DE19630112C1 - Verstärker mit Neuron-MOS-Transistoren - Google Patents

Verstärker mit Neuron-MOS-Transistoren

Info

Publication number
DE19630112C1
DE19630112C1 DE19630112A DE19630112A DE19630112C1 DE 19630112 C1 DE19630112 C1 DE 19630112C1 DE 19630112 A DE19630112 A DE 19630112A DE 19630112 A DE19630112 A DE 19630112A DE 19630112 C1 DE19630112 C1 DE 19630112C1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
amplifier
mos transistor
weighting
gate
connection
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE19630112A
Other languages
English (en)
Inventor
Roland Dr Ing Thewes
Werner Dr Rer Nat Weber
Andreas Dipl Ing Luck
Erdmute Wohlrab
Doris Dr Re Schmitt-Landsiedel
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Priority to DE19630112A priority Critical patent/DE19630112C1/de
Priority to EP97111343A priority patent/EP0821475B1/de
Priority to DE59702679T priority patent/DE59702679D1/de
Priority to JP9200127A priority patent/JPH1079626A/ja
Priority to US08/900,345 priority patent/US5939945A/en
Application granted granted Critical
Publication of DE19630112C1 publication Critical patent/DE19630112C1/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F1/00Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
    • H03F1/08Modifications of amplifiers to reduce detrimental influences of internal impedances of amplifying elements
    • H03F1/22Modifications of amplifiers to reduce detrimental influences of internal impedances of amplifying elements by use of cascode coupling, i.e. earthed cathode or emitter stage followed by earthed grid or base stage respectively
    • H03F1/223Modifications of amplifiers to reduce detrimental influences of internal impedances of amplifying elements by use of cascode coupling, i.e. earthed cathode or emitter stage followed by earthed grid or base stage respectively with MOSFET's
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/04Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only
    • H03F3/16Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements with semiconductor devices only with field-effect devices
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03GCONTROL OF AMPLIFICATION
    • H03G1/00Details of arrangements for controlling amplification
    • H03G1/0005Circuits characterised by the type of controlling devices operated by a controlling current or voltage signal
    • H03G1/0035Circuits characterised by the type of controlling devices operated by a controlling current or voltage signal using continuously variable impedance elements
    • H03G1/007Circuits characterised by the type of controlling devices operated by a controlling current or voltage signal using continuously variable impedance elements using FET type devices

Description

In vielen Analogschaltungsapplikationen, so zum Beispiel in Video- und Audioanwendungen, in der Sensorik, in Analogrech­ ner, in bestimmten Realisierungen von (Teil-)Komponenten in Fuzzy-Schaltungen, Neuronalen Netzen usw., werden Verstärker­ schaltungen und Summier-Verstärker benötigt, die ein groß­ signalmäßig lineares Übertragungsverhalten aufweisen. Für derartige Schaltungen werden üblicherweise Operationsverstär­ kerschaltungen verwendet. Diese Schaltungen sind hinsichtlich ihrer technischen Realisierung in der Mikroelektronik relativ aufwendig. Das bedeutet, daß insbesondere Anwendungen, in de­ nen eine große Anzahl solcher Schaltungen eingesetzt werden, sich durch einen großen Platzbedarf auszeichnen. Ferner kann auch der Leistungsverbrauch der einzelnen Schaltungen in sol­ chen Anwendungen ein Problem sein. Auch die sich in derarti­ gen Fällen notwendigerweise ergebenden relativ langen signal­ führenden Leitungen zur Verbindung verschiedener Schaltungen können durch ihre Parasitärkapazität und Übersprecheinflüsse Probleme bereiten.
Aus den IEEE Transactions on Electron Devices, Vol. 39, No. 6, June 1992, S. 1444-1455 ist der Aufbau und die Funktionsweise eines Neuron-MOS-Transistors und seine Verwendung als Verstärker bzw. Summierverstärker bekannt. Hierbei ist der Neuron-MOS-Transistor als Source-Folger geschaltet.
Die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe besteht nun darin, einen großsignalmäßig linearen Verstärker bzw. Summierver­ stärker mit präzise einstellbaren Verstärkerfaktoren anzuge­ ben, der mit wenigen Bauelementen realisiert werden kann. Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die Merkmale des An­ spruchs 1 gelöst.
Vorteilhafte Weiterbildungen ergeben sich aus den Unteran­ sprüchen.
Durch die Erfindung ergeben sich insbesondere folgende Vor­ teile, daß der Platzbedarf und der Leistungsverbrauch der Schaltungen gering sind, daß der Verstärkungsfaktor über die Geometrie des Layouts des in der Schaltung zur Anwendung kom­ menden Neuron-MOS-Transistors exakt einstellbar ist, daß die Eingänge der Schaltungen die den jeweiligen Eingang treibende Quelle nur kapazitiv belasten, was insbesondere bei hochohmig vorliegenden Eingangssignalen von Bedeutung ist und daß die Schaltungen zeitkontinuierlich arbeiten und somit auch das in Switched-Capacitor-Schaltungen auftretende Problem des Rau­ schens durch Takteinkopplungen keine Rolle spielt.
Die Erfindung wird im folgenden anhand der Zeichnungen näher erläutert. Dabei zeigt
Fig. 1 einen erfindungsgemäßen invertierenden Verstärker mit Neuron-MOS-Transistor,
Fig. 2 eine schematische Darstellung des Übertragungsverhal­ tens der Schaltung aus Fig. 1,
Fig. 3 eine vorteilhafte Weiterbildung des Verstärkers nach Fig. 1 mit zusätzlichem Eingang zur Feinjustierung des DC-Arbeitspunktes,
Fig. 4 eine weitere vorteilhafte Weiterbildung des Verstär­ kers nach Fig. 1 mit einem zusätzlichen MOS-Transistor und einer Stromquelle zur Verringerung des Ausgangswiderstandes,
Fig. 5 einen invertierenden Neuron-MOS-Transistor-Verstärker mit k Eingängen auf der Basis eines Verstärkers nach Fig. 1 und
Fig. 6 einen entsprechenden allgemeinen Summierverstärker mit n invertierenden und k nichtinvertierenden Ein­ gängen.
Für die Beschreibung werden folgende Konventionen vereinbart: Das Massepotential GND beträgt 0 Volt und die Schaltungen werden mit einer symmetrischen Versorgungsspannung bezüglich GND-Potential betrieben. Die positive Versorgungsspannung wird mit VDD bezeichnet, die negative mit VSS. Aufgrund der Symmetrie der Versorgungsspannungen gilt VDD = -VSS.
Für den Neuron-MOSFET wird das bei der Veröffentlichung von Shibata gezeigte Symbol verwendet. In diesem Bild sind die Eingänge IN₁ . . . INn zu erkennen, die wiederum mit den Koppel-Gates GK₁ . . . GKn verbunden sind, ferner das Floating-Gate FG, der Kanalbereich CM und die Anschlüsse Source (S) und Drain (D).
Es werden ferner folgende Definitionen vereinbart: Die Kapazität zwischen einem Koppel-Gate GKi und dem Floating-Gate FG wird mit CIN, i bezeichnet. Die Kapazität zwischen dem Floating-Gate FG und dem Kanalbereich CH einschließlich der Source-Drain-Überlappkapazitäten wird mit CFG bezeichnet. Der Kapazitätsbelag dieser Kapazität in y-Richtung, wobei der y-Vektor parallel zum Stromfluß im Kanalbereich des Transi­ stors liegt, wird mit C′FG bezeichnet, es gilt:
Unter der Wichtung wi eines Eingangs wird das Verhältnis aus Koppelkapazität CIN,i und der Summe aller Kapazitäten Cges, deren eine Elektrode das Floating-Gate FG darstellt, verstan­ den, das heißt, es gilt:
Da die Koppelkapazität CIN,i eines Eingangs INi proportional zur Fläche des Koppel-Gates GKi ist, läßt sich die Wichtung wi eines Eingangs über die Fläche des entsprechenden Koppel-Gates einstellen. Insbesondere folgt aus Gl. (2), daß das Verhältnis der Wichtungen zweier Eingänge INi und INj mit i ≠ j sich über das Flächenverhältnis der jeweiligen Koppel-Gates einstellen läßt, das heißt, es gilt:
Das Grundprinzip aller im folgenden gezeigten Schaltungen be­ ruht auf dem in Fig. 1 gezeigten invertierenden Verstärker mit einem Eingang IN und einem Ausgang OUT. Die Schaltung ist aufgebaut aus dem Neuron-MOSFET T10, einem weiteren n-MOSFET T20, einer Spannungsquelle V20 und einer Stromquelle I10. Diese Stromquelle kann zum Beispiel durch den Ausgang eines p-MOS-Stromspiegels realisiert werden, wozu je nach Aufbau der Stromspiegelschaltung ein oder zwei p-MOS-Transistoren pro Stromquellen-Ausgang benötigt werden. Der Eingang IN der Schaltung ist verbunden mit einem Koppel-Gate des Neuron MOS-Transistors T10 mit dem Gewicht wIN. Der Ausgang OUT der Schaltung ist verbunden mit einem weiteren Koppel-Gate von T10 mit dem Gewicht wOUT.
Mittels der Stromquelle I10 wird ein konstanter Querstrom durch die beiden Transistoren T10 und T20 eingeprägt. Ans Ga­ te von T20 wird über die Spannungsquelle V20 eine konstante Vorspannung im Bereich von ca. τ0 Volt angelegt. Wenn nun das Drainpotential von T20, welches gleichzeitig das Knoten­ potential des Ausgangs OUT der Schaltung ist, größer als V20- Vth, T20 ist, wobei Vth, T20 für die Schwellenspannung von T20 steht, liegt der Arbeitspunkt von T20 im Sättigungsbereich. Wird zunächst davon ausgangen, daß der von der Stromquelle I10 gelieferte Strom unabhängig von der Spannung am Knoten OUT der Schaltung ist, so stellt der Bereich aller Ausgangs­ spannungen, bei denen der Arbeitspunkt von T20 im Sättigungs­ bereich liegt, den nominalen Betriebsfall der Schaltung dar. Bei einer adäquaten Wahl von V20 ist ein sehr weiter Aus­ gangsspannungsbereich möglich.
Da T20 im nominalen Betriebsfall in Sättigung arbeitet, stellt sich eine konstante Gate-Source-Spannung an T20 ein. Da wiederum das Gatepotential von T20 über die Spannungsquel­ le V20 vorgegeben ist, ergibt sich auch ein konstantes Sour­ cepotential von T20 und somit auch ein konstantes Drainpoten­ tial von T10.
Um den von der Stromquelle I10 eingeprägten Strom zu führen, muß sich auf dem Floating-Gate von T10 ein definierter Floating-Gate-Pegel VFG einstellen. Der Floating-Gate-Pegel er­ gibt sich über den kapazitiven Spannungsteiler aller Kapazi­ täten, dessen eine Elektrode das Floating-Gate selbst dar­ stellt. Wenn man ferner noch eine mögliche prozeßbedingte Aufladung des Floating-Gates auf ein Potential VQP mit be­ rücksichtigt, kann der Floating-Gate-Pegel VFG durch folgende Gleichung in allgemeiner Form beschrieben werden als:
Das Integral in dieser Gleichung stellt den Beitrag über CFG dar, der sich aus der Integration über den Kapazitätsbelag C′FG(y) des Kanalbereichs und das Kanalpotential V(y) des Neuron-MOSEFTs T10 ergibt. Da Drain- und Sourcepotential von T10 Konstanten sind und auch die lokale Flächenladungsdichte im Kanalbereich aufgrund des festen eingeprägten Stromes kon­ stant ist, können sich die Parameter C′FG(y) und V(y) während des Betriebes nicht ändern. Das heißt, die aktuellen Werte von Ein- und Ausgangsspannung VIN bzw. VOUT haben keinen Ein­ fluß auf den Wert dieser Parameter. Also stellt das Integral eine Konstante dar, deren Wert im folgenden mit VCH bezeich­ net wird. Gleichung (3) läßt sich damit umformen zu:
VFG =VQP + wIN × VIN + wOUT × VOUT + VCH (4)
Auflösung dieser Gleichung nach VOUT und Zusammenfassung der Konstanten VFG, VQP und VCH zu einer Konstanten V₀=VFG-VQP-VCH ergibt:
Für jede, auch für eine großsignalmäßige Änderung ΔVOUT der Ausgangsspannung VOUT als Funktion der großsignalmäßigen Än­ derung ΔVIN der Eingangsspannung VIN gilt also:
Fig. 2 zeigt eine schematische Darstellung des Übertragungs­ verhaltens gemäß Gleichung (5) für verschiedene Werte V₀ bei wIN = wOUT, wobei eine Übertragungskennlinie 1 mit einer ne­ gativen Nullpunktsspannung V01, eine Übertragungskennlinie 2 mit einer Nullpunktsspannung V02 =0 und eine Übertragungs­ kennlinie 3 mit einer positiven Nullpunktsspannung einge­ zeichnet sind. Der Aussteuerungsbereich, in welchem die Schaltung linear arbeitet, ist durch die Spannungen VLO und VLU eingegrenzt. Die untere Aussteuerungsgrenze VLU hat die Ursache darin, daß unterhalb dieses Wertes der Ausgangsspan­ nung VOUT, die gleichzeitig das Drainpotential von T20 bil­ det, der Arbeitspunkt von T20 aufgrund der nicht mehr ausrei­ chend großen Drain-Source-Spannung aus dem Sättigungsbereich ins Triodengebiet wandert. Sofern der Arbeitspunkt von T20 jedoch im Triodengebiet liegt, ist die Sourcespannung von T20 und damit auch die Drainspannung von T10 eine Funktion der Drainspannung von T20, das heißt der Ausgangsspannung VOUT. Gemäß der Argumentation im Zusammenhang mit den Gleichungen (3) . . . (6b) ist eine Voraussetzung für das gewünschte linea­ re Übertragungsverhalten jedoch die Konstanz des Drainpoten­ tials von T10, was für Ausgangsspannungen VOUT≦VLU nicht mehr erfüllt ist.
Eine weitere Voraussetzung für das lineare Übertragungsver­ halten ist die Konstanz des über die Stromquelle I10 einge­ prägten Stromes. Reale Stromquellen können einen konstanten Strom jedoch nur dann liefern, sofern der Spannungsabfall über der Stromquelle einen bestimmten Wert nicht unterschrei­ tet. Bei steigenden Werten VOUT der Ausgangsspannung nimmt der Spannungsabfall VDD-VOUT über der Stromquelle I10 ab, bis ein bestimmter Grenzwert dieses Spannungsabfalls erreicht ist, bei der der von der Stromquelle gelieferte Strom von seinem Sollwert abzuweichen beginnt. Gemäß der schematischen Dar­ stellung in Fig. 2 beträgt der Wert dieses Spannungsabfalls VDD-VLO.
Eine geeignete Dimensionierung der Transistoren T10 und T20 und der Stromquelle I10 und eine geeignete Wahl des einge­ prägten Stromes und der Spannung V20 erlauben jedoch, die Größe des linearen Aussteuerbereiches dieser Schaltung so zu gestalten, daß die Grenzen VLO und VLU nahe bei den jeweili­ gen Betriebsspannungen VDD und VSS liegen.
Bevorzugterweise kann der Gleichspannungsanteil V₀ der Über­ tragungsfunktion gemäß Gleichung (5) auf 0 Volt oder einen besonderen, wohldefinierten Wert eingestellt sein. Dazu be­ stehen zwei Möglichkeiten:
  • 1. Da die Floating-Gate-Spannung VFG von T10 zum einen eine Funktion des eingeprägten Querstromes ist und zum anderen gemäß der Beziehung V₀=VFG-VQP-VCH direkt auf den Wert V₀ der Übertragungsfunktion gemäß Gleichung (5) einwirkt, be­ steht die Möglichkeit, durch geeignete Wahl des Stromes I10 den gewünschten Wert von V₀ einzustellen.
  • 2. Wenn der Neuron-MOS-Transistor aus Fig. 1 um ein weiteres Koppel-Gate erweitert wird, so daß sich die in Fig. 3 skizzierte Schaltung ergibt, kann dieses weitere Koppel-Gate mit der Gewichtung wadj für den Abgleich der Spannung V₀ benutzt werden. Das bedeutet, daß an dieses Koppel-Gate im Betriebsfall eine konstante Gleichspannung V10 angelegt werden muß, deren Wert bei Vorgabe von V₀ abgeglichen wer­ den kann.
Der Ausgangswiderstand rOUT,ges der Schaltung gemäß Fig. 1 bzw. Fig. 3 berechnet sich aus dem Ausgangswiderstand rOUT,I10 der Stromquelle I10 und dem differentiellen Aus­ gangswiderstand rDS,T20 des Transistors T20 näherungsweise zu:
Daraus ergibt sich ein relativ großer Ausgangswiderstand. In vielen Fällen ist es wünschenswert, über eine Schaltung mit geringerem Ausgangswiderstand zu verfügen. Eine signifikante Verminderung des Ausgangswiderstandes wird durch Hinzunahme eines weiteren Transistors T30 sowie einer weiteren Strom­ quelle I30 gemäß Fig. 4 erreicht. T30 arbeitet in dieser Schaltung als Sourcefolger. Den Ausgang der gesamten Schal­ tung stellt der Sourceknoten dieses Transistors dar, welcher auch hier analog zu den Schaltungen in Fig. 1 und 3 mit dem Koppel-Gate mit der Wichtung wOUT des Neuron-MOS-Transistors T10 verbunden ist. Das Gate von T30 wird an den Drainknoten von T20 angeschlossen. Die Übertragungsfunktion dieser Schal­ tung wird durch die Gleichungen (3) . . . (6) beschrieben.
Eine Verallgemeinerung der Schaltung aus Fig. 1 ist in Fig. 5 dargestellt. Es handelt sich dabei um einen Verstärker, der die Eingangssignale der Eingänge IN₁ . . . INn mit der jeweili­ gen Wichtung aufaddiert und deren Summe invertierend ver­ stärkt an seinem Ausgang zur Verfügung stellt. In formaler Schreibweise lautet die Übertragungsfunktion:
Die oben beschriebenen Maßnahmen zur Einstellung der Spannung V₀ bzw. zur Erhöhung des Ausgangswiderstandes können auch bei dieser Schaltung in gleicher Weise zu Anwendung kommen.
In Fig. 6 wird eine Schaltung gezeigt, die einen Verstärker bzw. Summierer mit k nichtinvertierenden und n invertierenden Eingängen darstellt. Diese Schaltung ergibt sich aus Kaska­ dierung zweier Schaltungen gemäß Fig. 5. Dabei ist zu be­ rücksichtigen, daß der Neuron-MOSFET T11 bei n freien Signaleingängen n+2 Koppel-Gates enthalten muß, wobei eines der Rückführung des Ausgangssignales der gesamten Schaltung und eines der Einspeisung des Ausgangssignales der ersten Stufe um T10 dient. Im Vergleich: Der Transistor T10 muß bei k freien Eingängen nur k+1 Koppel-Gates aufweisen. Die Über­ tragungsfunktion dieser Schaltung lautet:
In diesen Gleichungen muß selbstverständlich für die Parame­ ter wOUT und V₀ unterschieden werden, auf welchen der beiden Neuron-MOS-Transistoren sie sich beziehen. Dies ist durch die Nennung des Transistors in der Klammer hinter dem jeweiligen Parameter geschehen.
Die oben beschriebenen Maßnahmen zur Einstellung der Spannung V₀ bzw. zur Erhöhung des Ausgangswiderstandes für jede der beiden Verstärkerstufen um T10 bzw. um T11 können auch bei dieser Schaltung in gleicher Weise wie im Zusammenhang mit Fig. 3 bzw. Fig. 4 erläutert zur Anwendung kommen.
Selbstverständlich ist es möglich, alle gezeigten Schaltungen auch komplementär zu den gezeigten Ausführungsbeispielen auf­ zubauen. In diesem Falle müßten die Anschlüsse VDD und VSS vertauscht werden, die Transistoren T10, T11, T20 und T30 müßten als p-Kanal-Transistoren ausgeführt werden.

Claims (9)

1. Verstärker mit Neuron-MOS-Transistor,
bei dem ein erstes Gate des Neuron-MOS-Transistors mit einem Verstärkereingang (IN) und ein zweites Gate des Neuron-MOS-Transistors mit einem Verstärkerausgang (OUT) verbunden sind,
bei dem ein erster Anschluß einer Einrichtung (T20, V20) zur Konstanthaltung der Drainspannung des Neuron-MOS-Transistors (T10) mit einer Konstantstromquelle (I10) verbunden ist und den Verstärkerausgang (OUT) bildet,
bei dem ein zweiter Anschluß der Einrichtung zur Konstanthal­ tung der Drainspannung mit einem ersten Anschluß des Neuron-MOS-Transistors (T10) verbunden ist und
bei dem ein zweiter Anschluß des Neuron-MOS-Transistors (T10) mit einem festen Potential (VSS) verbunden ist.
2. Verstärker nach Anspruch 1,
bei dem die Einrichtung zur Konstanthaltung der Drainspannung des Neuron-MOS-Transistors einen MOS-Transistor (T20) aufweist, dessen erster Anschluß über die Konstantstromquelle (I10) mit einer Versorgungsspannung (VDD) verbunden ist,
bei dem der erste Anschluß des Neuron-MOS-Transistors (T10) mit einem zweiten Anschluß des MOS-Transistors (T20) verbun­ den ist und der zweite Anschluß des Neuron-MOS-Transistors (T10) mit Bezugspotential (VSS) verbunden ist und
bei dem ein Gate des MOS-Transistors (T20) mit einer Span­ nungsquelle (V20) beschaltet ist.
3. Verstärker nach Anspruch 1 oder 2,
bei dem das erste Gate eine Eingangswichtung (wIN) und das zweite Gate eine Ausgangswichtung (wOUT) bewirken, wobei die Wichtungen über die Flächen der Gates erfolgen, und
bei dem der Verstärkungsfaktor durch Wahl des Wichtungsver­ hältnisses aus Eingangswichtung zu Ausgangswichtung einstell­ bar ist.
4. Verstärker nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
bei dem der Neuron-MOS-Transistor ein drittes Gate mit einer Abstimmungswichtung (wadj) aufweist, wobei die Abstimmungs­ wichtung über die Fläche des dritten Gate erfolgt, und
bei dem das dritte Gate mit einer Abstimmspannung (V10) ver­ bunden ist, um den Gleichspannungs-Arbeitspunkt einzustellen.
5. Verstärker nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
bei dem der erste Anschluß des MOS-Transistors mit dem Gate eines zusätzlichen MOS-Transistors (T30) verbunden ist, des­ sen erster Anschluß mit der Versorgungsspannung beschaltet ist und dessen zweiter Anschluß über eine weitere Stromquelle (I30) mit Bezugspotential verbunden ist, und
bei dem anstelle des ersten Anschlusses des MOS-Transistors (T20) der zweite Anschluß des zusätzlichen MOS-Transistors (T30) den Verstärkerausgang (OUT) bildet.
6. Verwendung eines Verstärkers nach einem der Ansprüche 1, 2, 4 und 5 als invertierender Summierverstärker, bei der der Neuron-MOS-Transistor mindestens ein weiteres Ga­ te mit einer jeweiligen weiteren Eingangswichtung (win,2 . . . win,n) aufweist, das mit einem jeweiligen weiteren Verstär­ kereingang (IN₂ . . . INn) verbunden ist.
7. Verwendung nach Anspruch 6, bei der der jeweilige Verstärkungsfaktor (vi) durch Wahl des Wichtungsverhältnisses der jeweiligen Eingangswichtung (win,i) zur Ausgangswichtung (wOUT) einstellbar ist.
8. Verwendung einer Reihenschaltung zweier Verstärker nach einem der Ansprüche 1 bis 7 als universeller Summierverstär­ ker,
bei der k Eingänge eines ersten der beiden Verstärker nicht­ invertierende Eingänge des Summierverstärkers und n Eingänge eines zweiten der beiden Verstärker invertierende Eingänge des universellen Summierverstärkers bilden,
bei der der Verstärkerausgang des ersten Verstärkers bzw. in­ vertierenden Summierverstärkers mit einem weiteren zusätzli­ chen Gate des Neurontransistors (T11) des zweiten Verstärkers verbunden ist und
bei der der Verstärkerausgang des zweiten Verstärkers bzw. invertierenden Summierverstärkers den Verstärkerausgang (OUT) des universellen Summierverstärkers bildet.
9. Verwendung nach Anspruch 8, bei der die Verstärkungsfaktoren für die nichtinvertierenden Eingänge (IN1 . . . INk) sowohl durch Wahl des Wichtungsverhält­ nisses der Eingangswichtungen (win,i) zur Ausgangswichtung (wOUT) beim Neuron-MOS-Transistor des ersten Verstärkers bzw. invertierenden Summierverstärkers als auch durch Wahl des Wichtungsverhältnisses der Eingangswichtung (win,k+2) des wei­ teren zusätzlichen Gates zur Ausgangswichtung (wOUT) beim Neuron-MOS-Transistors des zweiten Verstärkers bzw. invertieren­ den Summierverstärkers einstellbar sind.
DE19630112A 1996-07-25 1996-07-25 Verstärker mit Neuron-MOS-Transistoren Expired - Fee Related DE19630112C1 (de)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19630112A DE19630112C1 (de) 1996-07-25 1996-07-25 Verstärker mit Neuron-MOS-Transistoren
EP97111343A EP0821475B1 (de) 1996-07-25 1997-07-04 Verstärker mit Neuron-MOS Transistoren
DE59702679T DE59702679D1 (de) 1996-07-25 1997-07-04 Verstärker mit Neuron-MOS Transistoren
JP9200127A JPH1079626A (ja) 1996-07-25 1997-07-25 ニューロンmosトランジスタを有する増幅器
US08/900,345 US5939945A (en) 1996-07-25 1997-07-25 Amplifier with neuron MOS transistors

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19630112A DE19630112C1 (de) 1996-07-25 1996-07-25 Verstärker mit Neuron-MOS-Transistoren

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE19630112C1 true DE19630112C1 (de) 1997-08-14

Family

ID=7800874

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19630112A Expired - Fee Related DE19630112C1 (de) 1996-07-25 1996-07-25 Verstärker mit Neuron-MOS-Transistoren
DE59702679T Expired - Fee Related DE59702679D1 (de) 1996-07-25 1997-07-04 Verstärker mit Neuron-MOS Transistoren

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE59702679T Expired - Fee Related DE59702679D1 (de) 1996-07-25 1997-07-04 Verstärker mit Neuron-MOS Transistoren

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5939945A (de)
EP (1) EP0821475B1 (de)
JP (1) JPH1079626A (de)
DE (2) DE19630112C1 (de)

Families Citing this family (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6965142B2 (en) * 1995-03-07 2005-11-15 Impinj, Inc. Floating-gate semiconductor structures
US6664909B1 (en) 2001-08-13 2003-12-16 Impinj, Inc. Method and apparatus for trimming high-resolution digital-to-analog converter
US7092923B2 (en) * 2001-11-26 2006-08-15 Exploitation Of Next Generation Co. Ltd. Synapse element with learning function and semiconductor integrated circuit device including the synapse element
US6958646B1 (en) 2002-05-28 2005-10-25 Impinj, Inc. Autozeroing floating-gate amplifier
US6909389B1 (en) 2002-06-14 2005-06-21 Impinj, Inc. Method and apparatus for calibration of an array of scaled electronic circuit elements
US7221596B2 (en) * 2002-07-05 2007-05-22 Impinj, Inc. pFET nonvolatile memory
US6950342B2 (en) * 2002-07-05 2005-09-27 Impinj, Inc. Differential floating gate nonvolatile memories
US7187237B1 (en) * 2002-10-08 2007-03-06 Impinj, Inc. Use of analog-valued floating-gate transistors for parallel and serial signal processing
EP1552530A2 (de) * 2002-10-08 2005-07-13 Impinj Inc. Verwendung von analogwertigen floating-gate-transistoren zur anpassung der elektrischen eigenschaften von verschachtelt und pipeline
JP4262545B2 (ja) * 2003-07-09 2009-05-13 三菱電機株式会社 カスコード接続回路及びその集積回路
US20050058292A1 (en) * 2003-09-11 2005-03-17 Impinj, Inc., A Delaware Corporation Secure two-way RFID communications
US7528728B2 (en) * 2004-03-29 2009-05-05 Impinj Inc. Circuits for RFID tags with multiple non-independently driven RF ports
US7667589B2 (en) * 2004-03-29 2010-02-23 Impinj, Inc. RFID tag uncoupling one of its antenna ports and methods
US7423539B2 (en) * 2004-03-31 2008-09-09 Impinj, Inc. RFID tags combining signals received from multiple RF ports
US7973643B2 (en) * 2004-04-13 2011-07-05 Impinj, Inc. RFID readers transmitting preambles denoting data rate and methods
US7183926B2 (en) * 2004-04-13 2007-02-27 Impinj, Inc. Adaptable bandwidth RFID tags
US7917088B2 (en) 2004-04-13 2011-03-29 Impinj, Inc. Adaptable detection threshold for RFID tags and chips
US7501953B2 (en) * 2004-04-13 2009-03-10 Impinj Inc RFID readers transmitting preambles denoting communication parameters and RFID tags interpreting the same and methods
US7283390B2 (en) * 2004-04-21 2007-10-16 Impinj, Inc. Hybrid non-volatile memory
US20050240739A1 (en) * 2004-04-27 2005-10-27 Impinj. Inc., A Delaware Corporation Memory devices signaling task completion and interfaces and software and methods for controlling the same
US8111558B2 (en) 2004-05-05 2012-02-07 Synopsys, Inc. pFET nonvolatile memory
US7510117B2 (en) * 2004-06-04 2009-03-31 Impinj Inc Decoding with memory in RFID system
US8041233B2 (en) * 2004-07-14 2011-10-18 Fundación Tarpuy Adaptive equalization in coherent fiber optic communication
US7049964B2 (en) 2004-08-10 2006-05-23 Impinj, Inc. RFID readers and tags transmitting and receiving waveform segment with ending-triggering transition
US20060082442A1 (en) * 2004-10-18 2006-04-20 Impinj, Inc., A Delaware Corporation Preambles with relatively unambiguous autocorrelation peak in RFID systems
US7257033B2 (en) * 2005-03-17 2007-08-14 Impinj, Inc. Inverter non-volatile memory cell and array system
WO2006102553A2 (en) * 2005-03-24 2006-09-28 Impinj, Inc. Error recovery in rfid reader systems
US7679957B2 (en) * 2005-03-31 2010-03-16 Virage Logic Corporation Redundant non-volatile memory cell
US8122307B1 (en) 2006-08-15 2012-02-21 Synopsys, Inc. One time programmable memory test structures and methods
US7719896B1 (en) 2007-04-24 2010-05-18 Virage Logic Corporation Configurable single bit/dual bits memory
US7894261B1 (en) 2008-05-22 2011-02-22 Synopsys, Inc. PFET nonvolatile memory
CN117499840A (zh) * 2024-01-03 2024-02-02 广州市锐丰音响科技股份有限公司 一种带音响装置的操作模块

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4245165A (en) * 1978-11-29 1981-01-13 International Business Machines Corporation Reversible electrically variable active parameter trimming apparatus utilizing floating gate as control
DE2938347A1 (de) * 1979-09-21 1981-04-09 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Abgleichbare referenzspannungsquelle auf einem integrierten fet-baustein
JPS57207405A (en) * 1981-06-16 1982-12-20 Nec Corp Broad band negative feedback amplifying circuit
US4935702A (en) * 1988-12-09 1990-06-19 Synaptics, Inc. Subthreshold CMOS amplifier with offset adaptation
JP2662559B2 (ja) * 1989-06-02 1997-10-15 直 柴田 半導体装置
KR0175319B1 (ko) * 1991-03-27 1999-04-01 김광호 정전압 회로
US5444821A (en) * 1993-11-10 1995-08-22 United Microelectronics Corp. Artificial neuron element with electrically programmable synaptic weight for neural networks
EP0707759B1 (de) * 1994-05-06 1998-01-07 Koninklijke Philips Electronics N.V. Halbleitergerät

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
SHIBATA,T., OHMI,T.: A Functional MOS Transistor Featuring Gate-Level Weighted Sum and Threshold Operations, IN: IEEE Transactions on Electron Devices, Vol. 39, No. 6, June 1992, S. 1444-1455 *

Also Published As

Publication number Publication date
EP0821475A1 (de) 1998-01-28
US5939945A (en) 1999-08-17
DE59702679D1 (de) 2001-01-04
JPH1079626A (ja) 1998-03-24
EP0821475B1 (de) 2000-11-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19630112C1 (de) Verstärker mit Neuron-MOS-Transistoren
DE3523400C2 (de) Schaltungsanordnung für eine Ausgangsstufe der Klasse AB mit großer Schwingungsweite
DE102009054113B4 (de) Prozess-, Spannungs- und Temperaturregelung für Hochgeschwindigkeits-Verstärker mit festem Verstärkungsgrad sowie mit variabler Verstärkung und geringem Stromverbrauch auf der Basis von MOSFET-Widerständen
DE3625949C2 (de) Schaltung zum Erzeugen eines stabilisierten Stromes, insbesondere für integrierte MOS-Schaltungen
DE3606203C3 (de) Konstantspannungs-Erzeugerschaltung
DE69934629T2 (de) Differenzverstärker
DE19959180A1 (de) Verstärker mit dynamischer Kompensation und zugehöriges Verfahren
DE3416268C2 (de) Stromverstärkungseinrichtung
DE4133902C2 (de) CMOS-Leistungsverstärker
DE10345521B3 (de) Verstärkeranordnung
DE10052939B4 (de) Folge- und Halteschaltkreis
DE112005000994B4 (de) Hochpassfilter, welcher isolierte Gate-Feldeffekttransistoren verwendet
DE3008892A1 (de) Spannungsvergleicher
EP0460263A1 (de) Lineare CMOS-Ausgangsstufe
DE2635243C2 (de) Aktive integrierte Schaltungsanordnung
DE3024014C2 (de) Wechsel-Gleichspannungswandler in Form einer integrierten Schaltung
EP0685782A2 (de) Spannungsregler
DE10345739A1 (de) Nachführ- und Halteschaltung
DE2950596C2 (de)
DE19630111C1 (de) Vorrichtungen zur selbstjustierenden Arbeitspunkteinstellung in Verstärkerschaltungen mit Neuron-MOS-Transistoren
DE2751886A1 (de) Monolithisch integrierte, rueckgekoppelte verstaerkerschaltung
DE3734631C2 (de) Differenzverstärker unter Verwendung von MOS-Transistoren einer Einkanal-Polarität
DE69820220T2 (de) Vorspannungsschaltung hoher impedanz für wechselstromsignalverstärker
DE1937270B2 (de) Mehrstufiger gleichspannungsgekoppelter verstaerker mit feldeffekttransistoren
EP0602466A2 (de) Monolithisch integrierter Spannungsregler

Legal Events

Date Code Title Description
8100 Publication of patent without earlier publication of application
D1 Grant (no unexamined application published) patent law 81
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee