DE19742264A1 - endoscope - Google Patents

endoscope

Info

Publication number
DE19742264A1
DE19742264A1 DE1997142264 DE19742264A DE19742264A1 DE 19742264 A1 DE19742264 A1 DE 19742264A1 DE 1997142264 DE1997142264 DE 1997142264 DE 19742264 A DE19742264 A DE 19742264A DE 19742264 A1 DE19742264 A1 DE 19742264A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
endoscope according
deflection
pattern
housing
endoscope
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE1997142264
Other languages
German (de)
Other versions
DE19742264C2 (en
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HGV VOSSELER GMBH & CO. KG, 74613 OHRINGEN, DE
Original Assignee
VOSSELER ERSTE PATENTVERWERTUN
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by VOSSELER ERSTE PATENTVERWERTUN filed Critical VOSSELER ERSTE PATENTVERWERTUN
Priority to DE1997142264 priority Critical patent/DE19742264C2/en
Priority to PCT/EP1998/005513 priority patent/WO1999015930A1/en
Publication of DE19742264A1 publication Critical patent/DE19742264A1/en
Application granted granted Critical
Publication of DE19742264C2 publication Critical patent/DE19742264C2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B23/00Telescopes, e.g. binoculars; Periscopes; Instruments for viewing the inside of hollow bodies; Viewfinders; Optical aiming or sighting devices
    • G02B23/24Instruments or systems for viewing the inside of hollow bodies, e.g. fibrescopes
    • G02B23/2407Optical details
    • G02B23/2415Stereoscopic endoscopes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B23/00Telescopes, e.g. binoculars; Periscopes; Instruments for viewing the inside of hollow bodies; Viewfinders; Optical aiming or sighting devices
    • G02B23/24Instruments or systems for viewing the inside of hollow bodies, e.g. fibrescopes
    • G02B23/2407Optical details
    • G02B23/2423Optical details of the distal end

Description

Die Erfindung betrifft ein Endoskop mit einem länglichen Ge­ häuse, das ein optisches Fenster aufweist, dem eine Umlenkein­ richtung zugeordnet ist, mit einer Aufnahmevorrichtung zur optischen Erfassung eines Objekts, und mit einer Beleuchtungs­ einrichtung zur Beleuchtung des Objekts. The invention relates to an endoscope with an elongated Ge housing that has an optical window that does not have a deflection direction is assigned, with a receiving device for optical detection of an object, and with an illumination device for illuminating the object.  

Im Bereich der industriellen Fertigung kommt mittlerweile der Qualität des Produkts und damit der Qualitätsprüfung während der Fertigung zunehmend größere Bedeutung zu. Die Sicherung, Optimierung und Dokumentation der Qualität der erzeugten Pro­ dukte setzt eine fortlaufende und vollständige Kontrolle des Fertigungsprozesses voraus. Hierzu bedient man sich optischer Prüfmethoden, bei denen Kameras den Fertigungsprozeß, d. h. die Produkte optisch erfassen. Mit Hilfe von Bildverarbeitungs­ programmen lassen sich die Daten der erfaßten Produkte mit ab­ gespeicherten Referenzdaten vergleichen, um Abweichungen von der Norm zu erkennen.In the area of industrial production, the Quality of the product and thus the quality check during manufacturing is becoming increasingly important. The backup, Optimization and documentation of the quality of the generated pro products continuously and completely controls the Manufacturing process ahead. For this one uses optical Test methods in which cameras the manufacturing process, d. H. the Capture products optically. With the help of image processing programs, the data of the recorded products can also be entered Compare stored reference data to see deviations from to recognize the norm.

Der Nachteil dieser Prüfmethoden liegt insbesondere darin, daß die berechneten Bilddaten keinen Aufschluß bspw. über den Ober­ flächenverlauf des erfaßten Produkts liefern können, da die Messung zweidimensional erfolgt. Diese zweidimensionale Qualitätsprüfung genügt jedoch sehr häufig nicht den geforder­ ten Ansprüchen, so daß zusätzlich Personal zur Durchführung von Sichtprüfungen notwendig wird. Aufgrund des notwendigen Perso­ naleinsatzes verschlechtert sich der Automatisierungsgrad und damit gleichermaßen die Kostenstruktur.The disadvantage of these test methods is in particular that the calculated image data does not provide any information, for example, about the waiter surface area of the registered product can deliver, because the Measurement is two-dimensional. This two-dimensional However, quality inspection very often does not meet the requirements ten claims, so that additional personnel to carry out Visual inspections become necessary. Due to the necessary perso level of automation deteriorates and hence the cost structure.

Darüber hinaus müssen häufig Stellen an den Produkten geprüft werden, die nicht ohne weiteres von außen für das Personal zu­ gänglich sind. Die Verwendung von Spiegeln, Faser-basierten En­ doskopen oder ähnlichen optischen Instrumenten läßt zwar die Sichtprüfung unzugänglicher Stellen zu, allerdings ist die op­ tische Qualität einer solchen Prüfung eingeschränkt, so daß kleine Beschädigungen, Risse etc. nicht erkannt werden. Ins­ besondere fehlen räumliche Informationen der untersuchten Stellen, wie sie bei einer Sichtprüfung vorliegen.In addition, places on the products often need to be checked that are not readily available to staff from outside are common. The use of mirrors, fiber-based en Doskopen or similar optical instruments leaves the Visual inspection of inaccessible places, however the op The quality of such an examination is limited, so that small damages, cracks etc. cannot be recognized. Ins particular lack of spatial information of the examined Places as they are in a visual inspection.

Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht somit darin, ein Endoskop zu schaffen, das eine dreidimensionale Erfassung von Objekten bzw. Objekträumen auch an unzugänglichen Stellen er­ möglicht.The object of the present invention is therefore a Endoscope to create a three-dimensional capture of Objects or object spaces even in inaccessible places possible.

Diese Aufgabe wird bei einem Endoskop gemäß der eingangs ge­ nannten Art dadurch gelöst, daß die Umlenkeinrichtung eine erste Umlenkfläche und eine zweite Umlenkfläche aufweist, daß eine Mustererzeugungseinrichtung zur Projektion eines optischen Musters über die zweite Umlenkfläche auf das Objekt vorgesehen ist, und daß die Aufnahmeeinrichtung zur Aufnahme des vom Ob­ jekt reflektierten und von der zweiten Umlenkfläche umgelenkten Lichtes ausgebildet ist, wobei eine Auswerte-Einrichtung zur Bestimmung von dreidimensionalen Daten des Objektes aus dem aufgenommenen Licht anschließbar ist.This task is ge with an endoscope according to the beginning named type solved in that the deflection device has a first deflection surface and a second deflection surface that a pattern generator for projecting an optical Pattern provided over the second deflection surface on the object is, and that the receiving device for receiving the from Ob reflected and deflected by the second deflection surface Light is formed, with an evaluation device for Determination of three-dimensional data of the object from the recorded light is connectable.

Die Aufgabe der Erfindung wird auf diese Weise vollkommen ge­ löst.The object of the invention is completely ge in this way solves.

Mit dem erfindungsgemäßen Endoskop wird es ermöglicht, mit Hilfe bestimmter bekannter optischer Verfahren, beispielsweise dem Phasenshift-Verfahren dreidimensionale Daten des Objektes zu bestimmen. Es ist ein Gehäuse mit einer sehr geringen Quer­ schnittsfläche realisierbar, das auch eine Prüfung von schwer zugänglichen Stellen, beispielsweise Bohrungen in Gehäusen, er­ möglicht. Durch die dreidimensionale Erfassung der Oberfläche des Objektes wird eine Prüfung mit hoher Qualität ermöglicht. Hierbei kann einerseits die Oberfläche des Objektes dreidimen­ sional nachgebildet werden, um eine visuelle Beurteilung zu er­ möglichen. Darüberhinaus können Abstandsmessungen und Dimensi­ onsmessungen ausgeführt werden. With the endoscope according to the invention it is possible to With the help of certain known optical methods, for example the phase shift method three-dimensional data of the object to determine. It is a case with a very small cross cutting surface feasible, which is also a difficult test accessible places, for example holes in housings, he possible. Through the three-dimensional detection of the surface a high quality inspection is made possible. On the one hand, the surface of the object can be three-dimensional regionally to be reproduced in order to make a visual assessment possible. In addition, distance measurements and dimensi measurements are carried out.  

In einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung ist zu­ mindest die Mustererzeugungseinrichtung oder die Umlenkein­ richtung verlagerbar angeordnet.In an advantageous development of the invention, at least the pattern generator or the deflector direction shiftable.

Die Verlagerbarkeit der Mustererzeugungseinrichtung hat den Vorteil, daß das sogenannte Phasenshift-Verfahren, bei dem mehrere Aufnahmen mit verschobenem Streifenmuster gemacht werden, angewendet werden kann.The relocability of the pattern generator has the Advantage that the so-called phase shift process in which several pictures with shifted stripe pattern can be applied.

In zusätzlicher Weiterbildung dieser Ausführung ist ein Piezo­ antrieb zur Verlagerung der Mustererzeugungseinrichtung oder der Umlenkeinrichtung vorgesehen.In a further development of this version is a piezo drive to relocate the pattern generator or the deflection device is provided.

Die Verwendung eines Piezoantriebs hat den Vorteil, daß mit hoher Präzision auch sehr kleine Verlagerungswege möglich werden, wie dies bei dem Phasenshift-Verfahren notwendig ist. Die komplizierte Anordnung von mechanischen Antrieben wird so­ mit vermieden.The use of a piezo drive has the advantage that with high precision even very small displacement paths possible as is necessary in the phase shift process. The complicated arrangement of mechanical drives is so with avoided.

Die Verlagerbarkeit der Umlenkeinrichtung hat den Vorteil, daß sich jener Bereich, auf den das Muster projiziert wird, aus­ dehnen läßt, ohne die Vorrichtung selbst bewegen zu müssen.The displaceability of the deflection device has the advantage that the area onto which the pattern is projected can stretch without having to move the device itself.

Besonders flexibel läßt sich das System dann einsetzen, wenn die Umlenkflächen der Umlenkeinrichtung zusätzlich kippbar oder verschwenkbar angeordnet sind, wobei auch in diesem Fall ein Piezoantrieb zum Einsatz kommen kann.The system can be used particularly flexibly if the deflecting surfaces of the deflecting device can additionally be tilted or are arranged pivotably, also in this case Piezo drive can be used.

In einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung weist die Mustererzeugungseinrichtung ein optisches Gitter, vorzugsweise ein binäres Gitter, auf. In an advantageous development of the invention, the Pattern generating device, an optical grating, preferably a binary grid, on.  

Mit Hilfe eines Gitters, insbesondere eines binären Gitters, läßt sich ein Muster mit sinusförmigem Grauwertverlauf senk­ recht zu den Linien erzeugen, was sich als vorteilhaft für die Bildauswertung herausgestellt hat.With the help of a grid, especially a binary grid, a pattern with a sinusoidal gray value curve can be lowered right to generate the lines, which is beneficial for the Image evaluation has highlighted.

In einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung weist die Mustererzeugungseinrichtung eine Flüssigkristallzelleneinheit auf.In an advantageous development of the invention, the Pattern generating means a liquid crystal cell unit on.

Mittels einer solchen Flüssigkristallzelleneinheit (LCD-Ein­ heit) lassen sich in einfacher Art und Weise unterschiedliche Muster erzeugen.By means of such a liquid crystal cell unit (LCD-Ein unit) can be different in a simple manner Create patterns.

Der Vorteil liegt somit darin, daß die Flexibilität und die Er­ fassungsqualität des erfindungsgemäßen Endoskops verbessert werden.The advantage is that the flexibility and the Er improved quality of the endoscope according to the invention become.

In einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung weist die Beleuchtungseinrichtung eine Leuchtdiode, einen Reflektor und einen Kondensor auf.In an advantageous development of the invention, the Lighting device a light emitting diode, a reflector and a condenser.

Dies hat den Vorteil, daß bei geringem Energiebedarf ein hoher Beleuchtungsgrad erzielbar ist, wobei die Beleuchtungseinrich­ tung dennoch sehr klein baut.This has the advantage that a high one with a low energy requirement Degree of illumination can be achieved, the illuminating device tion is still very small.

In einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung weist die Aufnahmeeinheit einen CCD-Sensor auf.In an advantageous development of the invention, the Recording unit on a CCD sensor.

Dies hat den Vorteil, daß eine sehr kleine Baueinheit reali­ sierbar ist, die in das Endoskop integriert werden kann, so daß Qualitätseinbußen, die etwa durch Kopplung mit einer außerhalb des Gehäuses angeordneten Kamera über Lichtwellenleiter auf­ treten, vermieden werden.This has the advantage that a very small unit reali is able to be integrated into the endoscope, so that Loss of quality, for example by coupling with an outside  the camera arranged on fiber optic cables kick, be avoided.

In einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung ist das op­ tische Fenster als Ausnehmung in einer Gehäusewandung ausge­ bildet, wobei die Ausnehmung mittels einer lichtdurchlässigen Platte, vorzugsweise einer Glasscheibe, abgedeckt ist, die gegenüber der Gehäusewandung nach innen versetzt ist.In an advantageous development of the invention, the op table windows as a recess in a housing wall forms, the recess by means of a translucent Plate, preferably a sheet of glass, which is covered is offset inwards relative to the housing wall.

Hiermit erzielt man den Vorteil, daß einerseits die empfind­ liche Umlenkeinrichtung sowie die Optik und die Aufnahmeein­ richtung gegen ein Eindringen von Schmutzpartikeln geschützt werden. Andererseits wird durch die nach innen versetzte Anord­ nung verhindert, daß die lichtdurchlässige Platte, bspw. beim Einbringen der Vorrichtung in einen schwer zugänglichen Hohl­ raum, an Kanten verkratzt wird, was eine deutliche Beeinträch­ tigung der optischen Erfassung zur Folge hätte.This gives the advantage that the sens deflection device as well as the optics and the mounting direction protected against the ingress of dirt particles become. On the other hand, due to the inward arrangement tion prevents the translucent plate, for example Inserting the device into a cavity that is difficult to access space, is scratched on edges, which is a clear adverse effect would result in optical detection.

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung weist das Ge­ häuse einen distalen Abschnitt und einen proximalen Abschnitt auf, die lösbar miteinander verbunden sind, wobei zwischen bei­ den Abschnitten Kontaktelemente zur elektrischen Verbindung vorgesehen sind, und wobei die Aufnahmeeinheit, die Umlenkein­ richtung, die Mustererzeugungseinrichtung und die Beleuchtungs­ einrichtung in Längsrichtung hintereinander im distalen Ab­ schnitt aufgenommen sind.According to a further embodiment of the invention, the Ge housing a distal section and a proximal section on, which are releasably connected to each other, between at the sections contact elements for electrical connection are provided, and wherein the receiving unit, the deflection direction, the pattern generator and the lighting device in the longitudinal direction one behind the other in the distal ab cut are included.

Der zweiteilige Aufbau des Gehäuses hat den Vorteil, daß das Endoskop sehr einfach umgebaut werden kann, so daß die Flexibi­ lität steigt. The two-part construction of the housing has the advantage that Endoscope can be converted very easily, so that the Flexibi lity increases.  

Dabei ist der distale Abschnitt vorzugsweise starr ausgebildet.The distal section is preferably rigid.

Hierdurch wird ein sicherer Schutz der in distalen Abschnitten aufgenommenen empfindlichen Einrichtungen, nämlich der Auf­ nahmeeinheit, der Umlenkeinrichtung, der Mustererzeugungs­ einrichtung und der Beleuchtungseinrichtung, gewährleistet. Der proximale Abschnitt kann dagegen je nach gewünschtem An­ wendungsfall flexibel oder starr ausgebildet sein.This ensures reliable protection of the distal sections recorded sensitive devices, namely the Auf acquisition unit, the deflection device, the pattern generation device and the lighting device, guaranteed. The proximal section can, however, depending on the desired An application case be flexible or rigid.

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ist eine Steuerungseinrichtung zur Verlagerung zumindest der Muster­ erzeugungseinrichtung oder der Umlenkeinrichtung nach einem ausgewählten Meßverfahren vorgesehen.According to a further embodiment of the invention Control device for shifting at least the pattern generating device or the deflection device according to one selected measurement method provided.

Dies hat den Vorteil, daß je nach Anwendungsfall das passende Verfahren eingesetzt werden kann, wobei die Handhabung sehr einfach bleibt.This has the advantage that, depending on the application, the right one Process can be used, handling very remains simple.

Gemäß einer weiteren Ausführung der Erfindung sind die Mustererzeugungseinrichtung und die zweite Umlenkfläche zu einer einzigen Einheit zusammengefaßt, die von einem Digital Mirror Device (DMD) mit einer Vielzahl von auf einem Halb­ leiterchip angeordneten Einzelspiegeln gebildet ist, wobei die Einzelspiegel jeweils durch Anlegen einer Steuerspannung ver­ kippbar sind.According to a further embodiment of the invention, the Pattern generating device and the second deflection surface combined in a single unit by a digital Mirror Device (DMD) with a variety of on one half conductor chip arranged individual mirrors is formed, the Single mirror ver by applying a control voltage are tiltable.

Durch diese Maßnahme wird der Aufbau des Endoskops erheblich vereinfacht, da die Funktion der Mustererzeugungseinrichtung und der zweiten Umlenkfläche von einer einzigen Einheit über­ nommen wird, die lediglich von einer Elektronik entsprechend angesteuert werden muß. This measure makes the structure of the endoscope significant simplified because the function of the pattern generator and the second deflection surface of a single unit which is taken only by electronics accordingly must be controlled.  

Somit können mechanische Einheiten zur Verschiebung entweder der Mustererzeugungseinrichtung oder der zweiten Umlenkfläche vollständig vermieden werden.Thus, mechanical units can either be used for displacement the pattern generator or the second deflection surface be completely avoided.

Gemäß einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ist die Steuerungseinrichtung zur Ansteuerung der Flüssigkristall­ einheit oder des Digital Mirror Device (DMD) zur Erzeugung eines Musters, das aus einer Vielzahl von unterschiedlichen Mustern auswählbar ist, ausgebildet.According to a further embodiment of the invention Control device for controlling the liquid crystal unit or the digital mirror device (DMD) for generation of a pattern made up of a variety of different Patterns can be selected, trained.

Hiermit erreicht man den Vorteil, daß speziell an das zu er­ fassende Objekt angepaßte Muster verwendbar sind, ohne Ein­ griffe an der Mustererzeugungseinrichtung vornehmen zu müssen. Mithin ist eine Verbesserung der Erfassungsqualität möglich.This gives the advantage that he specifically matching object patterns can be used without On handles on the pattern generator. It is therefore possible to improve the recording quality.

Weitere Vorteile und Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus der Beschreibung und der beiliegenden Zeichnung.Further advantages and refinements of the invention result from the description and the accompanying drawing.

Es versteht sich, daß die vorstehend genannten und die nach­ stehend noch zu erläuternden Merkmale nicht nur in der jeweils angegebenen Kombination, sondern auch in anderen Kombinationen oder in Alleinstellung verwendbar sind, ohne den Rahmen der vorliegenden Erfindung zu verlassen.It is understood that the above and the following standing features to be explained not only in each specified combination, but also in other combinations or can be used alone, without the scope of to leave the present invention.

Die Erfindung wird nachfolgend anhand eines Ausführungs­ beispiels mit Bezug auf die Zeichnung näher erläutert. Dabei zeigen:The invention is based on an embodiment example explained in more detail with reference to the drawing. Here demonstrate:

Fig. 1 eine schematische Darstellung einer erfindungs­ gemäßen Vorrichtung, Fig. 1 is a schematic representation of a device according to the Invention,

Fig. 2a-d unterschiedliche Aufnahmen eines auf das zu ver­ messende Objekt projizierten Streifenmusters, Fig. 2a-d different images of an image projected on the measuring object to ver stripe pattern,

Fig. 3 ein aus den aufgenommenen Streifenmustern gemäß Fig. 2 erstelltes Phasenbild, und Fig. 3 a from the recorded fringe patterns shown in FIG. 2 phase created image, and

Fig. 4 eine dreidimensionale Flächendarstellung des aufge­ nommenen Objekts. Fig. 4 is a three-dimensional surface representation of the object taken.

In Fig. 1 ist ein Endoskop, das zur optischen dreidimensionalen Erfassung von Objekten bzw. deren Oberflächen dient, insgesamt mit der Ziffer 2 bezeichnet.In Fig. 1, an endoscope, which is used for the optical three-dimensional detection of objects or their surfaces, is generally designated by the number 2 .

Das Endoskop 2 umfaßt ein längliches Gehäuse 9, das einen distalen Abschnitt 10 und einen proximalen Abschnitt 11 auf­ weist, die mittels eines Befestigungselements 7 lösbar mitein­ ander verbunden sind. Im distalen Abschnitt 10 ist ein Sensor­ kopf 3 aufgenommen, während der proximale Abschnitt 11 als Griffteil 5 ausgebildet ist.The endoscope 2 comprises an elongated housing 9 which has a distal section 10 and a proximal section 11 which are detachably connected to one another by means of a fastening element 7 . In the distal section 10 , a sensor head 3 is received, while the proximal section 11 is designed as a grip part 5 .

Der distale Abschnitt 10 des Gehäuses 9 ist rohrförmig ausge­ bildet, mit einem vorzugsweise viereckigen oder kreisrunden Querschnitt. Der distale Abschnitt 10 des Gehäuses 9 ist starr ausgebildet und vorzugsweise aus Metall gefertigt.The distal portion 10 of the housing 9 is tubular, with a preferably square or circular cross section. The distal section 10 of the housing 9 is rigid and is preferably made of metal.

Der proximale Abschnitt 11 des Gehäuses 9, der als Griffteil 5 ausgebildet ist, weist einen dem distalen Abschnitt angepaßten Querschnitt auf, wobei die Querschnittsflächen nicht not­ wendigerweise übereinstimmen müssen. Der proximale Abschnitt 11, der das Griffteil 5 bildet, ist je nach Anwendungsfall starr oder flexibel und biegsam in Form eines Schlauchs ausge­ bildet.The proximal section 11 of the housing 9 , which is designed as a grip part 5 , has a cross section adapted to the distal section, the cross-sectional areas not necessarily having to match. The proximal section 11 , which forms the handle part 5 , is rigid or flexible and flexible in the form of a tube, depending on the application.

Der distale Abschnitt 10 nimmt eine Aufnahmeeinheit 13, eine Umlenkeinrichtung 15 sowie eine Projektionseinrichtung 17 auf. Die Aufnahmeinheit 13 ist im vorliegenden Ausführungsbeispiel am proximalen Ende 19 des Sensorkopfs 3 angeordnet, während die Projektionseinrichtung 17 am gegenüberliegenden distalen Ende 21 liegt. Zwischen der Aufnahmeeinheit 13 und der Projektions­ einrichtung 17 ist die Umlenkeinrichtung 15 vorgesehen.The distal section 10 receives a receiving unit 13 , a deflection device 15 and a projection device 17 . In the present exemplary embodiment, the receiving unit 13 is arranged at the proximal end 19 of the sensor head 3 , while the projection device 17 is located at the opposite distal end 21 . The deflection device 15 is provided between the recording unit 13 and the projection device 17 .

Die Aufnahmeeinheit 13 weist ein Objektiv 23 und einen Licht­ sensor 25 in Form eines CCD-Sensors auf. Das Objektiv 23 und der CCD-Sensor 25 liegen innerhalb des distalen Abschnittes 10 in Längsrichtung gesehen hintereinander, wobei das Objektiv 23 der Umlenkeinrichtung 15 zugewandt ist.The recording unit 13 has a lens 23 and a light sensor 25 in the form of a CCD sensor. The objective 23 and the CCD sensor 25 lie one behind the other within the distal section 10, as seen in the longitudinal direction, the objective 23 facing the deflection device 15 .

Die Umlenkeinrichtung 15 weist zwei Spiegeleinheiten 27a und 27b auf, die auf einer Trägerplatte 29 angeordnet sind. Die Spiegeleinheit 27a weist eine ebene Spiegelfläche 31a auf, die in einem Winkel von 45° zu der Längsachse 33 des Sensorkopfs 3 liegt und dem Objektiv 23 zugewandt ist. Die Spiegeleinheit 27b weist ebenfalls eine ebene Spiegelfläche 31b auf, die mit der Längsachse 33 einen Winkel von 30° einschließt und der Projektionseinrichtung 17 zugewandt ist. Zumindest die Spiegeleinheit 27b ist mittels eines Antriebs in Längsrichtung verlagerbar. Als Antrieb wird vorzugsweise ein Piezoantrieb 79 verwendet, der beispielsweise an die Trägerplatte 29 gekoppelt sein könnte, die dann zweigeteilt mit einem festen, der Auf­ nahmeeinheit 13 zugewandten Teil und einem beweglichen Teil zum Antrieb der Spiegeleinheit 27b ausgebildet ist.The deflection device 15 has two mirror units 27 a and 27 b, which are arranged on a carrier plate 29 . The mirror unit 27 a has a flat mirror surface 31 a, which lies at an angle of 45 ° to the longitudinal axis 33 of the sensor head 3 and faces the lens 23 . The mirror unit 27 b also has a flat mirror surface 31 b, which encloses an angle of 30 ° with the longitudinal axis 33 and faces the projection device 17 . At least the mirror unit 27 b can be displaced in the longitudinal direction by means of a drive. A piezo drive 79 is preferably used as the drive, which could for example be coupled to the carrier plate 29 , which is then formed in two parts with a fixed part facing the receiving unit 13 and a movable part for driving the mirror unit 27 b.

In einem den beiden Spiegelflächen 31a, 31b zugewandten Längs­ abschnitt 35 des distalen Abschnittes 10 des Gehäuses 9 ist ein optisches Fenster 37 vorgesehen. Dieses optische Fenster 37 ist als Durchbruch in der Wandung des Gehäuses 9 ausgebildet, wobei ein lichtdurchlässiges Element 39 die Ausnehmung abdeckt. Fig. 1 läßt deutlich erkennen, daß das lichtdurchlässige Element gegenüber der Wandung des Gehäuses nach innen, d. h. zur Längs­ achse 33 hin versetzt angeordnet ist. Bei dem lichtdurch­ lässigen Element handelt es sich vorzugsweise um eine Glasplatte, die an die Form des Gehäuses angepaßt ist. Das optische Fenster 37 wird so groß gewählt, daß es im gesamten Projektionsbereich der beiden Spiegelflächen 31a, 31b liegt.In one of the two mirror surfaces 31 a, 31 b facing longitudinal section 35 of the distal section 10 of the housing 9 , an optical window 37 is provided. This optical window 37 is designed as an opening in the wall of the housing 9 , a transparent element 39 covering the recess. Fig. 1 clearly shows that the translucent element with respect to the wall of the housing inwards, ie to the longitudinal axis 33 is arranged offset. The translucent element is preferably a glass plate which is adapted to the shape of the housing. The optical window 37 is chosen so large that it lies in the entire projection range of the two mirror surfaces 31 a, 31 b.

Die Projektionseinrichtung 17 umfaßt eine aus zumindest einer optischen Linse bestehende Optik 41, die mittels einer Halterung 42 beabstandet zu der Innenwandung des Gehäuses 9 symmetrisch zur Längsachse 33 gehalten wird. Des weiteren um­ faßt die Projektionseinrichtung 17 ein senkrecht zur Längsachse 33 angeordnetes optisches Gitter sowie eine Beleuchtungseinheit 45. Optik 41, optisches Gitter 43 und Beleuchtungseinheit 45 sind in Längsrichtung gesehen hintereinander angeordnet, wobei die Optik 41 der Umlenkeinrichtung 15 und dort der zweiten Spiegeleinheit 27b zugewandt ist.The projection device 17 comprises an optic 41 consisting of at least one optical lens, which is held at a distance from the inner wall of the housing 9 symmetrically to the longitudinal axis 33 by means of a holder 42 . Furthermore, the projection device 17 includes an optical grating arranged perpendicular to the longitudinal axis 33 and an illumination unit 45 . Optics 41 , optical grating 43 and lighting unit 45 are arranged one behind the other as seen in the longitudinal direction, the optics 41 facing the deflection device 15 and there the second mirror unit 27 b.

Die Beleuchtungseinheit 45 weist eine LED, vorzugsweise eine Power-LED 47, einen Kondensor 49 sowie einen Reflektor 51 auf. Der Reflektor 51 dient gleichzeitig als Halterung für die Power-LED 47 und den Kondensor 49, wobei beide Elemente symmetrisch zur Längsachse 33 gehalten sind. Die reflektierende Fläche des Reflektors 51 ist zu der Umlenkeinrichtung 15 ausge­ richtet, so daß die von der Power-LED ausgehende Strahlung im wesentlichen in Richtung der Spiegeleinheit 27b verläuft.The lighting unit 45 has an LED, preferably a power LED 47 , a condenser 49 and a reflector 51 . The reflector 51 also serves as a holder for the power LED 47 and the condenser 49 , both elements being held symmetrically to the longitudinal axis 33 . The reflecting surface of the reflector 51 is directed out to the deflection device 15 , so that the radiation emanating from the power LED runs essentially in the direction of the mirror unit 27 b.

Das optische Gitter 43 weist ein binäres Streifenmuster mit einem Gitterabstand d auf. Dieses binäre Gitter ist senkrecht zur Längsachse 33 vorzugsweise mittels eines Piezoantriebs schrittweise verlagerbar, wobei die Schrittweite einem Bruch­ teil des Gitterabstands d, beispielsweise einem Viertel (d/4) entspricht.The optical grating 43 has a binary stripe pattern with a grating spacing d. This binary grating can be shifted in steps perpendicular to the longitudinal axis 33, preferably by means of a piezo drive, the step width corresponding to a fraction of the grating spacing d, for example a quarter (d / 4).

Das optische Gitter 43 kann in einer bevorzugten Ausführungsform als LCD-Einheit ausgebildet sein. Mit einer solchen LCD-Einheit lassen sich die unterschiedlichsten Muster, d. h. neben binären Streifenmustern auch kreisförmige oder andersförmige Muster erzeugen. Die Verschiebung senkrecht zur Längsachse 33 des Musters läßt sich bei einer LCD-Einheit ohne Verlagerung derselben erreichen, indem einfach ein neues Muster generiert wird, das um die gewünschte Schrittweite gegenüber dem vorhergehenden Muster verschoben ist.In a preferred embodiment, the optical grating 43 can be designed as an LCD unit. Such an LCD unit can be used to produce a wide variety of patterns, ie circular or differently shaped patterns in addition to binary stripe patterns. The displacement perpendicular to the longitudinal axis 33 of the pattern can be achieved with an LCD unit without displacement by simply generating a new pattern which is shifted by the desired step size compared to the previous pattern.

Der distale Abschnitt 10 des rohrförmigen Gehäuses 9 des Sensorkopfs 3 ist an seinem dem Griffteil 5 abgewandten Ende 21 mittels eines Deckels 53 verschlossen, der vorzugsweise abnehm­ bar ist. Der Deckel 53 soll das Eindringen von Schmutz oder anderen zu einer Beschädigung der Projektionseinrichtung 17 führenden Körpern verhindern. Am gegenüberliegenden proximalen Ende 19 des distalen Abschnitts 10 ist eine ebenfalls abnehm­ bare Abdeckung 55 vorgesehen. In diese Abdeckung 55 ist ein Kontaktelement 57 integriert, das eine Vielzahl von - in Fig. 1 nur schematisch dargestellten - weiblichen Kontakten 59 auf­ weist. Mit einzelnen dieser weiblichen Kontakte 59 sind die elektrischen Einheiten, d. h. die Aufnahmeeinheit 13, die Umlenkeinrichtung 15, das optische Gitter 43 sowie die Power-LED 47 über elektrische Leitungen 61 verbunden. Die elek­ trischen Leitungen 61 verlaufen innerhalb des Gehäuses 9 dicht an der Gehäusewandung. Sie dienen einerseits zur Versorgung der elektrischen Verbraucher mit Energie und andererseits zur Über­ tragung von Steuer- und Datensignalen.The distal section 10 of the tubular housing 9 of the sensor head 3 is closed at its end 21 facing away from the handle part 5 by means of a cover 53 , which is preferably removable. The cover 53 is intended to prevent the ingress of dirt or other bodies leading to damage to the projection device 17 . At the opposite proximal end 19 of the distal portion 10 , a removable cover 55 is also provided. In this cover 55 , a contact element 57 is integrated, which has a plurality of female contacts 59 , which are only shown schematically in FIG. 1. The electrical units, that is to say the receiving unit 13 , the deflection device 15 , the optical grating 43 and the power LED 47 are connected to individual female contacts 59 via electrical lines 61 . The electrical lines 61 run within the housing 9 close to the housing wall. They serve on the one hand to supply electrical consumers with energy and on the other hand to transmit control and data signals.

An dem dem proximalen Ende 19 des Sensorkopfs 3 gegenüber­ liegenden distalen Ende 63 des Griffteils 5 ist ein Kontakt­ element 65 vorgesehen, das eine Vielzahl von männlichen Kontak­ ten 67 aufweist. An diesen Kontakten 67 sind elektrische Leitungen 69 angeschlossen, die durch das Griffteil 5 nach außen geführt sind. Selbstverständlich ist es auch denkbar, an dem proximalen Ende des Griffteils 5 ebenfalls ein Kontakt­ element vorzusehen, so daß die elektrische Verbindung von außen über ein Steckkontaktelement erfolgen kann.At the proximal end 19 of the sensor head 3 opposite distal end 63 of the handle part 5 , a contact element 65 is provided which has a plurality of male contacts 67 th. Electrical lines 69 are connected to these contacts 67 and are led through the handle part 5 to the outside. Of course, it is also conceivable to also provide a contact element at the proximal end of the handle part 5 , so that the electrical connection can be made from the outside via a plug contact element.

Die Leitungen 69 sind mit einer Steuereinheit 71 verbunden, die ihrerseits mittels einer Leitung 73 mit einer Bild­ verarbeitungseinheit 75 verbunden ist. An dieser Bild­ verarbeitungseinheit 75 ist ein Monitor 77 angeschlossen. Vor­ zugsweise sind Steuereinheit 71, Bildverarbeitungseinheit 75 und Monitor 77 in Form eines Computers zusammengefaßt.The lines 69 are connected to a control unit 71 , which in turn is connected to an image processing unit 75 by means of a line 73 . A monitor 77 is connected to this image processing unit 75 . Before preferably control unit 71 , image processing unit 75 and monitor 77 are summarized in the form of a computer.

Eine Verbindung der Leitung 69 im Griffteil 5 mit den Leitungen 61 im Sensorkopf 3 wird über die beiden Kontakt­ elemente 57, 65 erreicht, wenn Sensorkopf 3 und Griffteil 5 zu­ sammengesteckt werden. Die Fixierung der beiden Teile 3, 5 er­ folgt dann über das Befestigungselement 7.A connection of the line 69 in the handle part 5 with the lines 61 in the sensor head 3 is achieved via the two contact elements 57 , 65 when the sensor head 3 and the handle part 5 are plugged together. The fixation of the two parts 3 , 5 then follows via the fastening element 7 .

Zur optischen Erfassung eines Objekts wird das Endoskop 2 wie folgt betrieben:The endoscope 2 is operated as follows for the optical detection of an object:

Zunächst wird das Endoskop 2 positioniert, wobei das optische Fenster 37 im Bereich der aufzunehmenden Fläche liegen muß. Mit Hilfe der Aufnahmeeinheit 13 ist über die Spiegelfläche 31a der Umlenkeinrichtung 15 der außerhalb des Gehäuses 9 liegende Be­ reich über den Monitor 77 darstellbar, so daß eine Positionie­ rung erleichtert und des weiteren auch dann möglich ist, wenn der Benutzer keinen Sichtkontakt hat. Sofern das vorhandene Licht nicht ausreicht, läßt sich beispielsweise über die Steuereinheit 71 die Power-LED 47 einschalten, die das von der Aufnahmeeinheit 13 erfaßte Gebiet über die Spiegelfläche 31b ausleuchtet. Sofern das optische Gitter 43 als LCD-Einheit aus­ gebildet ist, läßt sich die Projektion eines Streifenmusters vermeiden, so daß die Darstellung am Monitor 77 hiermit nicht beeinträchtigt wird. Über die Steuereinheit 71 ist die LCD-Einheit entsprechend ansteuerbar.First, the endoscope 2 is positioned, the optical window 37 must lie in the area of the area to be recorded. With the help of the receiving unit 13 is beyond the mirror surface 31 a of the deflection device 15 lying outside the housing 9 Be rich on the monitor 77 , so that positioning is facilitated and is also possible if the user has no visual contact. If the available light is not sufficient, the power LED 47 can be switched on, for example, via the control unit 71 and illuminates the area detected by the recording unit 13 via the mirror surface 31 b. If the optical grating 43 is formed as an LCD unit, the projection of a stripe pattern can be avoided, so that the display on the monitor 77 is not affected thereby. The LCD unit can be controlled accordingly via the control unit 71 .

Ist die richtige Position erreicht, wird über die Steuereinheit 71 der optische Erfassungsvorgang gestartet. Dieser Meßvorgang hängt im wesentlichen von dem gewählten Meßverfahren ab, wobei im folgenden beispielhaft das Phasenshift-Verfahren benutzt wird. Grundsätzlich sind auch andere bekannte Verfahren zur Er­ stellung dreidimensionaler Messungen an Objekten verwendbar.Once the correct position has been reached, the optical detection process is started via the control unit 71 . This measurement process essentially depends on the measurement method selected, the phase shift method being used as an example below. In principle, other known methods for the provision of three-dimensional measurements on objects can also be used.

Beim Phasenshift-Verfahren wird auf das zu erfassende Objekt ein Streifenmuster projiziert, das einen sinusförmigen Licht­ intensitätsverlauf senkrecht zu den projizierten Streifen auf­ weist. Das Streifenmuster wird mit Hilfe der Power-LED 47 und dem optischen Gitter 43 erzeugt, wobei die Spiegelfläche 31b das durch die Optik 41 gebündelte Licht zum Objekt hin ablenkt. Über die Steuereinheit 71 läßt sich die Spiegeleinheit 27b in Längsrichtung verlagern, so daß hiermit eine nachträgliche Feinpositionierung möglich ist, ohne das Endoskop 2 selbst zu bewegen.In the phase shift method, a stripe pattern is projected onto the object to be detected, which has a sinusoidal light intensity curve perpendicular to the projected stripes. The stripe pattern is generated with the aid of the power LED 47 and the optical grating 43 , the mirror surface 31 b deflecting the light bundled by the optics 41 toward the object. The control unit 71 allows the mirror unit 27 b to be displaced in the longitudinal direction, so that subsequent fine positioning is possible without moving the endoscope 2 itself.

Wie bereits erwähnt, ist das optische Gitter 43 entweder als binäres Gitter oder als LCD-Einheit ausgebildet. Im Falle des binären Gitters wird der sinusförmige Lichtintensitätsverlauf beispielsweise durch ein Tiefpaß-Filter oder durch ein "Unscharfstellen" der Optik 41 erreicht. Je nach Ausführungs­ form der LCD-Einheit ist mit dieser direkt ein sinusförmiger Lichtintensitätsverlauf zu erzielen. Die notwendigen Steuer­ signale zur Generierung des Musters in der LCD-Einheit liefert die Steuereinheit 71, die beispielsweise einen Speicher umfaßt, in dem unterschiedliche Muster abgelegt sind.As already mentioned, the optical grating 43 is designed either as a binary grating or as an LCD unit. In the case of the binary grating, the sinusoidal light intensity curve is achieved, for example, by a low-pass filter or by “unsharping” of the optics 41 . Depending on the design of the LCD unit, a sinusoidal light intensity curve can be achieved directly with it. The necessary control signals for generating the pattern in the LCD unit are supplied by the control unit 71 , which includes, for example, a memory in which different patterns are stored.

Das auf das Objekt projizierte Streifenmuster wird vom CCD-Sensor 25 über die Spiegelfläche 31a erfaßt und als elek­ trisches Signal über die Leitung 69 an die Steuereinheit 71 übertragen. Diese leitet das Bildsignal an die Bild­ verarbeitungseinheit 75 weiter, wo die entsprechenden Bild­ informationen gespeichert werden. In Fig. 2a ist beispielsweise ein von der Aufnahmeeinheit 13 aufgenommenes Bild dargestellt. Deutlich zu erkennen ist der ungleichmäßige Verlauf des Streifenmusters, was auf unterschiedliche Tiefen, bzw. Höhen der Oberfläche schließen läßt. The stripe pattern projected onto the object is detected by the CCD sensor 25 via the mirror surface 31 a and transmitted as an electrical signal via line 69 to the control unit 71 . This forwards the image signal to the image processing unit 75 , where the corresponding image information is stored. In Fig. 2a an image taken by the image pickup unit 13 is shown, for example. The uneven course of the stripe pattern can be clearly seen, which suggests different depths or heights of the surface.

Da mittels einer Aufnahme noch keine Berechnung eindeutiger Höhen- bzw. Tiefenwerte möglich ist, werden weitere Aufnahmen gemacht, wobei das Streifenmuster jeweils um einen bestimmten Wert senkrecht zur Streifenrichtung verschoben wird. Dieses Verschieben des Streifenmusters erfolgt entweder durch Ver­ lagern des optischen Gitters 43 über den Piezoantrieb oder durch Verlagern der Spiegelfläche 31b, was ebenfalls über einen Piezoantrieb möglich ist. Der Wert der Verlagerungsstrecke ent­ spricht dem Quotienten aus dem Gitterabstand π und der Anzahl der Aufnahmen. Im vorliegenden Ausführungsbeispiel werden ins­ gesamt vier Aufnahmen gemacht, so daß die Verlagerungsstrecke π/4 beträgt.Since it is not yet possible to calculate clear height or depth values by means of a recording, further recordings are made, the strip pattern being shifted by a specific value perpendicular to the strip direction. This shifting of the stripe pattern is done either by storing the optical grating 43 via the piezo drive or by moving the mirror surface 31 b, which is also possible via a piezo drive. The value of the displacement distance corresponds to the quotient of the grid spacing π and the number of exposures. In the present exemplary embodiment, a total of four recordings are made, so that the displacement distance is π / 4.

Im Falle einer LCD-Einheit als optisches Gitter ist keine mechanische Verlagerung notwendig; vielmehr wird lediglich ein neues Streifenmuster erzeugt, das gegenüber dem vorhergehenden Streifenmuster um π/4 verschoben ist. Die Steuerung dieses Vor­ gangs erfolgt automatisch über die Steuereinheit 71.In the case of an LCD unit as an optical grating, no mechanical displacement is necessary; rather, only a new stripe pattern is generated, which is shifted by π / 4 compared to the previous stripe pattern. This process is controlled automatically via the control unit 71 .

In den Fig. 2b-d sind die weiteren drei Aufnahmen mit je­ weils verschobenem Streifenmuster dargestellt.In Figs. 2b-d, the other three images are shown, each with weils shifted stripe pattern.

Mit Hilfe von bestimmten Algorithmen, auf die an dieser Stelle nicht näher eingegangenen werden soll, da sie grundsätzlich be­ kannt sind, wird aus diesen vier Aufnahmen ein sogenanntes Phasenbild berechnet, wie es in Fig. 3 dargestellt ist. Bei einem solchen Phasenbild treten bei ebenen Flächen senkrecht zu den Linienstrukturen linear ansteigende oder abfallende Grau­ wertverläufe mit Unstetigkeitsstellen im Abstand der Ort­ frequenz, d. h. des Gitterabstands der Linienstruktur, auf. With the help of certain algorithms, which will not be dealt with in more detail at this point, since they are known in principle, a so-called phase image is calculated from these four recordings, as shown in FIG. 3. With such a phase image, linearly increasing or decreasing gray value gradients with discontinuities in the spacing of the spatial frequency, ie the grid spacing of the line structure, occur on flat surfaces perpendicular to the line structures.

Dieses Phasenbild wird anschließend demoduliert. Darunter ver­ steht man das Auffinden von Phasensprüngen und das Zusammen­ setzen der Grauwertverläufe des Phasenbildes zu einem kontinu­ ierlichen, stetigen Ergebnisbild. Dieses Ergebnisbild ent­ spricht dann einem schräg im Raum liegenden nicht kalibrierten helligkeitscodierten Tiefenbild.This phase image is then demodulated. Including ver you find the phase jumps and the together set the gray value gradients of the phase image to a continuous animal-like, steady result picture. This result picture ent then speaks to an uncalibrated person lying diagonally in the room brightness-coded depth image.

Dieses demodulierte Bild wird dann mit einem demodulierten Bild einer Referenzebene in Beziehung gesetzt und mit einem Skalier­ faktor multipliziert. Als Ergebnis wird ein helligkeits­ codiertes Tiefenbild des erfaßten Objekts erzielt. In dieser Darstellung sind Punkte, die in der gleichen Ebene liegen, mit dem gleichen Grauwert dargestellt.This demodulated image is then combined with a demodulated image related to a reference plane and with a scaling factor multiplied. As a result, a brightness encoded depth image of the detected object achieved. In this Representation are points that are in the same plane with displayed the same gray value.

Zur besseren Darstellung wird dieses helligkeitscodierte Tiefenbild in eine pseudo-dreidimensionale Flächendarstellung umgesetzt und entsprechend Fig. 4 auf dem Monitor 77 angezeigt. Die vorgenannten Bildverarbeitungsschritte werden dabei voll­ ständig von der Bildverarbeitungseinheit 75 ausgeführt.For a better representation, this brightness-coded depth image is converted into a pseudo-three-dimensional surface representation and displayed on the monitor 77 in accordance with FIG. 4. The aforementioned image processing steps are carried out continuously by the image processing unit 75 .

Gemäß einer Variante der Erfindung sind das binäre Gitter und die zweite Umlenkfläche der Umlenkeinrichtung durch ein soge­ nanntes Digital Mirror Device (DMD) ersetzt.According to a variant of the invention, these are binary grids and the second deflection surface of the deflection device by a so-called named Digital Mirror Device (DMD) replaced.

Ein solches DMD, das von Texas Instruments hergestellt und ver­ trieben wird, umfaßt eine Vielzahl von auf einem Halbleiterchip (SRAM-Chip) angeordneten Einzelspiegeln, die jeweils durch An­ legen einer Steuerspannung in eine definierte Kipplage verkipp­ bar sind. Auf einem solchen DMD mit einer Fläche von 13×15 mm2 sind beispielsweise 848×600 Speicherzellen vorgesehen, so daß sich etwa eine halbe Million beweglicher Spiegel auf dem DMD befindet. Die Spiegel sind individuell adressierbar, so daß sich bei einer geeigneten Ansteuerung beliebige gewünschte Muster erzeugen und in zeitlicher Folge verändern lassen.Such a DMD, which is manufactured and sold by Texas Instruments, comprises a plurality of individual mirrors arranged on a semiconductor chip (SRAM chip), each of which can be tilted to a defined tilt position by applying a control voltage. On such a DMD with an area of 13 × 15 mm 2 , for example 848 × 600 memory cells are provided, so that there are about half a million movable mirrors on the DMD. The mirrors are individually addressable, so that any desired pattern can be generated with a suitable control and changed in chronological order.

Damit übernimmt das DMD die Funktion des binären Gitters und der zweiten Umlenkfläche bzw. die Funktion einer LCD-Einheit in Kombination mit der zweiten Umlenkfläche.The DMD thus takes over the function of the binary grid and the second deflection surface or the function of an LCD unit in Combination with the second deflection surface.

Im übrigen entspricht die Funktionsweise vollständig der zuvor beschriebenen Ausführung. Das DMD könnte anstelle der zweiten Umlenkfläche 31b mit dem optischen Fenster 37 ausgerichtet an­ geordnet sein.Otherwise, the mode of operation corresponds entirely to the previously described embodiment. The DMD could be aligned with the optical window 37 instead of the second deflection surface 31 b.

Das beschriebene Endoskop 2 ist in vielen technischen Gebieten einsetzbar, wobei es vornehmlich zur Prüfung von Oberflächen benutzt wird, die für den Benutzer nur schwer oder gar nicht direkt sichtbar sind. Insbesondere können mit dem beschriebenen Endoskop 2 Hohlräume untersucht werden.The described endoscope 2 can be used in many technical fields, whereby it is primarily used for checking surfaces that are difficult or not directly visible to the user. In particular, 2 cavities can be examined with the endoscope described.

Die Ausbildung und besondere Anordnung von Aufnahmeeinheit 13, Umlenkeinrichtung 15 und Projektionseinrichtung 17 läßt die Unterbringung in einem sehr kleinen rohrförmigen Gehäuse 9 (vorzugsweise mit einem Außendurchmesser von etwa 6-7 mm) zu.The design and special arrangement of the receiving unit 13 , the deflection device 15 and the projection device 17 allow it to be accommodated in a very small tubular housing 9 (preferably with an outside diameter of about 6-7 mm).

Darüber hinaus ergibt sich durch die Verlagerbarkeit der Um­ lenkeinrichtung 15 der Vorteil, daß beispielsweise auf einen aufwendigen Antrieb zur Verlagerung des optischen Gitters 43 verzichtet werden kann. Darüber hinaus läßt sich das Streifen­ muster exakt auf der gewünschten Stelle positionieren.In addition, the fact that the steering device 15 can be moved has the advantage that, for example, an expensive drive for moving the optical grating 43 can be dispensed with. In addition, the stripe pattern can be positioned exactly on the desired location.

Mit Hilfe des Endoskops 2 lassen sich selbstverständlich auch Abstandsmessungen durchführen, die mittels des Triangulations­ verfahrens berechnet werden können. Das beschriebene Phasen­ shift-Verfahren ist nur als Beispiel angegeben; selbstverständ­ lich sind auch andere optische Meßverfahren einsetzbar. Es ist beispielsweise denkbar, das Objekt durch Bewegen des Endoskops aus unterschiedlichen Positionen aufzunehmen und aus diesen Aufnahmen ein dreidimensionales Bild zu berechnen. Eine Ver­ lagerung des Gitters ist dann nicht notwendig. Insbesondere die Benutzung einer LCD-Einheit führt zu einem Endoskop 2, das mit unterschiedlichen optischen Meßverfahren betrieben werden kann.With the help of the endoscope 2 , distance measurements can of course also be carried out, which can be calculated using the triangulation method. The phase shift method described is only given as an example; Of course, other optical measuring methods can also be used. For example, it is conceivable to record the object from different positions by moving the endoscope and to calculate a three-dimensional image from these recordings. A displacement of the grid is then not necessary. In particular, the use of an LCD unit leads to an endoscope 2 , which can be operated with different optical measuring methods.

Claims (13)

1. Endoskop mit einem länglichen Gehäuse (9), das ein opti­ sches Fenster (37) aufweist, dem eine Umlenkeinrichtung (15) zugeordnet ist, mit einer Aufnahmeeinrichtung (13) zur optischen Erfassung eines Objekts, und mit einer Be­ leuchtungseinrichtung (45) zur Beleuchtung des Objekts, dadurch gekennzeichnet, daß die Umlenkeinrichtung (15) eine erste Umlenkfläche (31a) und eine zweite Umlenkfläche (31b) aufweist, daß eine Mustererzeugungseinrichtung (17; 41, 43, 45, 47) zur Projektion eines optischen Musters über die zweite Umlenkfläche (31a) auf das Objekt vor­ gesehen ist, und daß die Aufnahmeeinrichtung (13) zur Auf­ nahme des vom Objekt reflektierten und von der zweiten Um­ lenkfläche (31b) umgelenkten Lichtes ausgebildet ist, wo­ bei eine Auswerte-Einrichtung (75) zur Bestimmung von dreidimensionalen Daten des Objektes aus dem aufgenommenen Licht anschließbar ist.1. Endoscope with an elongated housing ( 9 ) having an optical window ( 37 ), to which a deflection device ( 15 ) is assigned, with a receiving device ( 13 ) for optically detecting an object, and with a lighting device ( 45 ) for illuminating the object, characterized in that the deflection device ( 15 ) has a first deflection surface ( 31 a) and a second deflection surface ( 31 b), that a pattern generation device ( 17 ; 41 , 43 , 45 , 47 ) for projecting an optical pattern over the second deflection surface ( 31 a) is seen on the object before, and that the receiving device ( 13 ) for receiving the reflection of the object and from the second deflection surface ( 31 b) deflected light is formed, where an evaluation device ( 75 ) for determining three-dimensional data of the object from the recorded light can be connected. 2. Endoskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß zumindest die Mustererzeugungs­ einrichtung (43) oder die Umlenkeinrichtung (15) im Ge­ häuse (9) verlagerbar angeordnet sind.2. Endoscope according to one of the preceding claims, characterized in that at least the pattern generating device ( 43 ) or the deflection device ( 15 ) in the Ge housing ( 9 ) are arranged displaceably. 3. Endoskop nach Anspruch 2, gekennzeichnet durch einen Piezoantrieb (79) zur Verlagerung der Mustererzeugungs­ einrichtung (43) oder der Umlenkeinrichtung (15).3. Endoscope according to claim 2, characterized by a piezo drive ( 79 ) for moving the pattern generating device ( 43 ) or the deflection device ( 15 ). 4. Endoskop nach Anspruch 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeich­ net, daß die Mustererzeugungseinrichtung (43) ein optisches Streifengitter, vorzugsweise ein binäres Strei­ fengitter umfaßt. 4. Endoscope according to claim 1, 2 or 3, characterized in that the pattern generating device ( 43 ) comprises an optical strip grating, preferably a binary strip grating. 5. Endoskop nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Mustererzeugungseinrichtung (43) eine Flüssig­ kristall-Einheit umfaßt, die die Darstellung verschiedener Muster zuläßt.5. Endoscope according to claim 1 or 2, characterized in that the pattern generating device ( 43 ) comprises a liquid crystal unit which allows the display of different patterns. 6. Endoskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Beleuchtungseinrichtung (45) eine Leuchtdiode (47), einen Reflektor (51) und einen Kondensor (49) umfaßt.6. Endoscope according to one of the preceding claims, characterized in that the lighting device ( 45 ) comprises a light-emitting diode ( 47 ), a reflector ( 51 ) and a condenser ( 49 ). 7. Endoskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Aufnahmeeinheit (13) einen CCD-Sensor (25) umfaßt.7. Endoscope according to one of the preceding claims, characterized in that the recording unit ( 13 ) comprises a CCD sensor ( 25 ). 8. Endoskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das optische Fenster (37) in der Wandung des Gehäuses (9) ausgebildet ist, wobei die Aus­ nehmung mittels einer lichtdurchlässigen Platte (39), vor­ zugsweise einer Glasscheibe abgedeckt ist, die gegenüber der Gehäusewandung nach innen versetzt ist.8. Endoscope according to one of the preceding claims, characterized in that the optical window ( 37 ) in the wall of the housing ( 9 ) is formed, the recess being covered by means of a translucent plate ( 39 ), preferably before a glass pane, the is offset inwards relative to the housing wall. 9. Endoskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das Gehäuse (9) einen distalen Ab­ schnitt (10) und einen proximalen Abschnitt (11) umfaßt, die lösbar miteinander verbunden sind, wobei zwischen beiden Abschnitten Kontaktelemente (57, 65) zur elektri­ schen Verbindung vorgesehen sind, und wobei die Aufnahme­ einheit (13), die Umlenkeinrichtung (15), die Muster­ erzeugungseinrichtung (43) und die Beleuchtungseinrichtung (45) in Längsrichtung hintereinander im distalen Abschnitt (10) aufgenommen sind. 9. Endoscope according to one of the preceding claims, characterized in that the housing ( 9 ) comprises a distal section ( 10 ) and a proximal section ( 11 ) which are detachably connected to one another, contact elements ( 57 , 65 ) between the two sections. for electrical connection's are provided, and wherein the receiving unit ( 13 ), the deflection device ( 15 ), the pattern generating device ( 43 ) and the lighting device ( 45 ) are received in the longitudinal direction one behind the other in the distal section ( 10 ). 10. Endoskop nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß der distale Abschnitt (10) starr ausgebildet ist.10. Endoscope according to claim 9, characterized in that the distal section ( 10 ) is rigid. 11. Endoskop nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eine Steuerungseinrichtung (71) zur Verlagerung zumindest der Mustererzeugungseinrichtung (43) oder der Umlenkeinrichtung (15) nach einem ausgewählten Meßverfahren vorgesehen ist.11. Endoscope according to one of the preceding claims, characterized in that a control device ( 71 ) for displacing at least the pattern generating device ( 43 ) or the deflection device ( 15 ) is provided according to a selected measuring method. 12. Endoskop nach einem der Ansprüche 1, 2 oder 6 bis 11, da­ durch gekennzeichnet, daß die Mustererzeugungseinrichtung und die zweite Umlenkfläche von einem Digital Mirror Device (DMD) mit einer Vielzahl von auf einem Halbleiter­ chip angeordneten Einzelspiegeln gebildet sind, wobei die Einzelspiegel jeweils durch Anlegen einer Steuerspannung verkippbar sind.12. Endoscope according to one of claims 1, 2 or 6 to 11, there characterized in that the pattern generating means and the second deflection surface from a digital mirror Device (DMD) with a variety of on a semiconductor Chip arranged individual mirrors are formed, the Individual mirrors each by applying a control voltage are tiltable. 13. Endoskop nach Anspruch 11 oder 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Steuerungseinrichtung (71) zur Ansteuerung der Flüssigkristall-Einheit (43) oder des Digital Mirror Device (DMD) zur Erzeugung eines Musters, das aus einer Vielzahl von unterschiedlichen Mustern auswählbar ist, ausgebildet ist.13. Endoscope according to claim 11 or 12, characterized in that the control device ( 71 ) for controlling the liquid crystal unit ( 43 ) or the digital mirror device (DMD) for generating a pattern which can be selected from a large number of different patterns, is trained.
DE1997142264 1997-09-25 1997-09-25 endoscope Expired - Lifetime DE19742264C2 (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1997142264 DE19742264C2 (en) 1997-09-25 1997-09-25 endoscope
PCT/EP1998/005513 WO1999015930A1 (en) 1997-09-25 1998-08-29 Endoscope

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1997142264 DE19742264C2 (en) 1997-09-25 1997-09-25 endoscope

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE19742264A1 true DE19742264A1 (en) 1999-04-29
DE19742264C2 DE19742264C2 (en) 2001-09-20

Family

ID=7843550

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1997142264 Expired - Lifetime DE19742264C2 (en) 1997-09-25 1997-09-25 endoscope

Country Status (2)

Country Link
DE (1) DE19742264C2 (en)
WO (1) WO1999015930A1 (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005121699A1 (en) 2004-06-14 2005-12-22 Isra Vision Systems Ag Sensor for measuring the surface of an object
DE102008040947A1 (en) * 2008-08-01 2010-04-29 Sirona Dental Systems Gmbh 3D dental camera for detecting surface structures of a test object by means of triangulation
DE102009043523A1 (en) * 2009-09-30 2011-04-07 Siemens Aktiengesellschaft endoscope
DE102010004349A1 (en) * 2010-01-11 2011-07-14 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V., 51147 Endoscopic instrument for use in medical device to examine cavities in inner body of human, has projection device for converting light produced by light source into projection light that is discharged from distal end to produce projection
WO2012000855A1 (en) * 2010-06-30 2012-01-05 Siemens Aktiengesellschaft Endoscope
DE102010050227A1 (en) * 2010-11-04 2012-05-10 Siemens Aktiengesellschaft Endoscope with 3D functionality
DE102013200657A1 (en) * 2013-01-17 2014-07-17 Sypro Optics Gmbh Device for generating an optical dot pattern
DE102015100300A1 (en) * 2015-01-12 2016-01-21 Carl Zeiss Ag endoscope system

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10104483A1 (en) * 2001-01-31 2002-10-10 Forschungszentrum Fuer Medizin Device for 3D measurement of surfaces in especially organic hollow volumes has optical imaging channel(s), projection channel(s) in endoscope shaft, fed out of shaft laterally at distal end
DE102007005388A1 (en) * 2007-02-02 2008-08-07 Siemens Ag Refractive generation of a concentrically structured light beam, optical measuring device with refractive deflecting element
CN105526883A (en) * 2016-01-19 2016-04-27 西安交通大学 Optical fiber white-light interferometry endoscope three-dimensional measurement system

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2510537A1 (en) * 1975-03-11 1976-09-23 Siemens Ag Measuring distance between e.g. reference plane and tunnel wall - using rotary laser beam scanner to increase measuring points
US4837732A (en) * 1986-06-24 1989-06-06 Marco Brandestini Method and apparatus for the three-dimensional registration and display of prepared teeth
DE3829925A1 (en) * 1988-09-02 1990-03-15 Kaltenbach & Voigt Optical probe for 3D measurement of teeth in the buccal cavity
DE19608632A1 (en) * 1996-03-06 1997-09-11 Eos Electro Optical Syst Device and method for the optical scanning of surfaces

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2708507A1 (en) * 1977-02-26 1978-08-31 Leitz Ernst Gmbh IMAGE TRANSMISSION DEVICE FOR THE EXAMINATION OF INACCESSIBLE PARTS OF AN OBJECT
JPH02287311A (en) * 1989-04-28 1990-11-27 Toshiba Corp Endoscope device with measuring mechanism
DE19506167A1 (en) * 1995-02-22 1996-08-29 Siemens Ag Determining inner geometry of component, e.g. vacuum tube

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2510537A1 (en) * 1975-03-11 1976-09-23 Siemens Ag Measuring distance between e.g. reference plane and tunnel wall - using rotary laser beam scanner to increase measuring points
US4837732A (en) * 1986-06-24 1989-06-06 Marco Brandestini Method and apparatus for the three-dimensional registration and display of prepared teeth
DE3829925A1 (en) * 1988-09-02 1990-03-15 Kaltenbach & Voigt Optical probe for 3D measurement of teeth in the buccal cavity
DE19608632A1 (en) * 1996-03-06 1997-09-11 Eos Electro Optical Syst Device and method for the optical scanning of surfaces

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7602507B2 (en) 2004-06-14 2009-10-13 Isra Vision Ag Sensor for measuring the surface of an object
WO2005121699A1 (en) 2004-06-14 2005-12-22 Isra Vision Systems Ag Sensor for measuring the surface of an object
DE102008040947B4 (en) * 2008-08-01 2014-02-06 Sirona Dental Systems Gmbh 3D dental camera for detecting surface structures of a test object by means of triangulation
DE102008040947A1 (en) * 2008-08-01 2010-04-29 Sirona Dental Systems Gmbh 3D dental camera for detecting surface structures of a test object by means of triangulation
US9494418B2 (en) 2008-08-01 2016-11-15 SIRONA DENTAL SYSTEMS, GmbH 3D dental camera for recording surface structures of an object measured by means of triangulation
DE102009043523A1 (en) * 2009-09-30 2011-04-07 Siemens Aktiengesellschaft endoscope
DE102010004349A1 (en) * 2010-01-11 2011-07-14 Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt e.V., 51147 Endoscopic instrument for use in medical device to examine cavities in inner body of human, has projection device for converting light produced by light source into projection light that is discharged from distal end to produce projection
DE102010025752A1 (en) * 2010-06-30 2012-01-05 Siemens Aktiengesellschaft endoscope
WO2012000855A1 (en) * 2010-06-30 2012-01-05 Siemens Aktiengesellschaft Endoscope
DE102010050227A1 (en) * 2010-11-04 2012-05-10 Siemens Aktiengesellschaft Endoscope with 3D functionality
WO2012059253A1 (en) 2010-11-04 2012-05-10 Siemens Aktiengesellschaft Endoscope having 3d functionality
DE102013200657A1 (en) * 2013-01-17 2014-07-17 Sypro Optics Gmbh Device for generating an optical dot pattern
DE102013200657B4 (en) * 2013-01-17 2015-11-26 Sypro Optics Gmbh Device for generating an optical dot pattern
DE102015100300A1 (en) * 2015-01-12 2016-01-21 Carl Zeiss Ag endoscope system

Also Published As

Publication number Publication date
DE19742264C2 (en) 2001-09-20
WO1999015930A1 (en) 1999-04-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69826753T2 (en) Optical profile sensor
EP1386141B1 (en) Method and device for examining an object in a contactless manner, especially for examining the surface form of the same
DE19721688B4 (en) Surface detection device and method for surface detection
DE19713987A1 (en) Optical sensor
DE112014003823T5 (en) Real-time inspection of a triangulation scanner
DE10308383A1 (en) Method and optical system for measuring the topography of a measurement object
DE3123703A1 (en) OPTICAL MEASURING SYSTEM WITH A PHOTODETECTOR ARRANGEMENT
EP2398379A1 (en) Handheld dental camera and method for optical 3d measurement
EP3346230B1 (en) Device and method for measuring the curvature of a wire
DE102011077564A1 (en) Method for the optical three-dimensional measurement of a dental object
WO2008095733A1 (en) Measuring instrument and method for determining geometric properties of profiled elements
DE19742264C2 (en) endoscope
EP3044536B1 (en) Method and apparatus for measuring internal threads of a workpiece using an optical sensor
EP1640688A1 (en) Method and Apparatus for Measuring the Surface on an Object in three Dimensions
DE102019103519B4 (en) Device for determining dimensional and / or geometric properties of a measurement object
DE4142676A1 (en) Measurement of objects, esp. gear wheels, using projected stripe pattern, - involves evaluating periodically projected stripe patterns with projection-detection arrangements for front and rear tooth edges
DE3831267A1 (en) OPTICAL PROBE
DE19514692C2 (en) Optical coordinate measuring machine for non-contact, three-dimensional measurement of workpieces on a measuring surface
WO1999039232A1 (en) Device for optically scanning an object
DE102004033526A1 (en) Analysis of at least partly reflecting surfaces involves varying relative orientation/position of object, pattern generation device and/or image receiver(s) for image reflected at surface, to obtain surface, especially geometry, information
DE4113279C2 (en) Confocal scanning optical microscope
DE102007007192A1 (en) Measuring arrangement for detecting surface of e.g. pipe, has mirror arrangement with mirrors that are arranged such that part of measuring area is guided to surface of object to be detected through mirrors
EP1901030A2 (en) Measuring assembly and method for recording the surface of objects
DE102011008513A1 (en) Adjustment or measurement device for measuring or adjusting tool, has tool detection unit for contactless measurement of tool, where tool detection unit has illumination devices
DE112015004196T5 (en) GATE CARRIER COORDINATE GAUGE WITH A 2D CAMERA AND METHOD FOR OBTAINING 3D DISPLAYS

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8327 Change in the person/name/address of the patent owner

Owner name: HGV VOSSELER GMBH & CO. KG, 74613 OHRINGEN, DE

R071 Expiry of right