DE2058641B2 - Datenspeicher - Google Patents

Datenspeicher

Info

Publication number
DE2058641B2
DE2058641B2 DE19702058641 DE2058641A DE2058641B2 DE 2058641 B2 DE2058641 B2 DE 2058641B2 DE 19702058641 DE19702058641 DE 19702058641 DE 2058641 A DE2058641 A DE 2058641A DE 2058641 B2 DE2058641 B2 DE 2058641B2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
memory
unusable
elements
word
additional
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19702058641
Other languages
English (en)
Other versions
DE2058641A1 (de
Inventor
Dr Ing 7911 Thalfingen Hilberg Wolfgang
Original Assignee
Licentia Patent Verwaltungs GmbH, 6000 Frankfurt
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from DE19691931524 external-priority patent/DE1931524C/de
Priority to DE19691931524 priority Critical patent/DE1931524C/de
Priority to DE1963895A priority patent/DE1963895C3/de
Priority to DE19702007050 priority patent/DE2007050C/de
Priority to DE2007787A priority patent/DE2007787B2/de
Priority to DE2008663A priority patent/DE2008663C3/de
Priority to GB2939270A priority patent/GB1307418A/en
Priority to FR7022748A priority patent/FR2054586A1/fr
Priority to US48300A priority patent/US3693159A/en
Priority to DE19702053260 priority patent/DE2053260A1/de
Priority to DE19702058641 priority patent/DE2058641B2/de
Priority to DE19702058698 priority patent/DE2058698A1/de
Application filed by Licentia Patent Verwaltungs GmbH, 6000 Frankfurt filed Critical Licentia Patent Verwaltungs GmbH, 6000 Frankfurt
Priority to IT3009671A priority patent/IT969043B/it
Priority to FR7138955A priority patent/FR2111957A6/fr
Priority to US00193949A priority patent/US3772652A/en
Priority to GB5071771A priority patent/GB1361009A/en
Publication of DE2058641A1 publication Critical patent/DE2058641A1/de
Publication of DE2058641B2 publication Critical patent/DE2058641B2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/70Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
    • G11C29/78Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
    • G11C29/84Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved access time or stability
    • G11C29/846Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices with improved access time or stability by choosing redundant lines at an output stage

Description

Die Erfindung betrifft einen Datenspeicher, bei dem eine sehr große Anzahl von gleichen Speicherelementen zu einem Speicher derart zusammengefaßt ist, daß Wörter mit jeweils vorgegebener Bitzahl gespeichert werden, wobei aufgrund des Herstellungsprozesses der Speicherelemente ein Teil derselben unbrauchbar ist. bei dem für j^des Wort über die vorgegebene Bitzah! hinaus zusätzliche Speicherelemente vorgesehen sind, deren Anzahl entsprechend der Anzahl der für das Wort zu erwartenden unbrauchbaren Speicherelemente gewählt ist, bei dem Maßnahmen getroffen sind, unbrauchbare Speicherelemente von der Benutzung als Speicherplatz für Daten auszuschließen.
Gemäß einem älteren Vorschlag (Patentanmeldung P 19 31 524.3) ist vorgesehen, bei dem eingangs erwähnten Datenspeicher beim Einschreiben eines Worts in den Datenspeicher diejenigen Bits, die mittels eines unbrauchbaren Speicherelements gespeichert werden sollen, auf das nächstfolgende brauchbare Speicherelement zu verschieben.
Es war Aufgabe der Erfindung, einen anderen Weg anzugeben, durch den die unbrauchbaren Speicherelemente von der Benutzung ausgeschlossen werden.
Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, daß die Speicherelemente so aufgebaut und die unbrauchbaren Speicherelemente so verändert sind, daß aufgrund von elektrischen Ausgangsgrößen der Speicherelemente mindestens beim Lesevorgang die Unbrauchbarkeit feststellbar ist, und daß Schaltmittel vorgesehen sind, die so eingerichtet sind, daß sie die unbrauchbaren Speicherelemente eines angesteuerten Wortes erkennen und beim Einschreiben oder Lesen derjenigen Information, die jeweils dem y-ten(v=l ...η; η bedeutet Anzahl der zusätzlichen Speicherelemente im Wort) unbrauchbaren Speicherelemente zugeordnet ist jeweils das v-te zusätzliche Speicherelement ansteuern. Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen beschrieben.
Die Erfindung wird im folgenden in Ausführungsbeispielen anhand der Zeichnungen erläutert. Es zeigt
Fig. 1 ein Übersichtsschaltbild einer erfindungsgemäßen Anordnung,
Fig. 2 eine Detailschaltung aus Fig. 1, die dann brauchbar ist, wenn für jedes Speicherwort ein einziges zusätzliches Speicherelement vorgesehen ist,
Fig. 3 eine weitere Detailschaltung,
Fig. 4 eine Detailschaltung, die dann brauchbar ist, wenn für jedes Speicherwort drei zusätzliche Speicherelemente vorgesehen sind,
Fig. 5 eine Detailschaltung aus Fig. 4,
Fig. 6 zeigt eine Weiterbildung der erfindungsgemäßen Anordnung.
Fig. 1 zeigt einen Speicher, der N Worte mit je sie-
ben Bit Länge speichern kann. Zur Vereinfachung der Zeichnung sind hiervon jedoch nur zwei Worte zeichnerisch dargestellt, es handelt sich hierbei um die Speicherelemente £11 bis £17 und £21 bis £27. Die einzelnen Worte sind durch eine Decodier und Ansteuerschaltung D ansteuerbar, zum Auslesen sind die Ausgänge der Speicherelemente £11, £21,... £"M miteinander verbunden, in gleicher Weise die die Ausgänge der Speicherelemente £12, £22.. £"£2 usw. Im geschilderten Beispiel hat jedes Speicherelement zwei Ausgänge, die gemeinsamen Ausgangsleitungen der jeweils in einer Spalte angeordneten Speicherelemente sind mit al, al, a2, Sl usw. bezeichnet. Für jedes Wort des Speichers sind Reservespeicherelemente vorgesehen. Gemäß einer ersten Ausführungsform der Erfindung ist es zulässig, daß in jedem Speicherwort ein Speicherelement unbrauchbar ist, dann ist für jedes Wort jeweils ein zusätzliches Speicherelement vorgesehen, das in der Fig. 1 mit Z£l 1 bzw. ZE21 bezeichnet ist F i g. 1 zeigt außerdem weitere zusätzliche Speicherelemente ZEi2, ZElZ und Z£22, Z£23. Diese zusätzlichen Speicherelemente sind dann vorzusehen, wenn es zulässig sein soll, daß in jedem Speicherwon drei unbrauchbare Speicherelemente vorkommen.
Die Ausgangsleitungen al, al usw. führen zu einer Schalteinrichtung S, ebenfalls führen die Ausgangsleitungen der jeweils spaltenweise ausgangsseitig miteinander verbundenen zusätzlichen Speicherelemente zur Schalteinrichtung. Die Ausgangsleitungen bl bis Ul der Schalteinrichtung führen zu sieben Registerzellen Al bis RJ eines Einspeicher- und Ausspeicherregisters ti
Im folgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung erläutert, bei dem es zulässig ist, daß in jedem Speicherwort maximal eine unbrauchbare Speicherzelle vorliegt In diesem Falle sind also die in Fig. 1 dargestellten zusätzlichen Speicherelemente Z£12, Z£11. Z£22, Z£23 usw. nicht erforderlich. Der Speicher ist so ausgebildet, daß beim Auslesen feststellbar ist, ob die ausgelesene Information von einem zuverlässigen Speicherelement stammt, oder ob das Speicherelement unbrauchbar ist. Diese Unterscheidung kann z. B. auf die folgenden verschiedenen Weisen erfolgen
Es ist möglich, daß die einer gespeicherten 0 entsprechende Information beim Auslesen auf der einen Ausleseleitung (z. B. al) ein der logischen 0 entsprechendes Potential und auf der anderen Ausleseleitung (al) ein der logischen 1 ertsprechendes Potential hervorruft; beim Auslesen einer gespeicherten 1 sind die oben geschilderten, auf den Leseleitungen erscheinenden Potentiale umgekehrt. Ein unbrauchbares Speicherelement macht sich dadurch bemerkbar, daß auf den beiden Aüsleseleitungen ein von den obengenannten Werten abweichendes Potential, z. B. ein der logischen 1 entsprechendes Potential auf beiden Ausleseleitungen, erscheint. Die soeben geschilderte Möglichkeit wird bei der weiteren Erläuterung der Erfindung zugrundegslegt.
Weitere Möglichkeiten zur Feststellung, ob ein fehlerhaftes Speicherelement vorliegt, wären z. B., die Speicherelemente so zu verändern, daß auf einer einzigen Leitung ein von 0 und 1 verschiedenes Potential erscheint (in diesem Falle wäre nur eine einzige Ausleseleilung erforderlich) oder aber, daß das Speicherelement auf einer zusätzlichen Leitung dann ein bestimmtes Signal abgibt, wenn das Speicherelement fehlerhaft ist.
Die Schalteinrichtung S ist nun erfindungsgemäß so ausgebildet, daß sie beim Auslesen anhand der an den Ausleseleitungen erscheinenden Signale erkennt, ob und welches Speicherelement des gerade ausgelesenen Wortes fehlerhaft isf, und daß sie anstelle der diesem
. fehlerhaften Element zugeordneten Ißformation die m dem zusätzlichen Speicherelement Z£ll (falls das Wort £11 bis £17 ausgelesen wurde) gespeicherte Information dem Ausleseregister R zuführt, das heißt also, daß z. B. dann, wenn beim Auslesen des ersten Wortes sich das Speicherelement £13 als fehlerhaft erweist, die Informationen der Speicherelemente £11, £12 direkt zu den Registerzellen Al, RZ durchgeschallet werden, und dk:
ίο Information der Speicherelemente £14 bis £17 direkt zu den Registerzellen RA bis R7 durchgeschaltet werden, und daß die im zusätzlichen Speicherelement Z£ll enthaltene Information zur Registerzelle RZ durchgeschaltet wird.
Das zeitlich vorherliegende Einspeichern eines Wortss in den Speicher erfolgt in analoger Weise so, daß dann, wenn wieder angenommen wird, daß das Speicherelement £13 unbrauchbar ist, die Einspeicherung der in den Registerzellen Rl1 R2 und A4 bis RI enthaltenen Information unmittelbar in die diesen Speicherzellen zugeordneten Speicherelemente £11, £12 und £14 bis £17 erfolgt, und daß die in der Registerzelle RZ enthaltene Information dem zusätzlichen Speicherelement Z£ll zugeführt wird.
Um das Einspeichern fehlerfrei vornehmen zu können, ist es in diesem Falle erforderlich, daß vor oder noch während des Einspeicherns die Schalteinrichtung erkennt, welches der Speicherelemente unbrauchbar ist F i g. 2 zeigt eine Anordnung, die es gestattet, unter der
Annahme, daß höchstens ein unbrauchbares Speicherelement je Wort vorliegt, das Auslesen einer gespeicherten Information in der obengeschilderten Weise vorzunehmen. Die Anordnung in Fig. 2 enthält eine erste Gruppe von UND-Gattern Ul bis UJ, eine zweite Gruppe von UND-Gattern Ul' bis UJ', eine dritte Gruppe von UND-Gattern Ul" bis UJ", eine Gruppe von ODER-Gattern Ol bis OJ, ferner ein ODER-Gatter OR mit sieben Eingängen und ein weiteres UND-Gatter UR. Die beiden Eingänge des UND-Gatters L ί sind mi.
den beiden Ausgangsleitungen al und Sl der ersten Spalte des Speichers verbunden. In analoger Weise sind die Eingänge der anderen UND-Gatter der ersten Gruppe an den Speicher angeschaltet. Die Ausleseleitung al führt außerdem zu einem Eingang des UND-Gatters UV, dessen anderer (negierter) Eingang mit dem Ausgang des UND-Gatters Ul verbunden ist. Der Ausgang des UND-Gatters LJY führt auf einen Eingang des ODF.R-Gatters Öl. dessen anderer Eingang mit dem Ausgang des UND-Gatters Ul" verbunden ist.
Ein Eingang des UND-Gatters Ul" ist mit dem Ausgang des UND-Gdüers U\ verbunden, der zweite Eingang des UND-Gatters Ul" ist mit dem Ausgang des UND-Gatters UR verbunden. Der Ausgang des UND-Gatters Ul ist ferner mit einem Eingang des ODER-Gatters OR
verbunden, dessen Ausgang mit einem Eingang des UND-Gatters UR verbunden ist, während der zweite Eingang des Gatters UR mit der Ausleseleitung rl der zusätzlichen Speicherelemente ZEl 1. Z/:21 usw. verbunden ist. Die Verschaltung der übrigen UND-Gatter Ul
bis UJ, U2' bis UJ', Ul" bis UJ" ist in analoger Weise vorgenommen.
Die oben beschriebene Schaltung funktioniert in der folgenden Weise: Hierfür sei angenommen, daß das dritte Speicherelement des gerade ausgelesenen Wortes unbrauchbar sei, das heißt also, daß an den Leitungen a3 und <i3 ein Potential mit dem Wert 1 erscheint, während an sämtlichen anderen Ausleselcitungspaaren jeweils unterschiedliche Werte anliegen, während der Wert, der
an der Leseleitung ή erscheint, je nach der in dem angesteuerten zusätzlichen Speicherelement enthaltenen Information 0 oder 1 ist. Infolge der Ansteuerung über die Leitungen a3 und a 3 abliefert das UND-Gatter LB an seinem Ausgang eine logische 1, während alle anderen UND-Gatter der ersten Gruppe in ihren Ausgängen eine logische 0 liefern. Die logische 1 am Ausgang des UND-Gatters L3 wird dem ODER-Gatter OR zugeführt, das das UND-Gatter UR ansteuert, und somit gestattet, daß eine etwa an der Ausleseleitung ή erscheinende 1 durchgeschaltet wird, Die logische 1 am Ausgang des UND-Gatters sperrt über den negierten Eingang des UND-Gatters LQ' die direkte Durchschaltung der ausgelesenen Information zum ODER-Gatter O3 und dadurch zur Leitung tß. Statt dessen wird die von dem zusätzlichen Speicherelement kommende Information, die am Ausgang des UND-Gatters UR erscheint, über das UND-Gatter U3" dem ODER-Gatter 03 zugeführt. Bei sämtlichen anderen angesteuerten Speicherelementen des Speichers sind die diesen zugeordneten UND-Gatter der ersten Gruppe jeweils gesperrt, die der zweiten Gruppe jeweils leitend, und die der dritten Gruppe jeweils gesperrt, so daß die Information dieser brauchbaren Speicherelemente direkt zu den Ausgangsleitungen bX, bl und M bis £>7 durchgeschaltet wird,
Fig. 3 zeigt (nur für eine Stelle dargestellt) eine Schaltung, wie sie zum Einspeichern von Informationen in den oben geschilderten Speicher brauchbar ist. Es sind hier wieder die UND-Schaltungen der ersten Gruppe vorgesehen, aus Vereinfachungsgründen ist nur das UND-Gatter U\ dargestellt. Es ist eine vierte Gruppe von UND-Gattern UX (4) bis Ul (4) vorgesehen, von denen nur das UND-Gatter UX (4) dargestellt ist. Der Ausgang des UND-Gatters UX führt auf einen Eingang des UND-Gatters UX (4), der zweite Eingang des UND-Gatters UX (4) ist mit dem Ausgang der ersten Registerzelle RX verbunden. Das Register R enthält in diesem Falle diejenige Information, die in den Speicher eingespeichert werden soll. Das Einspeichern erfolgt in der Weise, daß die im Register enthaltene Information über Sperrschaltungen (UND-Gatter) SpI und Sp2, deren negierter Eingang mit dem Ausgang des UND-Gatters UX verbunden ist, und die Leitungen al, al usw. den Speicherelementen des angesteuerten Speicherworts zugeführt wird. Das UND-Gatter i/1 ist genau wie in der Anordnung nach F i g. 2 mit den beiden Leitungen al und al verbunden. Die Gatter für die übrigen Stellen sind in gleicher Weise miteinander verbunden, die Ausgänge der UND-Gatter 171(4) und O2(4) usw. sind mit je einem Eingang einer ODER-Schaltung O verbunden, deren Ausgang mit den zusätzlichen Speicherelementen ZEIl, ZElX usw. verbunden ist
Erfolgte vor dem Einspeichern ein Auslesen, so zeigt bei einem unbrauchbaren Speicherelement der Ausgang des entsprechenden UND-Gatters der ersten Gruppe eine logische 1. Dieser Wert wird so lange gehalten, wie der Wortauswahlimpuls anliegt Er muß also so lange bemessen werden, daß, wenn z. B. das erste Speicherelement des angesteuerten Wortes unbrauchbar ist und daher beim Auslesen das UND-Gatter UX ausgangsseitig eine 1 liefert, falls die Registerzelle Al eine 1 enthält, diese Information über das UND-Gatter (71(4) und das ODER-Gatter Odem zusätzlichen Speicherelement des angesteuerten Worts zugeführt wird. War in der Speicherzelle RX eine 0 enthalten, so erfolgt keine Durchschaltung des UND-Gatters UXW, es muß daher sichergestellt sein, daß entweder vcr Beginn des Einschreibens die zusätzlichen Speicherelemente alle auf 0 gesetzt sind, oder daß stets dann, wenn das ODER-Gatter O beim Schreiben eine 0 abgibt, das entsprechende zusätzliche Speicherelement auf 0 gestellt wird.
Es ist möglich, die Feststellung, ob ein Speicherelement des angesteuerten Worts unbrauchbar ist, auch während der Einspeicherung ins Speicherwort vorzunehmen. Diese Feststellung ergibt sich aus der Tatsache, daß beim Anliegen eines Wortabfrageimpulses, wenn
ίο nur der Schreibimpuls ein wenig verzögert wird, die unbrauchbare Speicherzelle an beiden Ausgangsleitungen den Wert 1 liefert und hierdurch die den Schreibverstärkern vorgeschalteten Gatter sperrt. Zugleich wird das entsprechende UND-Gatter UX(A) durchgeschaltet und die in der entsprechenden Regisierzelle enthaltene Information kann dem zusätzlichen Speicherelement zugeführt werden. Auch nach beendetem Schreibvorgang ist die Feststellung eines unbrauchbaren Elements möglich. Liegt die im Register R enthaltene Information lange genug an, so kann auch nachträglich die nicht gespeicherte Information in die zusätzliche Zelle übertragen werden.
Im folgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung erläutert, in dem es zulässig ist, daß in einem Speicherwort maximal drei Speicherelemente unbrauchbar sind; bei der Betrachtung der Fig. 1 ist nun also davon auszugehen, daß auch die dort gezeigten zusätzlichen Speicherelemente ZEX2, ZEXi, ZE22, ZE23 usw. vorzusehen sind.
Fig. 4 zeigt eine Anordnung, die zum Auslesen aus einem derartig ausgebildeten Speicher brauchbar ist. Die Anordnung nach Fig. 4 ist der Anordnung nach Fig. 2 sehr ähnlich, sie unterscheidet sich lediglich darin, daß die Ausgänge der UND-Gatter der ersten Gruppe nicht zu einem gemeinsamen ODER-Gatter OR geführt sind, sondern zu den Eingängen eines Netzwerks N führen; diejenigen Eingänge der UND-Gatter der dritten Gruppe, die nicht jeweils mit dem Ausgang des entsprechenden UND-Gatters der ersten Gruppe verbunden sind, sind hier nicht untereinander verbunden, sondern einzeln zu je einem Ausgang des Netzwerkes N geführt. Das Netzwerk N hat drei weitere Eingänge, deren erster mit der Ausleseleitung ή der zusätzlichen Speicherelemente der ersten Spalte verbunden sind, deren zweiter dementsprechend mit der gemeinsamen Leseleitung fl der zusätzlichen Speicherelemente, die in der zweiten Spalte angeordnet sind, verbunden ist, und deren dritter mit der gemeinsamen Ausgangsleitung r3 der restlichen zusätzlichen Speicherelemente verbunden ist.
Zur Erläuterung sei angenommen, daß das zweite, viertelnd fünfte Speicherelement des gerade angesteuerten Worts unbrauchbar ist, die zeitlich davorliegende Einspeicherung soll so vorgenommen worden sein, daß die für das zweite Speicherelement bestimmte Information dem ersten zusätzlichen Speicherelement, die fürs vierte Speicherelement bestimmte Information dem zweiten zusätzlichen Speicherelement, und die fürs fünfte Speicherelement bestimmte Information dem dritten zusätzlichen Speicherelement zugeführt wurde. Beim Auslesen wird nun ähnlich, wie anhand der Fig. 2 bereits geschildert wurde, festgestellt, welche Speicherelemente unbrauchbar sind. Das Netzwerk N ist so ausgebildet daß es den einzelnen UND-Gattern der dritten Gruppe, die den entsprechenden unbrauchbaren Speicherelementen zugeordnet sind, jeweils diejenige der an den Ausgangsleitungen rl bis r3 erscheinenden Information zuführt, die dem betreffenden unbrauchba-
ren Speicherelementen zugeordnet ist. Die Zuordnung beim Einspeichern und Auslesen durch das Netzwerk N kann zweckmäßigerweise in der Weise erfolgen, daß das erste zusätzliche Speicherelement demjenigen unbrauchbaren Speicherelement zugeordnet wird, das am weitesten links steht, daß das zweite zusätzliche Speicherelement dem nächsten sich rechts anschließenden unbrauchbaren Speicherelement zugeordnet ist; analoges gilt für die Zuordnung des dritten zusätzlichen Speicherelements.
Fig. 5 zeigt ein Ausführungsbeispiel einer Schaltungsanordnung, die dann brauchbar ist, wenn in einem Speicherwort vier Bits gespeichert werden sollen, wobei pro Wort insgesamt höchstens drei defekte Speicherelemente zulässig sind, Die Schaltungsanordnung enthält eine zweite Gruppe von ODER-Gattern Öl, eine dritte Gruppe von ODER-Gattern CS, eine vierte Gruppe von ODER-Gaiiem O*. Außerdem sind in der Schaltungsanordnung zahlreiche UND-Gatter vorgesehen, deren Verbindung untereinander und mit den ODER-Gattern aus der Zeichnung hervorgeht Die einzelnen Gruppen von ODER-Gattern bilden zusammen mit den nachgeschalteten UND-Gattern jeweils eine Erste-1-von-Links-Schaltung. Der Ersten-1-von-Links-Schaltung (ODER-Gruppe OZ) werden über die Leitungen Λ bis /7 die Signale zugeführt, die ausdrücken, daß eines der angesteuerten Speicherelemente fehlerhaft ist. In Fig. 5 sind drei Eingangsleitungen fl bis Π mit einer logischen L versehen, was andeutet, daß die entsprechenden Speicherelemente unbrauchbar sind. Die Verknüpfung der einzelnen Erste-1-von-Links-Schaltungen ist nun so getroffen, daß an der zweiten Erste-1-von-Links-Schaltung (ODER-Gruppe 03) die erste 1 von links, die der ODER-Gattergruppe Ol zugeführt wurde, nicht mehr wirksam ist, und daß bei der dritten Erste- 1-von-Links-Schaltung (ODER-Gruppe Ot) sowohl die erste als auch die zweite 1 von links der der ersten ODER-Gruppe zugeführten 1-Signale nicht mehr wirksam ist Wie sich leicht feststellen läßt, bewirkt die Schaltungsanordnung nach Fig. 5 ein Durchschalten der an der Leitung f\ anliegenden, vom ersten zusätzlichen Speicherelement stammenden Information zu derjenigen Ausgangsleitung, die dem ersten fehlerhaften Speicherelement von links zugeordnet ist, während die an der Eingangsleitung .•2 liegende Information, die vom zweiten zusätzlichen Speicherelement stammt, zu der Ausgangsleitung geführt wird, die dem zweiten unbrauchbaren Speicherelement zugeordnet ist; analoges gilt für die Durchschaltung der von der Leitung /3 erscheinenden Information.
Schalteinrichtungen £ die das Auftreten von z. B. drei unbrauchbaren Speicherelementen in einem Wort zulassen tygL Fi g. 5J1 sind sehr viel aufwendiger als eine Schalteinrichtung, qie nur das Auftreten eines einzigen unbrauchbaren Speicherelements zuläßt (vgl. Fig. 2). Außerdem sind bei der letztgenannten Schalteinrichtung die Signaldurchlaufzeiten geringer. Es ist daher unter Umständen vorteilhaft, dann, wenn mit dem Auftreten mehrerer unbrauchbarer Speicherelemente in den einzelnen Worten des Speichers gerechnet wird, die Worte in gleicher Weise in eine derartige Anzahl von Unterworten zu unterteilen, daß in jedem Unterwort nur mehr mit einer bestimmten kleinen Anzahl von unbrauchbaren Speicherelementen, insbesondere z. B. mit einem derartigen Element, gerechnet werden muß. Für diesen letztgenannten Fall ist für jedes Unterwort eine zusätzliche Speicherzelle vorzusehen; die Unterworte sind entsprechend ihrer Stellung im Wort zu Gruppen zusammengefaßt, und für jede derartige Gruppe ist eine Schalteinrichtung vorgesehen, die bewirkt, daß ein unbrauchbares Speicherelement des gerade angesteuerten Untefworts nicht benutzt wird,
Fig. 6 zeigt eine derartige Anordnung, zur Vereinfachung ist nur ein einziges Wort zeichnerisch dargestellt Es besteht aus zwei Unterworten £1 bis El mit dem zusätzlichen Speicherelement ZE\ und £8 bis £14 mit dem zusätzlichen Speicherelement ZEl. ZEi kann mit Hilfe der Schalteinrichtung 51 ein im ersten Unterwort enthaltenes unbrauchbares Speicherelement ersetzen, gleiches gilt für das zusätzliche Speicherelement ZEl bezüglich des zweiten Unterworts, hier dient die Schalteinrichtung S2 zur Feststellung eines etwa vorhandenen unbrauchbaren Speicherelements und zur Vornahme der dadurch erforderlichen Durchschaltungen. Die Ein-/Ausgänge 61 bis W von 51 sind zu Registerzellen Al bis R7, die Ein-/Ausgänge £8 bis b\4 zu Registerzellen Λ8 bis Ä14 eines Ein-/Ausgaberegisters R geführt.
In den Zeichnungen wurden die Speicher mit wortweiser Ansteuerung mittels einer einzigen Decodierund Ansteuerschaltung D dargestellt. Man wird jedoch besonders bei Großspeichern in integrierter Technik bevorzugt die Aufteilung des Speichers in monolithische Bitebenen vornehmen, wobei dazu aus Kontaktierungsgründen und wegen größerer Fehlersicherheit vorteilhafterweise jeder Bitebene eine eigene Decodier- und Ansteuerschaltung zugeordnet wird.
Bei der Aufteilung des Speichers in Bitebenen ist es auch möglich, die Schalteinrichtung in der Weise auf die einzelnen Bitebenen verteilt unterzubringen, daß einzelne Schaltelemente der Schalteinrichtung auf diejenigen Bitebenen aufgebracht sind, denen sie funktionell zugeordnet sind. In diesem Sinn können z. B. die Gatter in, Ui', Ui" und Ol der Anordnung nach Fig. 2 auf derjenigen Bitebene untergebracht werden, die die Speicherelemente für das erste Bit der Speicherworte trägt
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims (5)

Patentansprüche:
1. Datenspeicher, bei dem eine sehr große Anzahl von gleichen Speicherelementen zu einem Speicher derart zusammengefaßt ist, daß Wörter mit jeweils vorgegebener Bitzahl gespeichert werden, wobei aufgrund des Herstellungsprozesses der Speicherelemente ein Teil derselben unbrauchbar ist, bei dem für jedes Wort über die vorgegebene Bitzahl hinaus zusätzliche Speicherelemente vorgesehen sind, deren Anzahl entsprechend der Anzahl der für das Wort zu erwartenden unbrauchbaren Speicherelemente gewählt ist, bei dem Maßnahmen getroffen sind, unbrauchbare Speicherelemente von der Benutzung als Speicherplatz für Daten auszuschließen, dadurch gekennzeichnet , daß die Speicherelemente so aufgebaut und die unbrauchbaren Speicherelemente so verändert sind, daß aufgrund von elektrischen Ausgangsgrößen der Speicherelemente mindestens beim Lesevorgang die Unbrauchbarkeit feststellbar ist, und daß Schaltmittel vorgesehen sind, die so eingerichtet sind, daß sie die unbrauchbaren Speicherelemente eines angesteuerten Wortes erkennen und beim Einschreiben oder Lesen derjenigen Information, die jeweils dem v-ten(v= 1.. .π; η bedeutet Anzahl der zusätzlichen Speicherelemente im Wort) unbrauchbaren Speicherelemente zugeordnet ist, jeweils das v-te zusätzliche Speicherelement ansteuern.
2. Datenspeicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die FehlerhäuFigkeit der zusätzlichen Speicherelemente kleiner als die der Speicherelemente ist.
3. Datenspeicher nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche mit höchstens einem unbrauchbaren Speicherelement in jedem Wort, dadurch gekennzeichnet, daß gemeinsam dem ersten Speicherelement aller Worte, gemeinsam dem zweiten Speicherelement aller Worte usw., jeweils eine Erkennungsschaltung zum Erkennen eines unbrauchbaren Speicherelements des gerade angesteuerten Worts, eine erste und eine zweite Durchschalteeinrichtung zugeordnet sind, wobei in Abhängigkeit davon, ob ein unbrauchbares Speicherelement festgestellt wurde oder nicht, die erste Durchschalteeinrichtung die Verbindung zwischen dem Speicherelement und einem Zugang und/oder Ausgang des Speichers unterbricht bzw. herstellt, und die zweite Durchschalteeinrichtung die Verbindung zwischen dem Eingang und/oder Ausgang und dem zusätzlichen Speicherelement des gerade angesteuerten Worts herstellt bzw. unterbricht
4. Datenspeicher nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche zum Einschreiben, dadurch gekennzeichnet, daß für jede Bitstelle eine Einrichtung zur Feststellung der Unbrauchbarkeit vorgesehen ist, daß in Abhängigkeit von einem Ausgangssignal dieser Einrichtung die Zuführung von Schreibsignalen zur Bitstelle sperrbar ist und statt dessen die Schreibsignale zur zusätzlichen Speicherzelle leitbar sind, und daß die Zuführung von Schreibsignalen gegenüber dem Wortauswahlimpuls so verzögert ist, daß bei Vorliegen eines unbrauchbaren Speicherelements durch die genannte Sperrung der Schreibsignale das Einschreiben in die unbrauchbare Speicherzelle verhindert werden kann.
5. Datenspeicher nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens ein Teil der Wörter des Speichers in untereinander gleicher Weise so in Unterwörter aufgeteilt ist, daß die Anzahl der pro Unterwort m erwartenden unbrauchbaren Speicherelemente eine bestimmte Zahl, insbesondere 1, nicht überschreitet, daß für jedes Unterwort eine der Anzahl der zu erwartenden unbrauchbaren Speicherzellen entsprechende Anzahl von zusätzlichen Speicherzellen vorgesehen ist
DE19702058641 1969-06-21 1970-11-28 Datenspeicher Granted DE2058641B2 (de)

Priority Applications (15)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19691931524 DE1931524C (de) 1969-06-21 Datenspeicher und Datenspeichern steuerschaltung
DE1963895A DE1963895C3 (de) 1969-06-21 1969-12-20 Datenspeicher und Datenspeicher anste'uerschaltung
DE19702007050 DE2007050C (de) 1970-02-17 Datenspeicherschaltung und Datenspeicheransteuerschaltung
DE2007787A DE2007787B2 (de) 1969-06-21 1970-02-20 Datenspeicher- und Datenspeicheransteuerschaltung
DE2008663A DE2008663C3 (de) 1969-06-21 1970-02-25 Datenspeicher- und Datenspeicheransteuerschaltung
GB2939270A GB1307418A (en) 1969-06-21 1970-06-17 Data storage system
FR7022748A FR2054586A1 (de) 1969-06-21 1970-06-19
US48300A US3693159A (en) 1969-06-21 1970-06-22 Data storage system with means for eliminating defective storage locations
DE19702053260 DE2053260A1 (de) 1969-06-21 1970-10-30 Datenspeichersystem
DE19702058641 DE2058641B2 (de) 1969-06-21 1970-11-28 Datenspeicher
DE19702058698 DE2058698A1 (de) 1969-06-21 1970-11-28 Datenspeichersystem
IT3009671A IT969043B (it) 1970-10-30 1971-10-20 Sistema di immagazzinaggio di dati
FR7138955A FR2111957A6 (de) 1969-06-21 1971-10-29
US00193949A US3772652A (en) 1969-06-21 1971-10-29 Data storage system with means for eliminating defective storage locations
GB5071771A GB1361009A (en) 1969-06-21 1971-11-01 Data storage system

Applications Claiming Priority (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19691931524 DE1931524C (de) 1969-06-21 Datenspeicher und Datenspeichern steuerschaltung
DE1963895A DE1963895C3 (de) 1969-06-21 1969-12-20 Datenspeicher und Datenspeicher anste'uerschaltung
DE19702007050 DE2007050C (de) 1970-02-17 Datenspeicherschaltung und Datenspeicheransteuerschaltung
DE2007787A DE2007787B2 (de) 1969-06-21 1970-02-20 Datenspeicher- und Datenspeicheransteuerschaltung
DE2008663A DE2008663C3 (de) 1969-06-21 1970-02-25 Datenspeicher- und Datenspeicheransteuerschaltung
DE19702053260 DE2053260A1 (de) 1969-06-21 1970-10-30 Datenspeichersystem
DE19702058641 DE2058641B2 (de) 1969-06-21 1970-11-28 Datenspeicher
DE19702058698 DE2058698A1 (de) 1969-06-21 1970-11-28 Datenspeichersystem

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE2058641A1 DE2058641A1 (de) 1972-05-31
DE2058641B2 true DE2058641B2 (de) 1972-12-14

Family

ID=27570489

Family Applications (6)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1963895A Expired DE1963895C3 (de) 1969-06-21 1969-12-20 Datenspeicher und Datenspeicher anste'uerschaltung
DE2007787A Granted DE2007787B2 (de) 1969-06-21 1970-02-20 Datenspeicher- und Datenspeicheransteuerschaltung
DE2008663A Expired DE2008663C3 (de) 1969-06-21 1970-02-25 Datenspeicher- und Datenspeicheransteuerschaltung
DE19702053260 Pending DE2053260A1 (de) 1969-06-21 1970-10-30 Datenspeichersystem
DE19702058698 Pending DE2058698A1 (de) 1969-06-21 1970-11-28 Datenspeichersystem
DE19702058641 Granted DE2058641B2 (de) 1969-06-21 1970-11-28 Datenspeicher

Family Applications Before (5)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1963895A Expired DE1963895C3 (de) 1969-06-21 1969-12-20 Datenspeicher und Datenspeicher anste'uerschaltung
DE2007787A Granted DE2007787B2 (de) 1969-06-21 1970-02-20 Datenspeicher- und Datenspeicheransteuerschaltung
DE2008663A Expired DE2008663C3 (de) 1969-06-21 1970-02-25 Datenspeicher- und Datenspeicheransteuerschaltung
DE19702053260 Pending DE2053260A1 (de) 1969-06-21 1970-10-30 Datenspeichersystem
DE19702058698 Pending DE2058698A1 (de) 1969-06-21 1970-11-28 Datenspeichersystem

Country Status (4)

Country Link
US (2) US3693159A (de)
DE (6) DE1963895C3 (de)
FR (2) FR2054586A1 (de)
GB (2) GB1307418A (de)

Families Citing this family (48)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SE358755B (de) * 1972-06-09 1973-08-06 Ericsson Telefon Ab L M
US3898443A (en) * 1973-10-29 1975-08-05 Bell Telephone Labor Inc Memory fault correction system
US3872291A (en) * 1974-03-26 1975-03-18 Honeywell Inf Systems Field repairable memory subsystem
US4150428A (en) * 1974-11-18 1979-04-17 Northern Electric Company Limited Method for providing a substitute memory in a data processing system
FR2307332A1 (fr) * 1975-04-07 1976-11-05 Sperry Rand Corp Procede de stockage d'information dans une memoire comportant au moins une zone de memorisation defectueuse et dispositif pour l'execution de ce procede
US4024509A (en) * 1975-06-30 1977-05-17 Honeywell Information Systems, Inc. CCD register array addressing system including apparatus for by-passing selected arrays
US4051354A (en) * 1975-07-03 1977-09-27 Texas Instruments Incorporated Fault-tolerant cell addressable array
US4066880A (en) * 1976-03-30 1978-01-03 Engineered Systems, Inc. System for pretesting electronic memory locations and automatically identifying faulty memory sections
US4198681A (en) * 1977-01-25 1980-04-15 International Business Machines Corporation Segmented storage logging and controlling for partial entity selection and condensing
US4450524A (en) * 1981-09-23 1984-05-22 Rca Corporation Single chip microcomputer with external decoder and memory and internal logic for disabling the ROM and relocating the RAM
EP0090331B1 (de) * 1982-03-25 1991-04-17 Kabushiki Kaisha Toshiba Halbleiterspeicheranordnung
US4493075A (en) * 1982-05-17 1985-01-08 National Semiconductor Corporation Self repairing bulk memory
US4584682A (en) * 1983-09-02 1986-04-22 International Business Machines Corporation Reconfigurable memory using both address permutation and spare memory elements
US4584681A (en) * 1983-09-02 1986-04-22 International Business Machines Corporation Memory correction scheme using spare arrays
US4581739A (en) * 1984-04-09 1986-04-08 International Business Machines Corporation Electronically selectable redundant array (ESRA)
US4744060A (en) * 1984-10-19 1988-05-10 Fujitsu Limited Bipolar-transistor type random access memory having redundancy configuration
US4759020A (en) * 1985-09-25 1988-07-19 Unisys Corporation Self-healing bubble memories
US4928022A (en) * 1987-07-17 1990-05-22 Trw Inc. Redundancy interconnection circuitry
US5268319A (en) * 1988-06-08 1993-12-07 Eliyahou Harari Highly compact EPROM and flash EEPROM devices
EP0389203A3 (de) * 1989-03-20 1993-05-26 Fujitsu Limited Halbleiterspeichergerät beinhaltend Information, die die Anwesenheit mangelhafter Speicherzellen anzeigt
US7190617B1 (en) * 1989-04-13 2007-03-13 Sandisk Corporation Flash EEprom system
EP0617363B1 (de) 1989-04-13 2000-01-26 SanDisk Corporation Austausch von fehlerhaften Speicherzellen einer EEprommatritze
US5146574A (en) * 1989-06-27 1992-09-08 Sf2 Corporation Method and circuit for programmable selecting a variable sequence of element using write-back
US5315708A (en) * 1990-02-28 1994-05-24 Micro Technology, Inc. Method and apparatus for transferring data through a staging memory
US5212785A (en) * 1990-04-06 1993-05-18 Micro Technology, Inc. Apparatus and method for controlling data flow between a computer and memory devices
US5140592A (en) * 1990-03-02 1992-08-18 Sf2 Corporation Disk array system
US5233618A (en) * 1990-03-02 1993-08-03 Micro Technology, Inc. Data correcting applicable to redundant arrays of independent disks
US5134619A (en) * 1990-04-06 1992-07-28 Sf2 Corporation Failure-tolerant mass storage system
US5388243A (en) * 1990-03-09 1995-02-07 Mti Technology Corporation Multi-sort mass storage device announcing its active paths without deactivating its ports in a network architecture
US5325497A (en) * 1990-03-29 1994-06-28 Micro Technology, Inc. Method and apparatus for assigning signatures to identify members of a set of mass of storage devices
US5202856A (en) * 1990-04-05 1993-04-13 Micro Technology, Inc. Method and apparatus for simultaneous, interleaved access of multiple memories by multiple ports
US5233692A (en) * 1990-04-06 1993-08-03 Micro Technology, Inc. Enhanced interface permitting multiple-byte parallel transfers of control information and data on a small computer system interface (SCSI) communication bus and a mass storage system incorporating the enhanced interface
US5956524A (en) * 1990-04-06 1999-09-21 Micro Technology Inc. System and method for dynamic alignment of associated portions of a code word from a plurality of asynchronous sources
US5414818A (en) * 1990-04-06 1995-05-09 Mti Technology Corporation Method and apparatus for controlling reselection of a bus by overriding a prioritization protocol
US5214778A (en) * 1990-04-06 1993-05-25 Micro Technology, Inc. Resource management in a multiple resource system
US5255227A (en) * 1991-02-06 1993-10-19 Hewlett-Packard Company Switched row/column memory redundancy
US5867640A (en) * 1993-06-01 1999-02-02 Mti Technology Corp. Apparatus and method for improving write-throughput in a redundant array of mass storage devices
US20030088611A1 (en) * 1994-01-19 2003-05-08 Mti Technology Corporation Systems and methods for dynamic alignment of associated portions of a code word from a plurality of asynchronous sources
US5841710A (en) * 1997-02-14 1998-11-24 Micron Electronics, Inc. Dynamic address remapping decoder
US6182239B1 (en) * 1998-02-06 2001-01-30 Stmicroelectronics, Inc. Fault-tolerant codes for multi-level memories
US6332183B1 (en) 1998-03-05 2001-12-18 Micron Technology, Inc. Method for recovery of useful areas of partially defective synchronous memory components
US6314527B1 (en) 1998-03-05 2001-11-06 Micron Technology, Inc. Recovery of useful areas of partially defective synchronous memory components
US6381708B1 (en) 1998-04-28 2002-04-30 Micron Technology, Inc. Method for decoding addresses for a defective memory array
US6381707B1 (en) 1998-04-28 2002-04-30 Micron Technology, Inc. System for decoding addresses for a defective memory array
US6496876B1 (en) 1998-12-21 2002-12-17 Micron Technology, Inc. System and method for storing a tag to identify a functional storage location in a memory device
US6578157B1 (en) 2000-03-06 2003-06-10 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for recovery of useful areas of partially defective direct rambus rimm components
US7269765B1 (en) 2000-04-13 2007-09-11 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for storing failing part locations in a module
US6724674B2 (en) * 2000-11-08 2004-04-20 International Business Machines Corporation Memory storage device with heating element

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE620922A (de) * 1961-08-08
US3222653A (en) * 1961-09-18 1965-12-07 Ibm Memory system for using a memory despite the presence of defective bits therein
US3245049A (en) * 1963-12-24 1966-04-05 Ibm Means for correcting bad memory bits by bit address storage
US3350690A (en) * 1964-02-25 1967-10-31 Ibm Automatic data correction for batchfabricated memories
US3402399A (en) * 1964-12-16 1968-09-17 Gen Electric Word-organized associative cryotron memory
US3331058A (en) * 1964-12-24 1967-07-11 Fairchild Camera Instr Co Error free memory
US3422402A (en) * 1965-12-29 1969-01-14 Ibm Memory systems for using storage devices containing defective bits
US3444526A (en) * 1966-06-08 1969-05-13 Ibm Storage system using a storage device having defective storage locations
US3434116A (en) * 1966-06-15 1969-03-18 Ibm Scheme for circumventing bad memory cells
US3436734A (en) * 1966-06-21 1969-04-01 Ibm Error correcting and repairable data processing storage system
US3432812A (en) * 1966-07-15 1969-03-11 Ibm Memory system
US3588830A (en) * 1968-01-17 1971-06-28 Ibm System for using a memory having irremediable bad bits
GB1186704A (en) * 1968-03-01 1970-04-02 Ibm Selection Circuit
US3541525A (en) * 1968-04-19 1970-11-17 Rca Corp Memory system with defective storage locations
US3633175A (en) * 1969-05-15 1972-01-04 Honeywell Inc Defect-tolerant digital memory system
US3654610A (en) * 1970-09-28 1972-04-04 Fairchild Camera Instr Co Use of faulty storage circuits by position coding

Also Published As

Publication number Publication date
DE2007787B2 (de) 1974-07-04
DE2053260A1 (de) 1972-05-04
GB1361009A (en) 1974-07-24
DE1931524A1 (de) 1971-01-21
DE1963895B2 (de) 1973-03-22
DE2058641A1 (de) 1972-05-31
DE1931524B2 (de) 1972-11-16
DE2007050B2 (de) 1973-02-08
DE2058698A1 (de) 1972-05-31
FR2111957A6 (de) 1972-06-09
DE2007050A1 (de) 1971-09-09
DE2007787C3 (de) 1975-03-06
GB1307418A (en) 1973-02-21
DE2008663A1 (de) 1971-09-09
DE1963895C3 (de) 1973-11-29
US3772652A (en) 1973-11-13
US3693159A (en) 1972-09-19
FR2054586A1 (de) 1971-04-23
DE1963895A1 (de) 1971-07-15
DE2007787A1 (de) 1971-11-18
DE2008663C3 (de) 1973-10-31
DE2008663B2 (de) 1973-03-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2058641B2 (de) Datenspeicher
DE1952374C3 (de) Informationsverarbeitendes System mit einer Adressiervorrichtung
EP0012796B1 (de) Speicheranordnung mit Speicherzellen zum gleichzeitigen Einlesen und Auslesen von Information
DE60032644T2 (de) Halbleiter-speicherbaustein
DE2364408A1 (de) System zur erstellung von schaltungsanordnungen aus hochintegrierten chips
DE2142634B2 (de) Assoziativspeicher
DE1524788C3 (de) Schaltungsanordnung zum Erkennen und zum automatischen Ersetzen von schadhaften Speicherstellen in Datenspeichern
EP0282976A1 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zum parallelen Einschreiben von Daten in einen Halbleiterspeicher
DE2821110A1 (de) Datenspeichereinrichtung
DE1260532B (de) Speicher mit Kenn-Wert-Aufruf
DE1295656B (de) Assoziativer Speicher
EP1085523B1 (de) Integrierter Speicher mit Speicherzellen und Referenzzellen
DE2235883A1 (de) Datenverarbeitungseinrichtung
DE2153116C3 (de) Funktionsüberwachter Informationsspeicher, insbesondere integrierter Halbleiterspeicher
DE4223532A1 (de) Schaltungsanordnung zum Prüfen der Adressierung wenigstens einer Matrix
DE19507312C1 (de) Halbleiterspeicher, dessen Speicherzellen zu einzeln adressierbaren Einheiten zusammengefaßt sind und Verfahren zum Betrieb solcher Speicher
DE2527236C3 (de) Anordnung zum Einsetzen von Daten in ein Register
DE3028778C2 (de) Decodiereinrichtung
DE2934599C3 (de) Schaltungsanordnung zur Bildung von Prüfbits in einer Fehlerkorrektureinrichtung
DE1474380A1 (de) Matrixspeicheranordnung
EP1141835B1 (de) Integrierter speicher mit redundanz
DE112004002832T5 (de) Sektorschutzschaltung für einen nichtflüchtigen Halbleiterspeicher, Sektorschutzverfahren und nichtflüchtiger Halbleiterspeicher
DE1931524C (de) Datenspeicher und Datenspeichern steuerschaltung
DE1524791C3 (de) Schaltungsanordnung zur Kompensation schadhafter Speicherstellen in Datenspeichern
DE2733531A1 (de) Schaltungsanordnung fuer den schutz von informationen, insbesondere fuer fernsprechvermittlungsanlagen

Legal Events

Date Code Title Description
C3 Grant after two publication steps (3rd publication)