OCT. Dabei kann das benötigte K-Spektrum sowohl mit spektral sensitiver Detektion und breitbandige Quellen als auch mit spektral nichtauflösender Detektion und Durchstimmung einer schmalbandigen Quelle erzeugt werden. Natürlich verringert sich der Detektoraufwand, wenn eine die Interferometeranordnung speisende, spektral durchstimmbare Strahlungsquelle und eine spektral nichtauflösende Detektoreinrichtung zur Messung vorgesehen sind. Das K-Spektrum wird hier aus den Daten über die Durchstimmung zusammengesetzt und dann analysiert.The inventive concept used, as already mentioned, Short-coherence FD OCT. The required K spectrum with both spectrally sensitive detection and broadband Sources as well as spectrally non-resolving detection and tuning a narrowband source are generated. Of course, the detector effort is reduced if a spectrally tunable the interferometer arrangement dining Radiation source and a spectrally non-resolving detector device for Measurement are provided. The K spectrum becomes here from the data about the tuning together and then analyzed.

Bei FD OCT bestand bislang eine Problematik, daß man mit den verfügbaren Detektorarrays mit einer vorgegebenen Maximalanzahl an Pixeln bzw. Aufnahmen pro Zeiteinheit entweder die spektrale Auflösung und damit die Ortsauflösung maximieren konnte, oder den abgedeckten Spektralbereich, mithin den Meßbereich. Das erfindungsgemäße Konzept löst diese gegenläufige Kopplung nun dadurch, daß mehrere unterschiedlich lange Referenzstrahlengänge verwendet werden.at FD OCT has so far been a problem that one with the available detector arrays with a given maximum number of pixels or shots per Time unit could either maximize the spectral resolution and thus the spatial resolution, or the covered spectral range, hence the measuring range. The inventive concept solve these opposing Coupling now in that several different long reference beam paths are used.

Die gemessenen Abstände sind üblicherweise auf den Abstand zum Interferometer bzw. zur bereits eingangs erwähnten Wegdifferenz-Null-Position bezogen. In einer weiteren Erfindung ist es möglich, diese Meßsignale aufeinander zu beziehen. Dies erfolgt dadurch, daß der Referenzstrahlengang nicht mehr die Reflektion an einem statischen, im Interferometer eingebauten Reflektor vornimmt, sondern einen auf die Probe einfallenden und von dort rückreflektierten oder -gestreuten Strahl als Referenzstrahl verwendet. Es ist für die eingangs genannte Interferometeranordnung deshalb erfindungsgemäß auch vorgesehen, daß der Referenzstrahlengang die Probe umfaßt, wobei Referenzstrahl und Meßstrahl gegeneinander in Strahlrichtung um eine bestimmte Weglängendifferenz versetzt sind und der Referenzstrahl an einem ersten Probenbereich und der Meßstrahl an einem zweiten Probenbereich der Probe reflektiert und/oder rückgestreut sind und die Interferenz zwischen Meßstrahl und Referenzstrahl vom Abstand zwischen den beiden Probenbereichen abhängt, wobei eine Steuereinrichtung aus den detektierten überlagerten Strahlen mittels Fourier-Spektralanalyse unter Berücksichtigung der Weglängendifferenz der Referenzstrahlengänge den Abstand der Probenbereiche ermittelt. Analog ist für das Verfahren vorgesehen, daß der Referenzstrahlengang umfaßt, Referenzstrahl und Meßstrahl gegeneinander in Strahlrichtung um eine bestimmte Weglängendifferenz versetzt sind und, der Referenzstrahl an einem ersten Probenbereich und der Meßstrahl an einem zweiten Probenbereich der Probe reflektiert und/oder rückgestreut werden und der Abstand zwischen den beiden Probenbereichen aus der Interferenz zwischen Meß- und Referenzstrahl bestimmt wird, wobei die überlagerte Strahlung detektiert und daraus mittels Fourier-Spektralanalyse unter Berücksichtigung der Weglängendifferenz der Referenzstrahlengänge der Abstand der Probenbereiche ermittelt wird.The measured distances are common related to the distance to the interferometer or to the aforementioned path difference zero position. In a further invention it is possible to use these measuring signals relate to each other. This is done by the reference beam path no longer the reflection on a static, in the interferometer built-in reflector, but one incident on the sample and reflected back from there or scattered beam used as a reference beam. It is for the beginning called interferometer arrangement therefore also provided according to the invention, that the Reference beam path comprises the sample, wherein reference beam and measuring beam against each other in the beam direction by a certain path length difference are offset and the reference beam at a first sample area and the measuring beam reflected at a second sample area of the sample and / or backscattered are and the interference between measuring beam and reference beam depends on the distance between the two sample areas, where a control device from the detected superimposed beams by means of Fourier spectral analysis taking into account the path length difference the reference beam paths determined the distance of the sample areas. Analog is for the process provided that the Includes reference beam path, Reference beam and measuring beam against each other in the beam direction by a certain path length difference are offset and, the reference beam at a first sample area and the measuring beam reflected at a second sample area of the sample and / or backscattered be and the distance between the two sample areas from the Interference between measuring and reference beam is determined, wherein the superimposed radiation detected and from this by means of Fourier spectral analysis under consideration the path length difference the reference beam paths the distance of the sample areas is determined.

Bei der Vermessung des Auges bietet es sich natürlich an, den Rückreflex von der Hornhautvorderfläche auszuwerten, da dann auf besonders einfache Art und Weise die Augenlänge gemessen werden kann. Die Autokorrelationsfunktion des Referenzstrahls liefert bei der Auswertung einen ersten Bezugspunkt und die Überlagerung des Referenzstrahles mit dem Meßstrahl einen auf diesen Bezugspunkt referenzierten zweiten Meßpunkt, beispielsweise das Signal für den Augenhintergrund.When measuring the eye, it is of course useful to evaluate the back reflex of the anterior surface of the cornea, since then the eye length can be measured in a particularly simple manner. The autocorrelation function of the reference beam delivers a first Be in the evaluation zugspunkt and the superposition of the reference beam with the measuring beam a reference to this reference point second measuring point, for example, the signal for the fundus.

Bei der Vermessung des Auges ist es zweckmäßig, ein Fokussierelement in einem der Strahlengänge vorzusehen, um eine Fokussierung der beiden Strahlen sowohl auf der Cornea als auch am Fundus des Auges zu gewährleisten. Das Fokussierelement trägt also damit der fokussierenden Wirkung des Auges Rechnung, so daß der auf den Fundus fokussierte Meßstrahl als paralleles Strahlenbündel auf das Auge einfällt, wohingegen der andere Referenzstrahl bereits auf die Augenvorderfläche fokussiert ist. Natürlich kann das Fokussierelement im Meßstrahlengang (aufweitend) oder im Referenzstrahlengang (kollimierend) vorgesehen sein. Dieses Vorgehen erhöht die Signalstärke erheblich. Es ist deshalb zweckmäßig, daß der Referenz- oder der Meßstrahlengang ein vorzugsweise verstellbares Fokussierelement aufweist, um für Messungen am Auge den Meßstrahl auf die Augennetzhaut zu fokussieren. Für das analoge Verfahren ist es gleichermaßen vorteilhaft, daß für Messungen am Auge der Referenzstrahl mittels eines vorzugsweise verstellbaren Fokussierelement auf die Augenhornhaut fokussiert wird.at the measurement of the eye, it is appropriate to a focusing element in one of the beam paths to provide a focus of the two beams both on to ensure the cornea as well as the fundus of the eye. The focusing element thus contributes thus the focusing effect of the eye bill, so that on the fund focused measuring beam as a parallel beam the eye invades, whereas the other reference beam already focuses on the anterior surface of the eye is. Naturally can the focusing element in Meßstrahlengang (expanding) or provided in the reference beam path (collimating) be. This procedure increases the signal strength considerably. It is therefore appropriate that the reference or the measuring beam path a preferably adjustable focusing element, in order for measurements on the eye the measuring beam to focus on the retina. For the analog method is it alike advantageous that for measurements at the eye of the reference beam by means of a preferably adjustable Focusing is focused on the cornea.

Beim Durchgang durch das Auge kann ein Dispersionseinfluß auftreten, der störend bemerkbar machen kann. Es ist deshalb zweckmäßig, eine entsprechende Dispersionskompensation vorzusehen. Zweckmäßigerweise ist deshalb in der Vorrichtung dafür gesorgt, daß der Meßstrahlengang oder der Referenzstrahlengang ein dispersionskompensierendes Element aufweist, um für Messungen am Auge Dispersionseinflüssen des Auges auf den Meßstrahl zu beeinflussen. Für das Verfahren gilt analog, daß für Messungen am Auge der Referenz- oder Meßstrahl mittels eines vorzugsweise verstellbaren dispersionskompensierendes Elementes hinsichtlich Dispersionseinflüssen des Auges beeinflußt wird.At the Passage through the eye can cause a dispersion influence, the disturbing can make noticeable. It is therefore expedient to have a corresponding dispersion compensation provided. Conveniently, is therefore ensured in the device that the Meßstrahlengang or the reference beam path is a dispersion compensating element has to for Measurements on the eye Dispersion influences of the eye on the measuring beam to influence. For the procedure applies analogously that for measurements on the eye of the reference or measuring beam by means of a preferably adjustable dispersion compensating Elementes is influenced in terms of dispersion influences of the eye.

Da die Fokussierung und die Dispersionskorrektur in einem engen Zusammenhang miteinander stehen, ist es günstig, die Verstellung des Fokussierelementes und die Einstellung des dispersionskorrigierenden Elementes miteinander zu koppeln, beispielsweise durch eine mechanische oder elektrische Kopplung, so daß eine synchrone Verstellung des dispersionskompensierenden Elementes und des Fokussierelementes bewirkt ist.There Focusing and dispersion correction are closely related stand together, it is convenient the adjustment of the focusing element and the adjustment of the dispersion-correcting Couple element together, for example by a mechanical or electrical coupling, so that a synchronous adjustment the dispersion compensating element and the focusing element is effected.

Die Erfindung erreicht also ein Interferometer, das mehrere Teilstrecken des Auges gleichzeitig mißt, indem eine getrennte Messung der separierten Meßbereiche erfolgt. Vorzugsweise ist diese getrennte Messung gleichzeitig durch entsprechende getrennte Überlagerung des Meßstrahles mit Strahlung aus verschiedenen Referenzstrahlengängen und getrenntem Nachweis der überlagerten Strahlung durchgeführt. Dabei können für die getrennten Nachweise separate Spektrometer verwendet werden, wenn, wie für einige Varianten der FD OCT, eine spektralselektive Detektion erfolgt.The The invention thus achieves an interferometer which has several sections measuring the eye at the same time, by a separate measurement of the separated measuring ranges takes place. Preferably is this separate measurement simultaneously by corresponding separate overlay of the measuring beam with radiation from different reference beam paths and separate proof of the superimposed Radiation performed. It can for the separate evidence separate spectrometer can be used when, as for some variants of the FD OCT, a spectrally selective detection takes place.

Die erfindungsgemäße Vorrichtung bzw. das erfindungsgemäße Verfahren eignen sich, wie bereits erwähnt, besonders für die Vermessung des menschlichen Auges, aber auch andere teiltransparente Objekte können damit untersucht werden.The inventive device or the inventive method are, as already mentioned, especially for the measurement of the human eye, but also other semi-transparent Objects can to be investigated.

Erweitert man die Vorrichtung um eine Scanvorrichtung, die den Strahl quer über das Auge ablenkt, beispielsweise durch eine Parallelverschiebung oder eine Strahlablenkung, beispielsweise mittels Scan-Spiegeln, läßt sich ein dreidimensionales Probenbild erzeugen.extended The device is a scanning device, the beam across the Eye deflects, for example, by a parallel shift or a beam deflection, for example by means of scan mirrors, can be create a three-dimensional sample image.

Mit dem erfindungsgemäßen Prinzip können mehrere Teilmessungen gleichzeitig quasi als „One-Shot"-Aufnahmen erfolgen oder auch Meßsequenzen mit vielen schnell aufeinander folgenden Einzelmessungen, die jeweils aus mehreren Teilmessungen bestehen, ausgeführt werden.With the principle of the invention can several Partial measurements at the same time as quasi "one-shot" recordings or measurement sequences with many fast consecutive single measurements, respectively consist of several partial measurements.

Zweckmäßigerweise wird die erfindungsgemäße Vorrichtung durch eine entsprechendes Steuergerät im Betrieb gesteuert. Dieses Steuergerät stellt dann den geschilderten Betrieb und insbesondere die Realisierung der geschilderten Betriebsweisen sicher. Vorteilhafterweise ist das Steuergerät auch geeignet ausgestaltet, beispielsweise durch einen Computer und entsprechende Programm-Mittel, um die Meßsignalaufbereitung aus den elektrischen Signalen des Detektors bzw. der Detektoren vorzunehmen, insbesondere die für FD OCT erforderliche Fourier-Transformation auszuführen.Conveniently, becomes the device according to the invention controlled by a corresponding control device in operation. This Control unit provides then the described operation and in particular the realization the described modes of operation safely. Advantageously the controller too suitably configured, for example by a computer and corresponding Program means to the Meßsignalaufbereitung from the electrical signals of the detector or detectors in particular those for FD OCT required Fourier transform.

Die Erfindung ermittelt von wenigstens zwei voneinander beabstandeten Probenbereichen bei einem transparenten und/oder diffusiven Gegenstand, z. B. bei einem Auge, in einer Meßzeit im Sub-Sekundenbereich die Abstände von Strukturen in den Probenbereichen. Hierzu wird vorzugsweise eine Anordnung gemäß einem Michelson-Interferometer verwendet. Im Interferometeraufbau wird kurzkohärente Strahlung verwendet, wobei beispielsweise die von einer Strahlquelle ausgehende kurzkohärente Strahlung in einen Meß- und einem Referenzstrahl aufgeteilt wird. Die verwendete Strahlung für Meßstrahl und Referenzstrahlen hat also im Vergleich zu den Probenbereichsabständen eine kurze Kohärenzlänge. Der Meßstrahl bestrahlt die Probenbereiche. Der Referenzstrahl wird in mindestens zwei räumlich getrennte Referenzstrahlengänge aufgeteilt, die den darin geführten Referenzstrahlen unterschiedliche Laufzeitänderungen aufprägen, wobei diese Laufzeitänderungen auf den Abstand der Probenbereiche vorabgestimmt sind. Die reflektierten Referenzstrahlen werden dann getrennt interferierend mit den reflektierten und/oder rückgestreuten Meßstrahl vereinigt. Die vereinigten Strahlen werden detektiert und das detektierte Signal, wie bereits erwähnt, zur Distanzmessung fourier-ausgewertet.The invention determines from at least two spaced-apart sample areas in a transparent and / or diffusive object, for. As in one eye, in a measuring time in the sub-second range, the distances of structures in the sample areas. For this purpose, an arrangement according to a Michelson interferometer is preferably used. Short-coherent radiation is used in the interferometer setup, wherein, for example, the short-coherent radiation emanating from a beam source is split up into a measuring beam and a reference beam. The radiation used for measuring beam and reference beams thus has a short coherence length compared to the sample area distances. The measuring beam irradiates the sample areas. The reference beam is split into at least two spatially separated reference beam paths which impose different propagation time changes on the reference beams guided therein, these runtime changes being pre-adjusted to the distance of the sample areas. The reflected reference beam len are then combined separately interfering with the reflected and / or backscattered measuring beam. The combined beams are detected and the detected signal, as already mentioned, Fourier-evaluated for distance measurement.

Zur Messung des Abstandes der Meßbereiche bei einer transparenten und/oder diffusiven Probe, wie es zur Abstands-, Längen-, Dicken- und Profilmessung notwendig ist, wird die Probe mit einem Meßstrahl bestrahlt, und für jeden Probenbereich ist ein Referenzstrahl vorgesehen. Die Probenbereiche können sich dabei an verschiedenen Orten in Einfallsrichtung der optischen Strahlung befinden, wie auch seitlich versetzt zueinander. Der Laufzeitunterschied der Referenzstrahlengänge entspricht einem optischen Abstand der Probenbereiche in Bezug auf die Einfallsrichtung des Meßstrahls, wobei wenigstens einer der Probenbereiche wenigstens geringfügig (typischerweise mindestens 10–4 % der Strahlungsintensität) reflektiert und/oder rückstreut. Natürlich kann die Strahlkonfiguration des Meßstrahls auch über die Probe, insbesondere periodisch, bewegt werden, so daß die Probe quer zur Einfallsachse abgescannt wird. Damit können Profile der Probe vermessen werden. Anstatt nur einen Meßstrahl entlang einer optischen Achse einfallen zu lassen, kann man natürlich auch mehrere Meßstrahlen in einem Abstand nebeneinander einfallen lassen, um ein Oberflächenprofil schneller zu ermitteln.For measuring the distance of the measuring ranges in a transparent and / or diffusive sample, as it is necessary for distance, length, thickness and profile measurement, the sample is irradiated with a measuring beam, and a reference beam is provided for each sample area. The sample areas may be located at different locations in the direction of incidence of the optical radiation, as well as laterally offset from one another. The transit time difference of the reference beam paths corresponds to an optical distance of the sample areas with respect to the direction of incidence of the measurement beam, wherein at least one of the sample areas reflects and / or backscatters at least slightly (typically at least 10 -4 % of the radiation intensity). Of course, the beam configuration of the measuring beam can also be moved over the sample, in particular periodically, so that the sample is scanned transversely to the axis of incidence. Thus, profiles of the sample can be measured. Instead of having only one measuring beam incident along an optical axis, it is of course also possible to arrange several measuring beams next to each other at a distance in order to determine a surface profile more quickly.

Mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung und dem erfindungsgemäßen Verfahren kann eine Probe hinsichtlich Abständen oder Profilen vermessen werden. Besonders bevorzugt ist der Einsatz bei einer optisch transparenten und/oder diffusiven Probe, da dann auch die innere Probenstruktur gemessen werden kann. Die Weglängenunterschiede der räumlich getrennten Referenzstrahlengänge wird näherungsweise so eingestellt, daß sie dem zu erwartenden Abstand, einer zu bestimmenden Dicke, etc. bis auf eine gewisse Toleranz entspricht. Mit FD OCT wird dann nur noch durch Abweichung des nicht bekannten, noch zu bestimmenden Abstands vom voreingestellten Wert ermittelt. Soll z. B. die tatsächliche Länge eines menschlichen Auges gemessen werden, so weiß man bereits schon vorher, daß eine optische Länge von 34 mm plus/minus 4 mm zu erwarten ist. Man stellt also die Weglängendifferenz der Referenzstrahlengänge auf 34 mm ein, und die Signalauswertung der Fourier-Analyse ermittelt die Variation innerhalb des möglichen Bereiches von 8 mm. Natürlich ist es für die Vorrichtung bzw. das Verfahren ganz allgemein zweckmäßig, wenn die Weglängendifferenz zwischen den Referenzstrahlengängen während der Messung einstellbar ist bzw. eingestellt wird.With the device according to the invention and the method of the invention can measure a sample for distances or profiles become. Particularly preferred is the use in an optically transparent and / or diffusive sample, since then also the inner sample structure can be measured. The path length differences the spatially separated Reference beam paths becomes approximate so adjusted that they the expected distance, a thickness to be determined, etc. to corresponds to a certain tolerance. With FD OCT will then only by deviation of the unknown, yet to be determined distance determined from the preset value. Should z. B. the actual Length of one measured by the human eye, as one already knows before, that one optical length of 34 mm plus / minus 4 mm is expected. So you put the path length difference the reference beam paths on 34 mm, and the signal evaluation of the Fourier analysis determined the variation within the possible Range of 8 mm. Naturally is it for the device or the method generally useful if the path length difference between the reference beam paths while the measurement is adjustable or is set.

Mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung bzw. dem erfindungsgemäßen Verfahren kann man am Auge neben der Augenlänge (zentral, peripher), auch die Vorderkammertiefe (zentral, peripher), die Cornea-Dicke (zentral, peripher), die Tränenfilmdicke (zentral, peripher), die Linsendicke (zentral, peripher) und die Glaskörperdicke sowie entsprechende Oberflächenprofile (Topographien) der Cornea-Vorderfläche, der Cornea-Rückfläche, der Linsenvorderfläche, der Linsenrückfläche und der Netzhaut gemessen werden. Ferner lassen sich durch geeignete Scanmechanismen Krümmungsradien, z. B. der Cornea-Vorderfläche, der Cornea-Rückfläche, der Linsenvorderfläche und der Linsenrückfläche, bestimmen.With the device according to the invention or the method according to the invention on the eye next to the eye - length (central, peripheral), also the Anterior chamber depth (central, peripheral), corneal thickness (central, peripheral), the tear film thickness (central, peripheral), the lens thickness (central, peripheral) and the vitreous thickness as well as corresponding surface profiles (Topographies) of the corneal anterior surface, the corneal posterior surface, the Lens front surface, the Lens back surface and the retina are measured. Furthermore, can be by suitable Scan mechanisms radii of curvature, z. B. the cornea front surface, the cornea's back surface, the Lens front surface and the lens back surface.

Natürlich kann ein Probenbereich auch mehrere interessante Teilbereiche umfassen. So kann man einen Probenbereich derart definieren, daß er die gesamte Augenvorderkammer umfaßt. Hierzu wird der Meßstrahl an einen Ort zwischen der Cornea-Vorderfläche und der Linsenrückfläche fokussiert. So kann dann die Reflexion an der Cornea-Vorderfläche, der Cornea-Rückfläche, der Linsenvorderfläche und der Linsenrückfläche innerhalb eines Probenbereiches detektiert werden. Die Distanz zwischen Cornea-Rückfläche und Linsenvorderfläche ist dann die Vorderkammertiefe. Bedingung dafür ist lediglich, daß der Meßbereich in dem Probenbereich so groß ist, daß ein Bereich von der Cornea-Vorderfläche bis zur Linsenrückfläche abgedeckt ist.Of course you can a sample area also comprise several interesting subareas. So you can define a sample area such that he entire eye anterior chamber includes. For this purpose, the measuring beam focused at a location between the cornea front surface and the lens back surface. So then the reflection on the cornea's front surface, the Cornea back surface, the Lens front surface and the lens back surface within a sample area are detected. The distance between the cornea's back surface and Lens front surface is then the anterior chamber depth. The only condition is that the measuring range in the sample area is so big the existence Area of the cornea frontal area covered to the lens rear surface is.

Die Erfinder erkannten weiter, daß bei einer bestimmten Ausgestaltung der Spektralanalyseeigenschaften die Fourier-Domain Kurzkohärenz-Interferometrie in der Lage ist, die gesamte Augenlänge des menschlichen Auges mit einer Messung zu erfassen, wenn bestimmte Parameter am Spektrometer eingehalten werden. Als wesentlicher Parameter stellte sich die Pixelzahl bzw. Anzahl empfindlicher Zellen des Detektor-Arrays heraus. Es ist deshalb in einer weiteren Erfindung eine Ausgestaltung der eingangs genannten Vorrichtung vorgesehen, bei der eine Spektrometeranordnung die überlagerten Strahlen detektiert, die ein die Strahlen spektral auffächerndes Element und ein Dektor-Array aufweist, das mindestens 7000 einzelne photoempfindliche Zellen aufweist. Der mit einem derartigen Detektor-Array erreichte Meßbereich ist beispielsweise bei einer Wellenlänge zwischen 700 und 900 nm sowie einer spektralen Bandbreite von 10–30 nm der verwendeten Strahlung so groß, daß damit die Augenlänge meßbar ist. Analog ist deshalb auch für das Verfahren der eingangs genannten Art vorgesehen, daß zur Detektion der überlagerten Strahlen eine Spektrometeranordnung verwendet wird, die ein die Strahlen spektral auffächerndes Element und ein Dektor-Array aufweist, das mindestens 7000 einzelne photoempfindliche Zellen aufweist.The Inventors further realized that at a particular embodiment of Spektralanalyseeigenschaften the Fourier domain short-coherence interferometry is capable of the entire eye length of the human eye to record with a measurement if certain parameters adhered to the spectrometer become. As an essential parameter, the number of pixels or Number of sensitive cells of the detector array out. It is because of that in a further invention, an embodiment of the aforementioned Device provided in which a spectrometer arrangement superimposed Radiation detected, the one spectrally fanning the rays Element and a detector array that has at least 7000 individual having photosensitive cells. The one with such a detector array reached measuring range is for example at a wavelength between 700 and 900 nm and a spectral bandwidth of 10-30 nm of the radiation used so big that with it the eye length measurable is. Analog is therefore synonymous for the method of the aforementioned type provided that for detection the superimposed Blasting a spectrometer arrangement is used, which is a the rays spectrally fanning Element and a detector array that has at least 7000 individual having photosensitive cells.

Soweit in der voranstehenden oder nachfolgenden Beschreibung Verfahrensschritte, insbesondere Signalauswertungen, Ansteuerungen von verstellbaren Komponenten, wie beispielsweise einer durchstimmbaren Strahlungsquelle etc., erwähnt sind, können in den Vorrichtungen gemäß der Erfindung diese Verfahrensschritte durch die Steuereinrichtung vorgenommen werden, die dazu geeignete Betriebsmittel, beispielsweise eine Software-Steuerung umfaßt.Insofar as in the preceding or following description method steps, in particular signal evaluations, controls of ver In the devices according to the invention, these method steps can be carried out by the control device, which includes suitable operating means, for example a software control, for this purpose.

Die Erfindung wird nachfolgend unter Bezugnahme auf die Zeichnung beispielhalber noch näher erläutert. Es zeigen:The Invention will now be described by way of example with reference to the drawings explained in more detail. It demonstrate:

1 eine interferometrische Vorrichtung zur Vermessung eines Auges, wobei Meßstrahlung räumlich getrennt mit Strahlung aus drei Referenzstrahlengängen zur Interferenz gebracht wird, 1 an interferometric device for measuring an eye, measuring radiation being brought into interference spatially separated with radiation from three reference beam paths,

2 eine Darstellung ähnlich der 1 mit einer abgewandelten Spektrometer-Einheit, 2 a representation similar to the 1 with a modified spectrometer unit,

3 eine Darstellung ähnlich der 1, nun jedoch unter der Verwendung von Festoptiken anstelle Lichtleitfasern, 3 a representation similar to the 1 but now using fixed optics instead of optical fibers,

4 eine Schemadarstellung zur Veranschaulichung der Wirkung eines Beugungsgitters des Interferometers der 13, 4 a schematic diagram illustrating the effect of a diffraction grating of the interferometer of 1 - 3 .

5a–c Ausführungsbeispiele für eine Optik mit geteilter Pupille, wie sie in den Interferometern der 13 zum Einsatz kommen könnne, 5a -C embodiments of a split pupil optics, as used in the interferometers of 1 - 3 could be used,

6 ein weiteres Interferometer ähnlich dem der 1, jedoch mit einer andersartigen räumlichen Trennung der Überlagerung des Meßstrahles mit den Referenzstrahlen, 6 another interferometer similar to the one of 1 , but with a different spatial separation of the superimposition of the measuring beam with the reference beams,

7 ein Interferometer ähnlich dem der 1, wobei die getrennte Überlagerung des Meßstrahls mit den Referenzstrahlen durch eine Polarisationstrennung erfolgt, 7 an interferometer similar to the one of 1 wherein the separate superimposition of the measuring beam with the reference beams is effected by a polarization separation,

8 und 9 Details einer möglichen Bauweise des Interferometers der 7, 8th and 9 Details of a possible design of the interferometer of the 7 .

10 ein Interferometer ähnlich dem der 10, wobei die Trennung hier spektral erfolgt, 10 an interferometer similar to the one of 10 , where the separation here is spectral,

11 eine Grafik zur Erläuterung der Wirkung der spektralen Trennung, 11 a graph explaining the effect of the spectral separation,

12 und 13 Detailansichten von Komponenten, wie sie im Interferometer der 10 verwendet werden können, 12 and 13 Detailed views of components as used in the interferometer 10 can be used

14 ein Interferometer ähnlich dem der 7, wobei die getrennte Überlagerung des Meßstrahls mit den Referenzstrahlen hier sequentiell erfolgt, 14 an interferometer similar to the one of 7 , wherein the separate superimposition of the measuring beam with the reference beams takes place here sequentially,

15 ein Interferometer ähnlich dem der 7, wobei hier ein Doppelstrahl als Meßstrahl verwendet wird, 15 an interferometer similar to the one of 7 , here a double jet is used as a measuring beam,

16 eine Abwandlung des Interferometers der 15 mit nur einem Spektrometer, 16 a modification of the interferometer of 15 with only one spectrometer,

17 ein Spektrometer ähnlich dem der 15, jedoch ohne Polarisationstrennung aber mit Doppelstrahl, 17 a spectrometer similar to that of 15 , but without polarization separation but with double jet,

18 eine faseroptische Bauweise für das Spektrometer der 17, 18 a fiber optic construction for the spectrometer of the 17 .

19 ein vereinfachtes Interferometer zur gleichzeitigen Detektion von in der Tiefe beabstandeten Bereichen und 19 a simplified interferometer for the simultaneous detection of depth-spaced areas and

20 ein vereinfachtes Kurzkohärenz-Fourier-Domain Interferometer zur Messung von zwei oder mehr in der Tiefe beabstandeten Bereichen. 20 a simplified short-coherence Fourier-domain interferometer for measuring two or more depth-spaced regions.

1 zeigt eine faseroptische Implementierungen eines Interferometers I. Die remittierte Reflexstrahlung wird in einem Michelson-Aufbau mit mehreren pupillenmäßig getrennten Strahlengängen und jeweils zugehöriger Referenzstrahlen für verschiedene Augenstrukturen gleichzeitig registriert. Hierzu werden faseroptischer Koppler verwendet; es können auch andere faseroptische oder Freistrahl-Interferometerstrukturen benutzt werden, beispielsweise mit faseroptischen Zirkulatoren. Außerdem erfolgt die gleichzeitige Messung von drei Positionen der Augenstruktur (Corneavorderfläche, Linsenvorderfläche und Fundus). Man kann das Interferometer auch für die Messung von mehr oder weniger als drei Positionen abwandeln. In den Zeichnungen sind zur Vereinfachung oftmals nur die Strahlachsen eingezeichnet. Auch wird nachfolgend manchmal vereinfachend von "Strahl" gesprochen, anstatt von "Strahlenbündel" oder "Strahlenbüschel". 1 shows a fiber optic implementations of an interferometer I. The reflected reflected radiation is registered simultaneously in a Michelson structure with several pupil-separated beam paths and respective reference beams for different eye structures. For this purpose, fiber optic couplers are used; other fiber optic or free-jet interferometer structures may also be used, for example with fiber optic circulators. In addition, the simultaneous measurement of three positions of the eye structure is performed (cornea anterior surface, anterior surface of the lens and fundus). You can also modify the interferometer to measure more or less than three positions. In the drawings, often only the beam axes are shown for the sake of simplicity. Also, in the following, sometimes simplistic is referred to as "ray", rather than "ray bundle" or "ray bundle".

Von einer Kurzkohärenz-Lichtquelle 1, beispielsweise einer mit einer "Pig-Tail"-Faser ausgestatteten Superlumineszenzdiode oder von einer anderen Kurzkohärenz-Lichtquelle kommendes Licht wird von einem Faserkoppler 2 auf einen Interferometer-Meßarm 3 und einen Interferometer-Referenzarm 4 aufgeteilt. Um drei in unterschiedlichen Tiefenbereichen z des Auges liegenden Strukturen, nämlich Cornea 5, Augenlinse 6 und Augenfundus 7, mittels Fourier-Domain Kurzkohärenz-Interferometrie zu erfassen, werden simultan drei Referenzstrahlengänge R1, R2, R3 mit entsprechenden Strahlbündeln benutzt. Diese Strahlengänge werden aus der Referenzarm-Faser 4 über Faserkoppler abgeteilt: ein Koppler 8 teilt einen Fundus-Referenzstrahlengang R1 in eine Faser 9 ab. Die verbleibende Strahlung in einer Faser 10 wird von einem Koppler 11 in eine Faser 12 für den Cornea-Referenzstrahlengang R2 und eine Faser 13 für den Augenlinsen-Referenzstrahlengang R3 getrennt. Die Faserlängen für diese drei Referenzstrahlengänge sind so dimensioniert, daß an einem Photo-Detektorarray 43 trotz der kurzen Kohärenzlänge Interferenz mit dem jeweiligen aus den unterschiedlichen Objekttiefen kommenden Reflexstrahlbündel, nämlich von Cornea 5, Augenlinse 6 und Augenfundus 7, auftritt.From a short-coherence light source 1 For example, a superluminescent diode equipped with a "pig-tail" fiber or light coming from another short-coherence light source is made by a fiber coupler 2 on an interferometer measuring arm 3 and an interferometer reference arm 4 divided up. To three lying in different depths z of the eye structures, namely cornea 5 , Eye lens 6 and eye fundus 7 to capture by means of Fourier domain short-coherence interferometry, three reference beam paths R1, R2, R3 are used with corresponding beams simultaneously. These beam paths are from the reference arm fiber 4 separated by fiber couplers: a coupler 8th divides a fundus reference beam R1 into a fiber 9 from. The remaining radiation in a fiber 10 is from a coupler 11 in a fiber 12 for the cornea reference beam R2 and a fiber 13 for the eye lens reference beam R3 separated. The fiber lengths for these three reference beam paths are dimensioned such that on a photo-detector array 43 despite the short coherence length interference with the respective coming from the different object depths reflex beam, namely cornea 5 , Eye lens 6 and eye fundus 7 , occurs.

Die am Austrittspunkt 20 aus der Faser 3 austretende Beleuchtungsstrahlung 21 wird von einer Optik 22, beispielsweise einem Faser-Kollimator, kollimiert, durchläuft als paralleles Beleuchtungsstrahlbündel 24 einen Strahlteiler 25 und beleuchtet, das Auge 26. Ein an der Vorderfläche der Cornea 5 reflektierter Cornea-Reflexstrahl 27 kommt virtuell aus einem 1. Purkinje-Sanson-Bild 28 und ein von der Linsenvorderfläche reflektierte Augenlinsen-Reflexstrahlbündel 29 kommt virtuell aus einem 3. Purkinje-Sanson-Bild 30. Diese beiden Reflexstrahlbündel divergieren unter verschiedenen Winkeln. In der 1 ist, um die Übersicht zu wahren, nur ein kleinerer Winkelbereich gezeichnet. Ein weiterer Reflex kommt vom Fundus 7 und bildet das reflektierte Fundus-Reflexstrahlbündel 31.The at the exit point 20 from the fiber 3 emerging illumination radiation 21 is from an optics 22 , for example, a fiber collimator, collapses as a parallel illumination beam 24 a beam splitter 25 and lit, the eye 26 , One on the anterior surface of the cornea 5 reflected cornea reflex beam 27 comes virtually from a 1st Purkinje Sanson image 28 and an eye-lens reflex beam reflected from the lens front surface 29 comes virtually from a 3rd Purkinje Sanson image 30 , These two reflex beams diverge at different angles. In the 1 is to keep the overview, drawn only a smaller angle range. Another reflex comes from the fundus 7 and forms the reflected fundus reflex beam 31 ,

Die am Auge reflektierten Reflexstrahlbündel 27, 29 und 31 liegen somit als überlagerter Meßstrahl M vor und werden vom Strahlteiler 25 in einen Detektionszweig D und dort auf eine Relaisoptik 33 vor einem Spektrometer S gerichtet. Die Relaisoptik 33 paßt den Meßstrahl M, der ein Gemisch aus den drei Reflexstrahlbündeln ist, an das nachfolgende Spektrometer S an. Diese Optik besteht in dem Beispiel der 1 aus drei Teiloptiken 34, 35 und 36 unterschiedlicher Brennweiten. Die Brennweiten sind so ausgelegt, daß die drei im Meßstrahl M enthaltenen, aus unterschiedlichen Tiefen am Auge reflektierten Reflexstrahlbündel in derselben Bildebene 40 vor dem Spektrometer S fokussiert sind; die Foki werden von den Spektrometeroptiken 41' und 41'' über ein Beugungsgitter 42 auf ein Photo-Detektorarray 43 beispielsweise eine Array-Kamera 44 abgebildet. Die Spektrometeroptiken 41' und 41'' können auch zu einer einzigen Optik zusammengefaßt vor oder hinter dem Beugungsgitter 42 aufgestellt werden.The reflected ray bundles on the eye 27 . 29 and 31 are thus present as a superimposed measuring beam M and are from the beam splitter 25 in a detection branch D and there on a relay optics 33 directed in front of a spectrometer S. The relay optics 33 fits the measuring beam M, which is a mixture of the three reflection beam bundles, to the following spectrometer S. This optics consists in the example of 1 from three partial optics 34 . 35 and 36 different focal lengths. The focal lengths are designed so that the three contained in the measuring beam M, reflected from different depths on the eye reflection beam in the same image plane 40 are focused in front of the spectrometer S; the focuses are from the spectrometer optics 41 ' and 41 '' over a diffraction grating 42 on a photo-detector array 43 for example, an array camera 44 displayed. The spectrometer optics 41 ' and 41 '' can also be combined into a single optics in front of or behind the diffraction grating 42 be set up.

Wie in 4 dargestellt ist, dispergiert das Beugungsgitter 42 die verschiedenen Wellenlängen des eintreffenden Lichts in x-Richtung auf Photodetektoren 435 des Photo-Detektorarray 43. In 4 ist 140 ein von den Optiken 41' und 41'' (siehe 1) fokussiertes Lichtbündel nullter Beugungsordnung des Gitters 42; 141 und 142 sind von dem Beugungsgitter in x-Richtung dispergierte Lichtbündel erster Beugungsordnungen verschiedener Wellenlängen, die von den Optiken 41' und 41'' auf die Photoempfänger des Arrays in eine Spalte 432 fokussiert werden. Den Lichtbündeln erster Beugungsordnung sind spektrale Komponenten des vom Fundus 7 remittierten Reflexstrahlbündels 31 mit den entsprechenden spektralen Komponenten des zugehörigen Referenzstrahls 53 aus dem Referenzstrahlengang R1 überlagert. Die von Cornea 5 und Augenlinse 6 remittierten und ebenfalls mit Referenzlicht aus den Referenzstrahlengängen R2 bzw. R3 überlagerten Reflexstrahlbündel 27 und 29 werden von den Optiken 41' und 41'' auf benachbarte Array-Spalten 431 und 433 fokussiert.As in 4 is shown dispersing the diffraction grating 42 the different wavelengths of the incoming light in the x-direction on photodetectors 435 of the photo detector array 43 , In 4 is 140 one of the optics 41 ' and 41 '' (please refer 1 ) focused light beam of zero diffraction order of the grating 42 ; 141 and 142 are light beams of first diffraction orders of different wavelengths dispersed from the diffraction grating in the x-direction, that of the optics 41 ' and 41 '' on the photoreceptor of the array in a column 432 be focused. The light bundles of the first diffraction order are spectral components of the fundus 7 remittierten reflex beam 31 with the corresponding spectral components of the associated reference beam 53 superimposed from the reference beam R1. The cornea 5 and eye lens 6 remitted and also superimposed with reference light from the reference beam paths R2 and R3 reflex beam 27 and 29 be from the optics 41 ' and 41 '' on adjacent array columns 431 and 433 focused.

Das am Austrittspunkt 50 aus der Faser 9 austretende Strahlbündel 51 wird von einer Optik 52 eines Faser-Kollimators kollimiert, durchläuft als paralleler Referenzstrahl 53 zwei Dispersions-Kompensationsprismen 54' und 54'' und wird von einem Reflexionsprisma 55 über einen Strahlteiler 56 in Richtung einer optischen Achse 19 des Referenzarms 4 in das Interferometer I im ersten Referenzstrahleingang R1 eingespiegelt. Der Referenzstrahl 53 ist hier nur durch seinen Hauptstrahl gekennzeichnet. In der 1 ist weiter angedeutet, daß dieser erste Referenzstrahl 53 auf dem Photo-Detektorarray 43 mit dem vom Fundus 7 kommenden Reflexstrahlbündel 31 überlagert ist. Durch Anpassung der optischen Länge des ersten Referenzstrahlganges R1 vom Koppler 2 bis zum Strahlteiler 25 an die optische Länge vom Koppler 2 über den Fundus 7 des Auges A und zurück zum Strahlteiler 25 werden Interferenzen der überlappenden Strahlbündel sichergestellt; das bedeutet, daß der Ursprung des betreffenden Meßfelds am Fundus 7 liegt. Dies ist durch geeignete Wahl der Faserlängen und/oder der Position des Reflektionsprismas 55 eingestellt. Dazu ist vorzugsweise eine Verstellmechanik vorgesehen.That at the exit point 50 from the fiber 9 emerging beam 51 is from an optics 52 collimated by a fiber collimator, passes through as a parallel reference beam 53 two dispersion compensation prisms 54 ' and 54 '' and is from a reflection prism 55 via a beam splitter 56 in the direction of an optical axis 19 of the reference arm 4 reflected in the interferometer I in the first reference beam input R1. The reference beam 53 here is only marked by its main ray. In the 1 is further indicated that this first reference beam 53 on the photo detector array 43 with the fundus 7 coming reflex beam 31 is superimposed. By adapting the optical length of the first reference beam path R1 from the coupler 2 to the beam splitter 25 to the optical length of the coupler 2 about the fundus 7 of the eye A and back to the beam splitter 25 interferences of the overlapping beams are ensured; this means that the origin of the relevant measuring field at the fundus 7 lies. This is by a suitable choice of the fiber lengths and / or the position of the reflection prism 55 set. For this purpose, an adjusting mechanism is preferably provided.

Diese kann beispielsweise wie in 1 ausgebildet sein. Das Reflektionsprisma 55 ist auf einem Tisch 57 einer manuell oder elektrisch betätigbaren Verschiebeeinheit 57' montiert. Eine Anpassung an unterschiedliche Augenlängen und Augenpositionen kann außerdem während einer Meßsequenz durch eine manuelle oder elektronisch angetriebene Verschiebung des Reflektionsprismas 55 mittels der Verschiebeeinheit 57' erfolgen. Die aktuelle Position des Prismas 55 kann mit Hilfe eines Zeigers 58 und eines Maßstabs 59 festgestellt werden. Alternativ können auch elektronische Positionsanzeigen benutzt werden und deren Daten können direkt in den Computer 200 eingegeben werden. Zur Kompensation der Probandenabhängigen Dispersion des Auges können die Prismen 54' und 54'' relativ zueinander in Richtung des Doppelpfeils 54''' verschoben werden.This can, for example, as in 1 be educated. The reflection prism 55 is on a table 57 a manually or electrically actuated displacement unit 57 ' assembled. An adaptation to different eye lengths and eye positions can also during a measurement sequence by a manual or electronically driven displacement of the reflection prism 55 by means of the displacement unit 57 ' respectively. The current position of the prism 55 can with the help of a pointer 58 and a scale 59 be determined. Alternatively, electronic position indicators can be used and their data can be sent directly to the computer 200 be entered. To compensate for the subject-dependent dispersion of the eye, the prisms 54 ' and 54 '' relative to each other in the direction of the double arrow 54 ''' be moved.

Das am Austrittspunkt 60 aus der Faser 12 austretende Strahlbündel 61 wird von einer Optik 62 eines Faser-Kollimators kollimiert und wird als paralleler Referenzstrahl 63 von einem Reflexionsprisma 65 über einen Strahlteiler 66 unter einem Winkel β zur optischen Achse 19 des Referenzarms 4 im zweiten Referenzstrahlengang R2 in den Strahlteiler 25 eingespiegelt. In 1 ist angedeutet, daß die zweite Referenzstrahl 63 auf dem Photo-Detektorarray 43 mit dem von der Cornea 5 kommenden Reflexstrahlbündel 27 überlagert ist. Durch Anpassung der optischen Länge des zweiten Referenzstrahlengangs R2 vom Koppler 2 bis zum Strahlteiler 25 an die optische Länge vom Koppler 2 über die Cornea zum Strahlteiler 25 werden Kurzkohärenz-Interferenzen dieser zwei überlagernden Lichtbündel sichergestellt, beziehungsweise der Ursprung des Meßfelds festgelegt. Dies kann auch hier durch geeignete Wahl der Faserlängen und/oder der Position des Reflektionsprismas 65 erfolgen. Auch hier kann vorzugsweise eine Anpassung an unterschiedliche Augenlängen und Augenpositionen während einer Messung erfolgen, und zwar durch eine Verschiebung des Reflektionsprismas 65 mittels einer manuell oder elektrisch betätigten Verschiebeeinheit 67'. Die Position des Prismas 65 kann mit Hilfe eines Zeigers 68 und eines Maßstabs 69 festgestellt werden. Alternativ können auch hier elektronische Positionsanzeigen benutzt werden und deren Daten können direkt in den Computer 200 eingegeben werden.That at the exit point 60 from the fiber 12 emerging beam 61 is from an optics 62 of a fiber collimator and is used as a parallel reference beam 63 from a reflection prism 65 via a beam splitter 66 at an angle β to the optical axis 19 of the reference arm 4 in the second reference beam path R2 in the beam splitter 25 mirrored. In 1 is indicated that the second reference beam 63 on the photo detector array 43 with that of the cornea 5 coming reflex beam 27 is superimposed. By adapting the optical length of the second reference beam path R2 from the coupler 2 to the beam splitter 25 to the optical length of the coupler 2 over the cornea to the beam splitter 25 Short-coherence interference of these two superimposed light beams are ensured, or set the origin of the measuring field. This can also be done here by suitable choice of the fiber lengths and / or the position of the reflection prism 65 respectively. Again, preferably, an adaptation to different eye lengths and eye positions during a measurement, by a displacement of the reflection prism 65 by means of a manually or electrically operated displacement unit 67 ' , The position of the prism 65 can with the help of a pointer 68 and a scale 69 be determined. Alternatively, electronic position indicators can also be used here and their data can be sent directly to the computer 200 be entered.

Das am Austrittspunkt 70 aus der Faser 13 austretende Strahlbündel 71 wird von einer Optik 72 eines Faser-Kollimators kollimiert und als paralleler Referenzstrahl 73 nach Reflexion an einem Reflexionsprisma 75 von einem Reflexionsprisma 76 im dritten Referenzstrahlengang R3 unter dem Winkel α zur optischen Achse 19 des Referenzarms 4 in das Interferometer I eingespiegelt. In 1 ist angedeutet, daß der dritte Referenzstrahl 73 auf dem Photo-Detektorarray 43 mit dem von der Vorderfläche der Augenlinse 6 beziehungsweise aus dem 3. Purkinje-Sanson Bild 30 kommenden Reflexstrahlbündel 29 überlagert. Durch Anpassung der optischen Länge des dritten Referenzstrahlenganges R3 vom Koppler 2 bis zum Strahlteiler 25 an die optische Länge vom Koppler 2 über die Vorderfläche der Augenlinse zum Strahlteiler 25 werden Kurzkohärenz-Interferenzen der überlagernden Lichtbündel sichergestellt, beziehungsweise die Position des Ursprungs dieses Meßfelds festgelegt. Dies erfolgt auch hier durch geeignete Wahl der Faserlängen und/oder der Position des Reflektionsprismas 75. Auch während einer Meßsequenz am Auge kann vorzugsweise eine Anpassung an unterschiedliche Augenlängen und Augenpositionen erfolgen, und zwar durch eine Verschiebung des Reflektionsprismas 75 mittels einer manuell oder elektrisch betätigten Verschiebeeinheit 77'. Auch hier kann die Position des Reflexionsprismas 75 mit Hilfe eines Zeigers 78 und eines Maßstabs 79 festgestellt werden. Alternativ können auch hier elektronische Positionsanzeigen benutzt werden und deren Daten können direkt in den Computer 200 eingegeben werden.That at the exit point 70 from the fiber 13 emerging beam 71 is from an optics 72 collimated by a fiber collimator and as a parallel reference beam 73 after reflection on a reflection prism 75 from a reflection prism 76 in the third reference beam R3 at the angle α to the optical axis 19 of the reference arm 4 mirrored into the interferometer I. In 1 is indicated that the third reference beam 73 on the photo detector array 43 with the from the front surface of the eye lens 6 or from the 3rd Purkinje-Sanson picture 30 coming reflex beam 29 superimposed. By adapting the optical length of the third reference beam R3 from the coupler 2 to the beam splitter 25 to the optical length of the coupler 2 over the front surface of the eye lens to the beam splitter 25 Short-coherence interference of the superimposed light beams are ensured, or set the position of the origin of this measuring field. This is also done here by suitable choice of the fiber lengths and / or the position of the reflection prism 75 , Even during a measurement sequence on the eye, an adaptation to different eye lengths and eye positions can preferably take place, namely by a displacement of the reflection prism 75 by means of a manually or electrically operated displacement unit 77 ' , Again, the position of the reflection prism 75 with the help of a pointer 78 and a scale 79 be determined. Alternatively, electronic position indicators can also be used here and their data can be sent directly to the computer 200 be entered.

In 3 ist Interferometer I dargestellt, das im wesentlichen dem Interferometer der 1 entspricht, weshalb gleiche Elemente mit den gleichen Bezugszeichen versehen sind. Im Unterschied zur 1 ist das Interferometer hier nun aber in Freistrahloptik ausgeführt. Ein von der Kurzkohärenz-Lichtquelle 1 emittierte Ursprungs-Strahlbündel 101, wird von einer Optik 102 kollimiert und trifft als Parallelstrahl auf einen Strahlteiler 103. Der Strahlteiler 103 teilt das Strahlbündel 101 auf ein Meßstrahlbündel 104 im Interferometer-Meßarm 3 und ein Strahlbündel 105 im Interferometer-Referenzarm 4 auf. Das Strahlbündel 105 ist hier wieder durch seinen Hauptstrahl angedeutet.In 3 Interferometer I is shown, which is essentially the interferometer of the 1 corresponds, why the same elements are provided with the same reference numerals. In contrast to 1 However, the interferometer is now executed in free-beam optics. One of the short-coherence light source 1 emitted source beam 101 , is of a look 102 collimates and hits a beam splitter as a parallel beam 103 , The beam splitter 103 divide the beam 101 on a Meßstrahlbündel 104 in the interferometer measuring arm 3 and a beam 105 in the interferometer reference arm 4 on. The beam 105 is again indicated by his main ray.

Das vom Strahlteiler 103 reflektierte Beleuchtungsstrahlbündel 104 durchläuft den Strahlteiler 25 und beleuchtet das Auge 26. Zurück läuft ein Meßstrahl M, der wiederum ein Gemisch aus folgenden Reflexstrahlbündeln enthält: das an der Corneavorderfläche reflektierte Reflexstrahlbündel 27 kommt virtuell aus dem 1. Purkinje-Sanson-Bild 28 und das von der Linsenvorderfläche reflektierte Augenlinsen-Reflexstrahlbündel 29 kommt virtuell aus dem 3. Purkinje-Sanson-Bild 30. Diese beiden Reflexstrahlbündel werden divergent reflektiert und sind entsprechend aufgeweitet. In der 3 ist von diesen beiden Reflexstrahlbündeln wieder nur ein kleiner Winkelbereich gezeichnet. Ein weiterer Reflex kommt vom Fundus 7 und bildet das Fundus-Reflexstrahlbündel 31. Insoweit liegen identische Verhältnisse wie bei dem Interferometer I der 1 vor. Dies gilt auch für die Detektion der überlagerten Strahlen im Detektionzweig D.That of the beam splitter 103 reflected illumination beam 104 goes through the beam splitter 25 and illuminate the eye 26 , Running back a measuring beam M, which in turn contains a mixture of the following reflection beam bundles: reflected at the Corneavorderfläche reflex beam 27 comes virtually from the 1st Purkinje Sanson image 28 and the ocular lens reflex beam reflected from the lens front surface 29 comes virtually from the 3rd Purkinje Sanson image 30 , These two reflection beam bundles are divergent reflected and are expanded accordingly. In the 3 is drawn by these two reflex beam bundles again only a small angular range. Another reflex comes from the fundus 7 and forms the fundus reflex beam 31 , In that regard, identical conditions as in the interferometer I the 1 in front. This also applies to the detection of the superimposed beams in detection branch D.

Für die drei in unterschiedlichen Tiefenbereichen des Auges befindlichen Strukturen, beispielsweise Cornea 5, Augenlinse 6 und Fundus 7, werden, wie im faseroptischen Interferometer I der 1, drei Referenzstrahlgänge R1, R2, R3 benutzt. Diese werden hier mit Hilfe von Strahlteiler 109 und 110 erzeugt. Ansonsten ist die Einkopplung und Weglängenverstellung unverändert.For the three located in different depth areas of the eye structures, such as cornea 5 , Eye lens 6 and fundus 7 , as in the fiber optic interferometer I the 1 , three reference beams R1, R2, R3 used. These are here with the help of beam splitters 109 and 110 generated. Otherwise, the coupling and path length adjustment is unchanged.

Im Interferometer I der 3 ist zur Beobachtung der Position des Probandenauges 26 relativ zum Fundus-Reflexstrahlenbündel 31 noch eine Beobachtungsvorrichtung bestehend aus einem teildurchlässigen Spiegel 130 und einer Optik 131 angeordnet. Die Beobachtung des Probandenauges kann dann direkt (132), mit Hilfe eines Okulars 133 oder mit Hilfe einer Kamera 134 erfolgen. Es kann auch sinnvoll sein, das Probandenauge 26 zusätzlich mit einer inkohärenten Lichtquelle 135 zu beleuchten. Ferner kann zur präzisen Positionierung des Probandenauges ein Bild 136 einer Strichplatte 137 benutzt werden, welches über teildurchlässige Spiegel 138 und 130 auf die Cornea 5 projiziert wird.In the interferometer I the 3 is for monitoring the position of the subject's eye 26 relative to the fundus reflex beam 31 another observation device consisting of a partially transparent mirror 130 and a look 131 arranged. The observation of the subject's eye can then directly ( 132 ), with the help of an eyepiece 133 or with the help of a camera 134 respectively. It may also be useful to the subject eye 26 additionally with an incoherent light source 135 to illuminate. Furthermore, for precise positioning of the subject's eye an image 136 a reticule 137 be used, which via partially transparent mirror 138 and 130 on the cornea 5 is projected.

Bei Fehlsichtigkeit können dem Auge 26 sammelnde oder zerstreuende Hilfsoptiken 140 vorgesetzt werden, welche die Fehlsichtigkeit kompensieren.At ametropia can the eye 26 collecting or dissipating auxiliary optics 140 be pre-set, which compensate the defective vision Sieren.

Es sei noch erwähnt, daß man zur Vermeidung von störenden Reflexionen und zur Optimierung der Strahlintensitäten das auf den Strahlteiler 25 treffende Beleuchtungsstrahlbündel 104 mittels eines Polarisators 120 linear polarisieren kann und den Strahlteiler 25 als polarisierenden Strahlteiler ausbilden kann. Unter Verwendung weiterer polarisationsoptischer Komponenten wie λ/4-Platten in den Positionen 121 und 122 können dem Stand der Technik entsprechend Reflexionsverluste von Referenz- und Reflexstrahlbündel beim mehrmaligen Durchgang durch den Strahlteiler weitgehend vermieden werden. Solche in der technischen Optik bekannte Methoden können auch für die Strahlteiler 56 und 66 benutzt werden.It should be mentioned that in order to avoid disturbing reflections and to optimize the beam intensities on the beam splitter 25 meeting lighting beams 104 by means of a polarizer 120 can linearly polarize and the beam splitter 25 can form as a polarizing beam splitter. Using other polarization optical components such as λ / 4 plates in the positions 121 and 122 According to the state of the art, reflection losses of the reference and reflection beam bundles can be largely avoided during multiple passes through the beam splitter. Such methods known in technical optics can also be used for the beam splitters 56 and 66 to be used.

Die oben beschriebene Beobachtungsvorrichtung, bestehend aus dem teildurchlässigem Spiegel 130 und der Optik 131 sowie der Hilfsoptik 140 zur Kompensation von Ametropien des Probandenauges, können auch im Interferometer I der 1 eingesetzt werden. Ebenso kann dort auch zur Vermeidung von störenden Reflexionen und zur Optimierung der Strahlintensitäten das auf den Strahlteiler 25 treffende Meßstrahlbündel 24 mittels des Polarisators 120 linear polarisiert werden, der Strahlteiler 25 als polarisierender Strahlteiler ausgebildet werden, und λ/4-Platten in den Positionen 121 und 122 angeordnet werden.The observation device described above, consisting of the partially transmissive mirror 130 and the optics 131 as well as the auxiliary optics 140 to compensate for ametropia of the subject 's eye, can also in the interferometer I the 1 be used. Likewise, it can also be there to avoid disturbing reflections and to optimize the beam intensities on the beam splitter 25 meeting measuring beam 24 by means of the polarizer 120 be linearly polarized, the beam splitter 25 be formed as a polarizing beam splitter, and λ / 4 plates in the positions 121 and 122 to be ordered.

Die Relaisoptik 33 kann im einfachsten Fall aus drei kreisrunden Teiloptiken 131, 132 und 133 unterschiedlicher Brechkräfte aufgebaut sein, wie das in der 5a angedeutet ist. 131', 132' und 133' sind die Durchstoßpositionen der zugehörigen optischen Achsen. Die Teiloptiken sind so anzuordnen, daß ihre optischen Achsen in der y-z-Ebene liegen, entsprechend der Auffächerung der Referenzstrahlen in der y-z-Ebene. Alternativ können diese drei Teiloptiken zur Erhöhung ihrer Lichtleitwerte auch aus Teilen größerer kreisrunder Optiken unterschiedlicher Brechkräfte zusammengesetzt werden, wie in 5b skizziert ist. Den Optiken 131, 132 und 133 der 5a entsprechen hier die Teiloptiken 141, 142, und 143; die Durchstoßpunkte der optischen Achsen 141' und 143' können hier auch außerhalb der zugehörigen Teiloptiken liegen. Schließlich können die drei Teiloptiken auch aus zentralen Ausschnitten größerer kreisrunder Optiken unterschiedlicher Brechkräfte zusammengesetzt werden, wie es in 5c abgebildet ist. Hier sind Optiken 151, 152 und 153 als zentrale Ausschnitte größerer Optiken ausgeführt (wie für 151 mit dem Kreis 151'' angedeutet). 151', 152' und 153' sind die Positionen die Durchstoßpunkte der zugehörigen optischen Achsen.The relay optics 33 can in the simplest case of three circular partial optics 131 . 132 and 133 be constructed of different refractive powers, as in the 5a is indicated. 131 ' . 132 ' and 133 ' are the puncture positions of the associated optical axes. The sub-optics are to be arranged so that their optical axes lie in the yz-plane, corresponding to the fanning out of the reference beams in the yz-plane. Alternatively, these three partial optics can also be composed of parts of larger circular optics having different refractive powers in order to increase their light conductance, as in US Pat 5b outlined. The optics 131 . 132 and 133 of the 5a here correspond the partial optics 141 . 142 , and 143 ; the puncture points of the optical axes 141 ' and 143 ' can also be outside of the associated partial optics. Finally, the three partial optics can also be composed of central sections of larger circular optics of different powers, as shown in FIG 5c is shown. Here are optics 151 . 152 and 153 executed as central sections of larger optics (as for 151 with the circle 151 '' indicated). 151 ' . 152 ' and 153 ' the positions are the puncture points of the associated optical axes.

Grundsätzlich können die Teiloptiken der Relaisoptik 33 auch an verschiedenen z-Positionen der optischen Interferometerachse 19 positioniert sein. Es muß dann nur durch entsprechende Wahl ihrer Brennweiten gewährleistet sein, daß die drei Reflexstrahlbündel 27, 29 und 31 in einer gemeinsamen Ebene 40 vor dem Spektrometer fokussiert werden.Basically, the sub-optics of the relay optics 33 also at different z-positions of the optical interferometer axis 19 be positioned. It must then be ensured only by appropriate choice of their focal lengths, that the three reflex beam 27 . 29 and 31 in a common plane 40 be focused in front of the spectrometer.

Das Fourier-Domain Kurzkohärenz-Interferometer I muß wegen der separaten Reflexstrahlen kalibriert werden. Die Fourier-Domain Kurzkohärenz-Interferometrie liefert als Meßergebnis die optische Distanz der Objekt-Meßstelle relativ zur „Wegdifferenz-Null-Position" (für diese ist die optische Länge des Meßstrahls gleich der des Referenzstrahls). Die Distanzen der Ursprünge der voneinander unabhängigen Reflexstrahlengänge mit Referenzstrahlen R1, R2, R3 müssen daher festgelegt werden. Außerdem ist der Meßbereich in der Tiefen begrenzt, bei den eingangs angenommenen Parametern beispielsweise auf rund 5,3 mm; das Interferometer I muß daher auch an die zu erwartenden Augendistanzen grob vorangepaßt werden. Zur Anpassung und Kalibrierung kann beispielsweise als Grundeinstellung ein Planspiegel als Objekt im Meßstrahlengang an der zu erwartenden Position der Cornea positioniert werden. Als nächstes werden dann alle Reflexionsprismen (55, 65 und 75) so positioniert, daß alle zugehörigen Referenzstrahlen 53, 63, 73 Kurzkohärenz-Interferenzen mit dem von dieser Planplatte reflektierten Lichtbündel zeigen. Von dieser Grundjustierung ausgehend, können beispielsweise die Positionen je eines Referenzspiegel in die zu erwartenden Positionen der zu messenden Linsenvorderfläche 6 und des Fundus 7 eingestellt werden. Durch Ablesen der ausgeführten Verschiebungen mittels der Meßvorrichtungen 58, 59 sowie 68, 69 und 78, 79 oder der entsprechenden elektronischen Positionssignale hat man einen Basiswert für zu messenden Längen. Die optische Messung gibt nun die Distanz der tatsächlichen Position der Reflexionsstellen im Auge relativ zur Basisposition. Addiert man diese zum Basiswert, hat man die gesuchte Distanz in hoher Genauigkeit.The Fourier domain short-coherence interferometer I must be calibrated because of the separate reflection beams. The Fourier domain short-coherence interferometry gives as measurement result the optical distance of the object measuring point relative to the "path difference zero position" (for this the optical length of the measuring beam is equal to that of the reference beam.) The distances between the origins of the independent reflex beam paths Reference beams R1, R2, R3 must therefore be defined, and the measuring range is limited in the depths, for example to approximately 5.3 mm for the parameters assumed at the outset, and the interferometer I must therefore be coarsely preconcentrated to the expected eye distances For example, as a basic setting, a plane mirror can be positioned as an object in the measuring beam path at the expected position of the cornea, and then all the reflection prisms ( 55 . 65 and 75 ) are positioned so that all associated reference beams 53 . 63 . 73 Show short-coherence interference with the light beam reflected from this plane plate. Starting from this basic adjustment, for example, the positions of each of a reference mirror in the expected positions of the lens front surface to be measured 6 and the fundus 7 be set. By reading the executed displacements by means of the measuring devices 58 . 59 such as 68 . 69 and 78 . 79 or the corresponding electronic position signals you have a base value for lengths to be measured. The optical measurement now gives the distance of the actual position of the reflection points in the eye relative to the base position. If you add these to the base value, you have the required distance in high accuracy.

Die drei vom Auge remittierten Reflexstrahlbündel 27, 29 und 31 beleuchten neben den zugehörigen Teiloptiken 34, 35 und 36 auch die jeweils anderen Teiloptiken und werden von diesen defokussiert auf das Detektorarray 43 treffen. Es kommt dadurch zu Falschlicht und damit zu einem unerwünschten Untergrund. Da dieses Falschlicht mit den dort fokussierten Referenzstrahlen 53, 63, 73 bezüglich Wegdifferenz nicht angepaßt ist, entstehen am Detektorarray sehr hohe Modulationsfrequenzen, die vom Detektorarray nicht aufgelöst werden.The three reflected ray bundles remitted by the eye 27 . 29 and 31 illuminate next to the associated partial optics 34 . 35 and 36 also the respective other partial optics and are defocused by these on the detector array 43 to meet. This leads to false light and thus to an undesirable background. Since this false light with the focused there reference beams 53 . 63 . 73 is not adjusted with respect to path difference, arise at the detector array very high modulation frequencies that are not resolved by the detector array.

Dennoch kann es neben dem erhöhten Rauschen durch Aliasing zu zusätzlichen Fehlsignalen kommen. Es ist daher vorteilhaft, dieses Falschlicht so weit wie möglich zu unterdrücken. Das ist durch eine räumliche Filterung in der Bildebene 40 möglich. Hierzu wird in dieser Ebene eine Lochblendenmaske 80 angebracht, mit drei Öffnungen an den Stellen der Bündelfoki. Die Positionen der Bündelfoki hängen allerdings – mit Ausnahme des Fundusbündel-Fokus – von der Position des Auges 26 ab. Das Auge muß daher mittels der oben beschriebenen Vorrichtung zur Beobachtung der Position des Probandenauges positioniert werden. So können die Reflexstrahlbündel von Fundus 7 und Cornea 5 gut diskriminiert werden.Nevertheless, in addition to the increased noise due to aliasing, additional false signals can occur. It is therefore advantageous to suppress this stray light as much as possible. This is due to a spatial filtering in the image plane 40 possible. For this purpose, a pinhole mask is in this level 80 attached, with three openings at the locations of the bundle foci. However, the positions of the bundle foci depend on the position of the eye, with the exception of the fundus focus 26 from. The eye must therefore be positioned by means of the above-described device for observing the position of the subject's eye. So can the reflex beam from Fundus 7 and cornea 5 be well discriminated against.

Die 1 und 3 zeigen die Messung der Positionen von Corneavorderfläche, Linsenvorderfläche und Fundus. Wie schon eingangs erwähnt, können jedoch noch weitere Positionen von Augenstrukturen gleichzeitig gemessen werden, beispielsweise die Linsenrückfläche mit Hilfe des vom 4. Purkinje-Sanson Bild virtuell remittierten Lichts oder die Position der Cornea-Rückfläche mit Hilfe des vom 2. Purkinje-Sanson virtuell remittierten Lichts. Es bedarf hierzu entsprechender zusätzlicher Referenzstrahlbündel und Relais-Teiloptiken (33) sowie zusätzlicher Öffnungen in der Lochblendenmaske 80 und weiterer Arrayspalten. Allerdings kann man bei Meßfeldtiefen um die 5 mm ost davon ausgehen, daß die beiden Cornea-Positionen im Meßsignal gleichzeitig vorhanden sind.The 1 and 3 show the measurement of the positions of cornea anterior surface, anterior lens surface and fundus. As already mentioned, however, other positions of eye structures can be measured simultaneously, for example, the lens back surface with the help of the 4th Purkinje-Sanson image virtually remitted light or the position of the cornea back surface with the help of the 2nd Purkinje-Sanson virtually remitted light. It requires corresponding additional reference beam and relay sub-optics ( 33 ) as well as additional openings in the pinhole mask 80 and further array columns. However, it can be assumed at Meßfeldtiefen to the 5 mm east of the fact that the two cornea positions are present in the measurement signal simultaneously.

Schließlich kann man die beschriebenen Interferometer auch zur Messung anderer Positionen wie etwa der Linsenrückfläche modifizieren. Hierzu muß z. B. der Referenzstrahl 53 entsprechend verkürzt werden und die Brennweite der Optik 35 verkleinert werden.Finally, the described interferometers can also be modified to measure other positions, such as the lens back surface. For this purpose z. B. the reference beam 53 be shortened accordingly and the focal length of the optics 35 be downsized.

Es sei noch erwähnt, daß die Verwendung eines Arrays 43 mit nur drei (431, 432 und 433) oder vier Spalten nicht einschränkend zu verstehen ist. Kommerziell erhältliche Array-Kameras besitzen oft mehrere hundert Spalten. Diese können auf zweierlei Weise benutzt werden: man kann einerseits zwischen den auszulesenden Spalten mehrere ungenutzt lassen und damit optisches und elektronisches Übersprechen unterbinden. Es können aber auch die Zeilenelemente mehrerer benachbarter Spalten durch Binning miteinander verbunden werden, um die Meßempfindlichkeit zu erhöhen.It should be noted that the use of an array 43 with only three ( 431 . 432 and 433 ) or four columns without limitation. Commercially available array cameras often have several hundred columns. These can be used in two ways: on the one hand, you can leave several unused gaps between the columns to be read and thus prevent optical and electronic crosstalk. However, it is also possible to interconnect the row elements of several adjacent columns by binning in order to increase the measurement sensitivity.

2 zeigt eine Abwandlung des Interferometers I der 1; unverändert oder funktionsgleich aus 1 übernommene Elemente sind deshalb mit denselben Bezugszeichen gekennzeichnet und werden hier nicht noch einmal erläutert. Der Unterschied zwischen der Bauweise der 1 und 2 liegt im wesentlichen darin, daß das Spektrometer S nun nicht mehr ein zweidimensionales Photo-Dekektorarray verwendet, sondern drei einzelne Zeilen-Photo-Detektorarrays 531, 532 und 533. Zur Aufteilung der z. B. durch Pupillentrennung räumlich getrennten mit den Referenzstrahlen 53, 63, 73 überlagerten Reflexstrahlenbündeln 31, 29, 27 sind im Detektionszweig D zwei geeignete Spiegel 540, 541 vorgesehen, die zwei der mit Referenzstrahlen überlagerten Reflexstrahlbündel zu zwei senkrecht zur optischen Achse liegenden Photo-Detektorarrayzeilen 531 und 533 umlenken. 2 shows a modification of the interferometer I of 1 ; unchanged or functionally identical 1 Therefore, adopted elements are identified by the same reference numerals and will not be explained again here. The difference between the design of the 1 and 2 essentially lies in the fact that the spectrometer S no longer uses a two-dimensional photo-detector array, but three single-row photo-detector arrays 531 . 532 and 533 , For the division of z. B. by pupil separation spatially separated with the reference beams 53 . 63 . 73 superimposed reflex rays bundles 31 . 29 . 27 are in the detection branch D two suitable mirror 540 . 541 provided, the two of the reference beams superimposed reflex beam to two perpendicular to the optical axis photo detector array lines 531 and 533 redirect.

Ein nochmals abgewandeltes Interferometer I ist in 6 gezeigt. Auch hier sind unverändert oder funktionsgleich aus 1 übernommene Bauteile mit denselben Bezugszeichen versehen, so daß die Wiederholung der Beschreibung entbehrlich ist. Das Interferometer I der 6 verwendet eine gegenüber der 1 abweichende Art der räumlichen Auftrennung. Die Auftrennung des Meßstrahls M und die Überlagerung mit den drei Referenzstrahlen 53, 63, 73 erfolgt hier durch Strahlteiler. Bauteile, die in ihrer Funktion oder ihrem Aufbau dem der 1 entsprechen, sind mit denselben Bezugszeichen versehen, wobei gegebenenfalls zur Unterscheidung der Bauteile für die drei einzelnen Überlagerung ein Suffix .1,.2 oder .3 angehängt wurde. Das Bauteil 42.3 entspricht also beispielsweise dem Bauteil 42 der 1, esist jedoch in der Darstellung der 6 lediglich für die Überlagerung mit dem Referenzstrahl R3 wirksam.A further modified interferometer I is in 6 shown. Again, unchanged or functionally identical 1 taken over components provided with the same reference numerals, so that the repetition of the description is unnecessary. The interferometer I the 6 uses one opposite the 1 different type of spatial separation. The separation of the measuring beam M and the superposition with the three reference beams 53 . 63 . 73 takes place here by beam splitter. Components whose function or structure corresponds to that of 1 are denoted by the same reference numerals, optionally with a suffix .1, 2 or .3 was appended to distinguish the components for the three individual overlay. The component 42.3 For example, corresponds to the component 42 of the 1 However, it is in the presentation of the 6 only effective for superposition with the reference beam R3.

Die getrennte Überlagerung der Reflexstrahlbündel 27, 29, 31 im Meßstrahl M erfolgt in der Bauweise der 6 nun nicht durch eine mit geteilter Pupille versehenen Relaisoptik 33, sondern durch Umlenkelemente 33.1 sowie 33.2, die die Reflexstrahlbündel 27 und 29 aus dem Strahl auskoppeln. Die Umlenkelemente 33.2 und 33.1 können dabei beispielshalber als spektral neutrale Strahlteiler ausgeführt werden.The separate superimposition of the reflex beam 27 . 29 . 31 in the measuring beam M takes place in the construction of the 6 now not by a shared pupil provided with relay optics 33 but by deflecting elements 33.1 such as 33.2 that the reflex beam 27 and 29 decouple from the beam. The deflecting elements 33.2 and 33.1 can be performed for example as a spectrally neutral beam splitter.

Das Umlenkelement 33.2 leitet einen Teil des Meßstrahles M aus dem Strahlbündel, das vom Strahlteiler 25 abgeteilt wurde, aus und stellt es zur Überlagerung mit dem zweiten Referenzstrahl 63 bereit, der separat über einen Strahlteiler 66 eingekoppelt wird. Die nachgeschaltete Optik entspricht im wesentlichen der Optik des Detektorzweigs D der 1, mit dem Unterschied, daß nun keine räumliche getrennte Pupille vorliegt; der Strahlengang nach dem Strahlteiler 33.2 führt keine räumliche getrennten Strahlen mehr. Dementsprechend muß das Photo-Detektorarray 43.2 auch nicht zweidimensional ausgeführt sein.The deflecting element 33.2 directs a portion of the measuring beam M from the beam, that of the beam splitter 25 was separated, and makes it to overlay with the second reference beam 63 ready to be separated via a beam splitter 66 is coupled. The downstream optics essentially corresponds to the optics of the detector branch D of 1 , with the difference that there is no spatially separated pupil; the beam path after the beam splitter 33.2 does not lead to spatially separated rays anymore. Accordingly, the photo-detector array must 43.2 also not be carried out in two dimensions.

Gleiches gilt für das Photo-Detektorarray 43.3, das am Ende des Strahlengangs nach der Abteilung durch den Strahlteiler 33.3 liegt.The same applies to the photo detector array 43.3 at the end of the beam path to the department through the beam splitter 33.3 lies.

Der nach den Strahlteilern 33.2 und 33.3 noch vorhandene Anteil des Meßstrahles M wird mit dem Referenzstrahl 53 überlagert und am Photo-Detektorarray 43.1 nach zu voriger spektraler Auftrennung nachgewiesen.The after the beam splitters 33.2 and 33.3 still existing proportion of the measuring beam M is with the reference beam 53 superimposed and on the photo-detector array 43.1 detected after previous spectral separation.

Das Interferometer der 6 weist also drei Spektrometer auf, S1 für die Überlagerung des verbleibenden Meßstrahls M mit dem Referenzstrahl 53 aus Referenzstrahlengang R1, das Spektrometer S2 im durch den Strahlteiler 33.2 abgetrennten Teil des Strahlengangs, in den der Referenzstrahl 63 eingekoppelt wird, und das Spektrometer S3, das dem Strahlteiler 33.3 nachgeschaltet ist und die abgeteilte Strahlung überlagert mit dem Referenzstrahl 73 nachweist.The interferometer of the 6 So has three spectrometers, S1 for the superposition of the remaining measuring beam M with the reference beam 53 from reference beam R1, the spectrometer S2 im through the beam splitter 33.2 separated part of the beam path, in which the reference beam 63 is coupled, and the spectrometer S3, the beam splitter 33.3 is downstream and the separated radiation superimposed with the reference beam 73 prove.

Die räumliche Abtrennung durch Strahlteiler hat den Vorteil, daß die Lochblenden 80.1, 80.2 und 80.3 sehr viel wirksamer auf die Falschlichtunterdrückung ausgelegt werden können. Auch ist eine separate Fokussierung mittels der nun einfacher eigenständig verstellbaren Teiloptiken 36.1, 36.2 und 36.3 ohne Aufwand möglich, wodurch das Signal/Rausch-Verhältnis für die in der Tiefe separierten Objektbereiche verbessert ist.The spatial separation by beam splitter has the advantage that the pinhole 80.1 . 80.2 and 80.3 can be designed much more effectively on the Falschichtunterdrückung. Also, a separate focusing by means of now easier independently adjustable partial optics 36.1 . 36.2 and 36.3 possible without any effort, whereby the signal-to-noise ratio is improved for the object areas separated at depth.

7 zeigt ein Interferometer I, das wie die zuvor beschriebenen Interferometer auch das Prinzip verfolgt, in unterschiedlich langen Referenzstrahlengängen R1, R2 geführte Referenzstrahlen mit einem Meßstrahl M eigenständig zu überlagern und nachzuweisen. Die anhand der zuvor geschilderten Figuren realisierten Details sind deshalb auch uneingeschränkt für die nachfolgend beschriebenen Varianten möglich. Auch sind übereinstimmende Elemente mit denselben Bezugszeichen versehen, so daß auf Ihre Erläuterung hier verzichtet werden kann. Ebenso ist in den nachfolgenden Figuren durch Anhängung eines entsprechendes Suffixes .1,.2 etc. eine Unterscheidung hinsichtlich der Referenzstrahlen und deren Strahlengänge bzw. -überlagerungen getroffen. 7 shows an interferometer I, which, like the interferometer described above, also pursues the principle of independently superimposing and detecting reference beams guided in differently long reference beam paths R1, R2 with a measuring beam M. The details realized on the basis of the previously described figures are therefore also possible without restriction for the variants described below. Also matching elements are provided with the same reference numerals, so that your explanation can be omitted here. Likewise, in the following figures, by appending a corresponding suffix .1, .2, etc., a distinction is made with regard to the reference beams and their beam paths or superimpositions.

Das Interferometer I der 7 nimmt eine Trennung der Referenzstrahlengänge hinsichtlich der Polarisation vor. Dazu wird die Strahlung der Lichtquelle 1 mittels eines Polarisators 300 zirkular polarisiert, bevor sie auf den Strahlteiler 25 und von dort eine Probe P fällt. Alternativ wird eine zirkular polarisiertes Licht abgebende Strahlquelle verwendet. Im Referenzstrahlengang R wird die zirkular polarisierte Strahlung mittels eines Polteilers 301 in zwei senkrecht zueinander polarisierte Strahlen aufgeteilt. Der Polteiler kann beispielsweise als Wollaston-Prisma ausgeführt werden. Einstellbare Graufilter 303.1 bzw. 303.2 erlauben eine Einstellung der Intensität der Strahlung in den zwei Referenzstrahlgängen R1, R2, was zur Optimierung des Meßsignals vorteilhaft ist. Die Referenzstrahlen in R1 und R2 werden an Reflektoren 304.1 bzw. 304.2 reflektiert. Jeder Reflektor 304 ist auf einem Schlitten 305 verschieblich befestigt, so daß die Weglänge des Referenzstrahlengangs individuell einstellbar ist. Dies kann unter Steuerung des Computers 200 erfolgen. Die Verstellmechanik kann dabei insbesondere den anhand der 1 ff geschilderten Aufbau haben. Der überlagerte Meßstrahl M mit den Referenzstrahlen, die in Rückreflexionsrichtung des Referenzstrahlengangs R1 und R2 nach dem Polteiler 301 überlagert sind, erfolgt im Detektionszweig D.The interferometer I the 7 makes a separation of the reference beam paths with respect to the polarization. For this, the radiation of the light source 1 by means of a polarizer 300 circularly polarized before moving to the beam splitter 25 and from there a sample P falls. Alternatively, a circularly polarized light emitting beam source is used. In the reference beam R, the circularly polarized radiation by means of a pole divider 301 divided into two perpendicular polarized beams. The pole divider can be designed, for example, as a Wollaston prism. Adjustable gray filters 303.1 respectively. 303.2 allow adjustment of the intensity of the radiation in the two reference beam paths R1, R2, which is advantageous for optimizing the measurement signal. The reference beams in R1 and R2 become reflectors 304.1 respectively. 304.2 reflected. Every reflector 304 is on a sledge 305 slidably mounted, so that the path length of the reference beam path is individually adjustable. This can be under the control of the computer 200 respectively. The adjustment mechanism can in particular the basis of 1 ff described structure. The superimposed measuring beam M with the reference beams, in the return reflection direction of the reference beam path R1 and R2 to the pole divider 301 are superposed in the detection branch D.

Darin werden die überlagerten Strahlen wieder durch einen Polteiler 302 aufgeteilt, so daß überlagerte Strahlen 306.1 und 306.2 vorliegt, in denen der Meßstrahl M mit dem Referenzstrahl aus R1 bzw. R2 überlagert ist. Die unterschiedliche Weglänge der Referenzstrahlengängen R1 und R2 bewirkt dabei, wie zuvor bereits beschrieben, eine entsprechende Tiefenselektion in der Probe P, die beispielsweise wiederum das menschliche Auge A sein kann. Die derart nach ihrer Polarisation getrennten überlagerten Strahlen 306 werden dann in einem Spektrometer S getrennt nachgewiesen.In it, the superimposed rays are again through a pole splitter 302 split, so that superimposed rays 306.1 and 306.2 is present, in which the measuring beam M is superimposed with the reference beam of R1 or R2. The different path length of the reference beam paths R1 and R2 causes, as already described above, a corresponding depth selection in the sample P, which in turn may be the human eye A, for example. The thus separated according to their polarization superimposed rays 306 are then detected separately in a spectrometer S.

Zur räumlichen Vermessung der Probe P ist schließlich noch ein Scanner 307 mit geeigneter Optik vorgesehen, der die Probe mit der einfallenden Strahlung abscant.For spatial measurement of the sample P is finally still a scanner 307 provided with suitable optics, the abscant the sample with the incident radiation.

Der mögliche Aufbau des Spektrometers S ist in 8 exemplarisch dargestellt. Dem Polteiler 302 ist beispielsweise jeweils ein Polarisationsmanipulator 308.1 bzw. 308.2 nachgeordnet, mit dem man die Polarisationsrichtung der Strahlen so drehen bzw. einstellen kann, daß sich im nachgeordneten Strahlengang eine maximale Ausbeute einstellt. Die polarisationsgetrennten Strahlen 306.1 und 306.2 fallen nach Durchlauf durch den Polarisationsmanipulator 308.1 bzw. 308.2 auf das Beugungsgitter 42.1 bzw. 42.2, Reflexionsbeugungsgitter. Die so erhaltene spektrale Aufteilung wird dann in Detektorarrayzeilen 43.1 bzw. 43.2 nachgewiesen.The possible construction of the spectrometer S is in 8th exemplified. The pole divider 302 For example, each is a polarization manipulator 308.1 respectively. 308.2 downstream, with which you can rotate or set the polarization direction of the rays so that sets a maximum yield in the downstream beam path. The polarization-separated beams 306.1 and 306.2 fall after passing through the polarization manipulator 308.1 respectively. 308.2 on the diffraction grating 42.1 respectively. 42.2 , Reflection diffraction grating. The spectral split thus obtained then becomes detector array lines 43.1 respectively. 43.2 demonstrated.

Das Spektrometer S ist aus zwei Teil-Spektrometern S1 und S2 aufgebaut, die die polarisationsgeteilte überlagerte Strahlung 306 individuell nachweisen.The spectrometer S is made up of two partial spectrometers S1 and S2, which are the polarization-divided superimposed radiation 306 individually prove.

Die in den 16 durch räumliche Trennung realisierte getrennte Überlagerung und Detektion ist in der Bauweise der 7 durch eine Polarisationstrennung erreicht.The in the 1 - 6 Separation and detection realized by spatial separation is in the construction of the 7 achieved by polarization separation.

FD OCT kann, wie erwähnt, auf zwei Weisen arbeiten. Zum einen kann eine kurz-kohärente Strahlquelle verwendet werden, die es vorstehend beschrieben wurde. Dann ist eine spektrale Auftrennung der überlagerten Strahlung erforderlich. Zum anderen kann auch eine durchstimmbare kurz-kohärente Strahlungsquelle verwendet werden. Stimmt man den Spektralbereich dieser Quelle durch, muß keine spektrale Analyse der Strahlung mehr erfolgen; statt dessen kann ein spektral unempfindlicher Detektor verwendet werden. Die Probenstruktur kann in beiden Fällen durch Bildung der inversen Fouriertransformierten des spektralen Interferenzmusters erhalten werden. Natürlich können die zuvor und auch nachfolgend erläuterten Interferometer I für eine der beiden Arbeitsweisen angepaßt werden. Die nötigen Abwandlungen sind in 9 exemplarisch für das Interferometer I der 7 gezeigt. Dem Polarisationsstrahlteiler 302 sind anstelle der Spektrometer S1 und S2 nun lediglich individuelle Detektoren 309.1 und 309.2 nachzuordnen, die keine spektrale Analyse der einfallenden Strahlung vornehmen. Die Bauweise der 7 kann in der Variante gemäß 9 auch für TD OCT eingesetzt werden. Hier ist lediglich eine synchronisierte Verstellung der Weglänge der Referenzstrahlengänge R1, R2 erforderlich und das Durchstimmen der Lichtquelle 1 entfällt.As mentioned, FD OCT can work in two ways. On the one hand, a short-coherent beam source which has been described above can be used. Then a spectral separation of the superimposed radiation is required. On the other hand, a tunable short-coherent radiation source can be used. If you tune the spectral range of this source, no spectral analysis of the radiation must be done more; instead, a spectrally insensitive detector can be used. The sample structure can in both cases by forming the inverse Fourier transform of the spectral interference pattern to be obtained. Of course, the previously and also explained below interferometer I can be adapted for one of the two modes of operation. The necessary modifications are in 9 exemplary for the interferometer I der 7 shown. The polarization beam splitter 302 Instead of the spectrometers S1 and S2 now only individual detectors 309.1 and 309.2 nachordnen who make no spectral analysis of the incident radiation. The construction of the 7 can in the variant according to 9 can also be used for TD OCT. Here only a synchronized adjustment of the path length of the reference beam paths R1, R2 is required and the tuning of the light source 1 eliminated.

10 zeigt eine Abwandlung der Bauweise der 7, bei der die räumliche Trennung der Referenzstrahlung R1 und R2 und die entsprechende Überlagerung nun nicht gemäß der Polarisation erfolgt, sondern durch spektrale Trennung. Es sind deshalb zwei Lichtquellen 1.1 und 1.2 vorgesehen, die Strahlung bei einer unterschiedlichen Wellenlänge abgeben, wie dies in 11 gezeigt ist. Im dort aufgetragenen Spektrum ist die linke Wellenlängenverteilung beispielsweise der Lichtquelle 1.1 zuzuordnen, die rechte Wellenlängenverteilung ist in der Strahlung der Lichtquelle 1.2 gegeben. Die Bauweise des Interferometers I der 10 entspricht ansonsten der dem Interferometer der 7, mit dem Unterschied, daß nun die Polteiler nicht mehr erforderlich sind, sondern zwei spektral getrennte Strahlen durch das Interferometer propagieren. Die der Übersichtlichkeit halber eingezeichnete räumliche Trennung muß dabei zwingend im gesamten Strahlengang vorhanden sein, gegebenenfalls können geeignete nicht dichroitische Teiler eingesetzt werden. Der Aufbau kann dann im wesentlichen dem der 7 entsprechen, wobei die Polteiler 301 und 302 durch entsprechend dichroitische Teiler ersetzt sind und der Polarisator 300 gegen eine entsprechende Überlagerungseinheit der spektral verschiedenen Strahlen asugetauscht ist. 10 shows a modification of the construction of 7 , in which the spatial separation of the reference radiation R1 and R2 and the corresponding superposition now does not take place according to the polarization, but by spectral separation. There are therefore two sources of light 1.1 and 1.2 provided that emit radiation at a different wavelength, as in 11 is shown. In the spectrum applied there, the left-hand wavelength distribution is, for example, the light source 1.1 assign the right wavelength distribution is in the radiation of the light source 1.2 given. The construction of the interferometer I of 10 otherwise corresponds to the interferometer the 7 , with the difference that now the polarizers are no longer required, but propagate two spectrally separated beams through the interferometer. The sake of clarity drawn spatial separation must necessarily be present in the entire beam path, if necessary, suitable non-dichroic divider can be used. The structure can then essentially that of 7 correspond, wherein the pole divider 301 and 302 replaced by corresponding dichroic dividers and the polarizer 300 is exchanged against a corresponding superposition unit of the spectrally different rays.

12 zeigt den Aufbau des Spektrometers S, das die zwei spektral getrennten Strahlen 306.1 und 306.2 nachweist. Wieder ist zur Verdeutlichung ein räumlicher Abstand zwischen den Strahlen 306.1 und 306.2 eingezeichnet, der nicht gegeben sein muß. Das Beugungsgitter 42 teilt die beiden überlagerten, spektral verschiedenen Strahlen in unterschiedliche Raumwinkel ab, so daß sie auf eigenständige Photo-Detektorarrays 43.1 sowie 43.2 geleitet werden können. In der Bauweise der 12 ist zur Aufweitung des Strahlengangs zusätzlich noch ein Umlenkspiegel 310 vorgesehen. 12 shows the structure of the spectrometer S, which contains the two spectrally separated beams 306.1 and 306.2 prove. Again, for clarity, a spatial distance between the rays 306.1 and 306.2 drawn, which does not have to be given. The diffraction grating 42 Divide the two superimposed, spectrally different rays in different solid angles, so that they on separate photo detector arrays 43.1 such as 43.2 can be directed. In the construction of the 12 is to expand the beam path additionally a deflection mirror 310 intended.

Für den Fall, daß die Lichtquellen 1.1 und 1.2 durchgestimmt werden, kann die spektrale Analyse wiederum entfallen und es sind lediglich die spektral unempfindlichen Detektoren 309.1 bzw. 309.2 vonnöten. Hierzu müssen die überlagerten Strahlen 306.1 und 306.2 allerdings durch geeignete Mittel, die dem Fachmann bekannt sind, räumlich getrennt sein.In the event that the light sources 1.1 and 1.2 be tuned, the spectral analysis can be omitted and it is only the spectrally insensitive detectors 309.1 respectively. 309.2 needed. For this purpose, the superimposed rays 306.1 and 306.2 however, be spatially separated by suitable means known to those skilled in the art.

Natürlich kann statt zwei eigenständigen Lichtquellen 1.1 und 1.2 auch eine Lichtquelle verwendet werden, die zwei chromatisch verschiedene Strahlen simultan abgibt. 14 zeigt eine weitere Abwandlung des Spektrometers der 110, wobei nun allerdings keine gleichzeitige Messung mit Überlagerung aus den Referenzstrahlengängen R1, R2 usw. erfolgt, sondern eine sequentielle Überlagerung und Messung. Der Aufbau entspricht im wesentlichen dem der 7, jedoch sind keine polarisationswirksamen Elemente eingesetzt.Of course, instead of two separate light sources 1.1 and 1.2 Also, a light source can be used, which emits two chromatically different rays simultaneously. 14 shows a further modification of the spectrometer of 1 - 10 , but now no simultaneous measurement with superimposition of the reference beam paths R1, R2, etc. takes place, but a sequential overlay and measurement. The structure corresponds essentially to that of 7 but no polarization-effective elements are used.

Der Referenzstrahlengang R weist statt dessen mehrere Strahlteiler 311 auf, die den Strahlengang in mehrere Referenzstrahlengänge R1, R2,... aufteilen, die jeweils in entsprechenden Reflektoren 304 enden. Jeder Reflektor 304 ist auf einen Schlitten 305 befestigt. Es sind im Ausführungsbeispiel drei verschiedene Referenzstrahlengänge R1, R2, R3 gebildet. Den Strahlteilern 311.1, 311.2 bzw. 311.3 ist ein Blendenrad 312 nachgeordnet, das ein Wahlmittel realisiert, welches festlegt, welcher der Referenzstrahlengänge R1, R2, R3 aktiv ist. Die anderen sind abgeschaltet. In der Darstellung der 14 ist der Referenzstrahlengang R1 aktiv, d. h. dessen Referenzstrahl wird am Spiegel 304.1 reflektiert. Durch Umschalten des Blendenrads 312 wird also jeweils ein unterschiedlich langer Referenzstrahlengang aktiv geschaltet, so daß der überlagerte Strahl 306 immer eine Überlagerung aus dem Meßstrahl M mit dem Referenzstrahl aus dem entsprechend aktivierten Referenzstrahlengang gebildet ist. Das Spektrometer S weist dann das entsprechende Signal nach. Die Länge der Referenzstrahlengänge R1, R2, R3 (natürlich kann eine beliebige Anzahl von Referenzstrahlengängen verwendet werden) bewirkt, wie bereits erwähnt, die Tiefenauswahl des Objektbereiches in der Probe P.The reference beam R has instead a plurality of beam splitters 311 on, which divide the beam path into a plurality of reference beam paths R1, R2, ..., each in corresponding reflectors 304 end up. Every reflector 304 is on a sled 305 attached. In the exemplary embodiment, three different reference beam paths R1, R2, R3 are formed. The beam splitters 311.1 . 311.2 respectively. 311.3 is a aperture wheel 312 downstream, which implements a selection means which determines which of the reference beam paths R1, R2, R3 is active. The others are switched off. In the presentation of the 14 the reference beam R1 is active, ie its reference beam is at the mirror 304.1 reflected. By switching the aperture wheel 312 Thus, in each case a differently long reference beam path is switched active, so that the superimposed beam 306 always a superposition of the measuring beam M is formed with the reference beam from the correspondingly activated reference beam path. The spectrometer S then detects the corresponding signal. The length of the reference beam paths R1, R2, R3 (of course, any number of reference beam paths can be used) causes, as already mentioned, the depth selection of the object area in the sample P.

Verwendet man für die zuvor oder nachfolgend beschriebenen Interferometer eine Breitbandlichtquelle 1 sind das bzw. die Spektrometer S vorzugsweise im sogenannten Czerny-Turner-Aufbau realisiert. Beleuchtet man die Probe P bzw. das Auge A mit mehreren Spots oder mit einer Beleuchtungslinie, was für alle hier beschriebenen Bauweisen möglich ist, sind Spektrometer S mit entsprechenden Detektorarrays ausgestattet, die das spektrale Interferenzmuster auf verschiedenen Detektorarrayzeilen aufnehmen.Using a broadband light source for the interferometers previously or subsequently described 1 the spectrometer or S are preferably realized in the so-called Czerny-Turner structure. If the sample P or the eye A is illuminated with a plurality of spots or with an illumination line, which is possible for all constructions described here, spectrometers S are equipped with corresponding detector arrays which record the spectral interference pattern on different detector array lines.

Bei einer durchgestimmten Lichtquelle 1 bieten sich anstelle der Spektrometer S, wie bereits erwähnt, Photodioden oder Monochromatoren an, die für den durchgestimmten Spektralbereich der Lichtquelle 1 in der Regel am empfindlichsten sind. Werden hier mehrere Spots oder eine Zeile bzw. Linie in der Probe P beleuchtet, ist der Detektor wiederum mit der entsprechenden Anzahl von Photodioden oder Pixel ausgestattet. Grundsätzlich muß der Photodetektor das Interferenzmuster synchronisiert zur Durchstimmung der Lichtquelle aufzeichnen. Dies erfolgt durch geeignete Steuerung des Computers 200, der eine exemplarische Realisierung eines Steuergeräts ist, das den Betrieb des Interferometers I steuert.In a tuned light source 1 offer instead of the spectrometer S, as already mentioned, photodiodes or monochromators, which for the tuned spectral range of light source 1 usually the most sensitive. If several spots or one line or line in the sample P are illuminated here, the detector is in turn equipped with the appropriate number of photodiodes or pixels. Basically, the photodetector must record the interference pattern synchronized to tune the light source. This is done by appropriate control of the computer 200 , which is an exemplary implementation of a controller that controls the operation of the interferometer I.

Das Steuergerät ermöglicht insbesondere eine voll automatische zwei- oder drei-dimensionale Bildgewinnung.The control unit allows in particular a fully automatic two- or three-dimensional image acquisition.

15 zeigt eine Variante des Spektrometers der 7, wobei das Auge nun mit einem Doppelstrahl beleuchtet wird. Elemente, die bereits in 7 geschildert wurden, werden hier deshalb nicht noch einmal beschrieben. Der Doppelstrahl stellt zwei senkrecht zueinander polarisierte Meßstrahlen M1 und M2 zur Verfügung, wobei diese Strahlen koaxial laufen und gegeneinander versetzt sind. Das Interferometer I der 15 verwendet also zwei Meßstrahlen M1 und M2 und zwei Referenzstrahlen R1 und R2. Damit sind zwei gleichzeitige Messungen einfach möglich, beispielsweise Position der Cornea und Position des Fundus. Die Aufteilung des Doppelstrahls mittels Polteilern 313, 314 und Umlenkspiegeln 315, 316 erlaubt es weiter, eine separate Fokussierung für die beiden Meßstrahlen M1 und M2 vorzunehmen. Dazu muß lediglich ein Fokuselement in den Umlenkweg zwischen den Polteilern 313 und 314 geschaltet werden. Damit kann beispielsweise der Meßstrahl M1 auf die Augenvorderfläche fokussiert werden, wohingegen der Meßstrahl M2 parallel und damit durch die Augenlinse im Fundus fokussiert einfällt. Die Augenlänge L erhält man als Summe aus dem Versatz (= der Wegdifferenz) der zwei Meßstrahlen M1 und M2 aufgrund der Strahlaufspaltung durch die Strahlteiler 313 und 314, plus die Wegdifferenz der Referenzstrahlen R1 und R2, plus eine noch verbleibende optische Wegdifferenz die sich aus der Differenz der Positionen der Signalpeaks der zwei Fouriertransformierten der zwei K-Spektren ergibt. 15 shows a variant of the spectrometer of 7 , where the eye is now illuminated with a double beam. Elements already in 7 are therefore not described again here. The double beam provides two measuring beams M1 and M2 polarized perpendicular to one another, these beams running coaxially and offset from one another. The interferometer I the 15 So uses two measuring beams M1 and M2 and two reference beams R1 and R2. Thus, two simultaneous measurements are easily possible, for example, position of the cornea and position of the fundus. The division of the double jet by means of pole dividers 313 . 314 and deflecting mirrors 315 . 316 allows further to make a separate focus for the two measuring beams M1 and M2. For this purpose, only a focus element in the Umlenkweg between the pole dividers 313 and 314 be switched. Thus, for example, the measuring beam M1 can be focused on the frontal surface of the eye, whereas the measuring beam M2 is incident parallel and thus focused through the eye lens in the fundus. The eye length L is obtained as the sum of the offset (= the path difference) of the two measuring beams M1 and M2 due to the beam splitting by the beam splitters 313 and 314 , plus the path difference of the reference beams R1 and R2, plus a remaining optical path difference resulting from the difference in positions of the signal peaks of the two Fourier transforms of the two K spectra.

16 zeigt eine Abwandlung des Interferometers I der 15, bei dem nun für die zwei Meßstrahlen M nur ein Spektrometer S vorgesehen ist. Dazu ist die Summe der Wegdifferenzen zwischen den beiden Meßstrahlen M1 und M2 und den zugehörigen Referenzstrahlen R1 und R2 geeignet auf Werte kleiner als die Meßfeldtiefe z eingestellt. Die Augenlänge ergibt sich dann, wie für 15 schon beschrieben; die Differenz der Positionen der zwei Signalpeaks der zwei Fouriertransformierten wird am Computer-Monitor abgelesen Diese Einstellung kann dadurch bewirkt werden, daß man die Wegdifferenzen durch einen Verstellmechanismus, beispielsweise einen Verschiebemechanismus der zuvor für andere Interferometer geschilderten Art, entweder am jeweiligen Meßstrahl oder Referenzstrahl einstellt. 16 shows a modification of the interferometer I of 15 , in which now only one spectrometer S is provided for the two measuring beams M. For this purpose, the sum of the path differences between the two measuring beams M1 and M2 and the associated reference beams R1 and R2 is suitably set to values smaller than the measuring field depth z. The eye length then results, as for 15 already described; the difference in the positions of the two signal peaks of the two Fourier transforms is read on the computer monitor. This adjustment can be effected by adjusting the path differences by an adjustment mechanism, for example a displacement mechanism of the type previously described for other interferometers, either at the respective measuring beam or reference beam.

Eine Alternative besteht darin, einen Meßstrahl als Referenzstrahl zu verwenden und die optische Weglänge der Strahlen geeignet so einzustellen, daß wiederum zwei Meßsignale, also die Autokorrelationsfunktion (AKF) des Referenzstrahls und das Interferenzsignal, am Computer-Monitor dargestellt werden. Nun ergibt sich die Augenlänge als Summe aus Wegdifferenz zwischen den beiden Strahlen plus am Monitor abgelesene Positionsdifferenz der zwei Fourier-Transformierten. Die Vorrichtung ist damit auf Bewegungen des Meßobjektes unempfindlich.A Alternative is to use a measuring beam as a reference beam to use and the optical path length of the rays suitable so adjust that again two measuring signals, So the autocorrelation function (AKF) of the reference beam and the Interference signal, to be displayed on the computer monitor. Well results the eye length as the sum of the path difference between the two beams plus am Monitor read position difference of the two Fourier transform. The device is thus insensitive to movements of the measurement object.

Für die Messung der Augenlänge ist es vorteilhaft, das Interferenzmuster hinsichtlich der Weglängendifferenz auf die Corneavorderfläche zu beziehen. Dies kann man dadurch erreichen, daß der Referenzstrahlengang einen Reflex von der Cornea ausnutzt, also das Referenzstrahlbündel an der Cornea reflektiert wird. Ein entsprechender Aufbau ist in 17 dargestellt. Bauteile die von den zuvor geschilderten Interferometern I unverändert oder funktionsgleich übernommen wurden, sind hier wieder mit denselben Bezugszeichen versehen und werden nicht noch einmal erläutert.For the measurement of the eye length, it is advantageous to relate the interference pattern with regard to the path length difference on the cornea front surface. This can be achieved in that the reference beam uses a reflex of the cornea, so the reference beam is reflected at the cornea. An appropriate structure is in 17 shown. Components that have been taken over by the previously described Interferometer I unchanged or functionally identical, here again provided with the same reference numerals and will not be explained again.

Der Strahlengang der 17 ist der eines Kurzkohärenz-Interferometers I, das einen Doppelstrahl aus zwei Strahlen 400, 401, die koaxial zueinander sind und gegeneinander versetzt sind, auf das Auge richtet. Der vorauseilende Strahl 401 wirkt als Referenzstrahl, der an der Corneavorderfläche reflektiert wird. Die Weglängendifferenz zwischen den Strahlen 400 und 401 wird dabei über Spiegel 318 und 319 eingestellt, die über einen Strahlteiler 317 beaufschlagt werden. Die Weglängendifferenz entspricht im wesentlichen der zu erwartenden Augenlänge L. Die voreingestellte Weglängendifferenz sorgt dafür, daß der Referenzstrahl 401 zusammen mit dem am Fundus reflektierten Meßstrahl 400 interferiert, so daß das einem Strahlteiler 322 nachgeordnete Spektrometer ein entsprechendes Interferenzsignal aufzeichnet. Eine Fourier-Auswertung des Signals zeigt dann zum einen die Autokorrelationsfunktion des Referenzstrahls 400, der mit sich selbst interferiert, und zum anderen einen entsprechenden Abstand für die Überlagerung des Referenzstrahles 401 mit dem Meßstrahl 400. Zusätzlich ist noch die Weglängendifferenz Z, die extern eingestellt wurde, zu berücksichtigen. Die Länge L des Auges A ergibt sich also aus der Summe aus dem Meßergebnis der optischen Messung plus der mechanisch eingestellten Weglängendifferenz zwischen 400 und 401. Die Voreinstellung ermöglicht die FD-Analyse mit einfachen Mitteln, bei vergleichsweise geringem Meßbereich.The ray path of the 17 is that of a short-coherence interferometer I, which is a double beam of two beams 400 . 401 , which are coaxial with each other and offset from each other, aimed at the eye. The anticipatory ray 401 acts as a reference beam, which is reflected at the Corneavorderfläche. The path length difference between the rays 400 and 401 is doing over mirror 318 and 319 set using a beam splitter 317 be charged. The path length difference corresponds essentially to the expected eye length L. The preset path length difference ensures that the reference beam 401 together with the measuring beam reflected at the fundus 400 interferes, so that a beam splitter 322 downstream spectrometer records a corresponding interference signal. A Fourier evaluation of the signal then shows, on the one hand, the autocorrelation function of the reference beam 400 , which interferes with itself, and on the other hand a corresponding distance for the superposition of the reference beam 401 with the measuring beam 400 , In addition, the path length difference Z, which was set externally, must be taken into account. The length L of the eye A thus results from the sum of the measurement result of the optical measurement plus the mechanically set path length difference between 400 and 401 , The presetting allows the FD analysis with simple means, with a comparatively small measuring range.

Das Interferometer der 17 ist ein Beispiel, bei dem der Referenzstrahl an der Probe reflektiert ist. Dadurch ist eine automatische Relativmessung erreicht und der Abstand wird nicht durch Differenz zweier absoluter Meßpunkte ermittelt. Ortsvarianten der Probe sind dadurch zu vernachlässigen.The interferometer of the 17 is an Bei play, in which the reference beam is reflected on the sample. As a result, an automatic relative measurement is achieved and the distance is not determined by the difference between two absolute measuring points. Locations of the sample are negligible.

18 zeigt eine faseroptische Ausbildung des Interferometers I der 17. Wiederum sind unverändert oder funktionsgleich übernommene Bauteile mit denselben Bezugszeichen versehen. Die Bildung der Strahlen 400, 401 erfolgt nun unter Verwendung eines Kopplers 323, der zwei Fasern speist, die den Referenzstrahl 401 und den Meßstrahl 400 abgeben. Der Referenzstrahl 400 ist hinsichtlich der Weglänge durch einen Verschiebemechanismus einstellbar, wie er zuvor bereits beispielsweise anhand der 1 erläutert wurde. Zusätzlich ist auf dem Verschiebemechanismus aber noch die Optik 320 angeordnet, so daß sich mit der Verschiebung automatisch auch eine geeignete Fokussierung auf die Cornea 5 ergibt. Weiter sind die Dispersions-Kompensationsprismen 54' und 54'' in den Verschiebemechanismus derart eingebunden, daß eine Längenänderung des Lichtweges automatisch auch eine entsprechende angepaßte, d. h. dynamische Dispersions-Kompensation zur Folge hat. Ansonsten entspricht der Aufbau funktionell dem der 17. 18 shows a fiber optic design of the interferometer I of 17 , Again, unchanged or functionally identical components are provided with the same reference numerals. The formation of the rays 400 . 401 now takes place using a coupler 323 feeding two fibers that the reference beam 401 and the measuring beam 400 submit. The reference beam 400 is adjustable with respect to the path length by a displacement mechanism, as he previously already, for example, based on 1 was explained. In addition, on the shift mechanism but still the optics 320 arranged so that automatically with the shift also a suitable focus on the cornea 5 results. Next are the dispersion compensation prisms 54 ' and 54 '' involved in the displacement mechanism such that a change in length of the light path automatically has a corresponding adapted, ie dynamic dispersion compensation result. Otherwise, the structure corresponds functionally to the 17 ,

Zusätzlich ist zur Verdeutlichung noch das nach der Auswertung durch den Computer 200 dargestellte Monitor-Bild 201 gezeigt. Auch ist 18 zu entnehmen, daß der Meßstrahl M1, der zugleich auch als Referenzstrahl R wirkt, auf die Corneavorderfläche fokussiert ist. Es ist damit ein dynamischer Fokus erreicht, der an verschiedene Augenlängen angepaßt werden kann. Durch die verstellbare Optik 325 ist der Meßstrahl M2 so kollimiert, daß die optische Wirkung des Auges A den Meßstrahl M2 am Fundus 7 fokussiert.In addition, for clarification still after the evaluation by the computer 200 displayed monitor image 201 shown. Also is 18 can be seen that the measuring beam M1, which also acts as a reference beam R, is focused on the cornea front surface. It is thus achieved a dynamic focus that can be adapted to different eye lengths. Due to the adjustable optics 325 is the measuring beam M2 collimated so that the optical effect of the eye A the measuring beam M2 at the fundus 7 focused.

Bei verminderten Ansprüchen an die Signalqualität kann man die Strahlseparations-Vorrichtungen vereinfachen. Dann hat man mehrere Meßsignale gleichzeitig am Array und in der Fouriertransformierten. Entsprechende Strahlengänge sind in den 19 und 20 abgebildet. Es handelt sich um Vereinfachungen der Strahlengänge der Bauweise gemäß 16. Der Referenzspiegel 304.2 ist nun in beiden Anordnungen auf einem Verschiebetisch 304.4 montiert. Durch Bewegen dieses Verschiebetisches kann man an der synchronen Bewegung des zugehörigen Signalpeaks der Fouriertransformierten erkennen, zu welcher Probenfläche er gehört.With reduced signal quality requirements, one can simplify the beam separation devices. Then one has several measurement signals simultaneously on the array and in the Fourier transform. Corresponding beam paths are in the 19 and 20 displayed. It is about simplifications of the beam paths of the construction according to 16 , The reference mirror 304.2 is now in both arrangements on a translation table 304.4 assembled. By moving this displacement table, it can be seen from the synchronous movement of the associated signal peak of the Fourier transform, to which sample surface it belongs.

In der 20 ist der Referenzspiegel 304.1 durch einen teildurchlässigen Spiegel 304.3 ersetzt. Es können zwischen dem Strahlteiler 25 und dem Referenzspiegel 304.2 noch weitere teildurchlässige Referenzspiegel angeordnet werden. So können gleichzeitig zwei oder mehrere Referenzstrahlen im Referenzstrahlengang benutzt werden und mehrere in der Tiefe beabstandete Meßbereiche erfaßt werden. Diese weiteren Referenzspiegel können auf Verschiebetischen montiert werden, um die Meßflexibilität zu erhöhen.In the 20 is the reference mirror 304.1 through a partially transparent mirror 304.3 replaced. It can be between the beam splitter 25 and the reference mirror 304.2 even more semitransparent reference mirror can be arranged. Thus, two or more reference beams in the reference beam path can be used at the same time and a plurality of measuring areas spaced at a depth can be detected. These other reference mirrors can be mounted on translation tables to increase measurement flexibility.

Die Bauweise der 20 kann noch weiter abgewandelt werden. Dann weist das Spektrometer S ein Detektor-Array 43 mit mindestens 7000 Pixeln auf, z. B. 8000. Es wird dann mit nur einem Meßstrahl gearbeitet, und der teildurchlässige Spiegel 304.3 entfällt. Dadurch liegt im Interferometer I nur noch ein Referenzstrahlengang R vor. Die Augenlängenmessung erfolgt durch das pixelreiche Array 43 in Kombination mit geeigneter spektraler Auffächerung durch das Beugungsgitter 43 in einer Messung.The construction of the 20 can be further modified. Then, the spectrometer S has a detector array 43 with at least 7000 pixels on, z. B. 8000. It is then worked with only one measuring beam, and the partially transmissive mirror 304.3 eliminated. As a result, only one reference beam path R is present in the interferometer I. The eye length measurement is carried out by the pixel-rich array 43 in combination with appropriate spectral fanning by the diffraction grating 43 in one measurement.

Claims (28)

Vorrichtung zur interferometrischen Messung einer Probe (P), insbesondere des Auges (A), mit einer Kurzkohärenz-Interferometeranordnung (I), welche einen Meßstrahlengang, durch den ein Meßstrahl auf die Probe (P) fällt, und einen ersten Referenzstrahlengang (R) aufweist, durch den ein Referenzstrahl läuft, der mit dem Meßstrahl überlagert und zur Interferenz gebracht wird, dadurch gekennzeichnet, daß die Interferometeranordnung (I) mindestens einen zweiten Referenzstrahlengang (R2) aufweist, dessen optischen Weglänge sich von der des ersten Referenzstrahlenganges (R1) unterscheidet, wobei die Weglängendifferenz gemäß einem Abstand zweier in Tiefenrichtung der Probe (P) beabstandeter Probenbereiche (5, 6, 7) gewählt ist und wobei eine Steuereinrichtung (200) aus den detektierten überlagerten Strahlen mittels Fourier-Spektralanalyse unter Berücksichtigung der Weglängendifferenz der Referenzstrahlengänge (R1, R2) den Abstand der Probenbereiche (5, 6, 7) ermittelt.Apparatus for the interferometric measurement of a sample (P), in particular of the eye (A), having a short-coherence interferometer arrangement (I) which has a measuring beam path through which a measuring beam is incident on the sample (P) and a first reference beam path (R) through which passes a reference beam which is superimposed with the measuring beam and brought to interference, characterized in that the interferometer arrangement (I) has at least one second reference beam path (R2) whose optical path length differs from that of the first reference beam path (R1), wherein the path length difference is determined according to a distance of two sample regions spaced apart in the depth direction of the sample (P) ( 5 . 6 . 7 ) and wherein a control device ( 200 ) from the detected superimposed beams by means of Fourier spectral analysis taking into account the path length difference of the reference beam paths (R1, R2), the distance of the sample areas ( 5 . 6 . 7 ). Vorrichtung nach Anspruch 1 dadurch gekennzeichnet, daß die Interferometeranordnung (I) eine Überlagerungseinrichtung (25, 322) aufweist, die die Referenzstrahlen (53, 63, 73) aus den Referenzstrahlengängen (R1, R2) getrennt mit dem Meßstrahl (M) aus dem Meßstrahlengang überlagert und die derart überlagerten Strahlen dann an eine Detektoreinrichtung (S) zum Nachweis weiterleitet.Device according to Claim 1, characterized in that the interferometer arrangement (I) has an overlay device ( 25 . 322 ) having the reference beams ( 53 . 63 . 73 ) separated from the reference beam paths (R1, R2) with the measuring beam (M) from the Meßstrahlengang superimposed and then the superimposed beams then to a detector device (S) for detection forwards. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Überlagerungseinrichtung einen Umschaltmechanismus (322) zum Umschalten zwischen den zwei Referenzstrahlengängen (R1, R2) aufweist, so daß die Überlagerung für die zwei Referenzstrahlengänge (R1, R2) sequentiell erfolgt.Apparatus according to claim 2, characterized in that the overlay device comprises a switching mechanism ( 322 ) for switching between the two reference beam paths (R1, R2), so that the superposition for the two reference beam paths (R1, R2) is effected sequentially. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Überlagerungseinrichtung (25) zur getrennten Überlagerung eine Polarisationstrennung einsetzt, so daß die Überlagerung und das Weiterleiten zur Detektoreinrichtung (S) für die zwei Referenzstrahlengänge (R1, R2) nach Polarisation getrennt und gleichzeitig erfolgt.Apparatus according to claim 2, characterized in that the superposition device ( 25 ) for separate superposition uses a polarization separation, so that the superposition and the Forwarding to the detector device (S) for the two reference beam paths (R1, R2) separated according to polarization and takes place simultaneously. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Überlagerungseinrichtung (25) zur getrennten Überlagerung eine dichroitische Trennung einsetzt, so daß die Überlagerung und das Weiterleiten zur Detektoreinrichtung (S) für die zwei Referenzstrahlengänge (R1, R2) spektral getrennt und gleichzeitig erfolgt.Apparatus according to claim 2, characterized in that the superposition device ( 25 ) for separate superimposition uses a dichroic separation, so that the superposition and forwarding to the detector device (S) for the two reference beam paths (R1, R2) is spectrally separated and simultaneously. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Überlagerungseinrichtung (25) zur getrennten Überlagerung den Meßstrahl (M) in Meßstrahlbündel räumlich auftrennt und die aufgetrennten Meßstrahlbündel jeweils mit einem der Referenzstrahlen (53, 63, 73) aus einem der Referenzstrahlengänge (R1, R2, R3) überlagert, wobei zur räumlichen Auftrennung insbesondere eine Pupillenteilung eingesetzt ist.Apparatus according to claim 2, characterized in that the superposition device ( 25 ) spatially separates the measuring beam (M) into measuring beam bundles for separate superimposition and the separated measuring beam bundles each with one of the reference beams ( 53 . 63 . 73 ) is superimposed on one of the reference beam paths (R1, R2, R3), a pupil division being used in particular for the spatial separation. Vorrichtung nach einem der obigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens ein Spektrometer (S) vorgesehen ist, das die überlagerten Strahlen spektral analysiert und Meßsignale an die Steuereinrichtung (200) leitet.Device according to one of the above claims, characterized in that at least one spectrometer (S) is provided, which spectrally analyzes the superimposed beams and sends measuring signals to the control device (S). 200 ). Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß eine die Interferometeranordnung speisende, spektral durchstimmbare Strahlungsquelle (1) und eine spektral nicht-auflösende Detektoreinrichtung (S) zur Messung vorgesehen sind, wobei die Detektoreinrichtung (S) Meßsignale an die Steuereinrichtung (200) leitet, die unter Berücksichtigung der Durchstimmung der Strahlungsquelle (1) die Fourier-Spektralanalyse durchführt.Device according to one of Claims 1 to 6, characterized in that a spectrally tunable radiation source (FIG. 1 ) and a spectrally non-resolving detector device (S) are provided for the measurement, wherein the detector device (S) measuring signals to the control device ( 200 ), which, taking into account the tuning of the radiation source ( 1 ) performs the Fourier spectral analysis. Verfahren zur kurzkohärenz-interferometrischen Messung einer Probe, insbesondere des Auges, wobei durch einen Meßstrahlengang ein Meßstrahl auf die Probe gerichtet wird und mit einem Referenzstrahl, der einen ersten Referenzstrahlengang durchläuft, überlagert und zur Interferenz gebracht wird, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens ein zweiter Referenzstrahlengang vorgesehen wird, dessen optische Weglänge sich von der des ersten Referenzstrahlenganges unterscheidet, wobei die Weglängendifferenz gemäß einem Abstand zweier in Tiefenrichtung der Probe beabstandeter Probenbereiche gewählt wird und die überlagerte Strahlung detektiert und daraus mittels Fourier-Spektralanalyse unter Berücksichtigung der Weglängendifferenz der Referenzstrahlengänge der Abstand der Probenbereiche ermittelt wird.Method for short-coherence interferometric measurement a sample, in particular of the eye, wherein by a Meßstrahlengang a measuring beam is directed to the sample and with a reference beam, the one passes through the first reference beam path, superimposed and for interference is brought, characterized in that at least one second reference beam path is provided, whose optical path is different from that of the first Reference beam path is different, with the path length difference according to one Distance between two sample areas spaced in the depth direction of the sample chosen is and the superimposed Radiation detected and derived therefrom by means of Fourier spectral analysis the path length difference the reference beam paths the distance of the sample areas is determined. Verfahren nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlen aus den zwei Referenzstrahlengängen getrennt mit dem Meßstrahl aus dem ersten Meßstrahlengang überlagert, die derart überlagerten Strahlen detektiert und den beabstandeten Probenbereichen zugeordnete Meßsignale erzeugt werden.Method according to claim 9, characterized that the Rays from the two reference beam paths separated with the measuring beam superimposed from the first measuring beam path, the superimposed so Radiated detected and associated with the spaced sample areas measuring signals be generated. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen den zwei Referenzstrahlengängen sequentiell umgeschaltet wird, so daß der Meßstrahl sequentiell mit Strahlung aus dem ersten und dem zweiten Referenzstrahlengang überlagert wird und die überlagerten Strahlen sequentiell detektiert werden.Method according to claim 10, characterized in that that between the two reference beam paths is switched sequentially, so that the measuring beam sequentially with radiation superimposed from the first and the second reference beam path is and the superimposed Rays are detected sequentially. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß zur getrennten Überlagerung eine Polarisationstrennung einsetzt wird, so daß die getrennte Überlagerung und Detektion für die zwei Referenzstrahlengänge nach Polarisation getrennt und gleichzeitig erfolgt.Method according to claim 10, characterized in that that to separate overlay a polarization separation is used, so that the separate superposition and detection for the two reference beam paths separated according to polarization and carried out simultaneously. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß zur getrennten Überlagerung eine dichroitische Trennung einsetzt wird, so daß die getrennte Überlagerung und Detektion für die zwei Referenzstrahlengänge spektral getrennt und gleichzeitig erfolgt.Method according to claim 10, characterized in that that to separate overlay a dichroic separation is used so that the separate overlay and detection for the two reference beam paths spectrally separated and simultaneously. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß zur getrennten Überlagerung eine räumliche Auftrennung des Meßstrahls in Meßstrahlbündel erfolgt und die aufgetrennten Meßstrahlbündel jeweils mit einem der Referenzstrahlen überlagert werden, wobei zur räumlichen Auftrennung insbesondere eine Pupillenteilung eingesetzt wird.Method according to claim 10, characterized in that that to separate overlay a spatial Separation of the measuring beam takes place in Meßstrahlbündel and the separated Meßstrahlbündel respectively be superimposed with one of the reference beams, being to the spatial Separation in particular a pupil division is used. Verfahren nach einem der obigen Verfahrensansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die überlagerten Strahlen spektral selektiv detektiert werden.Method according to one of the above method claims, characterized characterized in that the superimposed Radiation spectrally selectively detected. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlung spektral durchgestimmt und die überlagerten gebrachten Strahlen spektral nichtauflösend detektiert werden.Method according to one of claims 9 to 14, characterized that the Radiation spectrally tuned and the superimposed beams brought spectrally non-resolving be detected. Vorrichtung zur interferometrischen Messung einer Probe (P), insbesondere des Auges (A), mit einer Kurzkohärenz-Interferometeranordnung (I), welche einen Meßstrahlengang, durch den ein Meßstrahl auf die Probe (P) fällt, und einen Referenzstrahlengang (R) aufweist, durch den ein Referenzstrahl läuft, der mit dem Meßstrahl überlagert und zur Interferenz gebracht wird, dadurch gekennzeichnet, daß der Referenzstrahlengang (R) die Probe (P) umfaßt, wobei Referenzstrahl (401) und Meßstrahl (400) gegeneinander in Strahlrichtung um eine bestimmte Weglängendifferenz versetzt sind und der Referenzstrahl (401) an einem ersten Probenbereich (5) und der Meßstrahl (400) an einem zweiten Probenbereich (7) der Probe (P) reflektiert und/oder rückgestreut sind und die Interferenz zwischen Meßstrahl (400) und Referenzstrahl (401) vom Abstand zwischen den beiden Probenbereichen (5, 7) abhängt, wobei eine Steuereinrichtung (200) aus den überlagerten detektierten Strahlen mittels Fourier-Spektralanalyse unter Berücksichtigung der Weglängendifferenz den Abstand der Probenbereiche (5, 7) ermittelt.Apparatus for the interferometric measurement of a sample (P), in particular of the eye (A), having a short-coherence interferometer arrangement (I) which has a measuring beam path through which a measuring beam is incident on the sample (P) and a reference beam path (R), through which passes a reference beam which is superimposed with the measuring beam and brought to interference, characterized in that the reference beam path (R) comprises the sample (P), reference beam ( 401 ) and measuring beam ( 400 ) are offset from each other in the beam direction by a certain path length difference and the reference beam ( 401 ) at a first sample area ( 5 ) and the measuring beam ( 400 ) at a second sample area ( 7 ) of the sample (P) are reflected and / or backscattered and the interference between the measuring beam ( 400 ) and reference beam ( 401 ) of the distance between the two sample areas ( 5 . 7 ), whereby a control device ( 200 ) from the superimposed detected beams by Fourier spectral analysis taking into account the path length difference the distance of the sample areas ( 5 . 7 ). Vorrichtung nach Anspruch 17, gekennzeichnet durch eine kurzkohärente Strahlquelle (1), die Strahlung abgibt, aus der der Meßstrahl (400) und der Referenzstrahl (401) gewonnen sind, wobei Meßstrahl und Referenzstrahl koaxial auf die Probe (P) einfallen und gegeneinander um mehr als die Kohärenzlänge versetzt sind.Apparatus according to claim 17, characterized by a short-coherent beam source ( 1 ) emitting radiation from which the measuring beam ( 400 ) and the reference beam ( 401 ) are obtained, wherein measuring beam and reference beam coaxially incident on the sample (P) and are mutually offset by more than the coherence length. Vorrichtung nach Anspruch 17 oder 18, dadurch gekennzeichnet, daß der Referenz- und/oder Meßstrahlengang ein vorzugsweise verstellbares Fokussierelement (320) aufweist, um für Messungen am Auge (A) den durch den Referenz- bzw. Meßstrahlengang laufenden Strahl auf die Augennetzhaut (7) oder die Augenhornhaut (5) zu fokussieren.Apparatus according to claim 17 or 18, characterized in that the reference and / or Meßstrahlengang a preferably adjustable focusing element ( 320 ) for measurements on the eye (A), the beam passing through the reference or Meßstrahlengang beam to the retina ( 7 ) or the cornea ( 5 ) to focus. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 17 bis 19, dadurch gekennzeichnet, daß der Meßstrahlengang oder der Referenzstrahlengang ein dispersionskompensierendes Element (54', 54'') aufweist, um für Messungen am Auge (A) hinsichtlich Dispersionseinflüssen des Auges (A) auf den durch den Meßstrahl (400) zu kompensieren.Device according to one of Claims 17 to 19, characterized in that the measuring beam path or the reference beam path is a dispersion-compensating element ( 54 ' . 54 '' ) for measurements on the eye (A) with respect to the influence of the influence of the eye (A) on the 400 ) to compensate. Vorrichtung nach den Ansprüchen 19 und 20, dadurch gekennzeichnet, daß das dispersionskompensierende Element (54', 54'') und das Fokussierelement (320) jeweils verstellbar sind, wobei eine mechanische oder elektrischen Kopplung vorgesehen ist, die eine synchrone Verstellung von dispersionskompensierendem Element (54', 54'') und Fokussierelement (320) bewirkt.Device according to Claims 19 and 20, characterized in that the dispersion-compensating element ( 54 ' . 54 '' ) and the focusing element ( 320 ) are each adjustable, wherein a mechanical or electrical coupling is provided which a synchronous adjustment of dispersion-compensating element ( 54 ' . 54 '' ) and focusing element ( 320 ) causes. Verfahren zur kurzkohärenz-interferometrischen Messung einer Probe, insbesondere des Auges, wobei durch einen Meßstrahlengang ein Meßstrahl auf die Probe gerichtet wird und mit einem Referenzstrahl, der einen Referenzstrahlengang durchläuft, überlagert und zur Interferenz gebracht wird, dadurch gekennzeichnet, daß der Referenzstrahlengang die Probe umfaßt, der Referenzstrahl und Meßstrahl gegeneinander in Strahlrichtung um eine bestimmte Weglängendifferenz versetzt sind und, der Referenzstrahl an einem ersten Probenbereich und der Meßstrahl an einem zweiten Probenbereich der Probe reflektiert und/oder rückgestreut werden und der Abstand zwischen den beiden Probenbereichen aus der Interferenz zwischen Meß- und Referenzstrahl bestimmt wird, wobei die überlagerte Strahlung detektiert und daraus mittels Fourier-Spektralanalyse unter Berücksichtigung der Weglängendifferenz der Abstand der Probenbereiche ermittelt wird.Method for short-coherence interferometric measurement a sample, in particular of the eye, wherein by a Meßstrahlengang a measuring beam is directed to the sample and with a reference beam, the one Traverses reference beam path, superimposed and brought to interference, characterized in that the reference beam path the sample comprises the reference beam and measuring beam against each other in the beam direction by a certain path length difference are offset and, the reference beam at a first sample area and the measuring beam reflected at a second sample area of the sample and / or backscattered be and the distance between the two sample areas from the Interference between measuring and reference beam is determined, wherein the superimposed radiation detected and from this by means of Fourier spectral analysis under consideration the path length difference the distance of the sample areas is determined. Verfahren nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, daß für Meß- und Referenzstrahl Strahlung aus einer kurzkohärenten Strahlquelle verwendet wird, wobei Meßstrahl und Referenzstrahl koaxial und gegeneinander versetzt auf die Probe gerichtet werden.Method according to claim 22, characterized in that that for measuring and reference beam radiation from a short-coherent Beam source is used, wherein measuring beam and reference beam be directed coaxially and offset from one another to the sample. Verfahren nach Anspruch 22 oder 23, dadurch gekennzeichnet, daß für Messungen am Auge der Meßstrahl und/oder Referenzstrahl mittels eines vorzugsweise verstellbaren Fokussierelement auf die Augennetzhaut oder die Augenhornhaut fokussiert wird.Method according to claim 22 or 23, characterized that for measurements on the eye the measuring beam and / or reference beam by means of a preferably adjustable Focusing is focused on the retina or the cornea. Verfahren nach einem der Ansprüche 22 bis 24, dadurch gekennzeichnet, daß für Messungen am Auge der Meßstrahl oder der Referenzstrahl mittels eines vorzugsweise verstellbaren dispersionskompensierendes Elementes hinsichtlich Dispersionseinflüssen des Auges auf den Meßstrahl kompensiert wird.Method according to one of claims 22 to 24, characterized that for measurements on the eye the measuring beam or the reference beam by means of a preferably adjustable Dispersion compensating element with respect to dispersion influences of Eye on the measuring beam is compensated. Verfahren nach den Ansprüchen 24 und 25, dadurch gekennzeichnet, daß das dispersionskompensierende Element und das Fokussierelement synchron verstellt werden.Process according to Claims 24 and 25, characterized that this dispersion compensating element and the focusing element synchronously be adjusted. Vorrichtung zur interferometrischen Messung einer Probe (P), insbesondere des Auges (A), mit einer Kurzkohärenz-Interferometeranordnung (I), welche einen Meßstrahlengang (M), durch den ein Meßstrahl auf die Probe fällt, und einen Referenzstrahlengang (R) aufweist, durch den ein Referenzstrahl läuft, der mit dem Meßstrahl überlagert und zur Interferenz gebracht wird, dadurch gekennzeichnet, daß eine Spektrometeranordnung die überlagerten Strahlen detektiert, die ein die Strahlen spektral auffächerndes Element und ein Dektor-Array aufweist, das mindestens 7000 einzelne photoempfindliche Zellen aufweist.Device for the interferometric measurement of a Sample (P), in particular of the eye (A), with a short-coherence interferometer arrangement (I), which a Meßstrahlengang (M), through which a measuring beam falls to the test and a reference beam path (R) through which a reference beam is running, the superposed with the measuring beam and to interference, characterized in that a spectrometer arrangement the superimposed ones Radiation detected, which is a spectrally fanning the radiation elements and a detector array comprising at least 7000 individual photosensitive Comprising cells. Verfahren zur kurzkohärenz-interferometrischen Messung einer Probe, insbesondere des Auges, wobei durch einen Meßstrahlengang ein Meßstrahl auf die Probe gerichtet wird und mit einem Referenzstrahl, der einen Referenzstrahlengang durchläuft, überlagert und zur Interferenz gebracht wird, dadurch gekennzeichnet, daß zur Detektion der überlagerten Strahlen eine Spektrometeranordnung verwendet wird, die ein die Strahlen spektral auffächerndes Element und ein Dektor-Array aufweist, das mindestens 7000 einzelne photoempfindliche Zellen aufweist.Method for short-coherence interferometric measurement a sample, in particular of the eye, wherein by a Meßstrahlengang a measuring beam is directed to the sample and with a reference beam, the one Traverses reference beam path, superimposed and to interference, characterized in that for detection the superimposed Blasting a spectrometer arrangement is used, the one the Rays spectrally fanning Element and a detector array that has at least 7000 individual having photosensitive cells.
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