DE3818192A1 - Thermoelektrische anordnung mit tunnelkontakten - Google Patents
Thermoelektrische anordnung mit tunnelkontaktenInfo
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Description
Die Patentanmeldung betrifft eine thermoelektrische Anordnung zur
Umwandlung von Wärme in elektrische Energie und zum reversiblen
Pumpen von Wärme mit großem thermodynamischem Wirkungsgrad. Durch
das deutsche Patent 25 47 262 ist bekannt, daß höhere Wirkungsgrade
bei thermoelektrischen Anordnungen erreicht werden können, wenn in
jedem Thermoelement der Wärmestrom über mindestens eine Stelle mit
Temperaturgradienten größer als 104° K/cm fließt. Durch die deut
sche Offenlegungsschrift DE 34 04 137 A1 ist ferner bekannt, daß die
Stelle mit dem Temperaturgradienten <104° K/cm ein Kontaktwider
stand mit Fremdschicht sein kann. Das Material, aus welchem die
Fremdschicht besteht, hat einen makroskopischen elektrischen Wi
derstand größer als 1 Ωcm. Wegen seiner Dicke kleiner als 1×10-6 cm
ist der spez. elektrische Widerstand - als Folge des Tunneleffek
tes - auf unter 1 Ωcm verkleinert. Wenn thermoelektrisches Material
mit hoher Thermokraft für die Fremdschicht im Kontakt verwendet
wird, kann über den Tunneleffekt die Effektivität des thermoelek
trischen Materials vergrößert werden.
Durch die deutsche Offenlegungsschrift DE 34 04 138 A1 ist ferner be
kannt, daß die Stelle mit dem Temperaturgradienten < 104° K/cm
zwischen den beiden ungleich temperierten Teilen des Thermoschen
kels ein elektrischer und thermischer Engewiderstand ohne Fremd
schicht sein kann, und daß der Durchmesser dieses Engewiderstan
des kleiner ist als die Diffusionslänge oder die mittlere freie
Weglänge der Ladungsträger.
Die vorliegende Erfindung stellt ebenfalls eine Weiterbildung des
deutschen Patents 25 47 262 dar. Auch bei ihr besteht ein Thermo
schenkel aus zwei getrennten und ungleich temperierten Teilen,
welche sich an mindestens einer Stelle stationär berühren. Auch die
Berührungsstellen sind so ausgebildet, daß sie mit Hilfe von mecha
nischem Druck erzeugte thermische und elektrische Kontakte mit
durchtunnelbarer Potentialbarriere sind, durch welche ein Wärme
strom mit einem Temperaturgradienten < 104° K/cm fließt. Die vor
liegende "Thermoelektrische Anordnung mit Tunnelkontakten" ist zu
sätzlich jedoch dadurch gekennzeichnet, daß die ungleich temperier
ten Teile des Thermoschenkels aus n-leitendem oder p-leitendem ein
kristallinem, polykristallinem oder amorphem Halbleitermaterial be
stehen, daß dieses Halbleitermaterial mindestens an seiner Oberfläche
eine so hohe Konzentration von Elektronen oder Defektelektronen auf
weist, daß dort das Fermi-Niveau bei Raumtemperatur einen Abstand vom
Leitungsband bzw. vom Valenzband hat, welcher höchstens ein Zehntel
des Halbleiter-Bandabstandes beträgt, daß auf diese Halbleiterober
fläche eine Deckschicht aus Metall, aus einer Metall-Legierung, aus
einer metallisch leitenden Verbindung oder aus einem Supraleiter auf
gebracht ist, so daß die Druck-Kontakte zwischen den beiden ungleich
temperierten Teilen des Thermoschenkels Tunnelkontakte zwischen me
tallisch leitendem oder supraleitendem Material sind, und daß die Dic
ke der Deckschicht kleiner ist als die mittlere freie Weglänge der Ma
joritätsladungsträger im Halbleitermaterial, aus welchem die bei
den ungleich temperierten Teile des Thermoschenkels bestehen.
Es ist die Lehre der vorliegenden Erfindung, daß die Thermokraft
des Thermoschenkels durch die Thermokraft des verwendeten Halblei
termaterials bestimmt wird, wenn die Dicke der Deckschicht kleiner
ist als die freie Weglänge der Majoritätsladungsträger im Halblei
termaterial. Wenn außerdem noch die Oberflächenschicht mit großer
Elektronen- oder Defektelektronenkonzentration sich auf höherohmi
gem Halbleitermaterial befindet und wenn ihre Dicke kleiner ist als
die freie Weglänge der Majoritätsladungsträger im höherohmigen Halb
leitermaterial, dann wird die Thermokraft des Thermoschenkels durch
die Thermokraft des höherohmigen Halbleitermaterials bestimmt. Es
findet dann durch die Oberflächenschichten und Deckschichten in den
Druck-Kontakten hindurch ein ballistischer Transport der Ladungs
träger zwischen den beiden ungleich temperierten Halbleiter-Tei
len des Thermoschenkels statt. Da andererseits die Druck-Kontakte
Tunnelkontakte zwischen metallischem oder supraleitendem Material
sind, kann das Verhältnis von elektrischem zum Wärmewiderstand
des Thermoschenkels einen Minimalwert erreichen. Zur Vermeidung
von thermischen Nebenschlüssen ist der Zwischenraum zwischen den
beiden ungleich temperierten Teilen des Thermoschenkels in der
Umgebung der Druck-Kontakte evakuiert. Außerdem ist der mitt
lere Durchmesser der Druck-Kontakte so klein, daß die Größe des Ge
samtwärmewiderstandes der thermoelektrischen Anordnung durch die
Tunnelkontakte zwischen den beiden ungleich temperierten Teilen
des Thermoschenkels bestimmt wird. Wenn die beiden Teile des
Thermoschenkels z. B. aus zwei Halbleiterscheiben bestehen, von
denen wenigstens eine an ihrer Oberfläche so strukturiert ist,
daß die Berührung unter Druck zwischen den beiden Halbleiterschei
ben eine Vielzahl etwa gleich großer Druck-Kontakte erzeugt, dann
genügt ein mittlerer Kontakt-Durchmesser von etwa 1×10-4 cm, da
mit der Wärmewiderstand der Druck-Kontakte den Wärmewiderstand des
Thermoschenkels bestimmt. Wenn die Druck-Kontakte außerdem auch
noch den elektrischen Widerstand des Thermoschenkels bestimmen,
dann verbindet die thermoelektrische Anordnung der Erfindung die
hohen Thermokräfte des Halbleitermaterials mit einem niedrigen
Verhältnis von elektrischem zum Wärmewiderstand in den Druck-Kon
takten zwischen metallisch leitendem oder supraleitendem Material.
Die Folge davon ist ein hoher thermodynamischer Wirkungsgrad von
Peltierkühlern oder Thermogeneratoren, die mit Hilfe der thermo
elektrischen Anordnung der Erfindung aufgebaut sind.
Die Oberflächenschicht mit der hohen Konzentration von Elektronen
oder Defektelektronen kann durch Erzeugung einer Anreicherungs-
Randschicht oder durch Einbau einer entsprechend hohen Konzentra
tion von Donatoren oder Akzeptoren in an sich bekannter Weise z. B.
mit Hilfe von influenzierter Ladung oder mit Hilfe von Eindif
fusion, lonenimplantation oder Einlegieren von Dotierungsmaterial
in die Halbleiteroberfläche erzeugt sein. Die Deckschicht aus
Metall, einer Metall-Legierung, einer metallisch leitenden Ver
bindung oder aus Supraleiter kann in ebenfalls an sich bekannter
Weise auf die hochdotierte Halbleiteroberfläche aufgebracht sein.
Geeignete Verfahren sind z. B. das Aufsputtern, das Aufdampfen
im Hochvakuum und das pyrolytische oder elektrochemische Abschei
den. Als Metalle eignen sich vor allem die Metalle der IV- bis
VIl-Gruppe des Periodischen Systems der Elemente sowie die Ei
sen- und Platin-Metalle. Unter den metallisch leitenden Verbin
dungen sind besonders die Silizide, Carbide, Nitride und Boride
geeignet. Als Supraleiter sind die klassischen Tieftemperatursup
raleiter und aber auch die oxidischen Supraleiter - z. B. auf der Ba
sis Kupferoxid - mit Vorteil verwendbar. Als Halbleitermaterialien
für die beiden ungleich temperierten Teile eines Thermoschenkels
eignen sich Element-Halbleiter wie z. B. Silizium oder Germanium
oder auch Verbindungshalbleiter wie z. B. SiC, III/V-Verbindungen
oder II/IV-Verbindungen.
Zur Reduzierung der Wärmeverluste durch Strahlung und zur besseren
Anpassung an die Verhältnisse bei großen Temperaturdifferenzen
kann eine thermoelektrische Anordnung auch aus zwei oder mehreren
Thermoschenkeln aus je zwei getrennten und ungleich temperierten
Teilen thermisch und elektrisch in Serie zu einem segmentierten
Thermoschenkel zusammengesetzt sein.
Der mechanische Druck auf die Berührungsstellen zwischen den bei
den Teilen des Thermoschenkels kann mit Hilfe eines Magnetfeldes
erzeugt sein. Der mechanische Druck auf die Berührungsstellen
kann aber auch aus der Druck-Differenz zwischen dem Vakuum in der
Umgebung der Druck-Kontakte und der umgebenden Atmosphäre erzeugt
sein.
Ein Thermoschenkel kann gemäß der Erfindung in einem eigenen Vaku
umgefäß untergebracht sein. Es können sich jedoch auch ein n-Schen
kel und ein p-Schenkel als Seebeck-Element oder als Peltier-Element
in einem gemeinsamen Vakuumgehäuse befinden. Auch mehrere Seebeck-
Elemente und Peltier-Elemente können in einem gemeinsamen Vakuumge
häuse untergebracht sein. Die thermoelektrische Anordnung der Er
findung kann auch zusammen mit einem Supraleiter oder mit einer
supraleitenden Anordnung eine Funktionseinheit bilden. Auch als
Funktionseinheit von Thermogenerator und Wärmepumpe kann die ther
moelektrische Anordnung mit Vorteil benutzt werden.
Ausführungsbeispiele der Erfindung sollen nachstehend näher erläu
tert werden.
In der Zeichnung zeigt:
Fig. 1 im Querschnitt einen Druck-Kontakt zwischen den beiden un
gleich temperierten Teilen eines thermoelektrischen p-Schenkels,
Fig. 2 schematisch im Querschnitt ein Peltier-Element mit einem
p/p- und einem n/n-Druck-Kontakt mit Deckschichten aus einem Su
praleiter.
Fig. 3 schematisch im Querschnitt ein Seebeck-Element mit je einem
Ausschnitt aus einem segmentierten p-Schenkel und einem segmentier
ten n-Schenkel,
Fig. 4 zeigt im Querschnitt einen p-Schenkel im eigenen Vakuumge
häuse mit magnetisch erzeugtem Druck zwischen den beiden Teilen
des p-Schenkels,
Fig. 5 zeigt einen p-Schenkel und einen n-Schenkel in einem ge
meinsamen Vakuumgehäuse,
Fig. 6 zeigt im Querschnitt die Funktionseinheit eines Peltier
kühlers mit einer supraleitenden Anordnung.
In Fig. 1 ist das thermoelektrische p-Material 1 eine Silizium
scheibe mit einem spezifischen Widerstand von 0,01 Ωcm. Die
Siliziumscheibe hat als Folge eines Vakuum-Temperprozesses eine p-
leitende Oberflächenschicht 2 in Form einer Anreicherungs-Rand
schicht, welche an der Oberfläche eine Defektelektronenkonzentra
tion von < 1×1019 /cm3 aufweist. Als Folge dieser hohen Konzen
tration liegt das Fermi-Niveau sehr nahe am Valenzband. Die Dic
ke dieser Oberflächenschicht 2 ist kleiner als die freie Weglänge 5
der Defektelektronen in der p-leitenden Silizium-Scheibe 1 mit einem
spez. elektrischen Widerstand von 0,01 Ωcm. Auf diese Oberflächen
schicht 2 ist in an sich bekannter Weise eine metallisch leitende
Schicht 3 von Platinsilizid aufgebracht worden, welche die Ober
flächenschicht 2 sperrfrei kontaktiert. Die Dicke dieser metal
lisch leitenden Platinsilizidschicht 3 ist etwa 5×10-7 cm. Die
beiden Siliziumscheiben 1 mit den Oberflächenschichten 2 und den
metallisch leitenden Schichten 3 gehören zu den beiden getrenn
ten Teilen eines thermoelektrischen p-Schenkels, welche sich auf
den Temperaturen T 1 und T 2 befinden. Sie berühren sich unter me
chanischem Druck mit ihren beiden metallisch leitenden Platin-
Silizid-Schichten 3. Dadurch entsteht ein elektrischer und ther
mischer Druck-Kontakt mit dem Tunnelspalt 4. Eine elektrische
Potentialdifferenz (+, -) zwischen den beiden Teilen bewirkt ei
nen stark eingeschnürten und damit quantisierten ballistischen
Transport von Nichtgleichgewichts-Defektelektronen von der rech
ten zur linken Seite des Kontaktes. Die mittlere freie Weglänge 5
der Defektelektronen ist größer als die Dicke der Oberflächen
schichten 2 und der Deckschichten 3. Der Druck-Kontakt ist von
Vakuum 6 mit einem Restdruck ≦ 1×10-4 Torr umgeben.
In Fig. 2 sind 1 und 7 die jeweils getrennten Teile des p-Schen
kels und des n-Schenkels eines Peltierelements. 1 besteht aus p-
leitendem und 7 aus n-leitendem einkristallinem Galliumarsenid
mit 0,3 Ωcm bzw. 0,1 Ωcm spez. elektrischem Widerstand.
2 ist eine Oberflächenschicht, welche ebenso wie 8 in an sich be
kannter Weise mit Hilfe von Ionenimplantation von Akzeptoren bzw.
Donatoren mit anschließendem Ausheilen der Gitterdefekte erzeugt
wurde. Die Ionenimplantation wurde durch eine 40 Å dicke Barium
titanatschicht (auf dem Galliumarsenid 1 und 7) hindurch durchge
führt.
Auf die Oberflächenschichten 2 und 8 ist jeweils eine 2×10-6 cm
dicke Deck-Schicht 3 aus SrBiCaCu2O6 in an sich bekannter Weise
aufgebracht und mit LASER-Puls annealed. Die beiden getrennten
Teile des p-Schenkels und die beiden getrennten Teile des n-Schen
kels berühren sich in den Druck-Kontakten mit den Deck-Schichten 3
aus SrBiCaCu2O6 über die Tunnelspalte 4. Die sperrfreien Anschlüs
se 13 und 14 an dem p-Schenkel und dem n-Schenkel sind auf einer
Temperatur T < 90° K festgehalten. Dadurch sind die Deckschich
ten 3 aus SrBiCaCu2O6 auf den Oberflächenschichten 2 und 8 supra
leitende Schichten. Da diese - ebenso wie die Oberflächenschich
ten 2 und 8 - dünner sind als die freie Weglänge der Defektelek
tronen im p-GaAs und der Elektronen im n-GaAs fließt der Peltier
strom 12 durch die supraleitenden Druck-Kontakte als ballistischer
Transport von Defektelektronen und Elektronen. In den supraleiten
den Kontakten gibt es keine Kontaktwiderstände, aber der Wärmewi
derstand des p-Schenkels und des n-Schenkels sind vergrößert um
die Wärme-Querwiderstände der supraleitenden Deck-Schichten 3 in
den Druck-Kontakten. Das Peltierelement ist von Vakuum 6 umgeben.
Der Peltierstrom 12 fließt im Außenkreis über den Widerstand 11
und die Spannungsquelle 10. Als Folge des Peltierstromes 12 kühlt
sich die leitende Brücke 9 zwischen dem p-Schenkel und dem n-
Schenkel auf die Temperatur T 1 ab.
In Fig. 3 bilden vier p-Silizium-Scheiben 1 von 0.01 Ωcm mit drei
elektrisch und thermisch in Serie geschalteten Druck-Kontakten den
p-Schenkel. Der n-Schenkel besteht aus vier n-Silizium-Scheiben 7
von 0,02 Ωcm mit drei elektrisch und thermisch in Serie geschalte
ten Druck-Kontakten. Die innere p-Scheibe 1 und die innere n-Schei
be 7 sind sperrfrei mit der elektrisch leitenden Brücke 9 verbun
den. Die äußere p-Scheibe 1 ist sperrfrei mit dem Anschluß 13 und
die äußere n-Scheibe 7 mit dem Anschluß 14 sperrfrei verbunden.
Die Druckkontakte zwischen den p-Scheiben 1, die mit den Ober
flächenschichten 2 und den Deckschichten 3 aus Iridiumsilizid über
zogen sind, erzeugen über die Tunnelspalte 4 elektrische und ther
mische Verbindungen. Ebenso sind die n-Scheiben 7 mit den Ober
flächenschichten 8 und den Deckschichten 3 aus Tantalsilizid über
Tunnelspalte 4 elektrisch und thermisch verbunden. 6 ist das um
gebende Vakuum. Die elektrisch leitende Brücke 9 ist durch Wärme
zufuhr von außen auf der Temperatur T 1=700° K festgehalten.
Die Anschlüsse 13 und 14 sind auf 30°C gekühlt. Der Generator
strom 15 fließt über den Verbraucherwiderstand 11.
In Fig. 4 sind zwei p-leitende Halbleiterscheiben 1 aus Silizium
carbid über die sperrfreien Kontakte 16 und 17 mit dem ferromagne
tischen Träger 18 und dem Magneten 19 verbunden. Die Siliziumcar
bid-Scheiben 1 werden durch die Anziehungskraft zwischen dem Mag
neten 19 und dem ferromagnetischen Träger 18 zusammengepreßt. Da
durch entstehen Druck-Kontakte zwischen den beiden Siliziumcarbid
scheiben 1. Die Druck-Kontakt-Seiten der Siliziumcarbidscheiben 1
haben Oberflächenschichten 2, auf welche Deckschichten 3 aus Tan
talcarbid mit einer Dicke < 1×10-6 cm aufgebracht sind. Die
Druckkontakte zwischen den beiden Scheiben 1 sind dadurch Tunnel
kontakte 4 zwischen Tantal-Carbid-Oberflächen 3. 20 ist ein Kera
mik-Gehäuse, welches evakuiert 6 ist.
In Fig. 5 sind zwei p-leitende Halbleiterscheiben 1 und zwei n-lei
tende Halbleiterscheiben 7 in einem Vakuumgehäuse 6 aufgebaut. Eine
p-Scheibe 1 und eine n-Scheibe 7 sind sperrfrei auf die metallisch
leitende Brücke 9 legiert. Die andere p-Scheibe 1 und die andere n-
Scheibe 7 ist ebenfalls sperrfrei mit dem elektrischen Anschluß 13
bzw. 14 verbunden. Die Anschlüsse 13 und 14 sind auf der Tempera
tur T 2 festgehalten. Zu diesem Zweck sind sie über die Federn 21
elektrisch und thermisch gut leitend mit den beiden voneinander
isolierten Bodenplatten 23 und 24 des Glasgehäuses 20 verbunden.
Die Federn 21 können über die beiden Schrauben 22 zusammengedrückt
werden. Damit wird der Kontaktdruck zwischen den beiden Teilen der
Thermoschenkel eingestellt. Über den Kontaktdruck ist die maximale
Leistungsabgabe - bei Betrieb als Seebeck-Element - oder die maxi
male Leistungsaufnahme (Kühlleistung) - bei Betrieb als Peltier-
Element - einstellbar. Auf den Kontaktseiten tragen die beiden
Halbleiterscheiben 1 bzw. 7 Oberflächenschichten 2 bzw. 8 und je
eine metallische Deckschicht 3. Die Druckkontakte leiten über die
Tunnelspalte 4.
Fig. 6 zeigt schematisch eine supraleitende Anordnung 28, welche
mit ihren elektrischen Anschlüssen 29 in dem Keramikrohr 25 auf
gebaut ist. Die leitenden Brücken 9 eines Peltier-Kühlers sind
im Wärmekontakt mit dem Keramikrohr 25. Sie kühlen dieses auf die
Temperatur T 1 für den supraleitenden Betrieb von 28. Die Schenkel
des Peltierkühlers bestehen aus p-Silizium-Epitax-Scheiben 1 mit
einem spez. el. Widerstand der Epitax-Schicht von 3-4 Ωcm und
n-Silizium-Epitax-Scheiben 7 mit einem spez. el. Widerstand der
Epitax-Schicht von 0,8-1,2 Ωcm. Diese Scheiben 1 und 7 sind
einseitig mit den leitenden Brücken 9 bzw. 26 oder mit den elek
trischen Anschlüssen 13 bzw. 14 sperrfrei verbunden. Die leiten
den Brücken 26 und die Anschlüsse 13 und 14 sind auf der Tempera
tur T 2 festgehalten. Zwischen den paarweisen Epitaxscheiben 1 und 7,
die jeweils einseitig strukturiert sind, gibt es eine Vielzahl
geometrisch gleich großer Druck-Kontakte mit Durchmessern < 1×10-4 cm.
Außerdem haben die Silizium-Epitaxscheiben 1 und 7 jeweils eine
Oberflächenschicht 2 bzw. 8 mit einer Ladungsträgerkonzentra
tion < 5×1019 /cm3. Auf den Oberflächenschichten 2 bzw. 8 befinden
sich metallische Deckschichten 3. Der Peltierstrom fließt als bal
listische Trägerinjektion durch die Tunnelspalte 4 und die metal
lischen Deckschichten 3 sowie durch die Oberflächenschichten 2
bzw. 8. Da die Tunnelkontakte ein Verhältnis von elektrischem zum
Wärmewiderstand haben, welches dem Gesetz von Wiedemann-Franz-
Lorenz gehorcht (wie bei Metallen) und andererseits der Peltier-
Kühler die hohe Thermospannung der Silizium-Epitax-Zonen auf
weist, wird eine Kühltemperatur T 1 erreicht, bei welcher die su
praleitende Anordnung 28 arbeitet. 20 ist das Glasgehäuse des
Peltier-Kühlers, welches evakuiert 6 ist.
Bezugszeichenliste
1 p-Halbleiter
2 Oberflächenschicht mit hoher Defektelektronen-
Konzentration
3 metallisch leitende oder supraleitende Deckschicht
4 Tunnelspalt zwischen den Deckschichten 3
5 mittlere freie Weglänge
6 Vakuum
7 n-Halbleiter
8 Oberflächenschicht mit hoher Elektronen-
Konzentration
9 metallische Brücke zwischen dem p- und dem
n-Schenkel
10 Stromquelle
11 elektrischer Widerstand
12 Peltier-Strom
13 elektrischer Anschluß des p-Schenkels auf der
konstanten Temperatur T₂
14 elektrischer Anschluß des n-Schenkels auf der
konstanten Temperatur T₂
15 Seebeck-Strom
16 sperrfreier Kontakt zwischen dem ferromagnetischen
Träger 18 und dem p-Schenkel
17 sperrfreier Kontakt zwischen dem Magneten 19 und
dem p-Schenkel
18 ferromagnetischer Träger
19 Magnet
20 Glasgehäuse
21 Druckfeder
22 Schraube
23 Bodenplatte des p-Schenkels
24 Bodenplatte des n-Schenkels
25 Keramik-Rohr
26 metallische Brücke zwischen dem p-Schenkel und dem
n-Schenkel auf der Temperatur T₂
27 elektrischer Anschluß des Peltier-Kühlers
28 supraleitende Anordnung
29 elektrischer Anschluß an 28
2 Oberflächenschicht mit hoher Defektelektronen-
Konzentration
3 metallisch leitende oder supraleitende Deckschicht
4 Tunnelspalt zwischen den Deckschichten 3
5 mittlere freie Weglänge
6 Vakuum
7 n-Halbleiter
8 Oberflächenschicht mit hoher Elektronen-
Konzentration
9 metallische Brücke zwischen dem p- und dem
n-Schenkel
10 Stromquelle
11 elektrischer Widerstand
12 Peltier-Strom
13 elektrischer Anschluß des p-Schenkels auf der
konstanten Temperatur T₂
14 elektrischer Anschluß des n-Schenkels auf der
konstanten Temperatur T₂
15 Seebeck-Strom
16 sperrfreier Kontakt zwischen dem ferromagnetischen
Träger 18 und dem p-Schenkel
17 sperrfreier Kontakt zwischen dem Magneten 19 und
dem p-Schenkel
18 ferromagnetischer Träger
19 Magnet
20 Glasgehäuse
21 Druckfeder
22 Schraube
23 Bodenplatte des p-Schenkels
24 Bodenplatte des n-Schenkels
25 Keramik-Rohr
26 metallische Brücke zwischen dem p-Schenkel und dem
n-Schenkel auf der Temperatur T₂
27 elektrischer Anschluß des Peltier-Kühlers
28 supraleitende Anordnung
29 elektrischer Anschluß an 28
Claims (13)
1. Thermoelektrische Anordnung, bei welcher ein Thermoschenkel
aus zwei getrennten und ungleich temperierten Teilen besteht,
welche sich an mindestens einer Stelle stationär berühren,
wobei die Berührungsstellen so ausgebildet sind, daß sie mit
Hilfe von mechanischem Druck erzeugte thermische und elek
trische Kontakte mit durchtunnelbarer Potentialbarriere sind,
durch welche ein Wärmestrom mit einem Temperaturgradienten
<104 °K/cm fließt, dadurch gekennzeichnet, daß die ungleich
temperierten Teile des Thermoschenkels aus n-leitendem oder
aus p-leitendem einkristallinem, polykristallinem oder amor
phem Halbleitermaterial bestehen, daß dieses Halbleiterma
terial mindestens an seiner Oberfläche eine so hohe Konzen
tration von Elektronen oder Defektelektronen aufweist, daß
dort das Fermi-Niveau bei Raumtemperatur einen Abstand vom
Leitungsband bzw. vom Valenzband hat, welcher höchstens ein
Zehntel des Halbleiter-Bandabstandes beträgt, daß auf diese
Halbleiteroberfläche eine Deckschicht aus Metall, aus einer
Metall-Legierung, aus einer metallisch leitenden Verbindung
oder aus einem Supraleiter aufgebracht ist, so daß die Druck-
Kontakte zwischen den beiden ungleich temperierten Teilen des
Thermoschenkels Tunnelkontakte zwischen metallisch leitendem
oder supra-leitendem Material sind, und daß die Dicke der
Deck-Schicht kleiner ist als die mittlere freie Weglänge der
Majoritätsladungsträger im Halbleitermaterial, aus welchem
die ungleich temperierten Teile des Thermoschenkels bestehen.
2. Thermoelektrische Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß der mittlere Durchmesser der Druck-Kontakte zwi
schen den beiden ungleich temperierten Teilen des Thermoschen
kels so klein ist, daß die Größe des Gesamt-Wärmewiderstandes
der thermoelektrischen Anordnung durch die Tunnelkontakte zwi
schen den beiden ungleich temperierten Teilen des Thermoschen
kels bestimmt wird.
3. Thermoelektrische Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die ungleich temperierten Teile des Thermoschen
kels aus zwei Halbleiterscheiben bestehen, und daß mindestens
eine Halbleiterscheibe so an ihrer Oberfläche strukturiert
ist, daß die Berührung zwischen den beiden Halbleiterscheiben
eine Vielzahl von Druck-Kontakten mit Durchmessern ≦ 1×10-4 cm
ergibt.
4. Thermoelektrische Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß der elektrische Widerstand und damit die Lei
stungsabgabe oder Leistungsaufnahme eines Thermoschenkels über
die Größe des mechanischen Drucks eingestellt wird.
5. Thermoelektrische Anordnung, nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die ungleich temperierten
Teile des Thermoschenkels aus Element-Halbleitern wie z. B.
Germanium oder Silizium oder aus Verbindungshalbleitern wie
z. B. SiC, III/V-Verbindungen oder II/VI-Verbindungen bestehen.
6. Thermoelektrische Anordnung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß zur Reduzierung der Wärme
verluste durch Strahlung und zur besseren Anpassung an große
Temperaturdifferenzen zwei oder mehrere Thermoschenkel aus je
zwei getrennten und ungleich temperierten Teilen, thermisch und
elektrisch in Serie zu einem segmentierten Thermoschenkel zu
sammengesetzt sind.
7. Thermoelektrische Anordnung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden ungleich tem
perierten Teile des Thermoschenkels durch mechanischen Druck
zusammengehalten werden, welcher mit Hilfe eines Magnetfeldes
erzeugt ist.
8. Thermoelektrische Anordnung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens die Tunnelkontak
te zwischen den beiden ungleich temperierten Teilen des Thermo
schenkels - zur Reduzierung der thermischen Nebenschlüsse - von
Vakuum umgeben sind, und daß der mechanische Druck, mit dem die
Kontaktwiderstände zusammengehalten werden, aus der Druckdif
ferenz zwischen dem Vakuum und der umgebenden Atmosphäre stammt.
9. Thermoelektrische Anordnung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß ein Thermoschenkel gemäß
der Erfindung in einem eigenen Vakuumgehäuse untergebracht ist.
10. Thermoelektrische Anordnung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß ein Seebeckelement oder
ein Peltierelement mit einem p-Schenkel und einem n-Schenkel
gemäß der Erfindung - oder mehrere Seebeckelemente oder Pel
tier-Elemente gemäß der Erfindung - in einem gemeinsamen Vaku
umgehäuse untergebracht sind.
11. Thermoelektrische Anordnung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß ein Seebeckelement oder
ein Peltierelement gemäß der Erfindung - oder eine Mehrzahl
dieser Seebeckelemente oder Peltierelemente parallel und in
Serie geschaltet - als Thermogenerator oder als Peltier-Küh
ler benutzt ist.
12. Thermoelektrische Anordnung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eine thermoelektrische An
ordnung gemäß der Erfindung zusammen mit einem Supraleiter oder
mit einer supraleitenden Anordnung eine Funktionseinheit bildet.
13. Thermoelektrische Anordnung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß eine thermoelektrische An
ordnung gemäß der Erfindung als Thermogenerator mit einer ther
moelektrischen Anordnung als Wärmepumpe eine Funktionseinheit
bildet.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3818192A DE3818192A1 (de) | 1988-05-28 | 1988-05-28 | Thermoelektrische anordnung mit tunnelkontakten |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE3818192A DE3818192A1 (de) | 1988-05-28 | 1988-05-28 | Thermoelektrische anordnung mit tunnelkontakten |
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Publication Number | Publication Date |
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DE3818192A1 true DE3818192A1 (de) | 1989-12-07 |
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ID=40083620
Family Applications (1)
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DE3818192A Withdrawn DE3818192A1 (de) | 1988-05-28 | 1988-05-28 | Thermoelektrische anordnung mit tunnelkontakten |
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---|---|
DE (1) | DE3818192A1 (de) |
Cited By (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0843323A1 (de) * | 1996-11-14 | 1998-05-20 | The Director-General of the National Institute for Fusion Science | Aus Material mit abhängigem Gradienten hergestellte Stromzuleiter für supraleitende Spule |
EP1166369A1 (de) * | 1999-03-11 | 2002-01-02 | Eneco, Inc. | Thermoionischer hybridenergiewandler und methode |
WO2002047178A2 (en) * | 2000-12-07 | 2002-06-13 | International Business Machines Corporation | Thermoelectric devices |
WO2002047176A2 (en) * | 2000-12-07 | 2002-06-13 | International Business Machines Corporation | Enhanced interface thermoelectric coolers |
WO2002047177A2 (en) * | 2000-12-07 | 2002-06-13 | International Business Machines Corporation | Enhanced interface thermoelectric coolers |
WO2004040617A2 (en) * | 2002-10-20 | 2004-05-13 | Borealis Technical Limited | Thermoelectric material with integrated de broglie wave filter |
WO2005112139A2 (en) * | 2004-05-04 | 2005-11-24 | Massachusetts Institute Of Technology | Surface plasmon coupled nonequilibrium thermoelectric devices |
WO2006035255A2 (en) * | 2004-09-29 | 2006-04-06 | Elthom Enterprises Limited | A method of transformation of heat and work in reversible cyclic thermoelectrical cycles transformations and a thermoelectric transformer |
WO2006081102A3 (en) * | 2005-01-26 | 2007-06-07 | Boeing Co | Methods and apparatus for thermal isolation for thermoelectric devices |
WO2007081483A2 (en) * | 2005-12-15 | 2007-07-19 | The Boeing Company | Thermoelectric tunnelling device |
US7566897B2 (en) | 2006-09-18 | 2009-07-28 | Borealis Technical Limited | Quantum interference device |
US7569763B2 (en) | 1999-03-11 | 2009-08-04 | Micropower Global Limited | Solid state energy converter |
US7658772B2 (en) | 1997-09-08 | 2010-02-09 | Borealis Technical Limited | Process for making electrode pairs |
US7880079B2 (en) | 2005-07-29 | 2011-02-01 | The Boeing Company | Dual gap thermo-tunneling apparatus and methods |
US7935954B2 (en) | 1998-06-08 | 2011-05-03 | Borealis Technical Limited | Artificial band gap |
US8227885B2 (en) | 2006-07-05 | 2012-07-24 | Borealis Technical Limited | Selective light absorbing semiconductor surface |
US8330192B2 (en) | 2005-01-24 | 2012-12-11 | Borealis Technical Limited | Method for modification of built in potential of diodes |
US8574663B2 (en) | 2002-03-22 | 2013-11-05 | Borealis Technical Limited | Surface pairs |
US8594803B2 (en) | 2006-09-12 | 2013-11-26 | Borealis Technical Limited | Biothermal power generator |
US8816192B1 (en) | 2007-02-09 | 2014-08-26 | Borealis Technical Limited | Thin film solar cell |
-
1988
- 1988-05-28 DE DE3818192A patent/DE3818192A1/de not_active Withdrawn
Cited By (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0843323A1 (de) * | 1996-11-14 | 1998-05-20 | The Director-General of the National Institute for Fusion Science | Aus Material mit abhängigem Gradienten hergestellte Stromzuleiter für supraleitende Spule |
US6069395A (en) * | 1996-11-14 | 2000-05-30 | The Director-General Of The National Institute Of Fusion Science | Current leads adapted for use with superconducting coil and formed of functionally gradient material |
US7658772B2 (en) | 1997-09-08 | 2010-02-09 | Borealis Technical Limited | Process for making electrode pairs |
US7935954B2 (en) | 1998-06-08 | 2011-05-03 | Borealis Technical Limited | Artificial band gap |
US7569763B2 (en) | 1999-03-11 | 2009-08-04 | Micropower Global Limited | Solid state energy converter |
EP1166369A4 (de) * | 1999-03-11 | 2006-12-27 | Eneco Inc | Thermoionischer hybridenergiewandler und methode |
EP1166369A1 (de) * | 1999-03-11 | 2002-01-02 | Eneco, Inc. | Thermoionischer hybridenergiewandler und methode |
WO2002047178A3 (en) * | 2000-12-07 | 2003-09-12 | Ibm | Thermoelectric devices |
WO2002047176A3 (en) * | 2000-12-07 | 2002-12-05 | Ibm | Enhanced interface thermoelectric coolers |
WO2002047176A2 (en) * | 2000-12-07 | 2002-06-13 | International Business Machines Corporation | Enhanced interface thermoelectric coolers |
WO2002047177A2 (en) * | 2000-12-07 | 2002-06-13 | International Business Machines Corporation | Enhanced interface thermoelectric coolers |
US6740600B2 (en) | 2000-12-07 | 2004-05-25 | International Business Machines Corporation | Enhanced interface thermoelectric coolers with all-metals tips |
WO2002047178A2 (en) * | 2000-12-07 | 2002-06-13 | International Business Machines Corporation | Thermoelectric devices |
US6608250B2 (en) | 2000-12-07 | 2003-08-19 | International Business Machines Corporation | Enhanced interface thermoelectric coolers using etched thermoelectric material tips |
WO2002047177A3 (en) * | 2000-12-07 | 2002-12-05 | Ibm | Enhanced interface thermoelectric coolers |
US8574663B2 (en) | 2002-03-22 | 2013-11-05 | Borealis Technical Limited | Surface pairs |
WO2004040617A3 (en) * | 2002-10-20 | 2004-08-19 | Borealis Tech Ltd | Thermoelectric material with integrated de broglie wave filter |
WO2004040617A2 (en) * | 2002-10-20 | 2004-05-13 | Borealis Technical Limited | Thermoelectric material with integrated de broglie wave filter |
WO2005112139A3 (en) * | 2004-05-04 | 2006-05-18 | Massachusetts Inst Technology | Surface plasmon coupled nonequilibrium thermoelectric devices |
WO2005112139A2 (en) * | 2004-05-04 | 2005-11-24 | Massachusetts Institute Of Technology | Surface plasmon coupled nonequilibrium thermoelectric devices |
US7508110B2 (en) | 2004-05-04 | 2009-03-24 | Massachusetts Institute Of Technology | Surface plasmon coupled nonequilibrium thermoelectric devices |
WO2006035255A3 (en) * | 2004-09-29 | 2007-10-04 | Elthom Entpr Ltd | A method of transformation of heat and work in reversible cyclic thermoelectrical cycles transformations and a thermoelectric transformer |
WO2006035255A2 (en) * | 2004-09-29 | 2006-04-06 | Elthom Enterprises Limited | A method of transformation of heat and work in reversible cyclic thermoelectrical cycles transformations and a thermoelectric transformer |
US8330192B2 (en) | 2005-01-24 | 2012-12-11 | Borealis Technical Limited | Method for modification of built in potential of diodes |
US7557487B2 (en) | 2005-01-26 | 2009-07-07 | The Boeing Company | Methods and apparatus for thermal isolation for thermoelectric devices |
WO2006081102A3 (en) * | 2005-01-26 | 2007-06-07 | Boeing Co | Methods and apparatus for thermal isolation for thermoelectric devices |
EP2369654A3 (de) * | 2005-01-26 | 2013-10-23 | The Boeing Company | Verfahren und Vorrichtung zur Wärmeisolierung von thermoelektrischen Vorrichtungen |
US7880079B2 (en) | 2005-07-29 | 2011-02-01 | The Boeing Company | Dual gap thermo-tunneling apparatus and methods |
WO2007081483A3 (en) * | 2005-12-15 | 2008-07-03 | Boeing Co | Thermoelectric tunnelling device |
WO2007081483A2 (en) * | 2005-12-15 | 2007-07-19 | The Boeing Company | Thermoelectric tunnelling device |
US8227885B2 (en) | 2006-07-05 | 2012-07-24 | Borealis Technical Limited | Selective light absorbing semiconductor surface |
US8594803B2 (en) | 2006-09-12 | 2013-11-26 | Borealis Technical Limited | Biothermal power generator |
US7566897B2 (en) | 2006-09-18 | 2009-07-28 | Borealis Technical Limited | Quantum interference device |
US8816192B1 (en) | 2007-02-09 | 2014-08-26 | Borealis Technical Limited | Thin film solar cell |
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Date | Code | Title | Description |
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8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |