DE1065389B - Verfahren zum Reinigen von Siliciumwasserstoff fuer die Herstellung extrem reinen Siliciums fuer Halbleiterzwecke - Google Patents

Verfahren zum Reinigen von Siliciumwasserstoff fuer die Herstellung extrem reinen Siliciums fuer Halbleiterzwecke

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DE1065389B DEI14512A DEI0014512A DE1065389B DE 1065389 B DE1065389 B DE 1065389B DE I14512 A DEI14512 A DE I14512A DE I0014512 A DEI0014512 A DE I0014512A DE 1065389 B DE1065389 B DE 1065389B
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Description

DEUTSCHES
C Q1B 33/0Ί-
Es sind bereits Verfahren zur Herstellung reinen Silicium* für Halbleiterzweeke bekannt, bei denen das Silicium durch thermische Zersetzung von Siliciumwasserstoff erhalten wird. Die Verunreinigungen Hör, Arsen und Phosphor lassen »ich am schwersten aus dein Silicium entfernen. Wenn das Silicium durch Zersetzung von Siliciumwasserstoff hergestellt wird, muß der SiliciumwasserstofF daher von allen Spuren anderer Hydride, insbesondere von den Hydriden des Bors, des Arsens und des Phosphors, befreit werden.
Alan hat auch bereits den Siliciumwasserstoff einer Vorzersetzung unterworfen, um unerwünschte Beimengungen zu entfernen. Dieses Verfahren arbeitet jedoch nicht sehr wirtschaftlich.
Zweck der Erfindung ist die Schaffung eines wirtschaftlichen Verfahrens für die Reinigung von Siliciumwasserstoff, der zur Herstellung reinen Siliciuins verwendet wird.
Bekanntlich werden viele Gase von Aktivkohle ao adsorbiert, und zwar ist im allgemeinen die adsorbierende Wirkung bei niedriger Temperatur größer. Auch Siliciumwasserstoff wird von Aktivkohle adsorbiert. Es wurde jedoch gefunden, daß die Adsorption durch Aktivkohle bei bestimmten Temperaturen für die verschiedenen Hydride verschieden ist und daß bei Anwesenheit von Siliciumwasserstoff die Adsorption der anderen Hydride nicht immer mit sinkender Temperatur stärker wird.
l>uroh eingehende Untersuchungen wurde festgestellt, daß die Adsorptioi'swirkung der Aktivkohle be/.üglich Ar.senwasserstoff und Phosphorwasserstoff n!» IU-IIrA1UgUUg von Siliciumwasserstoff bei Zimmertemperatur geringer ist als bei -780C (Sublimationstemperatur des festen Kohlendioxyds), daß aber die Adsorptionswirkung bezüglich Diboran in SiliciumwasscTstoff bei Zimmertemperatur größer als bei -78° C ist.
Gemäß der Erfindung wird der Siliciumwasser.stoff dadurch gereinigt, daß er nacheinander durch zwei Adsorption.sgefäßc mit Aktivkohle geleitet wird, von denen das eine auf —68 bis —78° C gekühlt ist, während das andere eine Temperatur von 0 bis 30° C hat.
Eine Vorrichtung zur Reinigung von Siliciuinwa»erstoff gemäß der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt.
Der .Siliciumwasserstoff, der durch Arsenwasserstoff, Phosphorwasserstoffe oder Diboran verunreinigt ist, wird durch die Zuleitung 1 nacheinander in die Adsorptionsgefäße 2 und 3 geleitet. Im Adsorptionsgefäß 2 strömt der Siliciumwasserstoff durch die Aktivkohle 4, die sich im Gefäß 5 befindet. XTachdem der Siliciumwasserstoff die Aktivkohle nach unten durchströmt hat, wird er durch das Rohr 6, das bei-
zum Reinigen von Siliciumwasserstoff
für die Herstellung extrem reinen
Siliciums für Halbleiterzwecke
Anmelder:
International
Standard Electric Corporation,
New York, N. Y. (V. St. A.)
Vertreter: Dipl.-Ing. H. Ciaessen, Patentanwalt,
Stuttgart-Zuffenhausen, Hellmuth-Hirth-Str. 42
Beanspruchte Priorität:
Großbritannien vom 12. März 1957
Eric Langley Bush, London,
ist als Erfinder genannt worden
nahe bis zum Roden des Gefäßes 5 reicht, aus dem Adsorptionsgefäß 2 herausgeleitet.
Das Gefäß 5 ist von einem weiteren Gefäß 7 umgeben, das festes Kohlendioxyd 8 enthält, das den mit Aktivkohle gefüllten Teil des Gefäßes 5 vollkommen umgibt. Im Gefäß 5 herrscht daher eine Temperatur von -780C. Arsen wasserstoff und Phosphorwasserstoff werden bei dieser Temperatur von der Aktivkohle vollkommen adsorbiert, das Diboran jedoch nur in geringem Maße.
Das Abflußrohrö steht daher mit einem zweiten Adsorptionsgefäß 3 in Verbindung, das dem Gefäß 2 in jeder Hinsicht gleicht. Dieses Gefäß befindet sich jedoch auf Zimmertemperatur, bei der das Diboran von der Aktivkohle in (lern Adsorptionsgefäß 3 adsorbiert wird, so daß aus dem Austrittsrohr 9 reiner Siliciumwasserstoff entnommen werden kann. Dieser wird in die Zersetzungskammer geleitet, wo reines Silicium durch thermische Zersetzung des Siliciumwasserstoffes erhalten wird.
Der Siliciumwasserstoff kann jedoch auch in umgekehrter Reihenfolge, zuerst durch das auf Zimmertemperatur gehaltene Adsorptionsgefäß und dann durch das Adsorptionsgefäß mit der Temperatur des festen Kohlendioxyds geleitet werden. Bei dieser Anordnung ergibt sich noch ein kleiner Vorteil. Es
909 628/366
werden nämlich auch Verunreinigungen, die in der Aktivkohle des ersten Gefäßes vorhanden sind und mit dem Siliciumwasserstoff entweichen könnten, im tiefgekühlten Adsorptionsgefäß zurückgehalten.
Wenn die Aktivkohle in beiden Gefäßen 2 und 3 bis zu einem gewissen Grade mit adsorbierten Gasen gesättigt ist und dadurch ihre Wirksamkeit verliert, kann sie in der Weise reaktiviert werden, daß sie auf die Temperatur des anderen Gefäßes gebracht wird. Um die Aktivkohle in den beiden Gefäßen zu aktivieren, wird der Gasfluß und die Verbindung zwischen den Gefäßen unterbrochen. Das Gefäll 3 wird dann in das feste Kohlendioxyd des Gefäßes 8 gebracht. Das Diboran wird frei, und nach einiger Zeit ist die Aktivkohle reaktiviert. Ähnlich wird das Gefäß 5, nachdem die Zuleitungs- und Abflußrohre entfernt wurden, auf Zimmertemperatur gebracht, so daß Arsenwasserstoff und Phosphorwasserstoffe frei werden und die Aktivkohle reaktiviert wird.
Jedoch kann man die Aktivkohle in beiden Fällen auch dadurch aktivieren, daß man sie auf 200° C erhitzi und Argon bei dieser Temperatur hindurchleitet.
Die Reaktivierung wird so lange fortgesetzt, bis eine Analyse des abziehenden Gases keine wahrnehmbaren Spuren der adsorbierten Verunreinigungen mehr ergibt. Die beiden Adsorptionsgefäße werden danach,
wie beschrieben, wieder miteinander verbunden zur Reinigung des Siliciumwasserstoffes verwendet.
Der gereinigte Siliciumwasserstoff wird dann zur Gewinnung des Siliciums thermisch zersetzt. Die Reinigung des Siliciumwasserstoffes durch thermische Vorzersetzung zur Entfernung der Hydride von 15or, Arsen und Phosphor kann jedoch entfallen.
Die Temperatur des tiefgekühlten Adsorptionsgefäßes kann auch 10° C über oder unter der Sublimationstemperatur des Kohlendioxyds (-780C) liegen.
Für das auf Zimmertemperatur gehaltene Gefäß eignet sich jede Temperatur zwischen 0 und 30° C.

Claims (1)

  1. Patentanspruch:
    Verfahren zur Reinigung von Siliciumwasserstoff für die Herstellung extrem reinen Siliciums für ITalbleiterzwecke, dadurch gekennzeichnet, daß der Siliciumwasserstoff bei einer Temperatur zwischen —68 und —88° C und bei einer Temperatur zwischen 0 und 30° C jeweils über Aktivkohle geleitet wird.
    In Betracht gezogene Druckschriften:
    »5 O. Kausch, »Die Aktivkohle«, 1928, S. 168 bis 175, und Ergänzungsband (1932), S. 114.
    Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
    628/366 9.59
DEI14512A 1953-09-25 1958-03-06 Verfahren zum Reinigen von Siliciumwasserstoff fuer die Herstellung extrem reinen Siliciums fuer Halbleiterzwecke Pending DE1065389B (de)

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Families Citing this family (37)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3053631A (en) * 1956-08-04 1962-09-11 Int Standard Electric Corp Methods of producing silicon of high purity
DE1154796B (de) * 1958-12-16 1963-09-26 Western Electric Co Verfahren zum Reinigen von Silicium- oder Germaniumverbindungen
US3116132A (en) * 1960-01-22 1963-12-31 Olin Mathieson Process for the adsorption and desorption of diborane
BE632401A (de) * 1962-06-15
DE1260439B (de) * 1964-02-08 1968-02-08 Siemens Ag Vorrichtung zum tiegelfreien Zonenschmelzen
US3935059A (en) * 1969-07-21 1976-01-27 U.S. Philips Corporation Method of producing single crystals of semiconductor material by floating-zone melting
US3776703A (en) * 1970-11-30 1973-12-04 Texas Instruments Inc Method of growing 1-0-0 orientation high perfection single crystal silicon by adjusting a focus coil
US4099936A (en) * 1976-12-16 1978-07-11 Union Carbide Corporation Process for the purification of silane
US4532120A (en) * 1983-12-28 1985-07-30 Ethyl Corporation Silane purification process
DE3805282A1 (de) * 1988-02-19 1989-08-31 Wacker Chemitronic Verfahren zur entfernung von n-dotierenden verunreinigungen aus bei der gasphasenabscheidung von silicium anfallenden fluessigen oder gasfoermigen stoffen
US5290342A (en) * 1990-12-05 1994-03-01 Ethyl Corporation Silane compositions and process
US5211931A (en) * 1992-03-27 1993-05-18 Ethyl Corporation Removal of ethylene from silane using a distillation step after separation using a zeolite molecular sieve
US6251182B1 (en) * 1993-05-11 2001-06-26 Hemlock Semiconductor Corporation Susceptor for float-zone apparatus
US6083298A (en) * 1994-10-13 2000-07-04 Advanced Technology Materials, Inc. Process for fabricating a sorbent-based gas storage and dispensing system, utilizing sorbent material pretreatment
US5707424A (en) * 1994-10-13 1998-01-13 Advanced Technology Materials, Inc. Process system with integrated gas storage and delivery unit
US5704967A (en) * 1995-10-13 1998-01-06 Advanced Technology Materials, Inc. Fluid storage and delivery system comprising high work capacity physical sorbent
US6132492A (en) * 1994-10-13 2000-10-17 Advanced Technology Materials, Inc. Sorbent-based gas storage and delivery system for dispensing of high-purity gas, and apparatus and process for manufacturing semiconductor devices, products and precursor structures utilizing same
US6204180B1 (en) 1997-05-16 2001-03-20 Advanced Technology Materials, Inc. Apparatus and process for manufacturing semiconductor devices, products and precursor structures utilizing sorbent-based fluid storage and dispensing system for reagent delivery
US5518528A (en) * 1994-10-13 1996-05-21 Advanced Technology Materials, Inc. Storage and delivery system for gaseous hydride, halide, and organometallic group V compounds
US5916245A (en) * 1996-05-20 1999-06-29 Advanced Technology Materials, Inc. High capacity gas storage and dispensing system
US5676735A (en) * 1996-10-31 1997-10-14 Advanced Technology Materials, Inc. Reclaiming system for gas recovery from decommissioned gas storage and dispensing vessels and recycle of recovered gas
US6019823A (en) * 1997-05-16 2000-02-01 Advanced Technology Materials, Inc. Sorbent-based fluid storage and dispensing vessel with replaceable sorbent cartridge members
US6027547A (en) * 1997-05-16 2000-02-22 Advanced Technology Materials, Inc. Fluid storage and dispensing vessel with modified high surface area solid as fluid storage medium
US5851270A (en) * 1997-05-20 1998-12-22 Advanced Technology Materials, Inc. Low pressure gas source and dispensing apparatus with enhanced diffusive/extractive means
US5985008A (en) * 1997-05-20 1999-11-16 Advanced Technology Materials, Inc. Sorbent-based fluid storage and dispensing system with high efficiency sorbent medium
US5980608A (en) * 1998-01-07 1999-11-09 Advanced Technology Materials, Inc. Throughflow gas storage and dispensing system
US6660063B2 (en) * 1998-03-27 2003-12-09 Advanced Technology Materials, Inc Sorbent-based gas storage and delivery system
US6406519B1 (en) * 1998-03-27 2002-06-18 Advanced Technology Materials, Inc. Gas cabinet assembly comprising sorbent-based gas storage and delivery system
US6070576A (en) * 1998-06-02 2000-06-06 Advanced Technology Materials, Inc. Adsorbent-based storage and dispensing system
US7105037B2 (en) * 2002-10-31 2006-09-12 Advanced Technology Materials, Inc. Semiconductor manufacturing facility utilizing exhaust recirculation
US6991671B2 (en) * 2002-12-09 2006-01-31 Advanced Technology Materials, Inc. Rectangular parallelepiped fluid storage and dispensing vessel
US7494530B2 (en) * 2002-12-10 2009-02-24 Advanced Technology Materials, Inc. Gas storage and dispensing system with monolithic carbon adsorbent
US8002880B2 (en) 2002-12-10 2011-08-23 Advanced Technology Materials, Inc. Gas storage and dispensing system with monolithic carbon adsorbent
US6743278B1 (en) 2002-12-10 2004-06-01 Advanced Technology Materials, Inc. Gas storage and dispensing system with monolithic carbon adsorbent
KR101159674B1 (ko) * 2009-11-16 2012-06-25 주식회사 케이씨씨 모노실란의 정제방법
US8679231B2 (en) 2011-01-19 2014-03-25 Advanced Technology Materials, Inc. PVDF pyrolyzate adsorbent and gas storage and dispensing system utilizing same
US9126139B2 (en) 2012-05-29 2015-09-08 Entegris, Inc. Carbon adsorbent for hydrogen sulfide removal from gases containing same, and regeneration of adsorbent

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1667426A (en) * 1921-11-14 1928-04-24 Gen Norit Company Ltd Gas-treating process
US1825707A (en) * 1927-05-24 1931-10-06 Silica Gel Corp Method of adsorbing a gas in a solid adsorbent
GB745698A (en) * 1953-09-25 1956-02-29 Standard Telephones Cables Ltd Improvements in or relating to methods of producing silicon of high purity

Also Published As

Publication number Publication date
NL112548C (de) 1900-01-01
FR70026E (fr) 1959-02-02
BE561650A (de) 1900-01-01
FR67266E (fr) 1958-02-19
GB829422A (en) 1960-03-02
US2987139A (en) 1961-06-06
BE565604A (de) 1900-01-01
BE532054A (de) 1900-01-01
CH373741A (de) 1963-12-15
FR72288E (fr) 1960-03-31
BE561654A (de) 1900-01-01
NL225733A (de) 1900-01-01

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