DE10297428T5 - Wellenlängerdispersions-Abtastsystem - Google Patents
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- G01M11/3163—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR by measuring dispersion
Abstract
Wellenlängendispersions-Abtastsystem,
das Folgendes aufweist:
einen Einfallsmechanismus, gepulstes Licht, bei dem ein Intensitätsverhältnis von zwei Wellenlängenkomponenten mit einem vorbestimmten Abstand justierbar eingestellt ist, in ein Ende eines zu untersuchenden Lichtwellenleiters eintreten zu lassen;
eine Intensitätsverhältnis-Einstelleinheit zum Einstellen des Intensitätsverhältnisses von zwei Wellenlängenkomponenten für den Einfallsmechanismus;
eine Detektionseinheit zum Detektieren von Stalks-Licht und/oder Anti-Stalks-Licht in rücklaufendem Licht, das von einem Ende des zu untersuchenden Lichtwellenleiters emittiert wird, und Erzeugen eines elektrischen Detektionssignals;
eine Frequenzrecheneinheit zum Berechnen einer Frequenz des Detektionssignals;
eine Wellenlängendispersions-Recheneinheit zum Berechnen der Wellenlängendispersion des zu untersuchenden Lichtwellenleiters auf Basis der von der Frequenzrecheneinheit berechneten Frequenz; und
eine Vorzeichen-Beurteilungseinheit zum Beurteilen eines Vorzeichens der Wellenlängendispersion auf Basis der mehrfachen Berechnungsergebnisse der Wellenlängendispersion durch die Frequenzrecheneinheit, durchgeführt vor und nach Modifizieren des Intensitätsverhältnisses von zwei Wellenlängenkomponenten durch die Intensitätsverhältnis-Einstelleinheit.
einen Einfallsmechanismus, gepulstes Licht, bei dem ein Intensitätsverhältnis von zwei Wellenlängenkomponenten mit einem vorbestimmten Abstand justierbar eingestellt ist, in ein Ende eines zu untersuchenden Lichtwellenleiters eintreten zu lassen;
eine Intensitätsverhältnis-Einstelleinheit zum Einstellen des Intensitätsverhältnisses von zwei Wellenlängenkomponenten für den Einfallsmechanismus;
eine Detektionseinheit zum Detektieren von Stalks-Licht und/oder Anti-Stalks-Licht in rücklaufendem Licht, das von einem Ende des zu untersuchenden Lichtwellenleiters emittiert wird, und Erzeugen eines elektrischen Detektionssignals;
eine Frequenzrecheneinheit zum Berechnen einer Frequenz des Detektionssignals;
eine Wellenlängendispersions-Recheneinheit zum Berechnen der Wellenlängendispersion des zu untersuchenden Lichtwellenleiters auf Basis der von der Frequenzrecheneinheit berechneten Frequenz; und
eine Vorzeichen-Beurteilungseinheit zum Beurteilen eines Vorzeichens der Wellenlängendispersion auf Basis der mehrfachen Berechnungsergebnisse der Wellenlängendispersion durch die Frequenzrecheneinheit, durchgeführt vor und nach Modifizieren des Intensitätsverhältnisses von zwei Wellenlängenkomponenten durch die Intensitätsverhältnis-Einstelleinheit.
Description
- Technisches Gebiet
- Die vorliegende Erfindung betrifft ein Wellenlängendispersions-Abtastsystem, welches die Wellenlängendispersion und ihr Vorzeichen eines Lichtwellenleiters bestimmt.
- Technischer Hintergrund
- Ein für Anwendungen wie z.B. Datenübertragung verwendeter Lichtwellenleiter hat im Allgemeinen eine Wellenlängenabhängigkeit in Längsrichtung. Aus diesem Grunde muss man diese Wellenlängenabhängigkeit berücksichtigen, insbesondere um unter Verwendung eines Lichtwellenleiters, der für einen Kanal verwendet wird, dessen Leitungslänge groß ist, ein Signal exakt zu übertragen. Was diese Wellenlängenabhängigkeit ausdrückt, ist eine "verteilte Abbildung". Diese verteilte Abbildung zeigt die Beziehung zwischen der Distanz in der Längsrichtung und der Wellenlängendispersion eines Lichtwellenleiters. Als Stand der Technik zur Bestimmung einer verteilten Abbildung ist eine Vorrichtung bekannt, die in der japanischen Patentoffenlegung Nr.
10-83006 - Das Arbeitsprinzip dieser Vorrichtung ist, Stalks-Licht oder Anti-Stalks-Licht im rücklaufenden Licht zu detektieren, das erhalten wird, indem das gepulste Licht, in dem zwei Arten von Strahlen mit Wellenlängen λ1 und λ2 enthalten sind, in einen Lichtwellenleiter eintreten gelassen wird, und die Wellenlängendispersion D auf Basis einer Frequenz dieser Detektionsausgangsgröße zu erhalten. Unter Verwendung dieses Verfahren wird es möglich, die verteilte Abbildung, die die Beziehung zwischen der Distanz z entlang der Längsrichtung des Lichtwellenleiters und der Wellenlängendispersion D an dessen Ort zeigt, durch ein Verfahren wie optische Zeitdomänen-Reflektometrie (OTDR) genau und leicht zu erzeugen.
- Übrigens, da die Berechnung der Wellenlängendispersion D unter Verwendung der in der oben erwähnten Veröffentlichung offenbarten Vorrichtung auf Basis der Frequenz der Intensitätsamplitude des detektierten Lichts rechnet, kann nur der Absolutwert gefunden werden, jedoch besteht das Problem, dass kein Vorzeichen bekannt ist. Verwendet man einen Lichtwellenleiter jedoch tatsächlich als einen Kanal, ist auch das Vorzeichen der Wellenlängendispersion D erforderlich. Zum Beispiel, werden bei Auslegung des Kanals, welcher eine Güte hat, bei der die Wellenlängendispersion meist als Ganzes vernachlässigt werden kann, zwei oder mehr Arten von Lichtwellenleitern, die vorbestimmte Wellenlängendispersion haben, verbunden, wird es wichtig, ob die Wellenlängendispersion einen positiven Wert hat oder einen negativen Wert hat. Da das Vorzeichen der Wellenlängendispersion durch das in der oben erwähnten Veröffentlichung offenbarte Verfahren nicht gefunden wird, wird das Vorzeichen der Wellenlängendispersion durch ein anderes Verfahren gemessen, und daher besteht das Problem, dass die Bestimmung Mühe und Zeit erfordert, da man Vorrichtungen wechseln muss, die Lichtwellenleiter verbinden, oder eine Vorrichtung herstellen muss, die das Vorzeichen der Wellenlängendispersion zusätzlich zu der verteilten Abbildung bestimmt.
- Offenbarung der Erfindung
- Die vorliegende Erfindung wird angesichts solcher Punkte geschaffen und hat zum Ziel, ein Wellenlängendispersions-Abtastsystem bereitzustellen, das den Wert der Wellenlängendispersion und ihr Vorzeichen bestimmen kann und die für die Bestimmung nötige Mühe und Zeit vermindern kann.
- Das Wellenlängendispersions-Abtastsystem der vorliegenden Erfindung enthält einen Einfallsmechanismus, gepulstes Licht, bei dem ein Intensitätsverhältnis von zwei Wellenlängenkomponenten mit einem vorbestimmten Abstand justierbar eingestellt ist, in ein Ende eines zu untersuchenden Lichtwellenleiters eintreten zu lassen, eine Intensitätsverhältnis-Einstelleinheit zum Einstellen des Intensitätsverhältnisses von zwei Wellenlängenkomponenten für diesen Einfallsmechanismus, eine Detektionseinheit zum Detektieren von Stalks-Licht und/oder Anti-Stalks-Licht in rücklaufendem Licht, das von einem Ende des zu untersuchenden Lichtwellenleiters emittiert wird, und Erzeugen eines elektrischen Detektionssignals, eine Frequenzrecheneinheit zum Berechnen einer Frequenz des Detektionssignals, eine Wellenlängendispersions-Recheneinheit zum Berechnen der Wellenlängendispersion des zu untersuchenden Lichtwellenleiters auf Basis der von der Frequenzrecheneinheit berechneten Frequenz, und eine Vorzeichen-Beurteilungseinheit zum Bestimmen eines Vorzeichens der Wellenlängendispersion auf Basis der mehrfachen Berechnungsergebnisse der Wellenlängendispersion durch die Frequenzrecheneinheit, durchgeführt vor und nach Modifizieren des Intensitätsverhältnisses von zwei Wellenlängenkomponenten durch die Intensitätsverhältnis-Einstelleinheit.
- Man kann die Wellenlängendispersion und ihr Vorzeichen bloß durch Ändern des Intensitätsverhältnisses von zwei in den zu untersuchenden Lichtwellenleiter eintretenden Wellenlängenkomponenten und Wiederholen der Bestimmung der Wellenlängendispersion erhalten. Im Vergleich mit dem Fall, dass die Wellenlängendispersion und ihr Vorzeichen durch getrennte Vorrichtungen bestimmt werden, wird es insbesondere möglich, die Mühe und Zeit der Bestimmung stark zu vermindern.
- Außerdem ist es erwünscht, die Vorzeichenbeurteilung der Wellenlängendispersion durch die Vorzeichen-Beurteilungseinheit nicht nur dadurch durchzuführen, das Intensitätsverhältnis von zwei Wellenlängenkomponenten durch die oben erwähnte Intensitätsverhältnis-Einstelleinheit auf 1 zu 2 einzustellen und die Wellenlängendispersion durch die Wellenlängendispersions-Recheneinheit zu erhalten, sondern auch das Intensitätsverhältnis von zwei Wellenlängenkomponenten durch die Intensitätsverhältnis-Einstelleinheit auf ausgenommen 1 zu 2 einzustellen und einen durch die Wellenlängendispersions-Recheneinheit berechneten Wert mit dem Wert der Wellenlängendispersion zu vergleichen. Man kann das Vorzeichen der Wellenlängendispersion leicht erfahren, indem ein Erzeugungszustand eines Abstands untersucht wird, da dieser Abstand in der Richtung in Übereinstimmung mit dem Vorzeichen der Wellenlängendispersion erzeugt wird, indem dieses Intensitätsverhältnis auf ausgenommen 1 zu 2 eingestellt wird, wenn die exakte Wellenlängendispersion erhalten wird, wenn das Intensitätsverhältnis zweier Wellenlängenkomponenten auf 1 zu 2 eingestellt wird.
- Außerdem ist es erwünscht, dass der oben erwähnte Einfallsmechanismus zwei Lichtquellen, die jeweils unabhängig Licht zweier Wellenlängenkomponenten erzeugen, einen optischen Multiplexer, der das von den zwei Lichtquellen ausgegebene Licht vereinigt, eine Impulsformeinheit, die aus dem Ausgangslicht des optischen Multiplexers Impulse formt, und einen Lichtabschwächer enthält, der in die Strecke von den zwei Lichtquellen zum optischen Multiplexer eingefügt ist und die Intensität des von mindestens einer der zwei Lichtquellen ausgegebenen Lichts ändert. Alternativ ist es erwünscht, dass der oben erwähnte Einfallsmechanismus zwei Lichtquellen, die jeweils unabhängig Licht zweier Wellenlängenkomponenten erzeugen, einen optischen Multiplexer, der das von den zwei Lichtquellen ausgegebene Licht vereinigt, eine Impulsformeinheit, die aus dem Ausgangslicht des optischen Multiplexers Impulse formt, und einen Modulator enthält, der in die Strecke von den zwei Lichtquellen zum optischen Multiplexer eingefügt ist und das von mindestens einer der zwei Lichtquellen ausgegebene Licht justierbar abschwächt. Alternativ ist es erwünscht, dass der oben erwähnte Einfallsmechanismus zwei Lichtquellen, die jeweils unabhängig Licht zweier Wellenlängenkomponenten erzeugen, deren Intensitäten justierbar sind, einen optischen Multiplexer, der das von zwei Lichtquellen ausgegebene Licht vereinigt, und eine Impulsformeinheit enthält, die aus dem Ausgangslicht des optischen Multiplexers Impulse formt. Diese Verfahren ermöglichen es, das Intensitätsverhältnis von Licht zweier Wellenlängenkomponenten beliebig einzustellen und die Bestimmung der Wellenlängendispersion und ihre Vorzeichenbeurteilung durchzuführen, ohne der Arbeitsweise einen besonderen Aufbau hinzuzufügen oder die Verbindung des zu untersuchenden Lichtwellenleiters zu ändern.
- Außerdem ist es erwünscht, dass der oben erwähnte Einfallsmechanismus weiterhin einen Zirkulator enthält, der nicht nur das Ausgangslicht des optischen Multiplexers in ein Ende des zu untersuchenden Lichtwellenleiters eintreten lässt, sondern auch das von diesem Ende emittierte rücklaufende Licht in die Detektionseinheit eintreten lässt. Dies ermöglicht es nicht nur, gepulstes Licht mit wenig Verlust in den zu untersuchenden Lichtwellenleiter eintreten zu lassen, sondern auch, das rücklaufende Licht aus dem zu untersuchenden Lichtwellenleiter zu der Detektionseinheit zu leiten.
- Weiterhin ist es erwünscht, dass die oben erwähnte Detektionseinheit ein optisches Filter, das Stalks-Licht oder Anti-Stalks-Licht extrahiert, welches ein im rücklaufenden Licht enthaltenes Detektionsziel ist, und eine Detektionssignalformeinheit enthält, die die Intensität der durch das Durchlaufen des optischen Filters extrahierten Lichtkomponente detektiert und ein Detektionssignal erzeugt. Infolgedessen wird es möglich, nur eine Lichtkomponente zu extrahieren, die für die Bestimmung der Wellenlängendispersion notwendig ist, und ihre Intensität zu detektieren.
- Außerdem ist es erwünscht, weiterhin eine Anzeigeeinheit einzuschließen, die ein Vorzeichen als Beurteilungsergebnis durch die oben erwähnte Vorzeichenbeurteilungseinheit visuell und identifizierbar anzeigt. Dies erleichtert die Arbeit, das Vorzeichen der Wellenlängendispersion zu prüfen.
- Ein Wellenlängendispersions-Abtastverfahren der vorliegenden Erfindung umfasst einen Schritt, gepulstes Licht, bei dem ein Intensitätsverhältnis von zwei Wellenlängenkomponenten mit einem vorbestimmten Abstand justierbar eingestellt ist, in ein Ende eines zu untersuchenden Lichtwellenleiters eintreten zu lassen, einen Schritt, ein Intensitätsverhältnis von zwei Wellenlängenkomponenten einzustellen, einen Schritt, Stalks-Licht und/oder Anti-Stalks-Licht in dem rücklaufenden Licht, das von einem Ende des zu untersuchenden Lichtwellenleiters emittiert wird, zu detektieren und ein elektrisches Detektionssignal zu erzeugen, einen Schritt, eine Frequenz des Detektionssignals zu berechnen, einen Schritt, die Wellenlängendispersion des zu untersuchenden Lichtwellenleiters auf Basis der berechneten Frequenz des Detektionssignals zu berechnen, und einen Schritt, ein Vorzeichen der Wellenlängendispersion auf Basis der mehrfachen Berechnungsergebnisse der Wellenlängendispersion durch die Frequenzrecheneinheit, durchgeführt vor und nach Modifizieren des Intensitätsverhältnisses von zwei Wellenlängenkomponenten, zu bestimmen. Indem man dieses Wellenlängendispersions-Messverfahren durchführt, kann man die Wellenlängendispersion und ihr Vorzeichen bloß durch Ändern des Intensitätsverhältnisses von zwei in den zu untersuchenden Lichtwellenleiter eintreten gelassenen Arten von Wellenlängenkomponenten und Wiederholen der Bestimmung der Wellenlängendispersion erhalten. Im Vergleich mit dem Fall, dass die Wellenlängendispersion und ihr Vorzeichen durch getrennte Vorrichtungen bestimmt werden, wird es insbesondere möglich, die Mühe und Zeit der Bestimmung stark zu vermindern.
- Kurze Beschreibung der Zeichnungen
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1 ist eine Skizze, die den Aufbau eines Wellenlängendispersions-Abtastsystems einer Ausführungsform zeigt; -
2 ist ein Graph, der die Beziehung zwischen der Wellenlängendispersion, ermittelt mit Einstellung eines Intensitätsverhältnisses von zwei Wellenlängenkomponenten auf 1 zu 2, und der Wellenlängendispersion, ermittelt mit dessen Einstellung auf 1 zu 1, wenn das Vorzeichen der Wellenlängendispersion positiv ist, zeigt; -
3 ist ein Graph, der die Beziehung zwischen der Wellenlängendispersion, ermittelt mit Einstellung eines Verhältnisses von P1 und P2 auf 1 zu 2, und der Wellenlängendispersion, ermittelt mit dessen Einstellung auf 1 zu 1, wenn das Vorzeichen der Wellenlängendispersion negativ ist, zeigt; und -
4 ist ein Flussdiagramm, das die Betriebsprozedur des Dispersionsabtastsystems zeigt, das die Bestimmung der Wellenlängendispersion und Beurteilung ihres Vorzeichens durchführt. - Beste Art der Ausführung der Erfindung
- Es folgt eine Beschreibung eines Wellenlängendispersions-Abtastsystems, auf das die vorliegende Erfindung angewendet wird, unter Bezugnahme auf die Zeichnungen.
-
1 ist eine Skizze, die den Aufbau des Wellenlängendispersions-Abtastsystems einer Ausführungsform zeigt. Das in1 gezeigte Wellenlängendispersions-Abtastsystem dient zur Bestimmung der Wellenlängendispersion D und ihres Vorzeichens eines Lichtwellenleiters100 als zu untersuchender Lichtwellenleiter (FUT). Dieses Wellenlängendispersions-Abtastsystem enthält Lichtquellen10 und12 , Lichtabschwächer14 und16 , einen optischen Multiplexer18 , einen Phasenmodulator20 , optische Verstärker22 und26 , einen akustooptischen Modulator (AOM)24 , einen Zirkulator28 und einen optischen Empfänger30 . - Die zwei Lichtquellen
10 und12 geben kontinuierliches Licht (CW-Licht) mit Wellenlängen λ1 bzw. λ2 aus, die um δλ zueinander verschoben sind. Der Lichtabschwächer14 justiert die Intensität des von der einen Lichtquelle10 her eintretenden Lichts auf der Wellenlänge λ1, indem die Abschwächung des durchgelassenen Lichts justierbar geändert wird und es emittiert wird. Ähnlich ändert der Lichtabschwächer16 justierbar die Intensität des von der anderen Lichtquelle12 her eintretenden Lichts auf der Wellenlänge λ2, indem die Abschwächung des durchgelassenen Lichts justierbar geändert wird und es emittiert wird. - Der optische Multiplexer
18 vereinigt das von den zwei Lichtabschwächern14 bzw.16 emittierte Licht mit zwei Arten von Wellenlängen λ1 und λ2. Der Phasenmodulator20 führt Phasenmodulation des vom optischen Multiplexer18 her eingetretenen Lichts durch. Die Linienbreite des Lichts wird durch diese Phasenmodulation größer. Der optische Verstärker22 verstärkt das vom Phasenmodulator20 emittierte Licht. Der akustooptische Modulator24 formt das vom optischen Verstärker22 her eingetretene kontinuierliche Licht in Impulse um. Der optische Verstärker26 verstärkt das vom akustooptischen Modulator24 in Impulse umgeformte Licht und erzeugt das gepulste Licht mit großer Amplitude. Das gepulste Licht wird über den Zirkulator28 in ein Ende des Lichtwellenleiters100 eintreten gelassen. - Der Zirkulator
28 hat ein Einfallsende a, mit dem ein Emissionsende des optischen Verstärkers26 verbunden ist, ein Einfalls- und Emissionsende b, mit dem ein Ende des Lichtwellenleiters100 verbunden ist, und ein Emissionsende c, mit dem der optische Empfänger30 verbunden ist. Während das in das Einfallsende a eingetretene Licht vom Einfalls- und Emissionsende b emittiert wird, wird das in das Einfalls- und Emissionsende b eingetretene Licht vom Emissionsende c emittiert. Daher emittiert der Zirkulator28 das durch Rayleigh-Rückstreuung dieses Lichtwellenleiters100 erzeugte rücklaufende Licht zum optischen Empfänger30 , während er das vom optischen Verstärker26 her eingetretene gepulste Licht in Richtung auf den Lichtwellenleiter100 emittiert. Mittels des Zirkulators28 ist es mit wenig Verlust möglich, das gepulste Licht in ein Ende des Lichtwellenleiters100 eintreten zu lassen, aber auch das rücklaufende Licht aus diesem Lichtwellenleiter100 zum optischen Empfänger30 zu leiten. - Der optische Empfänger
30 bestimmt die Wellenlängendispersion und ihr Vorzeichen des Lichtwellenleiters100 auf Basis des vom Zirkulator28 emittierten rücklaufenden Lichts des Lichtwellenleiters100 . Aus diesen Grunde enthält der optische Empfänger30 einen Impulsgenerator32 , einen ER-Lichtwellenleiter-Verstärker34 , ein justierbares schmalbandiges optisches Filter36 , einen Photodetektor (DET)38 , einen Strom/Spannung(I/V)-Wandler40 , ein Bandpassfilter (BPF)42 , einen Verstärker44 , ein Oszilloskop46 , einen Wellenlängendispersions-Rechenteil48 , einen Vorzeichenbeurteilungsteil50 , einen Anzeigeteil52 und einen Steuerteil60 . - Der Impulsgenerator
32 erzeugt ein Impulssignal, das in den akustooptischen Modulator24 eingegeben wird. - Der ER-Lichtwellenleiter-Verstärker
34 ist ein Lichtwellenleiter-Verstärker, dem Erbium beigegeben ist, und verstärkt das vom Zirkulator28 her eingetretene rücklaufende Licht. Bei der Wellenlängendispersionsbestimmung dieser Ausführungsform wird zwar das Stalks-Licht oder Anti-Stalks-Licht verwendet, das in dem vom Lichtwellenleiter100 emittierten rücklaufenden Licht enthalten ist, dieses durch ein nichtlineares Phänomen dritter Ordnung durch Mischen von vier Lichtwellen auftretende Licht ist aber sehr winzig und wird durch den ER-Lichtwellenleiter-Verstärker34 verstärkt. - Das justierbare schmalbandige optische Filter
36 lässt selektiv nur das Licht mit der Wellenlänge λS von Stalks-Licht oder Wellenlänge λA von Anti-Stalks-Lichts durch, das Gegenstand der Wellenlängenbestimmung wird. Der Photodetektor38 detektiert das durch das justierbare schmalbandige optische Filter36 hindurchgegangene Licht (Stalks-Licht oder Anti-Stalks-Licht). Zum Beispiel wird vom Photodetektor38 ein Strom mit einem zur Intensität des detektierten Lichts proportionalen Wert ausgegeben. Der Strom/Spannung-Wandler40 wandelt den Ausgangsstrom des Photodetektors38 in eine Spannung um. - Das Bandpassfilter
42 empfängt das vom Strom/Spannung-Wandler40 in eine Spannung umgewandelte Detektionssignal und lässt eine Frequenzkomponente von zum Beispiel 50 kHz bis 300 kHz durch. Dadurch wird nur die Komponente extrahiert, die für die Bestimmung des Stalks-Lichts oder Anti-Stalks-Lichts erforderlich ist. Der Verstärker44 verstärkt das durch das Bandpassfilter42 hindurchgehende Detektionssignal elektrisch. Indem elektrische Verstärkung durchgeführt wird, nachdem der Photodetektor38 die Intensität des vom justierbaren schmalbandigen optischen Filter36 extrahierten Lichts detektiert hat, wird es möglich, nur die für die Bestimmung der Wellenlängendispersion nötige Lichtkomponente zu extrahieren und ihre Intensität zu detektieren. - Das Oszilloskop
46 ruft einerseits das von Verstärker44 verstärkte Detektionssignal durch digitales Abtasten mit einer vorbestimmten Frequenz ab und hält es fest und zeigt seinen Inhalt an. Außerdem hat dieses Oszilloskop46 eine Speicherfunktion, die unter den gleichen Bedingungen wiederholt erhaltenen Daten des Detektionssignals abzurufen und anzusammeln, und eine Funktion, diese angesammelten Daten nach außen auszugeben. - Der Wellenlängendispersions-Rechenteil
48 berechnet die Wellenlängendispersion des Lichtwellenleiters entsprechend den Wellenlängen λ1 und λ2 auf Basis der vom Oszilloskop46 festgehaltenen Daten. Der Vorzeichenbeurteilungsteil50 beurteilt das Vorzeichen der Wellenlängendispersion auf Basis der vom Wellenlängendispersions-Rechenteil48 berechneten Wellenlängendispersion. Der Anzeigeteil52 zeigt das Berechnungsergebnis des Wellenlängendispersions-Rechenteils48 und das Beurteilungsergebnis des Vorzeichenbeurteilungsteils50 an. Die Anzeige dieses Beurteilungsergebnisses (Vorzeichen der Wellenlängendispersion) erfolgt leicht erkennbar durch einen gerade hinsehenden Benutzer. Zum Beispiel, wenn das Vorzeichen der Wellenlängendispersion positiv ist, wird eine vorbestimmte Anzeigefläche rot angezeigt, und wenn negativ, wird diese Anzeigefläche blau angezeigt. Alternativ wird, wenn das Vorzeichen der Wellenlängendispersion positiv ist, ein Zeichen "+" in einer vorbestimmten Position auf dem Bildschirm angezeigt, und wenn negativ, wird ein Zeichen "–" in dieser vorbestimmten Position angezeigt. Dies erleichtert die Arbeit, das Vorzeichen der Wellenlängendispersion zu prüfen. - Indem er einen Befehl zu einer Impulsausgabe an den Impulsgenerator
32 sendet, steuert der Steuerteil32 das Start-Timing der Wellenlängendispersion oder steuert einen veränderlichen Betrag der Lichtintensität durch jeden der zwei Lichtabschwächer14 und16 . - Die Lichtquellen
10 und12 , die Lichtabschwächer14 und16 , der optische Multiplexer18 , der Phasenmodulator20 , die optischen Verstärker22 und26 , der akustooptische Modulator24 und der Zirkulator28 wie oben erwähnt entsprechen dem Einfallsmechanismus. Außerdem entspricht der Steuerteil60 im optischen Empfänger30 der Intensitätsverhältnis-Einstelleinheit, und der ER-Lichtwellenleiter-Verstärker34 , das justierbare schmalbandige optische Filter36 , der Photodetektor38 , der Strom/Spannung-Wandler40 , das Bandpassfilter42 und der Verstärker44 entsprechen der Detektionseinheit. Der Wellenlängendispersions-Rechenteil48 entspricht der Frequenzrecheneinheit und Wellenlängendispersions-Recheneinheit, und der Vorzeichenbeurteilungsteil50 entspricht der Vorzeichenbeurteilungseinheit. Der akustooptische Modulator24 entspricht der Impulsformeinheit. Der Photodetektor38 , der Strom/Spannung-Wandler 40, das Bandpassfilter42 und der Verstärker44 entsprechen der Detektionssignalformeinheit. Der Anzeigeteil52 entspricht der Anzeigeeinheit. - Das Wellenlängendispersions-Abtastsystem dieser Ausführungsform hat so einen Aufbau, und anschließend wird sein Betrieb erläutert.
- (1) Prinzip der Wellenlängendispersionsabtastung
- Die Wellenlängendispersionsabtastung dieser Ausführungsform folgt prinzipiell dem in der japanischen Patentoffenlegung Nr.
10-83006 100 entsprechend der Wellenlänge λ1 zu messen, im Hinblick auf die Wellenlängendispersion des Lichtwellenleiters100 entsprechend der Wellenlänge λ2 kann man dies aber nach der gleichen Prozedur durchführen, indem man Anti-Stalks-Licht verwendet. -
- δk bezeichnet hier eine Wellenvektor-Fehlanpassung im ersten Mischprozess und zweiten Mischprozess. Der erste Mischprozess ist ein Prozess, ein Stokes-Photon mit der Wellenlänge λS zu bilden, indem zwei Photonen mit der Wellenlänge λ1 mit einem Photon mit der Wellenlänge λ2 kombiniert werden, und der zweite Mischprozess ist ein Prozess, ein Anti-Stokes-Photon mit der Wellenlänge λA zu bilden, indem zwei Photonen mit der Wellenlänge λ2 mit einem Photon mit der Wellenlänge λ1 kombiniert werden. Das Symbol c bezeichnet die Lichtgeschwindigkeit, und δk ist die Differenz zwischen den Wellenlängen λ1 und λ2 des von den zwei Lichtquellen
10 und12 ausgegebenen Lichts. Außerdem bezeichnet D(λ1) die Wellenlängendispersion des Lichtwellenleiters100 entsprechend dem Licht mit der Wellenlänge λ1. - Daher kann man eine verteilte Abbildung (λ1, z) mit einer Raumauflösung ΛS erhalten, indem man eine Intensitätsoszillationsfrequenz Fs(z) von Stalks-Licht bestimmt.
- Übrigens, obwohl die oben erwähnte Frequenz FS(z) die Intensitätsoszillationsfrequenz von Stalks-Licht unter Beachtung der Distanz z vom Einfallsende des Lichtwellenleiters
100 zeigt, ist ein detektierbares Signal in dem in1 gezeigten Wellenlängendispersions-Abtastsystem die Intensitätsoszillationsfrequenz von Stalks-Licht, das in dem rücklaufenden Licht enthalten ist. Sei die Zeit vom Eintreten von gepulstem Licht in den Lichtwellenleiter100 bis zur Detektion von rücklaufendem Licht gleich t und sei die Intensitätsoszillationsfrequenz des detektierten Stalks-Lichts gleich fsig, so besteht die folgende Beziehung zwischen dieser Frequenz fsig und der oben erwähnten räumlichen Frequenz Fs: -
- Das heißt, man kann die Beziehung zwischen der Distanz z entsprechend dieser Zeit t und der Wellenlängendispersion D erhalten, indem man den Wert der Frequenz fsig des Stalks-Lichts entsprechend der Zeit t bestimmt. Das, was grafisch dargestellt wird, indem man die Distanz z zu einer Horizontalachse macht und den entsprechenden Wert der Wellenlängendispersion D zu einer Vertikalachse macht, ist somit die verteilte Abbildung.
- (2) Prinzip der Vorzeichenbeurteilung der Wellenlängendispersion
-
-
- P1 bezeichnet hier die Intensität der Komponente mit der Wellenlänge λ1, die in den in den Lichtwellenleiter
100 eintretenden Lichtimpulsen enthalten ist. P2 bezeichnet die Intensität der Komponente mit der Wellenlänge λ2, die in den in den Lichtwellenleiter100 eintretenden Lichtimpulsen enthalten ist. -
- Aeff bezeichnet hier eine effektive Fläche eines Kerns des Lichtwellenleiters
100 . Das Symbol n2 bezeichnet einen Koeffizienten des nichtlinearen Brechungsindex. - Wenn die Wellenlängendispersion in Übereinstimmung mit dem oben erwähnten Messprinzip bestimmt wird, wird ein Verhältnis davon (P1:P2) auf 1 zu 2 eingestellt, so dass die nichtlineare Größe des Beitrags δknl, gleich null werden kann.
- Übrigens hat die tatsächliche Wellenlängendispersion D ein Vorzeichen, und in dieser Ausführungsform wird das Vorzeichen der Wellenlängendispersion beurteilt, indem beobachtet wird, wie sich der Wert der Wellenlängendispersion ändert, wenn ein Intensitätsverhältnis (P1:P2) von zwei Arten von Licht auf einen Wert ausgenommen 1 zu 2 eingestellt wird.
- Insbesondere wird das in Formel (6) ausgedrückte γ zweifellos positiv. Aus diesem Grunde wird das in Formel (5) ausgedrückte δknl positiv oder negativ, wenn das Verhältnis von P1 zu P2 auf ausgenommen 1 zu 2 eingestellt wird. Zum Beispiel, wenn das Verhältnis von P1 zu P2 auf 1 zu 1 eingestellt wird, wird δknl, zweifellos positiv.
-
- Das heißt, da das δk und die Wellenlängendispersion D einander entgegengesetzte Vorzeichen haben, ist die Wellenlängendispersion D positiv, wenn das δk negativ ist, wohingegen die Wellenlängendispersion D negativ wird, wenn das δk positiv ist.
- Wird daher vorausgesetzt, dass das Vorzeichen der Wellenlängendispersion zeitweilig positiv ist, wird das Vorzeichen der Wellenvektor-Fehlanpassung δk negativ. Wird aus diesem Grunde das Verhältnis von P1 zu P2 auf 1 zu 1 eingestellt, wird nach Formel (4) das positive δknl, von dem negativen δk subtrahiert, und daher wird ein Absolutwert der tatsächlichen Wellenvektor-Fehlanpassung δk' groß. Wie in Formel (1) gezeigt, wird daher die Wellenlängendispersion D groß.
-
2 ist ein Graph, der die Beziehung zwischen der Wellenlängendispersion, ermittelt mit Einstellung eines Verhältnisses von P1 zu P2 auf 1 zu 2, und der Wellenlängendispersion, ermittelt mit dessen Einstellung auf 1 zu 1, wenn das Vorzeichen der Wellenlängendispersion positiv ist, zeigt. In diesem Graphen bezeichnet A die Wellenlängendispersion, wenn das Verhältnis von P1 zu P2 gleich 1 zu 2 ist, und B bezeichnet die Wellenlängendispersion, wenn das Verhältnis davon gleich 1 zu 1 ist. Wird das Verhältnis von zweifachen Bestimmungen, durchgeführt durch Ändern der Bedingungen, so eine Beziehung, zeigt sich, dass das Vorzeichen der Wellenlängendispersion D positiv ist. - Wird dagegen vorausgesetzt, dass das Vorzeichen der Wellenlängendispersion D zeitweilig negativ ist, wird das Vorzeichen der Wellenvektor-Fehlanpassung δk positiv.
- Wird aus diesem Grunde das Verhältnis von P1 zu P2 auf 1 zu 1 eingestellt, wird nach Formel (4) das negative δknl, von dem negativen δk subtrahiert, und daher wird ein Absolutwert der tatsächlichen Wellenvektor-Fehlanpassung δk' klein. Wie in Formel (1) gezeigt, wird daher die Wellenlängendispersion D klein.
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3 ist ein Graph, der die Beziehung zwischen der Wellenlängendispersion, ermittelt mit Einstellung eines Verhältnisses von P1 zu P2 auf 1 zu 2, und der Wellenlängendispersion, ermittelt mit dessen Einstellung auf 1 zu 1, wenn das Vorzeichen der Wellenlängendispersion negativ ist, zeigt. In diesem Graphen bezeichnet A die Wellenlängendispersion, wenn das Verhältnis von P1 zu P2 gleich 1 zu 2 ist, und C bezeichnet die Wellenlängendispersion, wenn das Verhältnis davon gleich 1 zu 1 ist. Wird das Verhältnis von zweifachen Bestimmungen, durchgeführt durch Ändern der Bedingungen, so eine Beziehung, zeigt sich, dass das Vorzeichen der Wellenlängendispersion D negativ ist. - (3) Konkrete Bestimmungsbetriebsprozedur
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4 ist ein Flussdiagramm, das die Betriebsprozedur des Dispersionsabtastsystems zeigt, das die Bestimmung der Wellenlängendispersion und Beurteilung ihres Vorzeichens durchführt, und zeigt hauptsächlich die Betriebsprozedur des optischen Empfängers30 . - Zuerst stellt der Steuerteil
60 die Intensität des in den Lichtwellenleiter100 einfallenden Lichts ein (Schritt100 ). Insbesondere stellt der Steuerteil60 das Verhältnis der Intensität P1 von Licht mit der Wellenlänge λ1 zu der Intensität P2 von Licht mit der Wellenlänge λ2, die in den Lichtwellenleiter100 eintreten gelassen werden, auf 1 zu 2 ein, indem die Abschwächung der Lichtabschwächer14 und16 justiert wird. Zum Beispiel wird die Wellenlänge λ1 auf 1535 nm eingestellt, die Wellenlänge λ2 wird auf 1530 nm eingestellt, und das Intensitätsverhältnis davon wird auf 1 zu 2 eingestellt. - Als Nächstes sendet der Steuerteil
60 im optischen Empfänger30 einen Befehl zur Ausgabe eines Impulssignals an den Impulsgenerator32 . Infolgedessen wird gepulstes Licht, das vom akustooptischen Modulator24 entsprechend dem Ausgangs-Timing dieses Impulssignals erzeugt und vom optischen Verstärker26 verstärkt wurde, über den Zirkulator28 in Richtung auf den Lichtwellenleiter100 emittiert (Schritt101 ). - Nach Eintritt des Lichtimpulses in den Lichtwellenleiter
100 wird somit die Bestimmung der Intensität des rücklaufenden Lichts durch den optischen Empfänger30 durchgeführt (Schritt102 ). Wie oben erwähnt, wenn das Intensitätsverhältnis von Licht mit den Wellenlängen λ1 bzw. λ2 auf 1 zu 2 eingestellt ist, muss man das Stalks-Licht mit der Wellenlänge λS bestimmen, um die Wellenlängendispersion D für die Wellenlänge λ1 zu bestimmen. Aus diesem Grunde wird im justierbaren schmalbandigen optischen Filter36 nur die Komponente mit der Wellenlänge λS aus dem über den Zirkulator28 eintretenden rücklaufenden Licht extrahiert, und ein Detektionssignal, dass die Intensität dieser Komponente anzeigt, wird vom Verstärker44 ausgegeben. Dieses Detektionssignal wird durch eine Speicherfunktion des Oszilloskops46 gespeichert. Da dieses Detektionssignal sehr schwach ist, wird tatsächlich das Ergebnis jener zwei- oder mehrfach wiederholten Bestimmungen unter den gleichen Bedingungen vom Oszilloskop46 angesammelt. - Als Nächstes liest der Wellenlängendispersions-Rechenteil
48 die durch die Speicherfunktion des Oszilloskops46 gespeicherten Daten und detektiert die Intensitätsoszillationsfrequenz fsig des Stalks-Lichts (Schritt103 ). Außerdem berechnet der Wellenlängendispersions-Rechenteil48 die Wellenlängendispersion D entsprechend der Distanz z auf Basis dieser Frequenz fsig unter Verwendung der oben erwähnten Formel (3) (Schritt104 ). Da man die Wellenlängendispersion D des Lichtwellenleiters100 entsprechend der Wellenlänge λ1 erhalten kann, wird dadurch die verteilte Abbildung erzeugt. Die Werte und verteilte Abbildung der Wellenlängendispersion D, die auf diese Weise berechnet werden, werden durch den Steuerteil60 auf dem Bildschirm des Anzeigeteils52 angezeigt, falls benötigt. - Nachfolgend beurteilt der Steuerteil
60 , ob die oben erwähnte Berechnung der Wellenlängendispersion zwei Mal beendet wurde (Schritt105 ). Wenn die Berechnung der Wellenlängendispersion nur ein Mal beendet wurde, wird eine negative Beurteilung durchgeführt, und für die zweite Bestimmung der zweiten Wellenlängenverteilung steuert der Steuerteil60 die Abschwächung der zwei Lichtabschwächer14 und16 , um das Intensitätsverhältnis des einfallenden Lichts zu ändern (Schritt106 ). Ein Intensi tätsverhältnis wird auf einen anderen Wert als 1 zu 2 eingestellt, zum Beispiel 1 zu 1, so dass die in Formel (5) gezeigte nichtlineare Größe des Beitrags in Bezug auf den ersten Mischprozess entsprechend dem Stalks-Licht einen anderen Wert als null haben kann. Danach geht es zum Schritt101 zurück, die Tätigkeit zur Ausgabe eines oder nachfolgender Lichtimpulse wird wiederholt, und die zweite Berechnung der Wellenlängendispersion wird durchgeführt. - Wenn die zweite Berechnung der Wellenlängendispersion beendet ist, wird bei der Beurteilung im Schritt
105 eine bejahende Beurteilung durchgeführt. Als Nächstes beurteilt der Vorzeichenbeurteilungsteil50 das Vorzeichen der Wellenlängendispersion durch Vergleich des ersten Berechnungsergebnisses der Wellenlängendispersion entsprechend dem Fall, dass das Intensitätsverhältnis von zwei Arten von einfallendem Licht gleich 1 zu 2 ist, mit dem zweiten Berechnungsergebnis der Wellenlängendispersion entsprechend dem Fall, dass dieses Intensitätsverhältnis gleich 1 zu 1 ist (Schritt107 ). Insbesondere wenn, wie in2 gezeigt, der Wert der Wellenlängendispersion als die zweite Messung entsprechend dem Bezugszeichen B größer ist als der Wert der Wellenlängendispersion als die erste Messung entsprechend dem Bezugszeichen A, wird geurteilt, dass das Vorzeichen der Wellenlängendispersion positiv ist. Ist dagegen, wie in3 gezeigt, der Wert der Wellenlängendispersion als die zweite Messung entsprechend dem Bezugszeichen C kleiner als der Wert der Wellenlängendispersion als die erste Messung entsprechend dem Bezugszeichen A, wird geurteilt, dass das Vorzeichen der Wellenlängendispersion negativ ist. Die Anzeige (das Vorzeichen wird mittels farbigen oder verschiedenartigen Symbolen wie z.B. "+" und "–" angezeigt) entsprechend dem auf diese Weise beurteilten Vorzeichen der Wellenlängendispersion wird mittels des Anzeigeteils52 durchgeführt. - Wenn die oben erwähnte Vorzeichenbeurteilung der Wellenlängendispersion durchgeführt wird, muss man außerdem nicht notwendigerweise eine verteilte Abbildung erzeugen, indem die Wellenlängendispersion über die ganze Länge des Lichtwellenleiters
100 erhalten wird, sondern man kann die Wellenlängendispersion auch an einer oder mehreren Stellen nahe dem Einfallsende des Lichtwellenleiters100 vergleichen, wo der Effekt der nichtlinearen Größe des Beitrags in Bezug auf den ersten Mischprozess entsprechend Stalks-Licht groß ist. - Somit kann man bei dem Wellenlängendispersions-Abtastsystem dieser Ausführungs form die Wellenlängendispersion und ihr Vorzeichen durch Bestimmung von Stalks-Licht erhalten, wobei das Intensitätsverhältnis von in den Lichtwellenleiter
100 eintreten gelassenem Licht mit den zwei Arten von Wellenlängen λ1 und λ2 justiert wird. Im Vergleich mit dem Fall, dass die Wellenlängendispersion und ihr Vorzeichen durch getrennte Vorrichtungen bestimmt werden, wird es insbesondere möglich, die Mühe und Zeit der Bestimmung stark zu vermindern. - Außerdem ist die vorliegende Erfindung nicht auf die oben erwähnten Ausführungsformen beschränkt, und innerhalb des Schutzbereichs des Wesentlichen der vorliegenden Erfindung sind verschiedenartige Modifizierungen und Realisierungen möglich. Zum Beispiel erhält man in der oben erwähnten Ausführungsform die Wellenlängendispersion des Lichtwellenleiters
100 entsprechend der Wellenlänge λ1, indem man das Stalks-Licht detektiert und außerdem das Verhältnis der jeweiligen Intensitäten von zwei Wellenlängen λ1 und λ2 auf 1 zu 2 einstellt, man kann aber auch die Wellenlängendispersion des Lichtwellenleiters100 entsprechend der Wellenlänge λ2 erhalten, indem man das Anti-Stalks-Licht detektiert und außerdem das Verhältnis der jeweiligen Intensitäten von zwei Wellenlängen λ1 und λ2 auf 2 zu 1 einstellt. - Weiterhin sind in der oben erwähnten Ausführungsform die Lichtabschwächer
14 und16 in jeweiligen Folgestufen der zwei Lichtquellen10 und12 vorgesehen, man kann aber auch nur einen dieser zwei Lichtabschwächer14 und16 vorsehen. Und da der optische Multiplexer18 nur das Licht zweier Wellenlängenkomponenten vereinigen muss, kann man ihn auch in jeder Folgestufe des Phasenmodulators20 , optischen Verstärkers22 und akustooptischen Modulators24 anordnen. - Weiterhin werden zwar die oben erwähnten Lichtabschwächer
14 und16 verwendet, man kann aber auch andere Verfahren verwenden, bei denen die Intensitäten von zwei Wellenlängenkomponenten justierbar sind. Zum Beispiel kann man einfallendem Licht auch einen justierbaren Verlust geben, indem man Modulatoren statt der Lichtabschwächer14 und16 verwendet, oder justierbare Verstärkung von einfallendem Licht durchführen, indem man optische Verstärker statt der Lichtabschwächer14 und16 verwendet. Alternativ kann man auch die Ausgangslichtintensitäten von jeweiligen Lichtquellen durch den Steuerteil60 im optischen Empfänger steuern, indem man die Lichtabschwächer14 und16 weglässt und statt dessen zwei Lichtquellen verwendet, deren Ausgangslichtintensitäten jeweils justierbar sind. - Industrielle Anwendbarkeit
- Wie oben erwähnt, kann man gemäß dieser Erfindung die Wellenlängendispersion und ihr Vorzeichen bloß durch justierbares Ändern des Intensitätsverhältnisses von zwei Arten von in den zu untersuchenden Lichtwellenleiter eintreten gelassenen Wellenlängenkomponenten und Wiederholen der Bestimmung der Wellenlängendispersion erhalten. Im Vergleich mit dem Fall, dass die Wellenlängendispersion und ihr Vorzeichen durch getrennte Vorrichtungen bestimmt werden, wird es insbesondere möglich, die Mühe und Zeit der Bestimmung stark zu vermindern.
- Zusammenfassung
- Ein Wellenlängendispersions-Abtastsystem zum Bestimmen eines Wertes der Wellenlängendispersion und ihres Vorzeichens und Vermindern der für diese Bestimmung nötigen Zeit und Mühe. Dieses Wellenlängendispersions-Abtastsystem enthält Lichtquellen
10 und12 , Lichtabschwächer14 und16 , einen optischen Multiplexer18 , einen Phasenmodulator20 , optische Verstärker22 ,26 , einen akustooptischen Modulator24 , einen optischen Empfänger30 . Das Intensitätsverhältnis von zwei Wellenlängen wird auf 1 zu 2 eingestellt, um im rücklaufenden Licht eines Lichtwellenleiters100 enthaltenes Stalks-Licht oder Anti-Stalks-Licht durch den optischen Empfänger30 zu detektieren, so dass die Wellenlängendispersion abgetastet wird. Die Wellenlängendispersion wird abgetastet, indem das Intensitätsverhältnis der zwei Wellenlängen geändert wird, um den Zustand der Änderung der Wellenlängendispersion zu beobachten, so dass das Vorzeichen der Wellenlängendispersion durch den optischen Empfänger30 bestimmt wird.
Claims (11)
- Wellenlängendispersions-Abtastsystem, das Folgendes aufweist: einen Einfallsmechanismus, gepulstes Licht, bei dem ein Intensitätsverhältnis von zwei Wellenlängenkomponenten mit einem vorbestimmten Abstand justierbar eingestellt ist, in ein Ende eines zu untersuchenden Lichtwellenleiters eintreten zu lassen; eine Intensitätsverhältnis-Einstelleinheit zum Einstellen des Intensitätsverhältnisses von zwei Wellenlängenkomponenten für den Einfallsmechanismus; eine Detektionseinheit zum Detektieren von Stalks-Licht und/oder Anti-Stalks-Licht in rücklaufendem Licht, das von einem Ende des zu untersuchenden Lichtwellenleiters emittiert wird, und Erzeugen eines elektrischen Detektionssignals; eine Frequenzrecheneinheit zum Berechnen einer Frequenz des Detektionssignals; eine Wellenlängendispersions-Recheneinheit zum Berechnen der Wellenlängendispersion des zu untersuchenden Lichtwellenleiters auf Basis der von der Frequenzrecheneinheit berechneten Frequenz; und eine Vorzeichen-Beurteilungseinheit zum Beurteilen eines Vorzeichens der Wellenlängendispersion auf Basis der mehrfachen Berechnungsergebnisse der Wellenlängendispersion durch die Frequenzrecheneinheit, durchgeführt vor und nach Modifizieren des Intensitätsverhältnisses von zwei Wellenlängenkomponenten durch die Intensitätsverhältnis-Einstelleinheit.
- Wellenlängendispersions-Abtastsystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorzeichenbeurteilung der Wellenlängendispersion durch die Vorzeichen-Beurteilungseinheit nicht nur dadurch durchgeführt wird, dass ein Intensitätsverhältnis von zwei Wellenlängenkomponenten durch die oben erwähnte Intensitätsverhältnis-Einstelleinheit auf 1 zu 2 eingestellt wird und die Wellenlängendispersion durch die Wellenlängendispersions-Recheneinheit erhalten wird, sondern auch das Intensitätsverhältnis von zwei Wellenlängenkomponenten durch die Intensitätsverhältnis-Einstelleinheit auf ausgenommen 1 zu 2 eingestellt wird und ein durch die Wellenlängendispersions-Recheneinheit berechneter Wert mit dem Wert der Wellenlängendispersion verglichen wird.
- Wellenlängendispersions-Abtastsystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Einfallsmechanismus Folgendes aufweist: zwei Lichtquellen, die jeweils unabhängig Licht zweier Wellenlängenkomponenten erzeugen; einen optischen Multiplexer, der das von den zwei Lichtquellen ausgegebene Licht vereinigt; eine Impulsformeinheit, die aus dem Ausgangslicht des optischen Multiplexers Impulse formt; und einen Lichtabschwächer, der in die Strecke von den zwei Lichtquellen zum optischen Multiplexer eingefügt ist und die Intensität des von mindestens einer der zwei Lichtquellen ausgegebenen Lichts ändert.
- Wellenlängendispersions-Abtastsystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Einfallsmechanismus Folgendes aufweist: zwei Lichtquellen, die jeweils unabhängig Licht zweier Wellenlängenkomponenten erzeugen; einen optischen Multiplexer, der das von den zwei Lichtquellen ausgegebene Licht vereinigt; eine Impulsformeinheit, die aus dem Ausgangslicht des optischen Multiplexers Impulse formt; und einen Modulator, der in die Strecke von den zwei Lichtquellen zum optischen Multiplexer eingefügt ist und das von mindestens einer der zwei Lichtquellen ausgegebene Licht justierbar abschwächt.
- Wellenlängendispersions-Abtastsystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Einfallsmechanismus Folgendes aufweist: zwei Lichtquellen, die jeweils unabhängig Licht zweier Wellenlängenkomponenten erzeugen, deren Intensitäten justierbar sind; einen optischen Multiplexer, der das von den zwei Lichtquellen ausgegebene Licht vereinigt; und eine Impulsformeinheit, die aus dem Ausgangslicht des optischen Multiplexers Impulse formt.
- Wellenlängendispersions-Abtastsystem nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Einfallsmechanismus weiterhin einen Zirkulator aufweist, der nicht nur das Ausgangslicht des optischen Multiplexers in ein Ende des zu untersuchenden Lichtwellenleiters eintreten lässt, sondern auch das von diesem Ende emittierte rücklaufende Licht in die Detektionseinheit eintreten lässt.
- Wellenlängendispersions-Abtastsystem nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass der Einfallsmechanismus weiterhin einen Zirkulator aufweist, der nicht nur das Ausgangslicht des optischen Multiplexers in ein Ende des zu untersuchenden Lichtwellenleiters eintreten lässt, sondern auch das von diesem Ende emittierte rücklaufende Licht in die Detektionseinheit eintreten lässt.
- Wellenlängendispersions-Abtastsystem nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Einfallsmechanismus weiterhin einen Zirkulator aufweist, der nicht nur das Ausgangslicht des optischen Multiplexers in ein Ende des zu untersuchenden Lichtwellenleiters eintreten lässt, sondern auch das von diesem Ende emittierte rücklaufende Licht in die Detektionseinheit eintreten lässt.
- Wellenlängendispersions-Abtastsystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Detektionseinheit Folgendes aufweist: ein optisches Filter, das Stalks-Licht oder Anti-Stalks-Licht extrahiert, welches ein im rücklaufenden Licht enthaltenes Detektionsziel ist; und eine Detektionssignalformeinheit, die die Intensität der durch das Durchlaufen des optischen Filters extrahierten Lichtkomponente detektiert und ein Detektionssignal erzeugt.
- Wellenlängendispersions-Abtastsystem nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass es weiterhin eine Anzeigeeinheit aufweist, die das Vorzeichen als Beurteilungsergebnis durch die oben erwähnte Vorzeichenbeurteilungseinheit visuell und identifizierbar anzeigt.
- Wellenlängendispersions-Abtastverfahren, dadurch gekennzeichnet, dass es Folgendes umfasst: einen Schritt, gepulstes Licht, bei dem ein Intensitätsverhältnis von zwei Wellenlängenkomponenten mit einem vorbestimmten Abstand justierbar eingestellt ist, in ein Ende eines zu untersuchenden Lichtwellenleiters eintreten zu lassen; einen Schritt, ein Intensitätsverhältnis von zwei Wellenlängenkomponenten einzustellen; einen Schritt, Stalks-Licht und/oder Anti-Stalks-Licht in rücklaufendem Licht, das von einem Ende des zu untersuchenden Lichtwellenleiters emittiert wird, zu detektieren und ein elektrisches Detektionssignal zu erzeugen; einen Schritt, eine Frequenz des Detektionssignals zu berechnen; einen Schritt, die Wellenlängendispersion des zu untersuchenden Lichtwellenleiters auf Basis der von der Frequenzrecheneinheit berechneten Frequenz zu berechnen; und einen Schritt, das Vorzeichen der Wellenlängendispersion auf Basis der mehrfachen Berechnungsergebnisse der Wellenlängendispersion durch die Frequenzrecheneinheit, durchgeführt vor und nach Modifizieren des Intensitätsverhältnisses von zwei Wellenlängenkomponenten, zu bestimmen.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001-347897 | 2001-11-13 | ||
JP2001347897 | 2001-11-13 | ||
PCT/JP2002/011758 WO2003042652A1 (fr) | 2001-11-13 | 2002-11-12 | Systeme de sondage de dispersion de longueur d'onde |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10297428T5 true DE10297428T5 (de) | 2005-01-27 |
Family
ID=19160820
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10297428T Withdrawn DE10297428T5 (de) | 2001-11-13 | 2002-11-12 | Wellenlängerdispersions-Abtastsystem |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7020360B2 (de) |
JP (1) | JP3976733B2 (de) |
DE (1) | DE10297428T5 (de) |
WO (1) | WO2003042652A1 (de) |
Families Citing this family (41)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2002
- 2002-11-12 JP JP2003544436A patent/JP3976733B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2002-11-12 WO PCT/JP2002/011758 patent/WO2003042652A1/ja active Application Filing
- 2002-11-12 DE DE10297428T patent/DE10297428T5/de not_active Withdrawn
- 2002-11-12 US US10/495,415 patent/US7020360B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2003042652A1 (fr) | 2003-05-22 |
US7020360B2 (en) | 2006-03-28 |
US20050094936A1 (en) | 2005-05-05 |
JPWO2003042652A1 (ja) | 2005-03-10 |
JP3976733B2 (ja) | 2007-09-19 |
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