DE19926588B4 - Integriertes Schaltkreisbauelement - Google Patents

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Abstract

Integriertes Schaltkreisbauelement mit folgenden Elementen:
– einem ersten Signalgenerator (11; 21), der ein erstes Eingangssignal (CLK) und das Komplement (CLKB) des ersten Eingangssignals an einem ersten, normalen Eingang (IN) bzw. einem zweiten, komplementären Eingang (INB) empfängt und ein erstes Ausgangssignal (BUFOUT11; BUFOUT21) erzeugt, das eine führende Flanke synchron mit einer führenden Flanke des ersten Eingangssignals aufweist, relativ zu diesem jedoch um ein zugehöriges Zeitintervall (T11, T21) verzögert ist,
– einem zweiten Signalgenerator (11, 12; 22), der das erste Eingangssignal (CLK) und das Komplement (CLKB) des ersten Eingangssignals an einem komplementären Eingang bzw. einem normalen Eingang empfängt und ein zweites Ausgangssignal (BUFOUT12; BUFOUT22) erzeugt, das eine führende Flanke synchron zu einer führenden Flanke des Komplements (CLKB) des ersten Eingangssignals aufweist, jedoch relativ zu diesem um ein zugehöriges Zeitintervall (T14 + T15, T24) verzögert ist,
– einem auf das erste Ausgangssignal (BUFOUT11; BUFOUT21) ansprechenden, ersten Impulsgenerator (13; 23),...

Description

  • Die Erfindung bezieht sich auf ein integriertes Schaltkreisbauelement, insbesondere zur Verwendung bei SDRAM-Bauelementen.
  • Integrierte Schaltkreisbauelemente beispielsweise in Form von synchronen Speicherbauelementen mit wahlfreiem Zugriff (SDRAM) benutzen einen Synchronbetrieb zur Erhöhung des Bauelementleistungsvermögens. So verwenden z. B. SDRAM mit doppelter Datenrate (DDR) die ansteigenden und fallenden Flanken von Taktsignalen, um einen Betrieb mit höherer Datenrate zu fördern. Wenn SDRAM-Bauelemente im DDR-Modus betrieben werden, werden wichtige Referenzsignale typischerweise synchron mit ansteigenden und fallenden Flanken eines Taktsignals erzeugt, um die Betriebsweise solcher Bauelemente als Eingabe- und Ausgabepuffer effektiv zu steuern. Herkömmliche Vorgehensweisen zum Detektieren ansteigender und fallender Flanken eines Taktsignals oder anderer Steuersignale können ungünsterweise Fehlern unterliegen, wenn Signalrauschen oder Änderungen in den Bauelementherstellungstechniken oder den Prozeßbedingungen signifikant werden. Daher besteht trotz Versuchen, integrierte Schaltkreise bereitzustellen, die in einer synchronen Weise arbeiten, weiterhin ein Bedarf an integrier ten Schaltkreisen mit verbesserten Synchronisierungseigenschaften.
  • Die Patentschrift US 5.764.086 offenbart eine Komparatorschaltungsanordnung mit weitem Dynamikbereich, die zwei parallele, aus komplementären Feldeffekttransistoren aufgebaute Komparatorschaltungen mit jeweiligem Differenzverstärkerteil, je eine ausgangsseitig anschließende Verzögerungsschaltung sowie ein Logikgatter zur vergleichenden Verknüpfung der beiden Ausgangssignale der Verzögerungsschaltungen umfasst. Der Aufbau der beiden Komparatorschaltungen ist so gewählt, dass sie parallel ein Differenzeingangssignalpaar empfangen und eine der beiden Komparatorschaltungen daraus ein Impulsausgangssignal liefert, dessen Flanken ohne Versatz synchron zu den Flanken des Eingangssignals sind, während die andere Komparatorschaltung ein Ausgangssignal liefert, das demgegenüber einen bestimmten Versatz von z. B. einer viertel Periodendauer aufweist. Die Verzögerungsschaltungen stabilisieren den Versatz gegen Schwankungen aufgrund variierender Signalfrequenz und variierendem Signalpegel des differentiellen Eingangssignals. Das ausgangsseitige Logikgatter erzeugt ein Ausgangssignal mit gegenüber dem differentiellen Eingangssignal und den Ausgangssignalen der Komparatorschaltungen geringerem Tastverhältnis und mit ansteigenden Flanken, die ohne Versatz sychron zu den ansteigenden Flanken desjenigen Komparatorschaltungsausgangssignals sind, das gegenüber dem differentiellen Eingangssignal versetzt ist.
  • Weitere ähnliche Signalgeneratorschaltungen sind in Verwendung bei einem Differenzsignalempfänger bzw. einem Phasen- oder Verzögerungsregelkreis in den Patentschriften US 5.701.331 bzw. US 5.684.421 offenbart.
  • Der Erfindung liegt als technisches Problem die Bereitstellung eines integrierten Schaltkreisbauelementes der eingangs genannten Art mit verbesserten Synchronisierungseigenschaften zugrunde.
  • Die Erfindung löst dieses Problem durch die Bereitstellung eines integrierten Schaltkreisbauelementes mit den Merkmalen des Anspruchs 1. Dieses integrierte Schaltkreisbauelement ist in der Lage, Referenzsignale mit verbesserten Synchronisierungseigenschaften zu erzeugen.
  • Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.
  • Vorteilhafte Ausführungsformen der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt und werden nachfolgend beschrieben. Hierbei zeigen:
  • 1 ein Blockschaltbild eines ersten erfindungsgemäßen integrierten Schaltkreisbauelementes,
  • 2 ein Blockschaltbild eines zweiten erfindungsgemäßen integrierten Schaltkreisbauelementes,
  • 3 ein Schaltbild eines in den Bauelementen der 1 und 2 verwendbaren Differenzverstärkers,
  • 4 ein Schaltbild eines in den Bauelementen der 1 und 2 verwendbaren Impulsgenerators,
  • 5 ein Zeitsteuerungsdiagramm zur Veranschaulichung der Betriebsweise des Bauelementes von 1 und
  • 6 ein Zeitsteuerungsdiagramm zur Veranschaulichung der Betriebsweise des Bauelementes von 2.
  • In den beispielhaft gezeigten Ausführungsformen der Erfindung sind funktionell gleiche Elemente jeweils mit denselben Bezugszeichen bezeichnet.
  • Das in 1 gezeigte erste erfindungsgemäße integrierte Schaltkreisbauelement beinhaltet einen Abtastschaltkreis 11 mit einem ersten, normalen Eingang IN und einem zweiten, komplementären Eingang INB, die ein Taktsignal CLK bzw. dessen Inverses CLKB, siehe beispielsweise 5 und 6, empfangen. Der Abtastschaltkreis erzeugt ein Ausgangssignal BUFOUT11. Dieses Ausgangssignal wird direkt einem Impulsgenerator 13 und einem Inverter 12 zugeführt. Vom Inverter 12 wird ein Ausgangssignal BUFOUT12 erzeugt und einem Impulsgenerator 14 zugeführt. Die Impulsgeneratoren 13 und 14 erzeugen, wie gezeigt, Signale PCLK11 und PCLK12.
  • 3 zeigt eine bevorzugte Realisierung für den Abtastschaltkreis 11. Der dort gezeigte Abtastschaltkreis 11 umfaßt einen Differenzverstärker 31 und einen Inverter 33, dessen Eingang elektrisch an einen Ausgang DET des Differenzverstärkers 31 angeschlossen ist. Der Differenzverstärker 31 beinhaltet eine zwischen eine Signalleitung 31b und ein Massepotential oder negatives Referenzpotential Vss eingeschleifte Stromquelle S1. Des weiteren sind NMOS-Transistoren N1 und N2 zusammen mit PMOS-Transistoren P1 und P2 vorgesehen. Wie für den Fachmann verständlich, haben die NMOS-Transistoren N1 und N2 vorzugsweise gleichartige Charakteristika, und analog haben die PMOS-Transistoren P1 und P2 vorzugsweise gleiche Charakteristika. Der Differenzverstärker 31 fungiert dahingehend, daß er eine Potentialdifferenz zwischen dem normalen Eingang IN und dem komplementären Eingang INB verstärkt. Speziell wird, wenn das Potential des normalen Eingangs IN größer als das Potential des komplementären Eingangs INB ist, die Potentialdifferenz verstärkt, und das Ausgangssignal DET wird auf einen logischen 0-Pegel gesteuert, während das Ausgangssignal BUFOUT des Inverters 33 auf einen logischen 1-Pegel gesteuert wird. Alternativ wird, wenn das Potential des komplementären Eingangs INB größer als das Potential des normalen Eingangs IN ist, das Ausgangssignal DET auf einen logischen 1-Pegel gesteuert, und das Ausgangssignal BUFOUT des Inverters 33 wird dann auf einen logischen 0-Pegel gesteuert.
  • Wie aus den 1 und 5 ersichtlich, wird das Ausgangssignal BUFOUT11 des Abtastschaltkreises 11 direkt dem Impulsgenerator 13 und dem Inverter 12 zugeführt, wegen der mit dem Differenzverstärker 31 und dem Inverter 33 verknüpften Verzögerung wird jedoch eine ansteigende Flanke des Ausgangssignals BUFOUT11 um einen Betrag T11 relativ zu einer ansteigenden Flanke des Taktsignals CLK verzögert, und eine fallende Flanke des Ausgangssignals BUFOUT11 wird um einen Betrag T14 relativ zu einer fallenden Flanke des Taktsignals CLK verzögert. Das Ausgangssignal BUFOUT12 des Inverters 12 repräsentiert außerdem eine invertierte und verzögerte Version des Ausgangssignals BUFOUT11, wobei die zusätzliche Inverterverzögerung durch ein Zeitintervall T15 repräsentiert wird.
  • 4 zeigt eine bevorzugte Realisierung für die Impulsgeneratoren 13, 14 von 1. Diese Impulsgeneratorrealisierung umfaßt ein Paar von NMOS-Transistoren N3 und N4, die elektrisch in Reihe zwischen einen intermediären Ausgangsknoten PRES und ein Massepotential oder negatives Referenzpotentional Vss eingeschleift sind. Außerdem ist ein PMOS-Pull-up-Transistor P3 vorgesehen. Diese Transistoren bilden einen Antwortteil 41. Der PMOS-Pull-up-Transistor P3 ist elektrisch in Reihe zwischen den intermediären Ausgangsknoten PRES und ein Spannungsversorgungspotential Vcc eingeschleift. Die Gate-Elektroden des PMOS-Transistors P3 und des NMOS-Transistors N4 sind elektrisch miteinander und mit dem Ausgang PFED einer Rückkopplungsverzögerungsschaltung 45 verbunden. Die Rückkopplungsverzögerungsschaltung umfaßt ein Paar von Invertern 45a und 45b, die eine vorgegebene Verzögerung für Signale am intermediären Ausgangsknoten PRES bereitstellen. Der intermediäre Ausgangsknoten PRES bilden zudem einen Eingang für einen Inverter 43a. Das Ausgangssignal des Inverters 43a wird einer Gate-Elektrode eines PMOS-Pull-up-Transistors P4 zugeführt. Der Inverter 43a und der PMOS-Transistor P4 bilden zusammen einen Zwischenspeicher 43. Ein Ausgangsinverter 47 erzeugt ein Ausgangssignal POUT.
  • Nachstehend wird die Betriebsweise des Impulsgenerators von 4 erläutert. Speziell wird, wenn das Eingangssignal PIN auf einem logischen 0-Pegel liegt, der intermediäre Ausgangsknoten PRES auf einem logischen 1-Pegel gehalten. Dem intermediären Ausgangsknoten PRES wird nicht erlaubt, auf einem logischen 0-Pegel zu verbleiben, da ein solcher logischer 0-Pegel durch die Rückkopplungsverzögerungsschaltung 45 zum PMOS-Pull-up-Transistor P3 geleitet wird, der dann dahingehend wirkt, den Knoten PRES hochzuziehen. Außerdem geht das Ausgangssignal des Inverters 43a in einen logischen 0-Zustand über und schaltet den PMOS-Pull-up-Transistor P4 leitend, sobald der Knoten PRES einen minimalen logischen 1-Pegel erreicht. Daher wird während des Ruhebetriebs der intermediäre Ausgangsknoten PRES auf einem logischen 1-Pegel gehalten, und der NMOS-Pull-down-Transistor N4 wird leitend geschaltet. Wenn dann das Eingangssignal PIN auf einen logischen 1-Pegel gesteuert wird, wird der NMOS-Transistor N3 leitend geschaltet und zieht den intermediären Ausgangsknoten PRES auf einen logischen 0-Pegel, da der NMOS-Tansistor N4 ebenfalls angeschaltet ist. Dieser logische 0-Pegel wird am Ausgang des Inverters 47 als ein logisches 1-Signal abgegeben, d. h. POUT geht von ”0” nach ”1” über. Zudem wird nach einem vorgegebenen Zeitintervall, das durch die mit den Invertern 45a und 45b in der Rückkopplungsverzögerungsschaltung 45 verknüpften Verzögerungen bestimmt ist, der logische 0-Pegel am intermediären Ausgangsknoten PRES zum Knoten PFED transferiert. Dies bewirkt, daß der NMOS-Transistor N4 sperrend und der PMOS-Transistor P3 leitend geschaltet werden, was den intermediären Ausgangsknoten PRES wieder auf einen logischen 1-Pegel zieht. Das Ausgangssignal POUT des Inverters 47 geht dann wieder in einen logischen 0-Pegel zurück.
  • Demgemäß wird, wie in 5 illustriert, das Signal PCLK11 am Ausgang des Impulsgenerators 13 als ein Impuls bereitgestellt, und eine ansteigende Flanke dieses Impulses wird relativ zu einer ansteigenden Flanke des Signals BUFOUT11 um ein Zeitintervall T12 verzögert (und relativ zu einer ansteigenden Flanke des Taktsignals CLK um ein Zeitintervall T13 verzögert). Analog wird das Signal PCLK12 am Ausgang des Impulsgenerators 14 als ein Impulssignal bereitgestellt, und eine ansteigende Flanke dieses Impulses wird relativ zu einer ansteigenden Flanke des Signals BUFOUT12 um ein Zeitintervall T16 verzögert (und relativ zu einer fallenden Flanke des Taktsignals CLK um ein Zeitintervall T17 = T14 + T15 + T16 verzögert). Da die Dauer des Zeitintervalls T17 größer als die Dauer des Zeitintervalls T13 ist, und zwar um einen Betrag der gleich der mit dem Inverter 12 verknüpften Verzögerung ist, liegt eine Zeitversetzung zwischen der Synchronisation des Impulssignals PCLK11 realtiv zur ansteigenden Flanke des Taktsignals CLK sowie zwischen der Synchronisation des Impulssignals PCLK11 relativ zu einer fallenden Flanke des Taktsignals CLK vor. Ein solcher Zeitversatz kann zur Fehlfunktion des integrierten Schaltkreises führen, was eine verbesserte Synchronisation erstrebenswert macht.
  • Um diese Eigenschaft beim Bauelement von 1 zu berücksichtigen, wird eine bevorzugtere Ausführungsform der Erfindung gemäß 2 bereitgestellt. Das Bauelement von 2 ähnelt demjenigen von 1, jedoch werden zwei Abtastschaltungen 21 und 22 statt der einzigen Abtastschaltung 11 und des Inverters 12 gemäß 1 verwendet. Diese beiden Abtastschaltungen 21 und 22 besitzen ”Matching”-Eigenschaften. Auf der Basis dieser bevorzugteren Konfiguration kann die Synchronisation eines Signals BUFOUT21 auf eine ansteigende Flanke des Taktsignals CLK mit der Synchronisation eines Signals BUFOUT22 auf eine fallende Flanke des Taktsignals CLK in Übereinstimmung gebracht werden, d. h. T21 = T24, wie in 6 illustriert. In gleicher Weise kann die Synchronisation des Impulses PCLK21 mit einer ansteigenden Flanke des Taktsignals CLK in Übereinstimmung mit der Synchronisation des Impulses PCLK22 mit einer fallenden Flanke des Taktsignals CLK gebracht werden, d. h. (T21 + T22) = T23 = T26 = (T24 + T25).
  • Es versteht sich, daß der Fachmann neben den oben beschriebenen weitere Realisierungen der Erfindung erkennt und ausführen kann, wie sie durch die beigefügten Patentansprüche festgelegt sind.

Claims (5)

  1. Integriertes Schaltkreisbauelement mit folgenden Elementen: – einem ersten Signalgenerator (11; 21), der ein erstes Eingangssignal (CLK) und das Komplement (CLKB) des ersten Eingangssignals an einem ersten, normalen Eingang (IN) bzw. einem zweiten, komplementären Eingang (INB) empfängt und ein erstes Ausgangssignal (BUFOUT11; BUFOUT21) erzeugt, das eine führende Flanke synchron mit einer führenden Flanke des ersten Eingangssignals aufweist, relativ zu diesem jedoch um ein zugehöriges Zeitintervall (T11, T21) verzögert ist, – einem zweiten Signalgenerator (11, 12; 22), der das erste Eingangssignal (CLK) und das Komplement (CLKB) des ersten Eingangssignals an einem komplementären Eingang bzw. einem normalen Eingang empfängt und ein zweites Ausgangssignal (BUFOUT12; BUFOUT22) erzeugt, das eine führende Flanke synchron zu einer führenden Flanke des Komplements (CLKB) des ersten Eingangssignals aufweist, jedoch relativ zu diesem um ein zugehöriges Zeitintervall (T14 + T15, T24) verzögert ist, – einem auf das erste Ausgangssignal (BUFOUT11; BUFOUT21) ansprechenden, ersten Impulsgenerator (13; 23), der ein mit dem ersten Ausgangssignal synchrones erstes Impulssignal (PCLK11, PCLK21) mit gegenüber dem ersten Ausgangssignal geringerem Tastverhältnis erzeugt, und – einem auf das zweite Ausgangssignal (BUFOUT12; BUFOUT22) ansprechenden, zweiten Impulsgenerator (14; 24), der ein mit dem zweiten Ausgangssignal synchrones zweites Impulssignal (PCLK12, PCLK22) mit gegenüber dem zweiten Ausgangssignal geringerem Tastverhältnis erzeugt, – wobei ein Zeitabstand (T23) von einer führenden Flanke des ersten Eingangssignals (CLK) zu einer führenden Flanke des ersten Impulssignals (PCLK21) im Wesentlichen gleich einem Zeitabstand (T26) von einer führenden Flanke des Komplements (CLKB) des ersten Eingangssignals zu einer führenden Flanke des zweiten Impulssignals (PCLK12, PCLK22) ist.
  2. Integriertes Schaltkreisbauelement nach Anspruch 1, weiter dadurch gekennzeichnet, dass der erste und der zweite Signalgenerator jeweils einen Differenzverstärker (31) aufweisen.
  3. Integriertes Schaltkreisbauelement nach Anspruch 3, weiter dadurch gekennzeichnet, dass der erste Impulsgenerator (13; 23) und/oder der zweite Impulsgenerator (14; 24) folgende Elemente aufweisen: – einen ersten PMOS-Transistor (P3), der elektrisch in Serie zwischen ein erstes Referenzpotential (Vcc) und einen intermediären Ausgangsknoten (PRES) eingeschleift ist, – ein Paar von NMOS-Transistoren (N3, N4), die elektrisch in Reihe zwischen den intermediären Ausgangsknoten (PRES) und ein zweites Referenzpotential (Vss) eingeschleift sind, und – eine Rückkopplungsverzögerungsschaltung (45), die elektrisch mit einem Eingang an den intermediären Ausgangsknoten (PRES) und mit einem Ausgang an eine Gate-Elektrode des ersten PMOS-Transistors (P3) angeschlossen ist.
  4. Integriertes Schaltkreisbauelement nach Anspruch 3, weiter dadurch gekennzeichnet, dass ein erster des Paares von NMOS-Transistoren (N3, N4), mit einer Gate-Elektrode elektrisch an den Ausgang des ersten Signalgenerators (11; 21) bzw. des zweiten Signalgenerators (11, 12; 22) angeschlossen ist, während der andere der beiden NMOS-Transistoren mit einer Gate-Elektrode elektrisch an den Ausgang des Rückkopplungsverzögerungsschaltkreises (45) angeschlossen ist.
  5. Integriertes Schaltkreisbauelement nach Anspruch 3 oder 4, weiter gekennzeichnet durch: – einen zweiten PMOS-Transistor (P4), der elektrisch in Reihe zwischen das erste Referenzpotential (Vcc) und den intermediären Ausgangsknoten (PRES) eingeschleift ist, und – einen Inverter (43a), dessen Eingang elektrisch an den intermediären Ausgangsknoten (PRES) und dessen Ausgang an eine Gate-Elektrode des zweiten PMOS-Transistors (P4) angeschlossen ist.
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Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6504767B1 (en) * 2000-08-30 2003-01-07 Micron Technology, Inc. Double data rate memory device having output data path with different number of latches
US6339346B1 (en) * 2000-08-30 2002-01-15 United Memories, Inc. Low skew signal generation circuit
US6384658B1 (en) * 2000-09-29 2002-05-07 Intel Corporation Clock splitter circuit to generate synchronized clock and inverted clock
US6525565B2 (en) 2001-01-12 2003-02-25 Xilinx, Inc. Double data rate flip-flop
US7155273B2 (en) * 2002-07-29 2006-12-26 Taylor Geoffrey L Blanching response pressure sore detector apparatus and method
US6847582B2 (en) * 2003-03-11 2005-01-25 Micron Technology, Inc. Low skew clock input buffer and method
KR100578232B1 (ko) * 2003-10-30 2006-05-12 주식회사 하이닉스반도체 지연 고정 루프
JP4632114B2 (ja) * 2003-11-25 2011-02-16 エルピーダメモリ株式会社 半導体集積回路装置
US7230465B2 (en) * 2005-01-10 2007-06-12 Infineon Technologies Ag Duty cycle corrector
JP4668690B2 (ja) * 2005-06-01 2011-04-13 ルネサスエレクトロニクス株式会社 信号変換回路
US7317343B1 (en) * 2005-10-25 2008-01-08 Lattice Semiconductor Corporation Pulse-generation circuit with multi-delay block and set-reset latches
KR100886645B1 (ko) * 2006-12-28 2009-03-04 주식회사 하이닉스반도체 클럭 버퍼 회로 및 그를 포함하는 반도체 메모리 장치
KR100892647B1 (ko) * 2007-08-13 2009-04-09 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 클럭 생성 회로
US7885914B2 (en) * 2007-12-28 2011-02-08 Intel Corporation Systems, methods and apparatuses for rank coordination
CN102420593B (zh) * 2011-11-30 2014-04-09 中国科学院微电子研究所 多相位时钟信号发生电路
CN103326707B (zh) * 2013-05-23 2016-02-10 苏州芯动科技有限公司 一种兼容多种ddr的输入接收电路
US9379743B2 (en) * 2014-07-30 2016-06-28 Intel Corporation Method and apparatus for signal edge boosting
FR3038997A1 (fr) * 2015-07-13 2017-01-20 Univ Pierre Et Marie Curie (Paris 6) Dispositif de traitement de donnees avec representation de valeurs par des intervalles de temps entre evenements
KR102409877B1 (ko) * 2017-12-21 2022-06-20 에스케이하이닉스 주식회사 수신 회로 및 이를 이용하는 집적 회로 시스템

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5684421A (en) * 1995-10-13 1997-11-04 Credence Systems Corporation Compensated delay locked loop timing vernier
US5701331A (en) * 1995-01-20 1997-12-23 Lsi Logic Corporation Differential signal receiver
US5764086A (en) * 1995-09-04 1998-06-09 Kabushiki Kaisha Toshiba Comparator circuit with wide dynamic range

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4563599A (en) * 1983-03-28 1986-01-07 Motorola, Inc. Circuit for address transition detection
US5864587A (en) * 1995-06-06 1999-01-26 Lsi Logic Corporation Differential signal receiver
JP3724654B2 (ja) * 1995-07-06 2005-12-07 株式会社日立製作所 半導体集積回路装置
JP3392271B2 (ja) * 1995-11-02 2003-03-31 シャープ株式会社 演算増幅回路
JPH09153285A (ja) * 1995-11-29 1997-06-10 Mitsubishi Electric Corp 増幅回路および相補型増幅回路
US5821809A (en) * 1996-05-23 1998-10-13 International Business Machines Corporation CMOS high-speed differential to single-ended converter circuit
JP3087653B2 (ja) 1996-05-24 2000-09-11 日本電気株式会社 半導体記憶装置
US5764175A (en) * 1996-09-24 1998-06-09 Linear Technology Corporation Dual resolution circuitry for an analog-to-digital converter
FR2764752B1 (fr) * 1997-06-16 1999-08-13 Sgs Thomson Microelectronics Etage d'entrees differentielles pour reception large bande avec forte rejection de mode commun

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5701331A (en) * 1995-01-20 1997-12-23 Lsi Logic Corporation Differential signal receiver
US5764086A (en) * 1995-09-04 1998-06-09 Kabushiki Kaisha Toshiba Comparator circuit with wide dynamic range
US5684421A (en) * 1995-10-13 1997-11-04 Credence Systems Corporation Compensated delay locked loop timing vernier

Also Published As

Publication number Publication date
CN1196135C (zh) 2005-04-06
GB9913693D0 (en) 1999-08-11
JP4008622B2 (ja) 2007-11-14
KR100272167B1 (ko) 2000-11-15
GB2339502B (en) 2003-06-11
DE19926588A1 (de) 2000-01-20
GB2339502A (en) 2000-01-26
US6222411B1 (en) 2001-04-24
CN1246710A (zh) 2000-03-08
TW440862B (en) 2001-06-16
KR20000008376A (ko) 2000-02-07
JP2000040364A (ja) 2000-02-08

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