DE2935261C2 - Anordnung zur Mustererkennung - Google Patents
Anordnung zur MustererkennungInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Anordnung zur Mustererkennung gemäß der im Oberbegriff des
Anspruchs 1 angegebenen Gattung.
Die Technik der Mustererkennung wird vielfach in der Industrie eingesetzt, und zwar sowohl seitens der
Hersteller als auch seitens der Verbraucher. Mit dem
V> Bekanntwerden fotoelektrischer Einrichtungen, die
elektrische Signale in Abhängigkeit von optisch abgetasteten Objekten erzeugen können, ist es möglich
geworden, automatische Vorrichtungen herzustellen, welche zählen, tasten und sonstwie nützlich in der
Industrie verwendet werden können.
Die bei der gattungsgemäßen Mustererkennungsanordnung vorgenommene Digitalisierung des Ausgangssignals
einer Bildaufnahmeröhre hat den Vorteil einer bequemen Verarbeitung der aufgenommenen Daten
&o bzw. Signale. Hierbei wird in der Regel für die
Kennzeichnung dunkler bzw. schwarzer Bildflächen die digitale »0« und für die Kennzeichnung heller bzw.
weißer Bildflächen die digitale »1« verwendet. Hierdurch wird ein aus »Einsen« und »Nullen« aufgebautes
t>5 Signal erzeugt, das insgesamt die Folge der jeweils
abgetasteten dunklen oder hellen Bereiche wiedergibt. Mustererkennungsanordnungen werden ständig in
Verbindung mit wiederholten Operationen eingesetzt.
1 '
j> UIh η «L ι
Γ J. /-1Γ1-
bei denen automatische Maschinen gesteuert und programmiert werden, um eine Reihe wiederholter
Handlungen durchzuführen. Diese Handlungen gehen hierbei von der Ortung und Identifizierung bestimmter
Kriterien aus, die in Echtzeit festgestellt werden müssen. So benötigt z. B. die Technik zur Herste'hing von
Halbleitern Anordnungen zur Mustererkennung, um die Herstellung und die Überprüfung integrierter Schaltchips
sicherzustellen. Bei der Herstellung integrierter Schalu.hips wird beispielsweise ein Siliciumplättchen
gewöhnlich von einem Siliciumstab abgeschnitten, der einen Durchmesser zwischen etwa 5 bis 12,5 cm hat. Um
nun ein Muster auf das Siliciumplättchen aufzubringen,
werden eine Marke und ein Fotolac«. benötigt, der schließlich auf das Siliciumplättchen aufgebracht wird,
wobei anschließend eine Reinigung des und Diffusion in das Siliciumplättchen stattfindet. Dieses Verfahren kann
bis zu dreizehnmal wiederholt werden, um eine richtige Diffusion sicherzustellen, jedesmal muß die Maske
erneut genau auf dem Siliciumplättchen ausgerichtet \ werden.
t ■ Es wäre nun von großem Vorteil, wenn man die durch
,-Diffusion hergestellten Chips auf einem Siliciumplätt-
'chen elektrisch testen könnte, um festzustellen, ob die
Diffusion beendet und das einzelne Chip für den
Gebrauch nunmehr geeignet ist.
'' Die gattungsgemäße Mustererkennungsanordnung ist bereits im wesentlichen aus der DOS 2414 809
- bekannt. Die bekannte gattungsgemäße Musteranordnung gestattet jedoch nicht eine Mustererkennung in
Echtzeit. Darüber hinaus benötigt sie für die Erkennung eines Musters vergleichsweise lange Zeit.
Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, die gattungsgemäße Mustererkennungsanordnung unter
weitestgehender Beibehaltung ihrer bisherigen Vorteile derart weiterzuentwickeln, daß die für die Mustererkennung
benötigte Zeit reduziert werden kann.
Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, daß die Mustererkennungsanordnung der im Oberbegriff des
'Anspruchs 1 angegebenen Gattung die kennzeichnenden Merkmale des Anspruchs 1 aufweist.
Durch die Auslegung der erfindungsgemäßen Mustererkennungsanordnung
derart, daß sie nacheinander eine Grcbsuche und dann in den Flächenbereichen eine
Feinsuche durchführt, welche die im Rahmen der Grobsuche höchsten Korrelationswerte aufweisen, wird
sdie Zahl der notwendigen Vergleiche zwischen Bezugsfläche
und Meßfläche erheblich reduziert und damit die für die Mustererkennung insgesamt benötigte Zeit.
Aus der DE-OS 27 20 036 ist es zwar auch bekannt, einen Bildbereich einer Grob- und einer Feinsuche zu
unterwerfen, wobei die Grobsuche mit einer geringen ;Bildauflösung erfolgt. Bei der bekannten Lehre ist aber
eine Digitalisierung der Videosignale nicht vorgesehen. Wohl dagegen eine — beim Erfindungsgegenstand nicht
benötigte — Relativbewegung zwischen Videokamera und zu untersuchendem Gegenstand.
Aus der DE-OS 27 57 456 ist zwar ein Generator für die Erzeugung von Bildelementgruppen bekannt, bei
welchem die Informationen von mehreren einzelnen Bildelementen bzw. Bildbausteinen zu einer Gesamtinformation
zusammengezogen werden. Hierbei handelt es sich aber nicht um eine Mustererkennungsanordnu ig,
sondern um einen Korrelator für eine Videoverarbeitung zur Bestimmung eines unrichtig gelesenen
Bezugchintergrundes und die darauffolgende Änderung der Korrelatorparameter zur Wiederherstellung einer
zufriedenstellenden Leistungsfähigkeit, mit anderen Worten also um einen adaptiven Korrelator nebst
zugehöriger Hintergrundsbestimmungsschaltung.
Im übrigen ist noch aus der DE-OS 27 05 970 ein Videosignal-Konditioniersystem bekannt, bei welchem
'■> das verarbeitete Videosignal im Hinblick auf die
Beleuchtungsverhältnisse beim Untersuchungsbild durch eine adaptive Bezugs- bzw, Schwellwerteinrichtung
normalisiert wird.
Bevorzugte Weiterbildungen des Gegenstandes des
Bevorzugte Weiterbildungen des Gegenstandes des
ι» Anspruchs 1 sind den Ansprüchen 2 bis 7 entnehmbar.
Die Erfindung wird anhand der nachstehenden Ausführungsbeispiele unter Bezugnahme auf die schenjatischen
Zeichnungen noch näher erläutert. In den Zeichnungen zeigt
ij . F i g. 1 ein Blockdiagramm einer Videokamera mit
Optik und Videoprozessor,
Fig.2 eine Vorderansicht einer Vidicon-Röhre zur
Erzeugung eines Schwarz-Bezugssignals,
F i g. 3 ein B' yckdiagramm der Details des Videoprozessors,
F i g. 3 ein B' yckdiagramm der Details des Videoprozessors,
■ζ, F i g. 4 vier der F i g. 3 zuordenbare Impulsketten,
; Fig.5 die relativen Größenverhältnisse zwischen Untersuchungsbereich, wirksamen Bereich und Gesichtsfeld,
; Fig.5 die relativen Größenverhältnisse zwischen Untersuchungsbereich, wirksamen Bereich und Gesichtsfeld,
. F i g. 6 ein Blockdiagramm der Speicher-Lade-Folge,
'■ F i g. 7 ein zweidimensionales Digitalfilter,
■ Fig.8 ein Blockdiagramm der Anordnung zur Auffindung der Grobkoordinaten,
Fig.9 ein Blockdiagramm eines Serpentinen-Schie-
■ Fig.8 ein Blockdiagramm der Anordnung zur Auffindung der Grobkoordinaten,
Fig.9 ein Blockdiagramm eines Serpentinen-Schie-
■jo beregisters,
. Fig. 10 ein Blockdiagramm einer Vergleichseinrichtung
und
, F i g. 11 ein Blockdiagramm der Anordnung zum
Auffinden der Feinkoordinaten für jeden getasteten Höchstwert.
F i g. 1 zeigt ein Blockdiagramm des vorderen Teils der erfindungsgemäßen Anordnung. Das Blockdiagrämm
veranschaulicht, wie das von der Vidicon-Kamera gesehene Bild in digitale Signale umgewandelt wird.
Die digitalen Signale repräsentieren hierbei diskrete .■Bereiche schwarzer und weißer Abschnitte der beobachteten
Szene in Form einer Folge von Einsen und Nullen. Eine derartige Umwandlung wird auch als
Herstellung eines getakteten digitalisierten Videosignals
bezeichnet.
Eine Fernsehkamera mit einer Vidicon-Röhre und einer Optik 12 wird auf ein zu untersuchendes
Betrachtungsfeld fokussiert. Die der Kamera 10 zugeordneten Dunkelabtast- und Signal-Schaltungen
erzeugen ein übliches Videosignal. Bevorzugt wird in der Kamera 10 nicht überlappend abgetastet.
Aus den nachstehend wiedergegebenen Gründen wird jedes Betrachtungsfeld sequentiell abgetastet, bis
das gesamte Abtastfeld überstrichen ist. Das von der Kamera 10 gelieferte Video-Ausgangssignal wird einem
Videoprozessor 14 zugeführt. Der Videoprozessor 14 gibt ein getaktetes, digitalisiertes Videoausgangssignal
ab, das durch adaptive Steuerung hinsichtlich der Lichtstärke in der Betrachtungsszene, gesehen von der
Optik 12, optimiert wird.
In F i g. 3 ist ein detaillierteres Blockschaltbild des in Fi g. 1 dargestellten Videoprozessors 14 wiedergegeben.
Eine mit der Kamera 10 verbundene Zeitschaltung 16 erzeugt die notwendigen Synchro- und Dunkelabtastsignale.
Diese Signale sorgen für die Elektronenstrahlablenkung in der Vidicon-Röhre und steuern diese.
Das Vorderende bzw. die Frontscheibe 18 dar Vidicon-Röhre ist in Fig.2 gerastert mit dem
abzutastenden Bild dargestellt. Der äußerste linke Bereich der Frontscheibe 18 deckt einen Abschnitt des
gerastert abzutastenden Bildbereiches dadurch ab, daß er als lichtundurchlässiger Bereich 20 ausgebildet ist.
Der Elektronenstrahl der Vidicon-Röhre startet bei seiner Ablenkung im linken Bereich 22 und schwenkt
dann bis zur rechten Seite 24 des abzutastenden Bildbereiches. An diesem Punkt wird der Elektronenstrahl
infolge eines Riickführimpulses wieder zur linken Seite bzw. zum linken Bereich 22 zurückgeführt und
dann zu Abtastzwecken wieder nach rechts geschwenkt, wobei die nunmehrige Abtastzeile unterhalb der
vorangehenden Abtastzeile liegt.
Der Elektronenstrahl in der Kamera 10 startet an der den linken Bereich 22 links begrenzenden Linie und
streicht dann bis zur Kante des lichtundurchlässigen Bereiches 20, d. h. bis zur Linie 26. Im Bereich 22 »sieht«
der Elektronenstrahl einen optisch schwarzen Bereich und erzeugt demgemäß ein dem Dunkelstrom der
Vidicon-Röhre entsprechendes elektrisches Ausgangssignal.
Eine Betrachtung der Fig.4A zeigt das Verhältnis
zwischen dem Dunkelsteuer- bzw. Austastpegel während der Strahlrückführung und dem Pegel des
Schwarzpegelsignals, das dem optischen Schwarz (und dem Dunkelstrom) entspricht.
Gemäß Fig.3 wird das Videoausgangssignal der
Kamera 10 über einen Kopplungskondensator 30 einem Mittelwertbildner 32, bisweilen auch Integrator genannt,
zugeführt. Das Eingangssignal des Mittelwertbildners 32 wird über ein Schaltelement 34 an Masse
gelegt. Das Schaltelement 34 wird mittels eines Ausgangssignals der Zeitschaltung 16 gesteuert. Die
Zeitschaltung 16 erzeugt einen Impuls, der kürzer'oder gleich derjenigen Zeit ist, weiche der Abtaststrahl der
Vidicon-Röhre zur Abtastung des in F i g. 2 gezeigten Bereiches der Frontscheibe 18 von der Kante des linken
Bereiches 22 bis zum Ende des lichtundurchlässigen (Dunkelstrom) Abschnittes 20 bzw. zur Linie 26
benötigt. Dieser Zeitimpuls ist in F i g. 4C dargestellt. Er bewirkt ein Anlegen des fviitteiwertbildners 32 an Masse
für die Zeitdauer, während welcher die Abdunklung der Frontscheibe 18 abgetastet wird. Hierdurch wird ein
Dunkelsiror.vBeziig&sigr.a! erzeugt, das als Bezugsspannung
auf Masse gehalten wird. Hierdurch wird ein auf Masse bezogenes Bezugssignal gewonnen, das dem
optischen Schwarzsignal äquivalent ist. Der Zeitimpuls fällt auf Null ab, wenn der Elektronenstrahl die Linie 26
auf der Frontschsibe 18 der Vidicon-Röhre passiert. Das
in Fig.4A wiedergegebene Videosignal wird dem Mittelwertbildner 32 zugeführt. Dieser führt eine
Integration des Eingangssignal über die Zeitdauer einer kompletten Abtastung durch und bildet dann den
Mittelwert Stattdessen kann auch die Integration über eine kürzere Zeitdauer ausgeführt werden, wobei dieser
Zeitbereich mittels der Zeitschaltung 16 entsprechend den für die Auslegung der Mustererkennungsanordnung
maßgeblichen Parametern festgelegt wird.
Das Ausgangssignal des Mittelwertbildners 32 wird einem Tastwertspeicher 35, auch Momentanwertspeicher
oder Sample and Hold-Glied genannt, zugeführt,
der den Mittelwert des Signals für eine vollständige Elektronenstrahlabtastung speichert und diesen Wert
für die nachfolgende Abtastzeile als Schwellwert vorgibt. Für Werte oberhalb dieses Schwellwertes
»liest« die Mustererkennungsanordnung »weiß« (digitalisiertes Videosignal = !); für Werte unterhalb dieses
Schwellwertes »schwarz« (digitalisiertes Videosignal =0).
Die Erzeugung dieses variablen Schwellwertes entspricht demnach einer Anpassung an die mittlere
Lichtintensität, welche die Kamera 10 während einer einzelnen Abtastung feststellt. Der Mittelwert einer
Abtastzeile wird also jeweils als Schwellwert bzw. Ausgangspunkt für die Erzeugung eines, digitalisierten
Videosignals während der nachfolgenden Abtastzeile verwendet. Für eine Lichtquelle, die mit gegebener
Intensität das jeweilige Betrachtungsfeld beleuchtet, sollte der (veränderbare) Schwellwert für alle praktischen
Zwecke im wesentlichen konstant bleiben. In der Praxis ändern jedoch Lichtquellen ihre Lichtstärke; f"
externes Umgebungslicht ist manchmal vorhanden und ■:.
bisweilen wird auch zusätzliches Licht auf eine gegebene Szene eingestrahlt. Dies führt dazu, daß der
von der Kameraoptik getastete Gesamtbeleuchtungspegel sich ändert. Die Erzeugung eines variablen
. Schwellwertes, der sich jeweils an die von der Kamera
10 festgestellten tatsächlichen Beleuchtungsverhältnisse für jede Abtastzeile anpaßt, vergrößert die Zuverlässig-.
keit des Ausgangssignals durch kontinuierliche Anpassung des Schwellwertes an die zu betrachtende Szene
bzw. das Bild.
J Ein Analogkomparator 36 vergleicht das Videoausgangssignal der Kamera 10 mit dem variablen
Schwellwert, der mittels des Tastwertspeichers 35 .während der vorangegangenen Abtastzeile festgestellt
wurde. Der Analogkomparator 36 gibt auf diese Weise digitalisierte Ausgangssignale ab.
Die Erzeugung diskreter Ausgangssignale wird mittels eines Taktgebers 40 für das System bzw. die
Verarbeitungsschaltung erzielt. Im dargestellten bevorzugten
Ausführungsbeispiel arbeitet der Taktgeber 40 mit ungefähr 5 MHz und erzeugt positive Impulse, die
einen zeitlichen Abstand von 210ns haben (Fig.4B).
Der Taktgeber 40 dient als Taktgeber für das Gesamtsystem. Er steuert die Erzeugung sämtlicher
abgeleiteter Takt- bzw. Zeitimpulse der Zeitschaltung
16. Hierdurch wird sichergestellt, daß sämtliche vom System erzeugten Impulse sowohl in den Untersystemen
der Kamera als auch in den Untersystemen für die Signal- und Datenverarbeitungsanlage synchron zueinander
sind.
Der Taktgeber 40 taktet die digitalisierten Videoausgangssignale des Analogkomparators 36 über eine
bistabile Kippstufe bzw. ein Flip-Flop 42 an. Die Anstiegsflanke jedes Taktimpulses setzt das Flip-Flop
42 auf den Pegel des digitalisierten Videosignals. Das Ausgangssignal des Flip-Flops 42 ist deshalb ein
getaktetes digitalisiertes Signal, wie es beispielsweise in F ig.4D dargestellt ist.
Fig.4 zeigt, daß sämtliche Impulse mittels des
Taktgebers 40 zeitlich aufeinander abgestimmt sind.
Eine Betrachtung der Fig.3 zeigt, daß zu Beginn
jeder Abtastzeile ein Impuls der Zeitschaltung 16 das Schaltelement 34 ansteuert, welches die Eingangsklemme
des Mittelwertbildners 32 an Masse legt und hierdurch ein auf Masse bezogenes Ausgangssigral bzw.
ein Schwarzpegelsigna! erzeugt. Der Koppelkondensator 30 kann sich hierbei auf den Gleichstrom-Schwarzpegel
aufladen, der an der Ausgangsklemme der Kamera 10 anliegt. Hierdurch wird die Spannung am
Koppelkondensator 30 dem Wechselstrom-optischen Schwarzpegel, der als Bezugseingangssignal auf Masse
gehalten wird, gleichgesetzt. Die Mittelwertbildung des Signals über eine vollständige Abtastzeile erzeugt einen
veränderlichen Schwellwert für die jeweils nachfolgen-
de Abtastzeile. Der Analogkomparator 36 gibt ein geeignetes Ausgangssignal ab, das davon abhängt, ob
das Videosignal oberhalb oder unterhalb des zuletzt festgestellten variablen Schwellwertes liegt.
Die Mustererkennungsanordnung arbeitet nach dem Verfahren, daß zunächst ein zuverlässiges getaktetes
digitalisiertes Videoinformationssignal hergestellt wird, das sich in diskreten -Schritten zwischen 1 und 0 ändert,
und zwar als Ergebnis einzeln optisch abgetasteter Bildabschnitte, die entweder als hell oder als dunkel
'eingestuft werden. Die Anordnung erzeugt ein Null-Ausgangssignal, wenn ein dunkler Bildabschnitt (Spannung
unterhalb des Schwellwertes) abgetastet wird, und ein Eins-Ausgangssignal, wenn ein heller Bildabschnitt
(Spannung oberhalb des Schwellwertes) getastet wird. Betrachtet man eine einzelne Abtastzeile, dann erzeugt
die Videokamera 10 einen Impulszug mit einer vom Taktgeber 40 vorgegebenen Zeitfolge, wobei die
Impulse zwischen 0 und 1 schwanken. Dieser Impulszug
, ist in F i g. 4B dargestellt.
Die Entwicklung einer Mustererkennungsanordnung hat in der Vergangenheit immer mit dem Problem zu
kämpfen gehabt, daß einander diametral entgegengesetzte Forderungen erfüllt werden sollten. Um die
notwendige Auflösung zu erhalten, muß der Elementar-Bitbereich, d. h. der Bildabschnitt, dem jeweils ein Bit
zugeordnet wird, notwendigerweise sehr klein sein.
Je kleiner aber der Elementar-Bitbereich ist, um so größer wird die Zahl der gespeicherten Bezugsinformationen
und der Echtzeitinformation, die miteinander verglichen werden müssen. Je kleiner also ein
Elementar-Bitbereich ist, um so mehr Zeit benötigt man für eine vollständige Untersuchung des Musters.
Selbstverständlich kanii die Datenverarbeitungszeit dadurch verkürzt werden, daß die Komplexität der
Mustererkennungsanordnung erhöht wird. Dadurch ■steigen allerdings die Kosten und die Störanfälligkeit
der Anordnung.
Würde man dagegen die Ausdehnung bzw. die Fläche eines Elementar-Bitbereiches vergrößern, dann würde
sich die Anzahl der zu untersuchenden und für einen Vergleich vorgesehenen Bereiche verringern. Dies
würde jedoch zu einem vergleichsweise weniger genauen Ergebnis und damit zu einer höheren
Fehlalarmquote führen, was sich nachteilig auf die beabsichtigte Anwendung einer derartigen Anordnung
auswirkt.
Beim dargestellten Ausführungsbeispie! wird ein hochfrequenter, in der Größenordnung von 5 MHz,
Taktgeber verwendet Dieser erzeugt eine Reihe von Taktimpulsen, deren Vorderkantenabstand 210 ns ist.
Das Zeitintervall zwischen zwei aufeinanderfolgenden Impulsen legt die Elementargröße eines Bildelementes
fest. Das in Fig. 4D wiedergegebene getaktete digitalisierte Videosignal zeigt die Unterteilung einer
Abtastzeile in derartige Bildelemente; ferner, daß die Information jedes Bildelementes entweder eine »Null«
oder eine »Eins« ist, was davon abhängt, ob das Bildelement einem Heil- oder Dunkel-Signal entspricht.
Die in Fig.4D dargestellte Impulsfolge kann daher in
binärer Form durch die nachstehende Ziffernfolge dargestellt werden:
1110110000110111000010.
Das Gesichtsfeld einer Video-Kamera verwendet ein Raster, das sich vorzugsweise nicht überlappt. Jede
iRasterzeile besteht im wesentlichen aus 250 Bildelementen.
Der Rasterzeilenabstand entspricht ebenfalls einem Bildelement. Das Gesamtgesichtsfeld ist im bevorzugten'
Ausführungsbeispiel aus 250 Bildelementen pro Zeile und 240 Zeilen aufgebaut, so daß es insgesamt
etwa 60 000 Bildelemente enthält.
'Beim in bezug genommenen Ausführungsbeispiel wird der genau angegebene Untersuchungsbereich im
wesentlichen in Echtzeit abgetastet und die gespeicher-
/ te'information des Bezugsbereiches mit den Echtzejtda-ίέπ
verglichen. Hierdurch können die Koordinaten für die jeweils bestmögliche Anpassung bzw. Korrelation
zwischen dem gespeicherten Bezugsmuster und dem Untersuchungsmuster in Ecbtzt*·* angegeben werden..
Diese Ergebnisse werden mit einem minimalen apparativen Aufwand in minimaler Zeit erzielt. Gleichzeitig
werden eine bisher nicht erreichte Genauigkeit und Zuverlässigkeit erzielt.
Die vorstehend wiedergegebenen Vorzüge werden dadurch erreicht, daß zunächst eine Grobuntersuchung
unter Verwendung einer »Bildelementgruppe« durchgeführt wird. Die Bildelementgruppe besteht aus 4 mal 4
Bildelementen, umfaßt also eine Fläche von 16 Bildelementen. Die Grobuntersuchung wird gleichzeitig
in zwei Dimensionen über den gesamten Untersuchungs- bzw. Gesichtsfeld-Bereich durchgeführt. Dabei
wird eine ständige Korrelationsmessung mittels einer 8 mal 8-Vergleichseinrichtung vorgenommen. Die Meßergebnisse
werden in einem Speicher abgelegt. Die Koordinaten der beiden höchsten Korrelationswerte
werden mittels eines Doppel-Höchstwert-Detektors festgelegt. Dies sind die in Bildelementgruppen-Einheiten
ausgedrückten Koordinaten derjenigen beiden Bildelementgruppen, die den ihnen entsprechenden
gespeicherten Bezugs-Bildelementgruppen am »ähnlichsten« sind.
Die Grobuntersuchung wird von einer abschließenden Feinuntersuchung gefolgt, die in (den kleineren)
Bildelement-Finheiten durchgeführt wird. Sie wird jedoch auf diejenigen Bild-Bereiche beschränkt, welche
die bei der Grobuntersuchung gefundenen beiden Korrelationsspitzenwert-Koordinaten umgeben. Der
dann bei der Feinuntersuchung festgestellte höhere der beiden Korrelations-Spitzenwerte legt die Koordinaten
des Bildelementes mit der bestmöglichen Anpassung fest. _
in F i g. 5 ist ein voiiständiges ü'ntersuchungs- bzw.
Gesichtsfeld mit ungefähr 250 mal 240 Bildelementen dargestellt. Das Gesichtsfeld wird vom Kästchen 50
umgrenzt. Das kleineste Kästchen 52 innerhalb des Gesichtsfeldes dient als Bezugsbereich mit 64 χ 64 bzw.
4096 Bildelementen. Der Bezugsbereich repräsentiert die im Speicher eingeschriebene Information. Diese
Information muß in Echtzeit Bildelement für Bildelemeni mit der Information im Untersuchungsbereich
.verglichen werden.
Es wurde bereits eine 64-Bit-Vergleichereinheit
verwendet, um 64 Bildelemente in einer Zeile des Untersuchungsbereiches mit 64 Bildelementen der
ersten Zeile eines Bezugsbereiches zu vergleichen,
"wobei die Korrclationswerte gespeichert, die Untersu-"chung
schrittweise jeweils um ein Bildelement pro Zeiteinheit vorgerückt, bis zum Ende der Zeile
durchgeführt und sodann der Untersuchungsvorgang für die nächste Zeile wiederholt wurde. Dieses
■Verfahren wurde für jede der 64 Zeilen im Bezugsbe-.65 jreich wiederholt, wobei der Gesamtkorrelationswert in
jeder Position zu den bei früheren Untersuchungen [gespeicherten Werten hinzugefügt würde. Die Koordinaten
des so erhaltenen höchsten Korrelationswertes
gaben den On der besten Anpassung an. Zwar konnten mit diesem System zufriedenstellende Ergebnisse erzielt
werden; die für eine vollständige Untersuchung benötigte Zeit war aber so lang, daß dieses System
relativ geringen wirtschaftlichen Wert hatte.
Demgegenüber wird bei einem Ausführungsbeispiel der Erfindung zuerst eine Grobuntersuchung mit einem
Bezugsbereich von 256 Bildelementgruppen (siehe Fig.5) durchgeführt. Jede Bildelementgruppe weist 16
reguläre Bildelemente auf. Die effektive Auflösung der iMustererkennungsanordnung wird dadurch zunächst
"um den Faktor 4 in jeder Dimension verringert.
Diese reduzierte Auflösung führt zu einer entspre-. chenden Verringerung der Genauigkeit, mit welcher der
Ort der besten Anpassung des Untersuchungsmusters an das Bezugsmuster lokalisiert werden kann.
Zu Beginn des Mustererkennungsverfahrens müssen 'demnach der Speicher für die Bildelementgruppen und
der Speicher für die Bildelemente jeweils mit derjenigen Bezugsinformation beschrieben werden, v/elche der
Untersuchung für das Gesichtsfeld zugrunde gelegt wird. Dieser Schritt wird die Ladephase genannt.
Gemäß F i g. 6 werden die digitalisierten Taktimpulse am Ausgang des Videoprozessors 14 sowohl einem
gesteuerten Multiplexer 64 als auch einem Bildelementgruppen-Generator 66 zugeführt. Eine Multiplexersteuerlogik
68 steuert die Arbeitszeiten für die Durchlaßöder Sperr-Zustände des Multiplexers 64, in welchen er
entweder die Ausgangssignale des Biidelementgruppen- ;Generators 66 oder die getakteten Videoausgangssigna-Ie
des Videoprozessors 14 an ein Schieberegister 72 weiterleitet.
·' Während des Ladens des Bezugspeichers wird der in
Fig.5 angegebene Bezugsbereich Bildelement für Bildelement in das Schieberegister 72 eingeschrieben.
Das Schieberegister 72 ist im wesentlichen als ein serielI-Eingangs-/parallel-Ausgangs-Modul zum Laden
des Bildelementbezugspeichers 62 ausgebildet. Der Bezugsspeicher 62 wird mittels einer Bezugsspeicher-Steuerlogik
64 so angesteuert, daß er entweder die Bildelemente oder die Bildelementgruppen aufnimmt.
,Diese Steuerlogik 64 ist fest mit dem Haupt-Taktgeber 40 verbunden.
Während des Einschreibens der Bildelementgruppen in den Bezugsspeicher 62 sperrt der Multiplexer 64 den
Ausgang des Videoprozessors 74 zum Schieberegister 72 und gibt dafür eine Übertragung vom Bildelementgruppen-Generator
66 zum Schieberegister 72 frei. Gleichzeitig wird der Bildelement-Bezugsspeicher 62
zur Aufnahme der Bildelementgruppen-Information angesteuert. Auf diese Weise wird die Bezugsinformation
vom Bezugsbereich sowohl in Bildelementform als auch nachfolgend in Bildelementgruppenform in den
Bildelement-Bezisgsspeicher 62 eingespeichert.
Um die Steuer- und Signalleitungen einfach darstellen zu können, wurden gewisse Vereinfachungen bezüglich
der Leitungen des Blockdiagramms vorgenommen.
Der Bildelementgruppen-Generator 66 besteht tatsächlich aus einem zweidimensionalen Digital-Filter, das
gleichzeitig vier Bildelemente in einer Richtung und vier weitere Bildelemente in einer dazu orthogonalen
Richtung tastet, so daß insgesamt eine Fläche von 16 Bildelementen überdeckt wird. Um ein einziges
Ausgangssignal zu erzeugen, das entweder eine Eins
oder eine Null für eine Bildelemenlgruppe ist, muß die
Anzahl der Einsen mit der Anzahl der Nullen im Tastbereich verglichen werden. Weist beispielsweise
der Tastbereich IO Einsen und 6 Nullen auf, dann wird der Wert der entsprechenden Bildelementgruppe
aufgrund der Majoritätsverhältnisse auf eine Eins festgelegt. Sind mehr Nullen als Einsen vorhanden, dann
wird der Bildelementgruppe der Wert Null gegeben.
Weisen jedoch in einer Bildelementgruppe 8 Bildelemente eine Eins und 8 Bildelemente eine Null auf, dann
wird die Bildelementgruppe willkürlich mit Eins bewertet. Diese willkürliche Favorisierung des Eins-Zustandes
hat keinerlei Auswirkungen auf die Genauigkeit des Gesamtsystems, da vorstehende Ausführungen
lediglich für die Grobuntersuchung, nicht jedoch für die Feinuntersuchungen gelten. Die Festlegung der tatsächlichen
Größe einer Bildelementgruppe liegt im Ermessen des Konstrukteurs der Mustererkennungsanordhung;
sie ist lediglich durch System-bedingte Forderungen und die beabsichtigten Anwendungen festgelegt.
Wesentlich ist das Konzept der »elektronischen Defokussierung« zum Zwecke jiner kürzeren Untersuchungszeit
und geringeren Komplexität der Festverdrahtung, das hier durch die zwei aufeinanderfolgenden
Untersuchungen realisiert wird, wobei in der ersten Untersuchung mit einer reduzierten Auflösung und
Genauigkeit gearbeitet wird. Der Bildelementgruppen-Generator 66 kann nicht nur durch das vorstehend
genannte zweidimensional« Digitalfilter, sondern auch durch ein zweidimensionaies Analogfilter, das vor den
Videoprozessor 14 geschaltet ist, realisiert werden.
■ In F i g. 7 ist ein Blockdiagramm für einen Bildelementgruppen-Generator in Form eines zweidimensionalen Digitalfilters und eines Komparators 82 dargestellt.
■ In F i g. 7 ist ein Blockdiagramm für einen Bildelementgruppen-Generator in Form eines zweidimensionalen Digitalfilters und eines Komparators 82 dargestellt.
Das Ausgangssignal des Videoprozessors 14 ist eine Kette von getakteien digitalisierten Video-Bildelementen,
die einem Serpentinen-Schieberegister 76 zugeführt werden. Das Schieberegister 76 besteht im wesentlichen
aus einem seriell-Eingangs-Zseriell-Ausgangs-Schieberegister.
Eine detailliertere Darstellung eines Serpentinen-Schieberegisters wird anhand der F i g. 9 gegeben.
Die vier Ausgangssignale des Serpentinen-Schieberegi-
•lo sters 76 bestehen aus vier aufeinanderfolgenden
Signaizügen aus getaktetsn digitalisierten Videoirformationen,
die in vertikaler Richtung einander entsprechen. Die vier Ausgangssignale werden in einem
seriell-Eingangs-/parallel-Ausgangs-Schieberegister 78 aufgefächert, so daß 16 Ausgangssignale erhältlich sind,
und zwar vier Bildeiementinformationen pro Signalzug. Alle 16 Ausgangssignale werden einem Einsen-Zähler
80 zugeführt, der im wesentlichen aus einem programmierbaren Festwertspeicher besteht, der so programso
miert ist, daß er die Anzahl der Einsen in der ausgewählten Adresse ausgibt. Auf den fünf Ausgangsleitungen steht eine Zahl an, welche die Gesamtzahl der
Einsen von null bis sechzehn repräsentiert. Dieses Ausgangssignal wird einem Komparator 82 zugeführt.
Der Komparator 82 vergleicht die Gesamtzahl der Einsen auf der Eingangsleitung gegen einen vorgegebenen
Wert, nämlich den Wert 8.1st die Anzahl der dem Komparator 82 zugeführten Einsen größer oder gleich
8, dann liefert der Kornparator 82 als Ausgangssignal
eo eine Eins. Ist dagegen die Gesamtzahl der dem Komparator 82 zugeführten Einsen kleiner als 8, dann
liefert der Komparator als Ausgangssignal eine Null. Das Ausgangssignal des Komparator^ 82 ist demgemäß
eine Eins oder eine Null. Es repräsentiert das Saldoausgangssignal der 16 Bildelemiinte, die gleichzeitig
vom Bildelementgruppen-Generator 66 verglichen und gemessen wurden.
Aus Fig.6 ergibt sich, daß die Gesamtkapazität des
Aus Fig.6 ergibt sich, daß die Gesamtkapazität des
Bildelementgruppen-Bezugsspeichers 62 nur ein Sechzehntel
der Gesamtkapazität des Bildelement-Bezugsspeichers 60 ist. Da die Zahl der Bildelementgruppen
kleiner als die Zahl der Bildelemente ist, kann die geschilderte Grobuntersuchung erheblich schneller
durchgeführt werden als eine Untersuchung, bei welcher das Gesamtfeld Bildelement für Bildelement
abgetastet und verglichen wird.
In Fig.8 ist ein Blockdiagramm dargestellt, welches
die zur Durchführung der Grobuntersuchung verwendeten Grundkomponenten veranschaulicht.
Dis Prinzip der Grobuntersuchung wird besonders
anhand der Fi g. 5 deutlich, welches den Bezugsbereich
mit 256 Bildelementgruppen veranschaulicht, der im Speicher enthalten ist.
Der Gesamt-Bildelementgruppenbereich ist in vier 8 mal 8 Bildelementgruppen-Bezugsunterbereiche unterteilt.
Diese Unterbereiche sind durch die Bezugszeichen I, II, III und IV gekennzeichnet Jeder 8 mal 8
Bildelementgruppen-Unterbereich enthält insgesamt 1024 Bildeiemente.
Die im folgenden beschriebene Untersuchung beginnt mit dem ersten Bezugsunterbereich I, welcher der
oberen linken Ecke des Untersuchungsbereiches überlagert wird. Die Anzahl der Anpassungen in dieser
Position wird in einer ersten Speicherstelle akkumuliert. Der erste Bildelementgruppen-Bezugsbereich wird
,dann um 2 Bildelemente weiter nach rechts bewegt und ^erneut mit dem Untersuchungsbild verglichen. Die
•Gesamtzahl der Anpassungen wird in einer zweiten 'Speicherstelle akkumuliert. Dieses Verfahren wird so
lange wiederholt, bis das Ende der Abtastzeile erreicht ist Der Bezugsbereich I wird mit dem ständig um 2·
^Bildeiemente und 2 Zeilen schrittweise versetzten * Untersuchungsbereich verglichen, bis schließlich das
gesamte Untersuchungsfeld schrittweise mit dem Bezugsbereich I verglichen worden ist. Die Summe der
Einzelvergleiche wird an einer gesonderten Speichersteile
akkumuliert.
Da der 8 mal 8 Bildelementgruppen-Bezugsbereich I insgesamt 64 Bildelementgruppen enthält, wird eine
vollkommene Anpassung bzw. Übereinstimmung zwischen dem Bezugsbereich I und einem Bereich im zu
untersuchenden Gesamtfeld durch den Korrelationswert 54 wiedergegeben, !m bevorzugte« Ausführungsbeispiel ist das Maximalausgangssignal der Vergleichseinrichtung jedoch auf 12 begrenzt, und zwar dadurch,
daß ein Schwellwert vorgesehen worden ist, welcher einen Ausgangswert von 12 einer Maximalanpassung
von 64 gleichsetzt. Im Falle einer einzigen Fehlanpassung würde der Wert 11 auftauchen und eine
tatsächliche Anpassung von 63 angeben. Ein Ausgangswert von 0 bedeutet irgendeine Anpassungszahl, die
unter 52 liegt. Weist eine Bildelementgruppe weniger als 52 Anpassungen auf, dann liegt eine Korrelation vor,
die nicht ausreicht.
Anschließend wird der zweite Bezugs-Unterbereich II mit dem gesamten Untersuchungsfeld korrelliert,
jedoch um 8 Bildelementgruppen gegenüber dem ersten Bezugs-Unterbreich I versetzt, um die räumliche
Beziehung zwischen dem zweiten Bezugs-Unterbereich II und dem ersten Bezugs-Unterbereich I zu wahren.
Das vorstehend mit dem ersten Bezugs-Unterbereich I durchgeführte Verfahren wird auch mit dem zweiten
Bezugs-Unterbereich durchgeführt, der zweite Bezugs-Unterbereich II wird also verglichen und nacheinander
jeweils um 2 Bildelemente weiter nach rechts verscho ben, verglichen und das Vergleichsergebnis zu der
vorher in der gleichen Position mit dem ersten Bezügs-Unterbereich I erhaltenen Summe im Speicher
akkumuliert. Der zweite Bezugs-Unterbereich II wird mit dem gesamten Gesichtsfeld in ähnlicher Weise wie
der erste Bezugs-Unterbereich I verglichen, wobei der an jeder Position erhaltene Korrelationswert zu dem
vorher für den ersten Bezugs-Unterbereich I erhaltenen Wert im Speicher akkumuliert wird.
Nach Beendigung des mit dem zweiten Bezugs-Unterbereich
II durchgeführten Verfahrens können die auf jedem Speicherplatz akkumulierten Werte zwischen 0
und 24 liegen, wobei der Wert 24 einer Maximalkorrelation von 128 entspricht
Die vorstehend beschriebenen Verfahrensschritte werden auch mit dem Bezugs-Unterbereich III wiederholt Hierbei wird mit einem Untersuchungsbereich begonnen, der 8 Bildeiementgruppen unterhalb des Startpunktes für den eis«," Γν. : **·· ' 'nrerbereich I liegt, und dann die Messung in Abständen von j'_.<;"· "'"*' Bildelementen wiederholt und das Meßergebnis mit der Bezugsgröße verglichen. Danach kann die Gesamtzahl in jeder Speicherzelle zwischen 0 und 36 liegen.
Die vorstehend beschriebenen Verfahrensschritte werden auch mit dem Bezugs-Unterbereich III wiederholt Hierbei wird mit einem Untersuchungsbereich begonnen, der 8 Bildeiementgruppen unterhalb des Startpunktes für den eis«," Γν. : **·· ' 'nrerbereich I liegt, und dann die Messung in Abständen von j'_.<;"· "'"*' Bildelementen wiederholt und das Meßergebnis mit der Bezugsgröße verglichen. Danach kann die Gesamtzahl in jeder Speicherzelle zwischen 0 und 36 liegen.
Die vorstehend beschriebenen Verfahrensschritte werden schließlich in entsprechender Weise .iu,h '.i
den vierten Bezugs-Unterbereich IV wiederholt. Hierbei wird an einem Punkt begonnen, der um 6
Bildelementgruppen gegenüber dem Startpunkt des zweiten Bezugs-Unterbereiches II nach unten und um 8
Bildelementgruppen gegenüber dem Startpunkt des Bezugs-Unterbereiches III nach rechts versetzt ist. Die
maximal mögliche Gesamtsumme in jeder der 4096 Speicherzellen hat dann den Wert 48. Der We.-t 48
bedeutet eine vollständige Anpassung zwischen der Gesamtbezugsfläche und dem zu untersuchenden
Bereich.
Aus F i g. 5 ergibt sich, daß der Startpunkt für jede Untersuchung innerhalb des Untersuchungsbereiches
liegt, der im wesentlichen aus 128x128 Bildelementen
besteht. Da die Untersuchung jeweils um ein Intervall von zwei Bildelementen weiterrückt, sind pro Zeile 64
Einzeluntersuchungen notwendig. Die Gesamtzahl der zu untersuchenden Zeilen wiederum beträgt 64. Dies
führt zu insgesamt 4096 einzelnen Untersuchungsorten. Das Ergebnis jedes der 4096 Vergleiche wird auf einen
gesonderten Speicherplatz eingeschrieben. Die beiden höchsten Korrelationswerte werden kontinuierlich
erneut bewertet und uuf den neuesten Stand gebracht.
Hierzu wird ein Doppel-Höchstwert-Detektor eingesetzt. Die Adressen der Speicherorte der beiden
so Höchstwerte werden als Ergebnis der Grobuntersuchung aufgezeichnet.
In Fig.8 ist ein Suchgerät für die Grobuntcrsuchungskoordinaten
als Blockschaltbild dargestellt. Die Funktion des Suchgerätes besteht darin, die Koordinaten
der beiden aufgrund der Grobuntersuchung er-mittelten Höchstwerte festzustellen.
Beim Grobvergleich wird das getaktete Digital-Video-Ausgangssignal
des Videoprozessors 14 dem Bildelementgruppen-Generator 66 zugeführt. Da beim »Grobvergleich die gespeicherten Bezugs-Bildelementgruppen
in Echtzeit mit den gemessenen Untersuchungs-Bildelementgruppen verglichen werden, muß
das tatsächliche Untersuchungsbild im Bildelementgruppen-Generator 66 zerlegt werden. Der als Schalter
arbeitende Multiplexer 64 wird von der Multiplexer-Steuerlogik 68 gesteuert und führt das Ausgangssignal
des Bildelementgruppen-Generators 66 einem Serpentinen-Schieberegister 70 zu. Das Serpentinen-Schiebere-
»I/
■»W^U-« Sdn. .
gister 70 wird anhand der F i g. 9 noch näher erläutert. Das Ausgangssignal des Multiplexers 64 entspricht
einer Folge von Bildelementgruppen, die vom Bildelementgruppen-Generator 66 ausgehen. Diese Folge wird
seriell in das Serpentinen-Schieberegister 70 eingegeben.
Da während der Grobuntersuchung ein zweidimensionales Feld untersucht werden soll, müssen zunächst
die Bildelementgruppen seriell in eine Reihe von sieben Schieberegistern 81,83,84,86,88,90 und 92 eingegeben
werden. Die Schieberegister sind jeweils eine Zeile lang. Dadurch wird sichergestellt, daß nach acht Abtastungen
die Information in wenigstens der ersten Zeile sämtlicher acht Spalten am Ausgang der Schieberegister
81, 83, 84 bis 92 anliegt. In dieser Weise erscheint die Information in der ersten Zeile der Leitung 1 am
Ausgang des Schieberegisters 92; das Ausgangssignal der Leitung 2 in der ersten Zeile erscheint am Ausgang
des Schieberegisters 90; in entsprechender Weise geht es weiter bis zur Leitung mit dem Ausgangssignal der
^Leitung 8, welche auf der Direktleitung zum Multiplexer ^'64 liegt.
1 Gemäß F i g. 8 werden die Ausgangssignale auf den .acht Leitungen des Serpentinen-Schieberegisters 70 der
Wergleichseinrichtung 100 zugeführt. In der Vergleicbs-Jeinrichtung
100 wird die 8 χ 8-Bildelementgruppeninjformation
vom Bezugs-Unterbereich I direkt mit der ?zweidimensionalen, vom Untersuchungsfeld getasteten
8 χ e-Bildelementgruppen-Untersuchungsbcreich-In-■formation
in Echtzeit verglichen.
In Fig. 10 ist die Vergleichsein!ichtung 100 näher
^dargestellt Die Ausgangssignale auf den acht Ausgangsieitungen des Schieberegisters 70 werden jeweils einem
einzelnen Achtspalten-Schieberegister 102 zugeführt. "-Nur ein Schieberegister 102 ist dargestellt. Jedes
^Schieberegister 102 liest acht Spalten aus dem Speicher ab. Diese Werte können mit acht Spaltenwerten des
Videosignals, die im Bezugsspeicher 62 enthalten sind, •verglichen werden- Die Ausgangssignale adressieren
einen Festwerts, eicher (ROM) 104, der dazu dient, ein Ausgangssignal für die Anzahl der Anpassungen
zwischen dem Muster im Schieberegister 102 und dem Muster im Bezugsspeicher 62 zu liefern. Die maximale
Anpassung in jedem Festwertspeicher 104 ist acht. Diese Zahl bedeutet, daß acht Spalten vollständig mit
acht Spaltenwerten aus dem Bezugswertspeicher 62 ■Lorrellieren. Die maximale Gesamtkorrelation sämtlicher
acht Festwertspeicher 104 hat den Wert 64.
Um die Komplexität und die benötigte Speicherkapazität zu reduzieren, werden die Ausgangsleitungen
einem programmierten Dekodierfe-itwertspeicher 110
zugeführt. Dieser reduziert den Ausgangsbereich von 64 (diese Zahl repräsentiert eine maximale Anpassung) auf
einen maximalen Bereich von 12. Mit anderen Worten entspricht ein Ausgangswert von 12 gleich einer
Anpassung im Werte von 64.
In der Praxis können jedoch nur Informationen mit einem hohen Grad an Anpassung verwertet werden.
Demgemäß ist es nur wichtig, daß die zu hohen Anpassungswerten führenden Vergleiche bestimmt
werden. Unterhalb der Zahl 52 liegende Vergleichswerte werden als unbrauchbar betrachtet. Deshalb ist der
programmierte Dekodierfestwertspeicher 110 so programmiert, daß er ein Ausgangssignal mit dem Wert 12
abgibt, wenn auf sämtlichen von den programmierten Festwertspeichern 104 kommenden Eingangsleitungen
eine Eins anliegt. Ein vom programmierten Dekodierfestwertspeicher 110 abgegebener Ausgangswert von
12 ist demnach äquivalent einem Anpassungswert von
64. Ein Ausgangswert von 11 entspricht einer Anpassung
mit dem Wert von 63 usw. Ein Ausgangswert von Null entspricht einem Anpassungswert, der kleiner oder
gleich 52 ist.
Der Ausgangswert des programmierten Dekodierfestwertspeichers 110 für irgendeinen vorgegebenen
zweidimcnsionalen 8 χ e-Untersuchungsbereich liegt
demnach zwischen null und zwölf.
Gemäß Fig.8 wird der Ausgangswert der Vergleichseinrichtung
100 auf vier Leitungen, weiche einen Wert zwischen null und zwölf repräsentieren, einem
Akkumulator 112 zugeführt. Der Akkumulator 112 nimmt die Anpassungsdaten für jedes der 4096
Untersuchungsfelder an — diese Daten wurden durch Vergleich jedes der 8 χ 8-BiIdeIementgruppen-Unterbereiche
mit dem Gesichtsfeld gewonnen — und legt jeden Akkumulationswert an einem gesonderten
Speicherplatz in einem Speicher 114 ab. Jeder Speicherplatz im Speicher 114 ist einzeln mittels
2Q Adressen und Steuersignalen von einer Steuerlogik 116
adressierbar. Mit den Ausgangssignalen des Akkumulators 112 werden die einzelnen Speicherplätze im
Speicher 114 angesteuert Gleichzeitig wird ein Doppel-Höchstw -,«-Detektor 118 angesteuert, welcher
ständig die in den einzelnen Speicherplätzen abgelegten informationswerte überwacht und jeweils die beiden
höchsten Korrelationswerte festhält.
Die Untersuchung für jeden 8 χ 8-Bezugs-Unterbereich wird 4096mal durchgeführt. Für jede Untersuchung
wird maximal ein Wert von 12 zu jedem der 4096 Speicherplätze hinzugefügt bzw. akkumuliert Der
Akkumulator 112 bringt jeden Speicherplatz im Speicher 114 auf den neuesten Stand. Der Doppel-Höchstwert-Detektor
116 übet wacht kontinuierlich die beiden höchsten Akkumulationswerte, zeichnet diese
auf und legt die Koordinatenpositionen in den Adressenspeichern 120 und 122 ab. Am Ende der mit
dem Bezugs-Unterbereich II durchgeführten Untersuchung kann als Maximalzählung in jedem der 4096
Speicherplätze die Zahl 24 stehen. Die beiden höchsten Akkumulationswerte werden im Doppel-Höchstwert-Detektor
118 aufgezeichnet und deren Adressen in den Adressenspeichern 120 und 122 abgelegt. Dieses
Verfahren wird zweimal wiederholt, bis die mit dem 8 χ 8-Bezugs-Unterbereich IV durchgeführte Untersuchung
die 4096ste Abtastung beendet Die für jede der 4096 Positionen sich ergebende Summe wird im
Speicher 114 aufgezeichnet Die beiden höchsten Summen werden auch im Doppel-Höchstwert-Detektor
so aufgezeichnet. Die Adressen dieser beiden Koordinaten werden in den Adressenspeichern 120 und 122 abgelegt.
Hierdurch werden die Koordinatenorte derjenigen Speicherzellen, welche die beiden höchsten Akkumulationswerte
und damit die beiden besten Anpassungen aufweisen, festgehalten.
Zu diesem Zeitpunkt ist die Grobuntersuchung beendet. Die den besten Korrelationen entsprechenden
Speicherzellen sind festgestellt worden; deren Koordinaten sind in den Adressenspeichern 120 und 122
abgelegt worden.
Nach Beendigung der Grobuntersuchung wird als nächstes die Feinuntersuchung mit den 64 χ 64-Bildelement-Bezugsbereichen
um die Koordinaten durchgeführt, die mittels der Grobuntersuchung festgestellt und
deren Adressen in den Adressenspeichern 120 und 122 abgelegt worden sind.
Zweck der Feinuntersuchung ist, mögliche Unklarheiten bezüglich des genauen Ortes der besten Anpassung
ft.
r».
zu beseitigen.
Die Feinun'ersuchung geht von den in den Adressenspeichern
120 und 122 abgelegten Adressen aus. Die Feinuntersuchung soll nicht im Zentrum der Grobkoordinatenorte
beginnen. Vielmelc muß sie demgegenüber
nach links und oben um eine Anzahl von Bildelementen verschoben sein, die der Formel N/2 -1 entsprechen,
wobei N die Dimensionalität des Bezugswertes in Bildclementen ist.
Jm bevorzugten Ausführungsbeispiel wurde eine
8 χ 8-Vergleichseinrichtung (und damit Bezugsgröße) verwendet. Demgemäß gibt die Formel an, daß das
Zentrum der Feinuntersuchung an einer Stelle beginnen soll, die jeweils um drei Bildelemente nach links und
nach ob"M gegen diejenigen Koordinatenorte verschoben ist, die in die Adressenspeicher 120 und 122
eingeschrieben sind (F i g. 8). Die vorstehend angegebene Verschiebung berücksichtigt die Möglichkeit, daß der
genaue Ort des Korrelationspeaks möglicherweise mit keiner der beiden Grobuntersuchungskoordinaten
, genau zusammenfällt.
'■\ In F i g. 11 ist ein Blockdiagramm für die Feinuntersu-V'chung
dargestellt. Die getaktete, digitalisierte Viedoiniformation des Videoprozessors 14 läuft durch den
Multiplexer 64 zum Serpentinen-Schieberegister 70. " Gemäß F i g. 9 hat das Serpentinen-Schieberegister acht
' Leitungen und sieben Schieberegister 81,83,84 bis 92,
.'die in Echtzeit während der Zeilenabtastung geladen
werden müssen. Demnach benötigt man acht Abtastzeilen zum Einschreiben der ersten Zeile in das
Schieberegister und dann acht Spalten von Bildelementen, um die der Vergleichseinrichtung 100 zugeordneten
.Schieberegister zu laden. Zu diesem Zeitpunkt werden alle acht Spalten und alle acht Zeilen der Bezugsdaten
mit dem Untersuchungsfeld verglichen. Durch den Vergleich werden Ausgangssignale erhalten, welche den
Grad der Anpassung zwischen den Untersuchungsdaten und den Bezugsdaten darstellen. Die Untersuchung
findet in zwei Dimensionen statt. Auch hierbei wird wieder — wie bei der Grobuntersuchung — ein
-Ausgangssignal erzeugt, das zwischen null und zwölf schwankt, wobei die Zwölf die maximale Anpassung mit
einem Wert von 64 repräsentiert. Das Ausgangssignal wird im ersten der 49 Speicherplätze eines Speichers
121 abgelegt. Das der Vergleichseinrichtung 100 zugeordnete Schieberegister wird um acht weitere
Spalten weiterbewegt, worauf ein zweiter 8 χ 8-Vergleich stattfindet. Auch hierbei kann wiederum der
Maximalwert zwischen null und zwölf schwanken, v/obei wieder Zwölf eine Maximalanpassung von 64
repräsentiert. Der durch die zweite Messung gewonnene Zuwachs wird zum ersten Wert addiert und die
Gesamtsumme am selben Speicherplatz abgelegt. Dieses Verfahren wird alle acht Spalten wiederholt, bis
das Gesamtfeld von 64 BüJelementen 8mal verglichen und die Summe im Akkumulationsspeicher 121 aufgezeichnet
worden ist. Der Akkumulationsspeicher 121 hat eine Gesamtkapazität von 49 Speicherplätzen.
Der AkkumtiJationsspeicher 121 wird von einer
Akkumulationsspeicher-Steuerlogik 123 gesteuert. Die Akkumulationsspeicher-Steuerlogik ihrerseits wird mittels
des Adressensteuerspeichers 124 angesteuert. Letztere wählt die Koordinatenzentren aus, um welche
die Feinuntersuchung ausgeführt wird. Gewöhnlich führt ein einzelnes Untersuchungsfeld zu 64 Vergleichen,
die an einem vorgegebenen Speicherplatz im Akkumulationsspeicher 121 akkumuliert werden.
Die Akkumuiationsspeicher 121 abgelegte Zahl repräsentiert die beste Anpassungszahl für einen 64x64-Bildelement-Bezug. Die Gesamtzahl der Untersuchungen wird durch einen Bildelementbereich festgelegt, der sieben Bildelemenie breit sowie sieben Bildelemeiite lang ist und dessen Zentrum die Koordinaten der Grobuntersuchung sind.
Die Akkumuiationsspeicher 121 abgelegte Zahl repräsentiert die beste Anpassungszahl für einen 64x64-Bildelement-Bezug. Die Gesamtzahl der Untersuchungen wird durch einen Bildelementbereich festgelegt, der sieben Bildelemenie breit sowie sieben Bildelemeiite lang ist und dessen Zentrum die Koordinaten der Grobuntersuchung sind.
Aufgrund des Datenflusses ergibt sich, daß die Vergleichseinrichtung 100 nicht arbeitet, wenn das
Serpentinen-Schieberegister 70 die sieben Leitungen
ίο lädt. Die Vergieichseinrichtung 100 arbeitet auch dann
nicht, wenn das Schieberegister 102 um sieben Spalten weitergeschoben wird und bevor ein 8 χ 8-Vergleich in
zwei Dimensionen stattfinden kann. Diese Leerlaufzeit kann dazu benutzt werden, kontinuierlich eingehende
Daten mit im Speicher gespeicherten Bezugsdaten zu vergleichen, nachdem das Serpentinen-Schieberegister
und das Schieberegister geladen sind. Mit anderen Worten, ein Vergleich und 64 Akkumulationen können
für jede der 49 Bildelementpositionen durchgeführt werden. Dies führt zu einer eindeutigen Anordnung von
jß4 getrennten Akkumulationen, welche für jede der 49
"'Bildelemente wiederholt wird. Die 49 Bildelemente sind hierbei um die Koordinaten des bei der Grobuntersuchung
gefundenen Bildelementes herum angeordnet.
"[ Der Adressen-Steuerspeicher 124 steuert die AkkumuIationsspeicher-Steuerlogik
123, um die Koordinaten jedes der einer Akkumulation unterworfenen 49 Speicherplätze herauszufinden. Die Adressen jedes der
49 Speicherplätze werden in an sich bekannter Weise akkumuliert. Demgemäß gibt die Vergleichseinrichtung
100 ein Ausgangssignal ohne Wartezeit ab.
Gemäß vorstehenden Ausführungen führt jede Akkumulation zu einem Maximalwert von zwölf für
jeden Vergleich. Da für jede Bildelementposition 64 Akkumulationen vorgesehen sind, kann hierdurch an
jedem der 49 Speicherplätze maximal die Zahl 768 erhalten werden.
Die resultierende Aufspeicherung bzw. Akkumulation kann mittels einer einzigen Abtastzeile bewerkstelligt
werden.
Das Verfahren wird für jede der beiden vorgesehenen Orte im Adressenspeicher 122 durchgeführt.
Das Ausgangssignal des Akkumulationsspeichers 121 wird einem Höchstwert-Bewerter 126 zugeführt. Dieser
stellt fest, ob der getastete Höchstwert tatsächlich ein Höchstwert ist oder ob die ausgewählten Koordinatenorte
gelöscht werden sollen. Im dargestellten Ausführungsbeispiel mißt der Höchstwert-Bewerter 126 die
relative Schärfe eines Höchstwertes. Dies wird einfach dadurch durchgeführt, daß vom Höchstwert nacheinander
alle umliegenden 48 Werte abgezogen werden. Hierdurch kann festgestellt werden, ob Höchstwert
tatsächlich ein Höchstwert ist. Empirische Untersuchungen haben ergeben, daß eine Differenzv/ertbildung
zwischen dem ausgewählten Höchstwert und den ihn unmittelbar umgebenden Höchstwerten und eine darauf
folgende Addition der Differenzen zu einer Zahl führt, welche ein Maß für die Zuverlässigkeit des ausgewählten
Spitzenwertes ist. Eine unter der Zahl 200 liegende
-60 Summe wird als untere Grenze für eine Zuverlässigkeits-Anzeige
angesehen. In diesem Zusammenhang wird daran erinnert, daß die erfindungsgemäße Mustererkennungsanordnung
nicht zur Untersuchung einer vollständigen Anpassung ausgelegt ist, sondern lediglich
dazu dient, die beste Anpassung festzustellen. Demgemäß ist es notwendig, ein Maß für die Qualität der
besten Anpassung zur Hand zu haben, um dadurch feststellen zu können, ob der gefundene Wert
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zuverlässig ist.
Der Höchstwert-Bewerter 126 führt ständig nacheinander
Differenzbildungen durch. Er summiert diese Differenzen als Maß für die Bewertung des ausgewählten
Spitzenwertes.
Dieses Verfahren wird für die beiden während der Grobuntersuchung gefundenen Koordinatensätze
durchgeführt Am Ende wählt der Höchstwert-Bewerter 126 denjenigen Spitzenwert aus, welcher die höchste
Reliabilitätszahl aufweist und somit als bester Bezugspunkt
im Gesichtsfeld angesehen wird. In der Feinuntersuchung berechnet der Höchstwert-Bewerter 126 einen
Schwerpunkt 128 für diejenigen Daten, die in unmittelbarer Umgebung des mittels des Höchstwert-Bewerters
126 ausgewählten Spitzenwertes liegen. Der Schwerpunkt 12S entspricht einer Interpolation, mittels welcher
das Zentrum einer Kurve gefunden werden soll, die sich
IO am besten dem Spitzenwert anpaßt, gleichgültig, ob diese Kurve nun tatsächlich innerhalb eines oder
zwischen zwei benachbarten Bildelementen liegt.
Die erfindungsgemäße Mustererkennungsanordnung benötigt insgesamt vier Untersuchungen, um die beiden
Grobpositionen festzustellen, und eine weitere Untersuchung 2ur Ermittlung der Zeit für den Prozessor zur
Verarbeitung der Information mittels der Koordinatenauffindung. Für die Feinuntersuchung werden zwei
vollständige Untersuchungen benötigt, jeweils eine um jede der beiden Grobpositionen; ferner eine zusätzliche
Untersuchung zur Verarbeitung der Information. Insgesamt werden also acht Untersuchungen benötigt,
um die endgültigen Koordinaten für die bestmögliche Anpassung zu erhalten. In der Echtzeit benötigt man für
diese acht Untersuchungen nicht mehr als 150 ms.
Hierzu 8 Blatt Zeichnungen
Claims (7)
1) ein vierter Speicher (121, 123) zum Speichern der so ermittelten Fein-Korrelations-Zahl des
Vergleichs für jeden Einzelvergleich in jeweils m)
adressierbaren Speicherplätzen vorgesehen ist und
die Bestimmungseinrichtung (126, 128) den
Maximalwert der Fein-Korrelations-Zahl erfaßt und die Koordinate der entsprechenden
Speicheradressse als Maß für den Ort der Feinortung identifiziert.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß jede Bildelementgruppe 16 Bildelemenie
umfaßt.
3. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch eine Bewegungseinrichtung zum
Bewerten des durch höchste Korrelations-Zahl ausgedrückten Maßes der Übereinstimmung durch
Vergleich der höchsten Korrelations-Zahl mit allen übrigen Korrelations-Zahlen.
4. Anordnung nach Anspruch 3, gekennzeichnet durch einen Subtrahierer zur Bildung einer Differenz
zwischen dem in einer vorgegebenen Speicherzelle festgelegten Maximalwert der Korrelation und
den Werten in den benachbarten Speicherzellen und zum Aufaddieren der Ergebnisse.
5. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der (zweite) Bildelementgruppen-Generator
(66) ein zweidimensionales Digitalfilter (76,78,80,82) ist
6. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, gekennzeichnet durch eine Erfassungseinrichtung
(118) zur Erfassung des höchsten gespeicherten Korrelations-Wertes, der Adresse des zugehörigen
Speicherplatzes und damit der zugehörigen Koordinate des Korrelationswertes.
7. Anordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Erfassungseinrichtung (118) zur
Erfassung des höchsten gespeicherten Wertes in jedem von zwei Speichern (120, 122), zum Bestimmen
der Adresse der beiden zugehörigen Speicherplätze und damit der zugehörigen Koordinaten der
gespeicherten Höchstwerte ausgelegt ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/939,061 US4200861A (en) | 1978-09-01 | 1978-09-01 | Pattern recognition apparatus and method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2935261A1 DE2935261A1 (de) | 1980-03-13 |
DE2935261C2 true DE2935261C2 (de) | 1984-01-12 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2935261A Expired DE2935261C2 (de) | 1978-09-01 | 1979-08-31 | Anordnung zur Mustererkennung |
Country Status (13)
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---|---|
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Families Citing this family (120)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6016673B2 (ja) * | 1978-12-25 | 1985-04-26 | 川崎重工業株式会社 | サ−ボ系における被検体認識装置 |
US4288782A (en) * | 1979-08-24 | 1981-09-08 | Compression Labs, Inc. | High speed character matcher and method |
US4308523A (en) * | 1980-02-04 | 1981-12-29 | Compuscan, Incorporated | Apparatus and method for character recognition |
US4323772A (en) * | 1980-03-06 | 1982-04-06 | R. J. Reynolds Tobacco Company | Bar code reader system |
US4376932A (en) * | 1980-06-30 | 1983-03-15 | International Business Machines Corporation | Multi-registration in character recognition |
JPS57105088A (en) * | 1980-12-22 | 1982-06-30 | Toshiba Corp | Character reader |
US4400828A (en) * | 1981-03-27 | 1983-08-23 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Word recognizer |
DE3127491A1 (de) * | 1981-07-11 | 1983-01-27 | Vereinigte Flugtechnische Werke Gmbh, 2800 Bremen | "schaltungsanordnung fuer einen korrelator" |
US4561103A (en) * | 1981-07-29 | 1985-12-24 | Dai Nippon Insatsu Kabushiki Kaisha | Print inspecting method and apparatus |
JPS5876973A (ja) * | 1981-10-30 | 1983-05-10 | Nippon Denso Co Ltd | 光学的情報読取装置 |
US4538299A (en) * | 1981-12-04 | 1985-08-27 | International Remote Imaging Systems, Inc. | Method and apparatus for locating the boundary of an object |
US4490849A (en) * | 1982-03-04 | 1984-12-25 | Grumman Aerospace Corporation | Correlation plane recognition processor |
JPS5951536A (ja) * | 1982-09-14 | 1984-03-26 | Fujitsu Ltd | パタ−ン認識方法及びその装置 |
DE3234607A1 (de) * | 1982-09-16 | 1984-03-22 | Kraft, Hans Rainer, Dr.-Ing., 1000 Berlin | Verfahren und schaltungsanordnung zur erfassung eines ausgewaehlten bildinformationsbereiches |
DE3239938A1 (de) * | 1982-10-28 | 1984-05-03 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Verfahren zur erkennung, identifizierung und/oder qualitaetskontrolle von gegenstaenden |
US4566125A (en) * | 1982-12-08 | 1986-01-21 | Texas Instruments Incorporated | Apparatus and method for pattern location |
PT77788B (en) * | 1982-12-08 | 1986-03-20 | Texas Instruments Inc | Apparatus and method for pattern location |
US4549087A (en) * | 1982-12-27 | 1985-10-22 | Usm Corporation | Lead sensing system |
JPS59157505A (ja) * | 1983-02-28 | 1984-09-06 | Hitachi Ltd | パタ−ン検査装置 |
GB2139348B (en) * | 1983-03-26 | 1986-10-01 | Disco Abrasive Systems Ltd | Automatic aligment system |
US4567609A (en) * | 1983-03-28 | 1986-01-28 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Automatic character recognition system |
EP0153439B1 (de) * | 1983-06-03 | 1993-08-04 | Fondazione Pro Juventute Don Carlo Gnocchi | Modular ausbaufähiges System zur Echtzeit-Verarbeitung einer TV-Anzeige, besonders brauchbar zur Koordinatenerfassung von Objekten von bekannter Form und Verfahren zur Benutzung dieses Systems bei Röntgenaufnahmen. |
JPS59226981A (ja) * | 1983-06-08 | 1984-12-20 | Fujitsu Ltd | パタ−ンマツチング方法および装置 |
US4606069A (en) * | 1983-06-10 | 1986-08-12 | At&T Bell Laboratories | Apparatus and method for compression of facsimile information by pattern matching |
JP2531605B2 (ja) * | 1984-02-24 | 1996-09-04 | 株式会社東芝 | 画像の位置合せ装置 |
US4800431A (en) * | 1984-03-19 | 1989-01-24 | Schlumberger Systems And Services, Inc. | Video stream processing frame buffer controller |
US4641350A (en) * | 1984-05-17 | 1987-02-03 | Bunn Robert F | Fingerprint identification system |
US4659220A (en) * | 1984-10-22 | 1987-04-21 | International Business Machines Corporation | Optical inspection system for semiconductor wafers |
USRE38716E1 (en) | 1984-12-20 | 2005-03-22 | Orbotech, Ltd. | Automatic visual inspection system |
NL8500172A (nl) * | 1985-01-23 | 1986-08-18 | Philips Nv | Beeldverwerkingsinrichting voor het op echte-tijd basis bewerken en herkennen van tweedimensionale beelden, en beeldverwerkingssysteem bevattende tenminste twee in serie verbondene van zulke beeldverwerkingsinrichtingen. |
EP0197341B1 (de) * | 1985-03-13 | 1993-02-17 | Kabushiki Kaisha TOPCON | Vorrichtung und Verfahren zur Koordinatenmessung |
US5163101A (en) * | 1985-10-07 | 1992-11-10 | Schlumberger Technologies, Inc. | Bitplane area correlator |
US4724307A (en) * | 1986-04-29 | 1988-02-09 | Gtech Corporation | Marked card reader |
US4739398A (en) * | 1986-05-02 | 1988-04-19 | Control Data Corporation | Method, apparatus and system for recognizing broadcast segments |
US4805123B1 (en) * | 1986-07-14 | 1998-10-13 | Kla Instr Corp | Automatic photomask and reticle inspection method and apparatus including improved defect detector and alignment sub-systems |
US4817175A (en) * | 1986-08-26 | 1989-03-28 | Schlumberger Systems And Services, Inc. | Video stream processing system |
DE3708795C2 (de) * | 1987-03-18 | 1995-08-03 | Gsf Forschungszentrum Umwelt | Verfahren zur Größenselektion in Videoechtzeit |
US4972359A (en) * | 1987-04-03 | 1990-11-20 | Cognex Corporation | Digital image processing system |
US4853968A (en) * | 1987-09-21 | 1989-08-01 | Kulicke & Soffa Industries, Inc. | Pattern recognition apparatus and method |
US5119435A (en) * | 1987-09-21 | 1992-06-02 | Kulicke And Soffa Industries, Inc. | Pattern recognition apparatus and method |
US4849821A (en) * | 1987-12-11 | 1989-07-18 | Eastman Kodak Company | Page check for copier/printers |
US4977604A (en) * | 1988-02-17 | 1990-12-11 | Unisys Corporation | Method and apparatus for processing sampled data signals by utilizing preconvolved quantized vectors |
US5717785A (en) * | 1992-01-30 | 1998-02-10 | Cognex Corporation | Method and apparatus for locating patterns in an optical image |
US6067379A (en) * | 1988-12-09 | 2000-05-23 | Cognex Corporation | Method and apparatus for locating patterns in an optical image |
US5010500A (en) * | 1989-01-26 | 1991-04-23 | Xerox Corporation | Gesture-modified diagram for retrieval of image resembling diagram, with parts selectable for further interactive retrieval |
US5361309A (en) * | 1989-09-07 | 1994-11-01 | Canon Kabushiki Kaisha | Character recognition apparatus and method with low-resolution storage for character extraction |
JPH08996B2 (ja) * | 1991-01-24 | 1996-01-10 | 新日本製鐵株式会社 | 溶接性、塗料密着性に優れた表面処理鋼板の製造方法 |
US5416308A (en) * | 1991-08-29 | 1995-05-16 | Video Lottery Technologies, Inc. | Transaction document reader |
US5257325A (en) * | 1991-12-11 | 1993-10-26 | International Business Machines Corporation | Electronic parallel raster dual image registration device |
US5371690A (en) * | 1992-01-17 | 1994-12-06 | Cognex Corporation | Method and apparatus for inspection of surface mounted devices |
US6002793A (en) * | 1992-01-30 | 1999-12-14 | Cognex Corporation | Machine vision method and apparatus for finding an object orientation angle of a rectilinear object |
US5594813A (en) * | 1992-02-19 | 1997-01-14 | Integrated Information Technology, Inc. | Programmable architecture and methods for motion estimation |
US5487115A (en) * | 1992-05-14 | 1996-01-23 | United Parcel Service | Method and apparatus for determining the fine angular orientation of bar code symbols in two-dimensional CCD images |
US5506616A (en) * | 1992-10-07 | 1996-04-09 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Differential imaging for sensitive pattern recognition |
US5805722A (en) * | 1993-11-22 | 1998-09-08 | Cognex Corporation | Method and apparatus for locating, inspecting, and placing large leaded devices |
US5583954A (en) * | 1994-03-01 | 1996-12-10 | Cognex Corporation | Methods and apparatus for fast correlation |
US5602937A (en) * | 1994-06-01 | 1997-02-11 | Cognex Corporation | Methods and apparatus for machine vision high accuracy searching |
AUPN310095A0 (en) * | 1995-05-22 | 1995-06-15 | Canon Kabushiki Kaisha | Image detection system |
AU714354B2 (en) * | 1995-05-22 | 1999-12-23 | Canon Kabushiki Kaisha | Image detection system |
US5801966A (en) * | 1995-07-24 | 1998-09-01 | Cognex Corporation | Machine vision methods and articles of manufacture for determination of convex hull and convex hull angle |
US6026176A (en) | 1995-07-25 | 2000-02-15 | Cognex Corporation | Machine vision methods and articles of manufacture for ball grid array inspection |
US5757956A (en) * | 1995-10-31 | 1998-05-26 | Cognex Corp. | Template rotating method for locating bond pads in an image |
US5754679A (en) * | 1995-10-31 | 1998-05-19 | Cognex Corp. | Image rotating method for locating bond pads in an image |
US5673334A (en) * | 1995-11-30 | 1997-09-30 | Cognex Corporation | Method and apparatus for inspection of characteristics on non-rigid packages |
US5845007A (en) * | 1996-01-02 | 1998-12-01 | Cognex Corporation | Machine vision method and apparatus for edge-based image histogram analysis |
US5872870A (en) * | 1996-02-16 | 1999-02-16 | Cognex Corporation | Machine vision methods for identifying extrema of objects in rotated reference frames |
US5909504A (en) * | 1996-03-15 | 1999-06-01 | Cognex Corporation | Method of testing a machine vision inspection system |
US6298149B1 (en) | 1996-03-21 | 2001-10-02 | Cognex Corporation | Semiconductor device image inspection with contrast enhancement |
US5949901A (en) * | 1996-03-21 | 1999-09-07 | Nichani; Sanjay | Semiconductor device image inspection utilizing image subtraction and threshold imaging |
US6259827B1 (en) | 1996-03-21 | 2001-07-10 | Cognex Corporation | Machine vision methods for enhancing the contrast between an object and its background using multiple on-axis images |
US5978502A (en) * | 1996-04-01 | 1999-11-02 | Cognex Corporation | Machine vision methods for determining characteristics of three-dimensional objects |
US5933546A (en) * | 1996-05-06 | 1999-08-03 | Nec Research Institute, Inc. | Method and apparatus for multi-resolution image searching |
US6137893A (en) * | 1996-10-07 | 2000-10-24 | Cognex Corporation | Machine vision calibration targets and methods of determining their location and orientation in an image |
US5960125A (en) | 1996-11-21 | 1999-09-28 | Cognex Corporation | Nonfeedback-based machine vision method for determining a calibration relationship between a camera and a moveable object |
US5953130A (en) * | 1997-01-06 | 1999-09-14 | Cognex Corporation | Machine vision methods and apparatus for machine vision illumination of an object |
EP0854436B1 (de) * | 1997-01-17 | 2005-09-14 | Matsushita Electric Works, Ltd. | System und Verfahren zur Lageermittlung |
US6075881A (en) * | 1997-03-18 | 2000-06-13 | Cognex Corporation | Machine vision methods for identifying collinear sets of points from an image |
US5974169A (en) * | 1997-03-20 | 1999-10-26 | Cognex Corporation | Machine vision methods for determining characteristics of an object using boundary points and bounding regions |
US6141033A (en) * | 1997-05-15 | 2000-10-31 | Cognex Corporation | Bandwidth reduction of multichannel images for machine vision |
US6608647B1 (en) | 1997-06-24 | 2003-08-19 | Cognex Corporation | Methods and apparatus for charge coupled device image acquisition with independent integration and readout |
US5978080A (en) * | 1997-09-25 | 1999-11-02 | Cognex Corporation | Machine vision methods using feedback to determine an orientation, pixel width and pixel height of a field of view |
US6025854A (en) * | 1997-12-31 | 2000-02-15 | Cognex Corporation | Method and apparatus for high speed image acquisition |
US6236769B1 (en) | 1998-01-28 | 2001-05-22 | Cognex Corporation | Machine vision systems and methods for morphological transformation of an image with zero or other uniform offsets |
US6282328B1 (en) | 1998-01-28 | 2001-08-28 | Cognex Corporation | Machine vision systems and methods for morphological transformation of an image with non-uniform offsets |
US6215915B1 (en) | 1998-02-20 | 2001-04-10 | Cognex Corporation | Image processing methods and apparatus for separable, general affine transformation of an image |
US6381375B1 (en) | 1998-02-20 | 2002-04-30 | Cognex Corporation | Methods and apparatus for generating a projection of an image |
US6295374B1 (en) | 1998-04-06 | 2001-09-25 | Integral Vision, Inc. | Method and system for detecting a flaw in a sample image |
US6516092B1 (en) | 1998-05-29 | 2003-02-04 | Cognex Corporation | Robust sub-model shape-finder |
US6154567A (en) * | 1998-07-01 | 2000-11-28 | Cognex Corporation | Pattern similarity metric for image search, registration, and comparison |
US7016539B1 (en) | 1998-07-13 | 2006-03-21 | Cognex Corporation | Method for fast, robust, multi-dimensional pattern recognition |
US6608920B1 (en) * | 1998-10-29 | 2003-08-19 | Applied Materials, Inc. | Target acquisition technique for CD measurement machine |
US6381366B1 (en) | 1998-12-18 | 2002-04-30 | Cognex Corporation | Machine vision methods and system for boundary point-based comparison of patterns and images |
US6687402B1 (en) | 1998-12-18 | 2004-02-03 | Cognex Corporation | Machine vision methods and systems for boundary feature comparison of patterns and images |
US6563502B1 (en) * | 1999-08-19 | 2003-05-13 | Adobe Systems Incorporated | Device dependent rendering |
US6684402B1 (en) | 1999-12-01 | 2004-01-27 | Cognex Technology And Investment Corporation | Control methods and apparatus for coupling multiple image acquisition devices to a digital data processor |
US6748104B1 (en) | 2000-03-24 | 2004-06-08 | Cognex Corporation | Methods and apparatus for machine vision inspection using single and multiple templates or patterns |
US6744913B1 (en) * | 2000-04-18 | 2004-06-01 | Semiconductor Technology & Instruments, Inc. | System and method for locating image features |
IL136177A (en) * | 2000-05-16 | 2005-09-25 | Eci Telecom Ltd | Optical transponder and automatic optical signal type identification method for use therewith |
US7006669B1 (en) | 2000-12-31 | 2006-02-28 | Cognex Corporation | Machine vision method and apparatus for thresholding images of non-uniform materials |
US6959112B1 (en) | 2001-06-29 | 2005-10-25 | Cognex Technology And Investment Corporation | Method for finding a pattern which may fall partially outside an image |
US6993459B2 (en) * | 2001-07-17 | 2006-01-31 | Tellabs Operations, Inc. | Extinction ratio calculation and control of a laser |
JP4598887B2 (ja) * | 2001-09-28 | 2010-12-15 | 株式会社キーエンス | ピラミッド構造サーチを使用したパターンマッチング方法、画像検出回路、画像処理プログラムおよびコンピュータで読み取り可能な記憶媒体 |
US7006107B2 (en) | 2003-05-16 | 2006-02-28 | Adobe Systems Incorporated | Anisotropic anti-aliasing |
US7190834B2 (en) * | 2003-07-22 | 2007-03-13 | Cognex Technology And Investment Corporation | Methods for finding and characterizing a deformed pattern in an image |
WO2005010561A2 (en) * | 2003-07-22 | 2005-02-03 | L-3 Communications Security and Detection Systems Corporation | Methods and apparatus for detecting objects in baggage using x-rays |
US8081820B2 (en) * | 2003-07-22 | 2011-12-20 | Cognex Technology And Investment Corporation | Method for partitioning a pattern into optimized sub-patterns |
US7719536B2 (en) * | 2004-03-31 | 2010-05-18 | Adobe Systems Incorporated | Glyph adjustment in high resolution raster while rendering |
US7580039B2 (en) * | 2004-03-31 | 2009-08-25 | Adobe Systems Incorporated | Glyph outline adjustment while rendering |
US7639258B1 (en) | 2004-03-31 | 2009-12-29 | Adobe Systems Incorporated | Winding order test for digital fonts |
US7333110B2 (en) * | 2004-03-31 | 2008-02-19 | Adobe Systems Incorporated | Adjusted stroke rendering |
US7602390B2 (en) * | 2004-03-31 | 2009-10-13 | Adobe Systems Incorporated | Edge detection based stroke adjustment |
US8437502B1 (en) | 2004-09-25 | 2013-05-07 | Cognex Technology And Investment Corporation | General pose refinement and tracking tool |
US20060147707A1 (en) * | 2004-12-30 | 2006-07-06 | Jian Meng | Compacted, chopped fiber glass strands |
US7639861B2 (en) | 2005-09-14 | 2009-12-29 | Cognex Technology And Investment Corporation | Method and apparatus for backlighting a wafer during alignment |
US8111904B2 (en) * | 2005-10-07 | 2012-02-07 | Cognex Technology And Investment Corp. | Methods and apparatus for practical 3D vision system |
US8162584B2 (en) * | 2006-08-23 | 2012-04-24 | Cognex Corporation | Method and apparatus for semiconductor wafer alignment |
US20080068383A1 (en) * | 2006-09-20 | 2008-03-20 | Adobe Systems Incorporated | Rendering and encoding glyphs |
US8103085B1 (en) | 2007-09-25 | 2012-01-24 | Cognex Corporation | System and method for detecting flaws in objects using machine vision |
US8849050B2 (en) | 2012-11-08 | 2014-09-30 | Seiko Epson Corporation | Computer vision methods and systems to recognize and locate an object or objects in one or more images |
US9679224B2 (en) | 2013-06-28 | 2017-06-13 | Cognex Corporation | Semi-supervised method for training multiple pattern recognition and registration tool models |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3443027A (en) * | 1965-11-26 | 1969-05-06 | Ibm | Control system for flying spot scanners |
JPS5136141B2 (de) * | 1971-11-10 | 1976-10-06 | ||
JPS4891935A (de) * | 1972-03-08 | 1973-11-29 | ||
FR2186793B1 (de) * | 1972-05-30 | 1977-01-14 | Schlumberger Compteurs | |
JPS5425782B2 (de) * | 1973-03-28 | 1979-08-30 | ||
DE2450529C3 (de) * | 1974-10-24 | 1979-01-25 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung binärer Signale |
JPS51118333A (en) * | 1975-04-11 | 1976-10-18 | Hitachi Ltd | Pattern recognition system |
JPS5839357B2 (ja) * | 1976-01-26 | 1983-08-29 | 株式会社日立製作所 | パタ−ンの位置検出方法 |
US4045816A (en) * | 1976-02-12 | 1977-08-30 | Recognition Equipment Incorporated | Automatic corrector for fixed pattern odd/even video noise |
SE7705157L (sv) * | 1976-05-04 | 1977-11-05 | Green James E | Forfarande och apparat for analys |
GB1545117A (en) * | 1976-05-25 | 1979-05-02 | Nat Res Dev | Comparison apparatus eg for use in character recognition |
FR2374798A1 (fr) * | 1976-12-17 | 1978-07-13 | Telediffusion Fse | Circuits de traitement de signaux de fac-simile |
US4162481A (en) * | 1976-12-22 | 1979-07-24 | Recognition Equipment Incorporated | Adaptive correlator for video processing |
US4078227A (en) * | 1977-03-21 | 1978-03-07 | The Singer Company | Threshold detector for optical character recognition system |
US4110737A (en) * | 1977-08-22 | 1978-08-29 | The Singer Company | Character recognition apparatus for serially comparing an unknown character with a plurality of reference characters |
-
1978
- 1978-09-01 US US05/939,061 patent/US4200861A/en not_active Expired - Lifetime
-
1979
- 1979-08-15 GB GB7928439A patent/GB2029958A/en not_active Withdrawn
- 1979-08-20 PH PH22929A patent/PH18175A/en unknown
- 1979-08-22 AU AU50162/79A patent/AU516547B2/en not_active Expired - Fee Related
- 1979-08-30 CH CH7850/79A patent/CH657489A5/de not_active IP Right Cessation
- 1979-08-30 SE SE7907231A patent/SE7907231L/xx unknown
- 1979-08-30 NO NO792818A patent/NO792818L/no unknown
- 1979-08-30 IL IL58140A patent/IL58140A/xx unknown
- 1979-08-31 DK DK365479A patent/DK365479A/da unknown
- 1979-08-31 FR FR7921895A patent/FR2435093A1/fr not_active Withdrawn
- 1979-08-31 JP JP11233279A patent/JPS5534800A/ja active Granted
- 1979-08-31 DE DE2935261A patent/DE2935261C2/de not_active Expired
- 1979-09-03 IT IT25452/79A patent/IT1122951B/it active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
IT7925452A0 (it) | 1979-09-03 |
JPS5534800A (en) | 1980-03-11 |
DK365479A (da) | 1980-03-03 |
JPH0421230B2 (de) | 1992-04-09 |
CH657489A5 (de) | 1986-08-29 |
AU516547B2 (en) | 1981-06-11 |
DE2935261A1 (de) | 1980-03-13 |
IT1122951B (it) | 1986-04-30 |
NO792818L (no) | 1980-03-04 |
SE7907231L (sv) | 1980-03-02 |
GB2029958A (en) | 1980-03-26 |
FR2435093A1 (fr) | 1980-03-28 |
PH18175A (en) | 1985-04-12 |
AU5016279A (en) | 1980-06-26 |
US4200861A (en) | 1980-04-29 |
IL58140A (en) | 1982-02-28 |
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Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2935261C2 (de) | Anordnung zur Mustererkennung | |
DE3719553C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Schattierungskorrektur | |
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Legal Events
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OD | Request for examination | ||
D2 | Grant after examination | ||
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