DE2364069C3 - Spektralphotometer - Google Patents
SpektralphotometerInfo
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/42—Absorption spectrometry; Double beam spectrometry; Flicker spectrometry; Reflection spectrometry
- G01J3/427—Dual wavelengths spectrometry
Description
Die Erfindung betrifft ein Spektralphotometer gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Aus der DE-OS 21 11 808 ist bereits ein derartiges
Spektralphotometer bekannt, das wahlweise als Einstrahl-
oder Zweistrahl-Spektralphotometer verwendbar ist und hierzu eine Anzahl lichtabschirmender
Elemente aufweist, durch die das Spektralphotometer von der einen auf die andere Betriebsweise umschaltbar
ist Dies hat jedoch zur Folge, daß die über die jeweiligen Teilstrahlengänge geführten Lichtstrahlen
häufig unterschiedliche optische Eigenschaften und insbesondere eine nicht ausreichend genau definierte
Querschnittsfläche aufweisen, was die zum Beispiel zur Messung von Spektraländerungen an einer lebenden
biologischen Probe wünschenswerte Unterbrechung des d'jrch die Probenküvette geführten Lichtstrahls
hinsichtlich der hierbei erforderlichen hohen Unterbrechungsfrequenz stark einschränkt.
Darüber hinaus ist aus der DE-OS 19 64 509 ein Spektralphotometer bekannt, bei dem in Ausführung als
Einstrahl-Spektralphotometer ein monochromatischer Lichtstrahl über eine Konkavspiegel aufweisende
Spiegelanordnung derart geführt wird, daß die Abbildung
der sagittalen Strahlenanteile in einer zu der meridionalen Bildebene axial verschobenen sagittalen
Bildebene erfolgt, so daß aufgrund dieser Axialverschiebung der meridionalen und sagittalen Bildebene das
monochromatische Lichtstrahlenbündel eine relativ geringe, im wesentliche gleiche Querschnittsfläche über
einen längeren Bereich entlang der durch die Probenküvette verlaufenden Achse des Strahlenganges aufweist.
Bei einer Ausführungsform als Zweistrahl-Spektralphotometer sind bei der Spiegelanordnung zusätzlich zwei
reflektierende Unterbrecher vorgesehen, die sich im Gleichlauf drehen und den monochromatischen Lichtstrahl
nach abwechselnder Führung über einen der beiden Teilstrahlengänge auf eine Photoverfielfacherröhre
richten.
Obwohl bei diesem bekannten Spektralphotometer bereits eine gewisse Verbesserung hinsichtlich der
Festlegung einer relativ geringen Querschnittsfläche des monochromatischen Lichtstrahls im Bereich der
Probenküvette gegeben ist, ist eine noch genauere Festlegung dieser Querschnittsfläche möglich und
außerdem treten insbesondere bei der mit zwei genau zu synchronisierenden Unterbrechern arbeitenden Ausführungsform
als Zweistrahl-Spektralphotometer weiterhin Meßdifferenzen aufgrund unterschiedlicher optischer
Eigenschaften des Probenküvettenlichtstrahls und des Bezugsliehtstrahls nach Durchlaufen der beider
Teilstrahlengänge auf, die sich bei der Spektralaufzeich nung zumindest in einem gewissen Ausmaß in Form vor
Instabilitäten der Basislinie störend bemerkbar machen Ferner ist eine wahlweise Verwendung als Einwellen
längen-Zweiweggerät und Zweiwellenlängen-Einweg gerät nicht möglich.
Aufgabe der Erfindung ist es daher, bei einen
Aufgabe der Erfindung ist es daher, bei einen
Spektralphotometer der in Rede stehenden Art, das
sowohl als Einwellenlängen-Zweiweggerät als auch als
Zweiwellenlängen-Einweggerät verwendbar ist, eine Erhöhung der Unterbrecherfrequenz zu ermöglichen.
Diese Aufgabe wird gemäß den kennzeichnenden Merkmalen des Patentanspruchs 1 gelöst
Da sich durch die nunmehr ergebenden Abbildungsverhältnisse eine äußerst genau definierbare geringe
Querschnittsfläche des auf den Unterbrecher fallenden .Lichtstrahls erzielen läßt, kann durch einfache Vergrößerung
der Anzahl von Zähnen und Lücken des Unterbrechers die Unterbrechungsfrequenz ohne Erhöhung
der Drehzahl des Unterbrechers und damit ohne Abschwächung des Ausgangssignals der photoelektrischen
Wandlereinrichtung erheblich vergrößert werden. Dies ist insbesondere bei der Spektraluntersuchung
von lebenden Untersuchungsobjekten wie von Einzellern u. dgl. von Vorteil. Darüberhinaus weisen die durch
die beiden Küvetten hindurchtretenden äquivalenten Lichtstrahlen und der im Falle einer Zweiwellenlängenmessung
hinzutretende dritte Lichtstrahl keinerlei Abweichungen hinsichtlich ihrer optischen Eigenschaften
auf, so daß die Basislinie beider Aufzeichnung allein durch relativ einfache optische Maßnahmen ohne das
Erfordernis einer aufwendigen elektronischen Kompensation genau und stabil eingehalten werden kann.
Weiterbildungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.
Die Erfindung wird nachstehend anhand schematischer Darstellungen von Ausführungsbeispielen näher
erläutert
F i g. 1 zeigt eine erste Ausführungsform des Spektralphotometers,
Fig.2 zeigt eine weitere Ausführungsform des Spektralphotometers,
Fig.3 zeigt ein Blockschaltbild einer elektrischen Schaltungsanordnung, die in Verbindung mit dem
optischen System des Spektralphotometsrs verwendet werden kann,
Fig.4a zeigt eine vergrößerte Draufsicht einer Ausführungsform des bei den Ausführungsformen
gemäß F i g. 1 und 2 verwendeten Unterbrechers,
Fig.4b zeigt eine perspektivische Ansicht des Unterbrechers gemäß F i g. 4a,
Fig.5a zeigt einen Strahlengang zur Veranschaulichung
der Anordnung der Konkavspiegel bei der Ausführungsform gemäß F i g. 1,
Fig.5b zeigt einen Strahlengang zur Veranschaulichung
der Anordnung der Konkavspiegel bei der Ausführungsform gemäß F i g. 2, und
F i g. 6 veranschaulicht die annähernd gleiche Weglänge der von den Spiegeln gemäß F ig. 5b reflektierten
Lichtstrahlen.
In F i g. 1 bezeichnet die Bezugsziffer I eine Lichtquelle, deren Licht durch einen Monochromator Il
zur Erzeugung monochromatischen Lichtes mit einer ausgewählten Wellenlänge geführt ist. Das monochromatische
Licht tritt in einen Meßabschnitt III des Spektralphotorneters ein, wo es in zwei im wesentlichen
äquivalente Strahlen unterteilt wird, d.h. in einen Proben- und einen Bezugsstrahl, die durch eine die zu
analysierende Substanz enthaltende Probenküvette und eine die Bezugslösung enthaltende Küvette geführt
werden. Das durch die beiden Küvetten hindurchgeführte Licht wird einer photoelektrischen Wandlereinrichtung,
beispielsweise einer Photovervielfacherröhre, zugeführt, so daß die Absorptionsdiffe.enz zwischen
den beicien Strahlen gemessen und ein Absorptionsspektrum
der Probe mittels eines Aufzeichnungsgerätes erhalten wird.
Die Lichtquelle I besitzt ein Lampenpaar, von denen nur eine als Punkt 11 gezeigt ist, einen Konkavspiegel 12
und einen Planspiegel 13. Die Lampen erzeugen Lichtstrahlung in verschiedenen Wellenlängenbereichen
und sind relativ zur Zeichenebene vertikal angeordnet, während der Spiegel 12 derart angeordnet
ist, daß er um eine Horizontalachse (nicht gezeigt) geneigt ist so daß er selektiv auf eine der beiden
Lampen 11 gerichtet werden kann. Die beiden Lampen sind zur Erfassung des Bereichs von Ultraviolett bis
Infrarot vorgesehen, da keine Einzellampe einen derart weiten Bereich erfassen kann.
Das Licht wird von der Lichtquelle über einen Eingangsspalt 21 in den Monochromator Il geführt, wo
es von zwei Kollimatorspiegeln 23 und 23' auf zwei Gitter 24 und 24' reflektiert wird. Die beiden Strahlen
gestreuten (dispergierten) Lichtes werden von zwei Telematorspiegeln 25 und 25' reflektiert und derart über
zwei Planspiegel 26 wn 26' geführt, daß sie durch zwei
Ausgangsspalten 27 bzw. 27' laufen.
Ein Wellenlängensteuermechanismus 40 bzw. 40' steuert die Gitter 24 bzw. 24' unabhängig voneinander.
so daß monochromatisches Licht mit unterschiedlicher ausgewählter Wellenlänge zu den Ausgangsspalten
entnommen werden kann.
Vor einem der Ausgangsspalte, beispielsweise dem Spalt 27', ist in der dargestellten Ausführungsform ein
Verschluß 41 angeordnet der selektiv in den Weg des aus dem Spalt 27' austretenden monochromatischen
Lichts hineinbewegbar und aus diesem herausbewegbar ist Wird das Spektralphotometer als Zweistrahl-Spektralphotometer
verwendet, wird der Verschluß in den optischen Weg hineinbewegt und unterbricht den
Lichtstrahl.
Der aus dem Spalt 27 austretende andere monochromatische
Lichtstrahl trifft dagegen auf einen Konkavspiegel 31, der derart angeordnet ist, daß seine Achse
31a eine Neigung zur optischen Achse aufweist, d. h. einen vorbestimmten Winkel θ mit der optischen Achse
des monochromatischen Lichts aus dem Spalt 27 einschließt, wie dies nachstehend im einzelnen beschrieben
wird. Ein reflektierender Unterbrecher 32, der von einer geeigneten Antriebsvorrichtung 32W angetrieben
wird, führt das von dem Konkavspiegel 31 reflektierte monochromatische Licht abwechselnd über zwei
Teilstrahlengänge RA und SA, wobei die Lichtstrahlen entlang der Teilstrahlengänge RA und SA als
Bezugsstrahl bzw. als Probenstrahl bezeichnet werden.
Der von dem Unterbrecher 32 reflektierte Probenstraiil trifft auf einen Konkavspiegel 33. Andererseits
wird der durch den Unterbrecher 32 hindurchgetretene Bezugsstrahl von einem Planspiegel 34 auf einen
Konkavspiegel 33' reflektiert. Die Konkavspiegel 33 und 33' sind ebenfalls derart angeordnet, daß ihre
Achsen 33a und 33a'schräg oder geneigt zur optischen Achse der Teilstrahlengänge SA bzw. RA angeordnet
sind und zwar in der gleichen Weise wie der zuvor er/ähnte Spiegel 31.
Der von den Spiegeln 33 bzw. 33' reflektierte Probenstrahl und Bezugsstrahl läuft durch eine Probenküvette
Sbzw. eine Bezugiküvette R hindurch und trifft
dann auf Konkavspiegel 35 und 35', deren Achsen ebenfalls derart angeordnet sind, daß sie eine Neigung
zu ce:n optischen Achsen der Teilstrahlengänge SA bzw.
RA aufweisen. Ein weiterer Verschluß 42 ist in entgegengesetzter Weise wie der Verschluß 41 selektiv
in den Teilstrahlengang RA hinein- und aus diesem herausbewegbar. Das heißt, bei einer Hineinbewegung
des Verschlusses 41 in den Lichtstrahl A 2, wird der Verschluß 42 aus dem Teilstrahlengang RA herausbewegt
und umgekehrt. Der Verschluß 42 wird aus dem ί Teilstrahlengang RA in die durch eine durchgezogene
Linie dargestellte Lage bewegt, um das Hindurchtreten des Lichtstrahls von dem Spiegel 33' zu ermöglichen.
Die von den Spiegeln 35 und 35' reflektierten Lichtstrahlen werden dann von einem einzigen, in
reflektierende Oberfläche auf seinen beiden gegenüberliegenden Seiten aufweisenden Planspiegel 36 auf
Konkavspiegel 37 und 37' reflektiert, die derart angeordnet sind, daß ihre Achsen eine Neigung zu den
optischen Achsen der Teilstrahlengänge SA bzw. RA \r>
aufweisen. Die Spiegel 37 und 37' richten abwechselnd das Licht der beiden Strahlen über eine Diffusorplatte
43 auf die lichtempfindliche Oberfläche einer Photovervieilacherrohre
3».
Hat die zu analysierende Probe eine geringe Transparenz oder zerstreut sie das Licht, werden die
iVoben- und die Bezugsküvette unmittelbar vor der Photovervielfacherröhre 38 angeordnet — wie bei 5'
bzw. R' anstelle von 5 bzw. R. Wie leicht ersichtlich ist, ermöglicht es diese Anordnung der lichtempfindlichen
Oberfläche der Röhre, mehr Licht von den Küvetten als auf die andere Weise zu empfangen.
Wird das Spektralphotometcr nls Zweiwellenlängen-Spektralphotometer
betrieben, werden die Gitter 24 und 24' derart eingestellt, daß sie monochromatische jo
Lichtstrahlen mit unterschiedlichen Wellenlängen A 1 und A 2 über die Ausgangsspalte 27 bzw. 27' abgeben.
Der Verschluß 41 wird aus dem Strahlengang des Strahles λ 2 in die gestrichelt dargestellte Position
verschoben, während der Verschluß 42 in die gestrichelte Position in den Strahlengang RA verschoben wird.
Der Strahl mit der Wellenlänge A 2 wird daher von einem Koikavspiegel 31' reflektiert, dessen Achse 31a'
schräg zur optischen Achse des Strahls A 2 angeordnet ist. und wird dann von einem Planspiegel 34' reflektiert,
so daß er intermittierend durch den Unterbrecher 32 hindurchläuft, wenn dieser von der Anstriebseinrichtung
32Mgedreht wird. Wie aus der Zeichnung ersichtlich ist, ist der Konkavspiegel 3Γ mittels des Planspiegels 34'
symmetrisch zum Konkavspiegel 31 angeordnet, wobei der Unterbrecher 32 als Symmtrieachse zwischen
diesen liegt, so daß der durch den Unterbrecher hindurchgetretene Lichtstrahl A 2 genau demselben
Weg SA folgt wie der Lichtstrahl A 1. Somit laufen die beiden Strahlen unterschiedlicher Wellenlängen A 1 und so
A 2 abwechselnd durch die Probenküvette S hindurch und werden der Photovervielfacherröhre 38 zugeführt,
wodurch eine Zweiwellenlängenmessung der Probe ermöglicht wird.
Die aus den Spalten 27 und 27' austretenden beiden Strahlen 1 und 2 werden vor Erreichen des Spiegels 33
im wesentlichen über die gleiche Strecke geführt und beide zweimal reflektiert, und zwar der Strahl A 1 von
dem Konkavspiegel 31 und dem Unterbrecher 32 und der Strahl A 2 von dem Konkavspiegel 31' und dem
Planspiegel 43'. Hinter dem Unterbrecher 32 folgen die beiden Strahlen abwechselnd genau dem gleichen
Strahlengang, so daß eine genaue Äquivalenz der optischen Eigenschaften der beiden Strahlen gewährleistet
ist.
Das gleiche gilt für den vorhergehenden Fall, bei welchem das Spektralphotometer als Zweistrahl-Spektralphotometer
betrieben wird. Der Konkavspiegel 33' in dem Teilstrahlengang der Bezugsseite ist mittels des
Planspiegels 34 symmetrisch zu dem Konkavspiegel 33 im Teilstrahlengang der Probenseite mit dem Unterbrecher
32 als Symmetriezentrum angeordnet. Vor dem Erreichen der Konkavspiegel 33 und 33' durchlaufen der
Bezugsstrahl und der Probenstrahl im wesentlichen die gleiche Strecke und werden zweimal reflektiert, und
zwar zuerst von dem Konkavspiegel 31 und dann von dem Planspiegel 34 oder dem Unterbrecher 32. Nach
den Spiegeln 33 und 33' durchlaufen die beiden Strahlen die beiden symmetrisch angeordneten, genau äquivalenten
optischen Systeme. Somit sind die drei Strahlen, d. h. der Bezugsstrahl und der Probenstrahl und der von dem
Spalt 27' für Zweiwellenlängcnmcssung abgegebene Strahl, genau äquivalent über das gesamte optische
System des Spektralphotometers, so daß die Stabilität der Basislinie allein durch optische Mittel und ohne
Verwendung komplizierter und kostspieliger elektrischer
KomperisieruiigviL-tiaiiüi'igcn, die bisher erforderlich
waren, erreicht werden kann.
Mit »äquivalent« ist gemeint, daß die drei Lichtstrahlen
in gleicher Häufigkeit in dem optischen Weg von der Lichtquelle zur Wandlereinrichtung reflektiert werden
und die gleichen Abbildungsbedingungen sowie gleiche geometrische Form und Intensität aufweisen.
Wie zuvor erwähnt, ist es für eine genaue Messung erforderlich, daß der durch die Küvette S(S')oder R (R',
hindurchlaufende Strahl eine genau definierte und relativ kleine Querschnittsfläche längs der gesamten
Länge der Küvette hat. Wie ebenfalls bereits erwähnt, ist es bei der Analyse tiner lebenden biologischen Probe
zur Beobachtung deren Spektraländerung vorteilhaft, daß die Unterbrechungsgeschwindigkeit oder -frequenz
des Unterbrechers so hoch wie möglich ist. Dies wird durch die Anordnung der Konkavspiegel erreicht. Die
Konkavspiegel 31, 31', 33, 33', 35, 35' und 37, 37', sind hierzu derart angeordnet, daß ihre jeweiligen Achsen
schräg oder geneigt liegen, d. h. einen vorbestimmten Winkel mit der optischen Achse des aus dem
Monochromator austretenden Lichts einschließen.
Wird ein Konkavspiegel geneigt gegen die optische Achse des auf ihn auftreffenden Lichtstrahls angeordnet,
werden die Lichtstrahlen in der Meridionalebene des Konkavspiegels (als Meridionalstrahlen bezeichnet]
an einem Punkt (als meridionaler Bildpunkt bezeichnet] und die Lichtstrahlen in der Sagittalebene des gleicher
Spiegels (als Sagittalstrahlen bezeichnet) an einem anderen Punkt (als sagittaler Bildpunkt bezeichnet), der
axial gegenüber dem meridionalen Bildpunkt verschoben ist, abgebildet.
Der Neigungswinkel θ und der Kru.iimungsradius de«
Konkavspiegels 31 und die Relativlage des Spiegels zi dem Spalt 27 und dem Unterbrecher 32 sind so gewählt
daß die Meridionalstrahlen des Ausgangslichtstrahl! von dem Spalt 27 des Monochromator das meridionals
Bild des Spaltes 27 auf dem Unterbrecher 32 abbilden während die sagittalen Strahlen des gleichen Strahls da:
sagittale Bild des Gitters 24 (die Lichtöffnung de: Monochromator) auf dem Unterbrecher abbilden. Wi<
leicht ersichtlich ist, hat daher der Lichtstrahl an den Konkavspiegel 31 in der Ebene des Unterbrechers 3Ί
einen scharf definierten, sehr engen streifenförmigei Querschnitt IM mit im wesentlichen gleichförmige!
Intensität in Radialrichtung des Unterbrecher: (F i g. 4a). Da die Querschnittsfläche IM des von den
Unterbrecher zu unterbrechenden Lichtstrahls sehr enj im Vergleich zur Zahnweite des Unterbrechers ist, ist e
möglich, mit einem Unterbrecher mit weit größere
Zähnezahl als bisher am Ausgang der Wandlereinrichtung
einen Signalverlauf mit sehr scharfen Kanten zu erhalten und daher die Unterbrechnungsirequenz zu
vergrößern, ohne den Wirkungsgrad bei der Nutzung der Energie des Ausgangssignals zu vermindern.
Zur wirksamen Vergrößerung der Unterbrechungsfrequenz ist der Unterbrecher gemäß Fig.4a und 4b
aufgebaut. Der Unterbrecher besitzt eine kreisförmige Scheibe 45, die an ihrem Umfang eine Anzahl
Aussparungen 46 und radiale Zähne 47 besitzt, wobei in jede zweite Aussparung von einem Block 48 geschlossen
ist, der einen Spiegel 48' auf seiner Oberfläche besitzt, wie dies in Fig.4b dargestellt ist. Auf der
gleichen Seite des Spiegels 48' des Blocks 48 weisen die radialen Zähne 47 eine Oberfläche auf, die auf sie i>
auftreffendes Licht absorbiert.
Das Licht tritt somit bei Drehung des Unterbrechers abwechselnd durch jede der Aussparungen hindurch
und wird von jedem der Spiegel 48' reflektiert, während es von den radialen Zähnen absorbiert wird, so daß das 2»
durch die Aussparungen hindurchtretende Licht durch die Bezugsküvette und das von dem jeweiligen Spiegel
reflektierte Licht durch die Probenküvclle geführt
werden und das Ausgangssignal der Photovervielfacherröhre den in Fg. 3 dargestellten Verlauf 2r>
aufweist.
Es ist ersichtlich, daß es durch einfache Vergrößerung der Anzahl der Aussparungen oder der Zähne möglich
ist, die Unterbrechungsfrequenz zu vergrößern ohne die Drehzahl des Unterbrechers zu vergrößern, da nunmehr «1
die scharf definierte enge und kleine Querschnittsfläche des Lichtstrahls am Unterbrecher eine solche Vergrößerung
der Anzahl der Aussparungen erlaubt.
Aufgrund der geneigten Anordnung des Konkavspiegels 31 wird das Sagiltalbild des Spaltes 27 im i>
wesentlichen in der Sag;itlalebene des Spiegels 33 abgebildet, der ebenfalls geneigt zur optischen Achse
des Teilstrahlenganges S'A angeordnet ist. Die Neigungsstellung
des Spiegels 33 ist derart gewählt, daß die von dem Spiegel 33 reflektierten sagittalen Lichtstrah- 4«
len im wesentlichen parallel durch die Küvette S hindurchlaufen, während die von dem Spiegel 33
reflektierten meridionalen Strahlen das Bild des Ausgangsspaltes 27 in der Mitte der Küvette 5 abbilden.
Dies bedeutet, daß sich das Bündel der von dem Spiegel *r,
33 reflektierten Lichtstrahlen nicht vertikal oder horizontal ausdehnt, sondern eine genau definierte enge
Querschnittsfläche über die gesamte Länge der Küvette aufweist.
Das durch die Küvette 5 hindurchtretende Licht trifft so
auf einen Konkavspiegel 35 auf, der geneigt zur optischen Achse des Strahls angeordnet ist, unH wird
von einem Planspiegel 36 und dann von einem Konkavspiegel 37 reflektiert, der ebenfalls geneigt zur
optischen Achse des Strahls angeordnet ist. Die r>>
Achsabweichungswinkel dieser Spiegel 35 und 37 können voneinander und von denen der Spiegel 31 und
33 verschieden sein. Das Licht wird dann über eine Probenküvette 5' (wenn die vorherige Küvette 5
entfallen ist) geführt und über die Diffusorplatte 43 auf mi
die Photovervielfacherröhre 38 gerichtet.
Der Spiegel 35 bildet ein Sagittalbild des Ausgangsspaltes 27 des Monochromators im wesentlichen in der
Sagittalebene des Spiegels 37 und ein Meridionalbild des gleichen Spaltes auf der Oberfläche des Planspiegels hi
36 ab. Wie ersichtlich ist, sind die geometrischen Beziehungen der Spiegel 35,36 und 37 gleich denen der
Spiegel 33, 38' (am Unterbrecher) bzw. 31, so daß das Licht von dem Spiegel 37 in der Sagittalebene genau
äquivalent dem Licht von dem Spiegel 33 ist, d.h. der Konkavspiegel 37 bildet die Sagittalkomponenten des
Lichts von dem Planspiegel 36 im wesentlichen parallel ab, während er ein Tangentialbild des Spaltes 27 hinter
der lichtempfindlichen Oberfläche der Photovervielfacherröhre 38 abbildet. Daher weist der durch die
Küvette S' hindurchgetretene Lichtstrahl eine genau definierte enge Querschnittsfläche auf.
Auf der lichtempfindlichen Oberfläche der Photovervielfacherröhre 38 wird ein Sagittalbild des Gitters oder
eines Bereichs in der Nähe des Gitters abgebildet, und
bei der Abbildung des Meridionalbildes des Spaltes 27 hinter der lichtempfindlichen Oberfläche hat der
Lichtstrahl an der lichtempfindlichen Fläche einen genau definierten Querschnitt mit im wesentlichen
gleichförmiger Intensität und einer ausreichenden Größe oder Fläche zur Erfassung eines ausreichenden
Teils der lichtempfindlichen Oberfläche zur Minimalisierung widriger Ortseinflüsse, d. h. der Empfindlichkeitsdifferenz an verschiedenen Abschnitten der lichtempfindlichen
Oberfläche der Photovervielfacherröhre.
An der Bezugsseite des optischen Systems sind Konkavspiegel 3\', 33', 35', 37' und Planspiegel 34, 34'
symmetrisch zu den vorstehend erwähnten Spiegeln 31, 33 usw. auf der Probenseite angeordnet, so daß der
Bezugsstrahl dem Probenstrahl genau äquivalent ist Zur Gewährleistung der Äquivalenz ist es erforderlich
daß die physikalischen und geometrischen Eigenschaften eines jeden optischen Elementes der Bezugsseite
denen der entsprechenden optischen Elemente der Probenseite genau äquivalent sind.
F i g. 2 zeigt eine weitere Ausführungsform des Spektralphotometers. Das Grundkonzept ist hierbei das
gleiche wie bei der Ausführungsform gemäß Fig. 1, se
daß die Erläuterung von F i g. 2 auf die Teile beschränki werden kann, die gegenüber der Ausführungsforrr
gemäß Fig. I unterschiedlich sind, wobei gleiche Bezugszeichen in Fig. 1 und 2 entsprechende Elemente
bezeichnen.
Bei dem Spektralphotometer gemäß Fig.2 unter
scheidet sich die Anordnung der Spiegel 33 und 33' vor der der entsprechenden Spiegel gemäß F i g. 1.1 η F i g. I
ist der Spiegel 33 (33') geneigt auf eine Seite dei optischen Achse des Strahls gerichtet, so daß die Achs«
33a des Spiegels 33 einen Neigungswinkel θ mit dei optischen Achse des Lichtstrahls SA auf einer Seite dei
optischen Achse bildet, wie es in Fig.5a gezeigt ist. Ir
der Anordnung gemäß F i g. 2 ist der Spiegel 33 (33' geneigt zur entgegengesetzten Seite der optischer
Achse des Strahls gerichtet, wie dies in F i g. 5b gezeig ist. Zur Vereinfachung der Darstellung und Erläuterunj
kann der Spiegel 31 in F i g. 5a und 5b äquivalent an dei gegenüberliegenden Seite des Unterbrechers 32 — wi(
dies mit gestrichelten Linien gezeigt ist — symmetrise!
zur ausgerichteten Lage angeordnet sein. In Fig. 5: (Fig. 1) sind die Spiegel 31 und 33 so zueinander
angeordnet, daß ihre Neigungswinkel θ an der gegenüberliegenden Seiten der optischen Achse S/
gebildet werden, während gemäß Fig. 5b (Fig. 2) di<
Neigungswinkel θ auf der gleichen Seile der optischer
Achse liegen.
Bei der Relativanordnung der Spiegel 31 und 33 in de
Ausführungsform gemäß Fig.2 (Fig.5b) durchlauf
jeder der von dem Spiegel 31 reflektierten Lichtstrchlei
im wesentlichen die gleiche Strecke bis zum Erreiche! des Spiegels 33, wie dies in Fig.6 gezeigt ist. Dii
Abweichungen der optischen Weglängen (ζ. Β
909 613/249
L\ — L3) der Lichtstrahlen zwischen den beiden
Konkavspiegeln 31 und 33 können somit minimal gehalten werden, so daß Aberrationen weitestgehend
verringert werden können. Dies gilt auch für die Spiegel 3Γ und 33' an der Bezugsseite des Systems.
Dar von dem Spiegel 33 bzw. 33' ausgehende Licht wird von einem Planspiegel 45 bzw. 45' reflektiert und
durcnläuft die Küvette SR in der gleichen Weise wie bei der Ausführungsform gemäß Fig. 1. Jedoch entfällt bei
der Ausführungsform gemäß F i g. 2 der bei der Ausführungsform gemäß F i g. 1 vorgesehene Planspiegel
36, so daß der Spiegel 35 bzw. 35' das Licht unmittelbar auf den Spiegel 37 bzw. 37' reflektiert, der
die Lichtstrahlen auf die Photovervielfacherröhre über die Küvette S'bzw. R' — bei Anordnung vor der Röhre
— richtet.
Anstelle von zwei Verschlüssen 41 und 42 wird bei der
Ausführungsform gemäß Fig. 2 ein einziger Verschluß 55 verwendet Dieser Verschluß ist zv
oi/Hi
durchgezogene bzw. gestrichelte Linien bezeichneten Stellungen beweglich, um den aus dem Monochromator
austretenden Strahl λ 2 für eine Einwellenlängenmessung mittels des Strahls λ 1 zu unterbrechen und
alternativ den Strahl λ 1 am Durchlaufen des Teilstrahlenganges RA zu hindern, während der Strahl λ 2 über
den Teilstrahlengang SA durch den Unterbrecher abwechselnd mit dem Strahl λ 1 hindurchtreten kann,
wodurch eine Zweiwellenlängenmessung mittels der beiden Strahlen λ 1 und λ 2 ermöglicht wird. Selbstverständlich
kann auch der einzige Verschluß anstelle der Verschlüsse 41 und 42 bei dem Spektralphotometer
gemäC F i g. 1 verwendet werden, die wiederum anstelle des einzigen Verschlusses auch bei dem Spektralphotometer
gemäß F i g. 2 verwendet werden können.
Außerdem ist es möglich, Derivativspektren einer Probe zu messen, wozu zwei Masken (US-Patentschrift
37 37 234) verwendet werden können. Die beiden Masken werden dort angeordnet, wo das Meridionalbild
des Ausgangsspaltes bei Sund R abgebildet wird, so daß der nicht abgedeckte Abschnitt des Bezugsstrahls und
des Probenstrahls eine Wellenlänge aufweist, die sich um einen vorgegebenen geringen Wert von der des
nicht abgedeckten Abschnitts des anderen Strahls unterscheidet.
Fig. 3 zeigt ein Ausfuhrungsbeispiel einer elektrischen
Schaltung, die in Verbindung mit dem optischen System des Spektralphotometers verwendet werden
Γ· kann. Das Ausgangssignal der Photovervielfacherröhre
38 liegt über einen Verstärker 50 an einer Signaltrennschaltung 51, beispielsweise einem Synchrongleichrichter,
an, der die beiden Signale trennt, die durch die durch die Bezugsküvette und die Probenküvette geführten
Strahlen oder die beiden durch die Probenküvette geführten Strahlen unterschiedlicher Wellenlängen
gebildet werden. Die beiden getrennten Signale werden durch Glättungsschaltungen 52 und 52' geglättet und
dann einer Rechenschaltung 53 zugeführt, die das logarithmische Verhältnis der beiden Signale errechnet.
Das logarithmische Ausgangsverhältnis wird sodann von einer Aufzeichnungseinrichtung 54 aufgezeichnet.
Die Schaltung 53 kann derart aufgebaut sein, daß 7iinäch<;t Has Verhältnis Her beiHen Ausganessienale der
Glättungsschaltungen und sodann der Logarithmus des Verhältnisses berechnet wird oder daß zunächst die
Logarithmen der beiden Signale gebildet werden und dann die Differenz der beiden Logarithmen berechnet
wird.
Der in Fig.3 dargestellte Verlauf des Ausgangssignals
der Photovervielfacherröhre weist Impulse R und S auf, die von den beiden Strahlen mit der gleichen
Wellenlänge gebildet werden, welche durch die Bezugsküvette bzw. die Probenküvette geführt werden
Jl) (im Fall der Zweistrahlmessung), oder von den beiden
Strahlen mit unterschiedlichen Wellenlängen erzeugt werden, die durch die gleiche Probenküvette geführt
werden (im Fall einer Zweiwellenlängenmessung). Zwischen benachbarten Impulsen R und S liegt eine
|r> Dunkelperiode (oder ein Dunkelstrom) D, die das
Ausgangssignal der Photovervielfacherröhre bildet, wenn der Strahl von den Zähnen 47 des Unterbrechers
absorbiert wird. Das durch den Dunkelstrom verursachte Ausgangssignal des Verstärkers 50 wird durch eine
Kompensierschaltung 56 rückgekoppelt, um das Ausgangssignal auf einem Nullpege! zu halten, wenn der
Photovervielfacherröhre kein Licht zugeführt wird.
Hierzu 4 Blatt Zeichnungen
Claims (5)
1. Spektralphotometer mit einer Lichtquelle, einer Monochromatoreinnchtung mit zwei Gittern und
einem ersten Ausgangsspalt für Licht einer ersten Wellenlänge sowie einem zweiten Ausgangsspalt für
Licht einer zweiten Wellenlänge, zwei räumlich getrennten Teilstrahlengängen mit je einer Küvette,
einer photoelektrischen Wandlereinrichtung xum Empfang des durch die Küvetten getretenen Lichts
und einem optischen System zur wahlweisen alternierenden Beaufschlagung beider Teilstrahlengänge
mit Licht der ersten Wellenlänge oder zur alternierenden Beaufschlagung eines Teilstrahlengangs
mit Licht beider Wellenlängen, welches einen reflektierenden Unterbrecher sowie diesen mit Licht
der ersten bzw. zweiten Wellenlänge beaufschlagende erste bzw. zweite optische Elemente umfaßt,
dadurch gekennzeichnet, daß das erste und das zweite optische Element jeweils aus einem
ersten und zweiten Konkavspiegel (31 bzw. 31') bestehen, die bezüglich der optischen Achsen des
einfallenden Lichts derart geneigt und bezüglich des Unterbrechers (32) sowie des jeweils zugeordneten
ersten bzw. zweiten Ausgangsspalts (27 bzw. 27') derart angeordnet und mit einem solchen Krümmungsradius
versehen sind, daß die Meridionalstrahlen eines jeden Konkavspiegels (31 bzw. 31') jeweils
den zugeordneten Ausgangsspalt (27 bzw. 27') und die Sagittalstrahlen jeweils das zugeordnete Gitter
(24 bzw. 24') auf dem Unterbrecher (32) abbilden.
2. Sptktralphotometer nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, da3 im Wege des von dem ersten Konkavspiegel (; i) reflektierten Lichts in optisch
symmetrischer Weise auf jeweils gegenüberliegenden Seiten des Unterbrechers ein dritter und ein
vierter, das Licht zu jeweils einer Küvette (R bzw. S) lenkender Konkavspiegel (33 bzw. 33') jeweils unter
einem Winkel zur optischen Achse derart angeordnet sind, daß die Sagittalstrahlen im wesentlichen
parallel durch die Küvetten (R bzw. S) verlaufen, während die Meridionstrahlen ein Bild des dem
ersten Konkavspiegel (31) zugeordneten Ausgangsspalts (27) jeweils in der Mitte der Küvetten (R bzw.
S) erzeugen.
3. Spektralphotometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß im Wege des einen
Teilstrahls ein fünfter und sechster Konkavspiegel (35 bzw. 37) und symmetrisch hierzu im Wege des
anderen Teilstrahls ein siebenter und ein achter Konkavspiegel (35' bzw. 37') zur Umlenkung des
Lichts auf die photoelektrische Wandlereinrichtung (38) jeweils geneigt gegen die optische Achse
angeordnet sind.
4. Spektralphotometer nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der dritte und vierte Konkavspiegel
(33 bzw. 33') bezüglich des ersten Konkavspiegels (31) und der fünfte und sechste Konkavspiegel
(35 bzw. 37) relativ zueinander und der siebente und achte Konkavspiegel (35' bzw. 37') ebenfalls
relativ zueinander derart angeordnet sind, daß die Weglängen zwischen dem Ausgangsspalt und der
photoelektnschen Wandlereinrichtung (38) für alle Strahlen im wesentlichen gleich sind.
5. Spektralphotometer nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß
der Unterbrecher (32) aus einer an ihrem Umfang
gezahnten Scheibe (45) besteht, die im Wechsel mit den Lücken (46) in den Strahlengang einführbare
spiegelnde Bereiche (48, 48') aufweist, so daß der vom ersten Konkavspiegel (31) reflektierte Strahl
wechselweise durch den Unterbrecher (32) zum vierten Konkavspiegel (33') hindurchtritt bzw. zum
dritten Konkavspiegel (33) reflektiert wird.
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Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5352180A (en) * | 1976-10-22 | 1978-05-12 | Hitachi Ltd | Two light beams spectrophotometer |
US4175864A (en) * | 1978-02-21 | 1979-11-27 | The Foxboro Company | Astigmatic illuminating system in an internal reflection spectometer |
DE2905230C2 (de) * | 1979-02-12 | 1984-03-29 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Zweistrahl-Wechsellicht-Kolorimeter |
JPS55116228A (en) * | 1979-03-02 | 1980-09-06 | Hitachi Ltd | Spectrophotometer |
US4536091A (en) * | 1979-06-01 | 1985-08-20 | Isco, Inc. | Absorbance monitor |
US4238830A (en) * | 1979-08-01 | 1980-12-09 | The Perkin-Elmer Corporation | Curvature correction |
JPS57179719A (en) * | 1981-04-30 | 1982-11-05 | Shimadzu Corp | Spectrophotometer |
JPS582641U (ja) * | 1981-06-29 | 1983-01-08 | 株式会社島津製作所 | 分光光度計 |
EP0135761B1 (de) * | 1983-08-30 | 1991-06-05 | The Perkin-Elmer Corporation | Spektralphotometer |
US4929078A (en) * | 1987-04-08 | 1990-05-29 | Oklahoma State University | Conversion of dual wave beam spectrophotometer to dual wavelength spectrophotometer |
JPH02108928A (ja) * | 1988-10-18 | 1990-04-20 | Hitachi Ltd | 分光光度計 |
US5030006A (en) * | 1989-10-05 | 1991-07-09 | Slm Instruments, Inc. | Monochromator for single and multiplexed dual wavelength spectroscopy |
US5296843A (en) * | 1991-03-28 | 1994-03-22 | Sd Laboratories, Inc. | Fluid or vapor diagnostic device |
EP0822394B1 (de) * | 1996-08-02 | 2004-09-29 | ARKRAY, Inc. | Optisches Messgerät mit wellenlängenselektiver Lichtquelle |
JP3591427B2 (ja) * | 2000-06-13 | 2004-11-17 | 株式会社島津製作所 | 分光光度計 |
GB0216934D0 (en) * | 2002-07-20 | 2002-08-28 | Council Cent Lab Res Councils | Optical apparatus |
WO2005047834A1 (en) * | 2003-10-15 | 2005-05-26 | Polychromix Corporation | Light processor providing wavelength control and method for same |
TWI256625B (en) * | 2004-07-21 | 2006-06-11 | Lite On It Corp | Optical control apparatus |
US10586162B2 (en) * | 2013-03-15 | 2020-03-10 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Systems and methods for determining a coating formulation |
US20140273181A1 (en) * | 2013-03-15 | 2014-09-18 | Biofire Diagnostics, Inc. | Compact optical system for substantially simultaneous monitoring of samples in a sample array |
US10147043B2 (en) | 2013-03-15 | 2018-12-04 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Systems and methods for texture assessment of a coating formulation |
NZ631047A (en) | 2013-11-08 | 2015-10-30 | Ppg Ind Ohio Inc | Texture analysis of a coated surface using kepler’s planetary motion laws |
NZ631063A (en) | 2013-11-08 | 2015-10-30 | Ppg Ind Ohio Inc | Texture analysis of a coated surface using cross-normalization |
NZ631068A (en) | 2013-11-08 | 2015-10-30 | Ppg Ind Ohio Inc | Texture analysis of a coated surface using electrostatics calculations |
US11874220B2 (en) | 2018-04-26 | 2024-01-16 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Formulation systems and methods employing target coating data results |
US11119035B2 (en) | 2018-04-26 | 2021-09-14 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Systems and methods for rapid coating composition determinations |
US10970879B2 (en) | 2018-04-26 | 2021-04-06 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Formulation systems and methods employing target coating data results |
US10871888B2 (en) | 2018-04-26 | 2020-12-22 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Systems, methods, and interfaces for rapid coating generation |
US11034536B2 (en) | 2019-02-01 | 2021-06-15 | Assa Abloy Ab | Card flipper |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3022704A (en) * | 1954-02-23 | 1962-02-27 | Applied Physics Corp | Spectrophotometer |
US2879393A (en) * | 1954-12-27 | 1959-03-24 | Applied Physics Corp | Wide-range spectrophotometer |
US3437411A (en) * | 1964-11-24 | 1969-04-08 | Optical Coating Laboratory Inc | Optical null spectrophotometer |
JPS5011266B1 (de) * | 1968-12-31 | 1975-04-30 | ||
US3659942A (en) * | 1970-11-13 | 1972-05-02 | Perkin Elmer Corp | Detector circuits for phase compensation |
US3712738A (en) * | 1971-03-10 | 1973-01-23 | Shimadzu Corp | Illuminator system for use in spectrophotometer |
US3787121A (en) * | 1972-12-18 | 1974-01-22 | Baxter Laboratories Inc | Multiple function spectrophotometer having an automatically stabilized chopper disc |
-
1972
- 1972-12-28 JP JP731649A patent/JPS545987B2/ja not_active Expired
-
1973
- 1973-12-18 US US425732A patent/US3927944A/en not_active Expired - Lifetime
- 1973-12-21 DE DE2364069A patent/DE2364069C3/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS545987B2 (de) | 1979-03-23 |
US3927944A (en) | 1975-12-23 |
DE2364069B2 (de) | 1978-07-20 |
JPS4990586A (de) | 1974-08-29 |
DE2364069A1 (de) | 1974-07-11 |
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