DE4003758C2 - Schaltungsanordnung zum Mindern der Auswirkungen falsch angepaßter Impedanzelemente - Google Patents
Schaltungsanordnung zum Mindern der Auswirkungen falsch angepaßter ImpedanzelementeInfo
- Publication number
- DE4003758C2 DE4003758C2 DE4003758A DE4003758A DE4003758C2 DE 4003758 C2 DE4003758 C2 DE 4003758C2 DE 4003758 A DE4003758 A DE 4003758A DE 4003758 A DE4003758 A DE 4003758A DE 4003758 C2 DE4003758 C2 DE 4003758C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- impedance elements
- switches
- switch
- circuit arrangement
- capacitors
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/06—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
- H03M1/0617—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence
- H03M1/0634—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence by averaging out the errors, e.g. using sliding scale
- H03M1/0656—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence by averaging out the errors, e.g. using sliding scale in the time domain, e.g. using intended jitter as a dither signal
- H03M1/066—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence by averaging out the errors, e.g. using sliding scale in the time domain, e.g. using intended jitter as a dither signal by continuously permuting the elements used, i.e. dynamic element matching
- H03M1/0673—Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters characterised by the use of methods or means not specific to a particular type of detrimental influence by averaging out the errors, e.g. using sliding scale in the time domain, e.g. using intended jitter as a dither signal by continuously permuting the elements used, i.e. dynamic element matching using random selection of the elements
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/12—Analogue/digital converters
- H03M1/34—Analogue value compared with reference values
- H03M1/38—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type
- H03M1/46—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type with digital/analogue converter for supplying reference values to converter
- H03M1/466—Analogue value compared with reference values sequentially only, e.g. successive approximation type with digital/analogue converter for supplying reference values to converter using switched capacitors
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/66—Digital/analogue converters
- H03M1/74—Simultaneous conversion
- H03M1/80—Simultaneous conversion using weighted impedances
- H03M1/802—Simultaneous conversion using weighted impedances using capacitors, e.g. neuron-mos transistors, charge coupled devices
- H03M1/804—Simultaneous conversion using weighted impedances using capacitors, e.g. neuron-mos transistors, charge coupled devices with charge redistribution
- H03M1/806—Simultaneous conversion using weighted impedances using capacitors, e.g. neuron-mos transistors, charge coupled devices with charge redistribution with equally weighted capacitors which are switched by unary decoded digital signals
Description
Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung mit einer Mehrzahl
von Impedanzelementen, deren Impedanzen im wesentlichen
gleich sind, sowie ein Verfahren zum Mindern der Auswirkungen
von Komponenten-Fehlanpassungen in einem Analog/Digital-(A/D)-
Konverter mit einer Mehrzahl von Impedanzelementen annähernd
gleicher Impedanz, die an eine Mehrzahl von Schaltern angeschlossen
sind, wobei jeder der Schalter mit einer von mehreren
Gruppen der Impedanzelemente verbunden ist.
Es ist häufig erforderlich, ein Analogsignal in ein Digitalsi
gnal unzuwandeln. Für solche Signalumwandlungen wird ein Ana
log/Digital-(A/D)-Konverter verwendet. Im Stande der Technik
finden sich mehrere Typen von A/D-Konvertern.
Ein einfaches Verfahren zur A/D-Umformung ist bekannt als Nachlauf-
Umformung, wobei ein analoges Eingangssignal an einen Komparator
angelegt wird, und zwar zusammen mit dem Ausgang eines
Digital/Analog-(D/A)-Konverters. Der Ausgang des Kompa
rators ist an einen Aufwärts/Abwärts-Zähler angeschlossen, und der
Ausgang des Zählers ist an den Eingang des D/A-Konverters angelegt.
Wenn der Analogeingang höher liegt als der Ausgang des
D/A-Konverters, zählt der Zähler aufwärts. Wenn der Ana
logeingang niedriger liegt als der D/A-Konverter, zählt der Zähler
abwärts. Der Ausgang des Konverters ist konstant, wenn ein
Wechsel von einem Zählschritt nach oben oder nach unten den
Konverterausgang dazu veranlaßt, das Vorzeichen zu wechseln.
Die DE 31 24 833 A1 beschreibt einen Digital/Analog-Umsetzer,
in welchem Konstantstromquellen eine Anzahl von im wesentlichen
gleichen Strömen erzeugen, welche dann zur Erzeugung des Analogsignals
verwendet werden. Da diese Ströme nicht exakt gleich
sind, d. h. von ihren Nennwerten abweichen, kommt es zu einem
fehlerhaften bzw. nichtlinearen Analogsignal. Dieser Fehler
wird dadurch verringert, daß nach einem zyklisch permutierenden
Muster die im wesentlichen gleichen Ströme verschiedenen Stromausgängen
zugeschaltet und ausschließlich einer Ausmittelschaltung
zugeführt werden, die eine durch Ungleichheit der Ströme
entstandene Wechselstromkomponente ausmittelt.
Ein die oben beschriebene Nachlauf-Umformung anwendender A/D-
Konverter ist bekannt als schrittweiser Annäherungskonverter.
Dabei kommt ein sogenanntes Ladungs-Umverteilungsverfahren zur
Anwendung, bei dem ein Feld von Kondensatoren und/oder Widerständen
eingesetzt wird, um einen Bereich von Werten zur Definition
des Pegels eines analogen Eingangssignals zur Verfügung
zu stellen. Beispielsweise werden verschiedene Kondensatoren
verwendet, deren Kapazitätswerte in einem Binärverhältnis zueinander
stehen. Beträgt beispielsweise die Kapazität des
kleinsten Kondensators C Farad, so sind außerdem Kondensatoren
mit den Kapazitätswerten 2C, 4C, 8C, 16C, 32C etc. vorhanden.
Je größer die Anzahl der Kapazitätswerte, desto genauer ist die
Umwandlung der Analogsignale in Digitalsignale.
Ein A/D-Konverter mit einer Präzision von 2N Bits benötigt N
Pegel von Kapazitätswerten in binärer Folge (1, 2, 4, 8, etc.).
Dementsprechend benötigt ein A/D-Konverter mit einer Präzision
von 8 Bits drei Kondensatoren mit den zugehörigen Kapazitäten
C, 2C und 4C. Auf diese Weise können durch ein geeignetes
Schaltverfahren Kapazitätspegel von C, 2C, 3C (C+2C), 4C,
5C(4C+C), 6C(4C+2C) und 7C(4C+2C+C) definiert werden.
Ein Verfahren zur Schaffung eines solchen A/D-Konverters in einer
integrierten Schaltung besteht darin, drei Kondensatoren
auszubilden, wobei jeder nachfolgende Kondensator eine größere
Fläche hat, so daß ein Kapazitätsverhältnis von 1 : 2 : 4 erzielt
wird. Allerdings ist es bei der Herstellung von Schaltungen
schwierig, derartige Kondensatoren reproduzierbar in richtiger
Größe zu erzeugen. Es hat sich als einfacher herausgestellt,
ein Feld gleich großer Kondensatoren vorzusehen und diese Kondensatoren
im gewünschten Verhältnis der Kapazitätswerte zusammenzufassen.
Im Falle eines 8-Bit-A-A/D-Konverters werden vier
Kondensatoren des Wertes C an einen ersten SAR-Schalter angeschlossen,
während zwei Kondensatoren des Wertes C an einen
zweiten SAR-Schalter angeschlossen werden und ein einzelner
Kondensator mit einem dritten SAR-Schalter verbunden wird.
Ein Beispiel für einen derartigen A/D-Konverter aus dem Stande
der Technik ist in Fig. 1 dargestellt. Es ist ein Feld gleich
großer Kondensatoren C1 bisd C8 vorgesehen, von denen jeder die
Kapazität C besitzt. Dabei wird ein schrittweises Annäherungsverfahren
mit drei SAR-Schaltern eingesetzt, nämlich mit den
Schaltern SAR(1), SAR(2) und SAR(4). Die SAR-Schalter SAR(1)
bis SAR(4) schalten zwischen den negativen und positiven Maximalwerten
der Versorgungsspannung. Sie werden gesteuert von
Ausgangssignalen schrittweiser Annäherungsregister. Das Feld
wird zur Erzeugung eines Ausgangszustandes auf bekannte Weise
mit einer Ladung versehen. Der Inhalt der Register wird sodann
so eingestellt, daß das Ausgangssignal des Feldes sich dem Wert
des analogen Eingangssignals annähert. Der digitale Wert, der
zu diesem Zeitpunkt in den schrittweisen Annäherungsregistern
gespeichert ist, repräsentiert die Digitalumformung des Analogeingangssignals.
Der Schalter SAR(1) ist an einen einzigen
Kondensator C7 angeschlossen. Der Schalter SAR(2) ist mit den
beiden Kondensatoren C5 und C6 verbunden, und der Schalter
SAR(4) ist mit den vier Kondensatoren C1 bis C4 gekoppelt. Der
Punkt A ist in der Regel geerdet, kann jedoch auch einen Ausgang
einer weiteren Stufe eines kaskadenförmigen A/D-Konverters
bilden.
Der Ausgang am Knotenpunkt 15 des Kondensatorfeldes ist an den
Eingang eines Komparators 11 angeschlossen. Der Ausgang 12 des
Komparators 11 ist in einer Rückkopplungsschleife über einen
Schalter 14 mit dem Eingang des Komparators verbunden.
Die Lienarität eines solchen Kapazitätswerteschemas hängt ab
von der Genauigkeit des Verhältnisses der Kondensatoren untereinander.
Stehen die Kondensatoren nicht in den gewünschten
ganzzahligen Verhältnissen zueinander, so ergibt sich ein
nichtlineares Ausgangssignal des A/D-Konverters.
Wünschenswert ist es, daß das Ausgangssignal eines A/D-Konverters
im wesentlichen linear ist. Im Stande der Technik, insbesondere
bei A/D-Konvertern mit umgeschalteten Kondensatoren,
hängt die Konverterlinearität ab von der Angleichung der Widerstände
und Kondensatoren. Eine solche Angleichung der Kondensatoren
und Widerstände erhöht die Herstellungskosten derartiger
A/D-Konverter. Wenn einer oder mehrere der Kondensatoren
falsch angepaßt sind, ist das Ausgangssignal nichtlinear. Ist
beispielsweise der Kondensator C4 falsch angepaßt und wird das
signifikantere Bit des Ausgangssignals an den SAR-Schalter des
falsch angepaßten Kondensators angelegt, so wird der Ausgangswert
falsch, weil die Kapazität für dieses Bit zu groß (oder zu
klein) ist. Die Wirkung falsch angepaßter Kondensatoren wird
vermindert bei weniger signifikanten Bits, jedoch ist es
schwierig vorherzusagen, wo eine Falschanpassung auftreten wird.
Aufgabe der Erfindung ist es, die Auswirkungen falsch angepaßter
Impedanzelemente auf das Ausgangssignal der Schaltungsanordnung
im wesentlichen zu eliminieren.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch eine Schaltungsanordnung
mit den Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst. Verfahrensmäßig
wird die Aufgabe durch ein Verfahren mit den Merkmalen des Anspruchs
10 gelöst.
Die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung findet bevorzugt Anwendung
bei der Beseitigung der Auswirkungen falsch angepaßter
Komponenten eines A/D-Konverters. Nach der Erfindung werden als
Impedanzelemente verwendete Kondensatoren eines A/D-Konverters
dynamisch umgruppiert, so daß deren physikalische Fehlanpassung
zeitlich ausgemittelt wird.
Nach einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung wird ein
Feld gleich großer Kondensatoren mit einem Schalternetzwerk
verbunden. Ein schrittweises Annäherungsverfahren kommt zur
Anwendung, bei dem das analoge Eingangssignal mit einer über
schrittweise Annäherungsregister (SAR)-Schalter erzeugten
Ausgangsspannung des Kondensatorfeldes verglichen wird. Jeder
SAR-Schalter ist mit 2N-1 Kondensatoren verbunden, wobei N die
Nummer des Schalters ist. Beispielsweise sind bei einem 8-Bit-Schema
drei Schalter vorgesehen, wobei der Schalter 1 mit einem
Kondensator, der Schalter 2 mit zwei Kondensatoren und der
Schalter 3 mit vier Kondensatoren verbunden ist. Auf diese
Weise werden acht Kapazitätswerte-Pegel definiert.
Nach der Erfindung wird zusätzlich ein Verschlüsselungssteuercode
zur Steuerung des Schalterfeldes verwendet, so daß die
Kondensatoren selbst zu unterschiedlichen Zeiten an unterschiedliche
SAR-Schalter angeschlossen werden. Hierzu wird eine
Verschlüsselungsmatrix von Schaltern benötigt, die erfindungsgemäß
N * 2N Schalter erfordert, wobei N der Anzahl der Bits
des Steuercodes entspricht. Auf diese Weise können die Auswirkungen
jeglicher Änderungen der Kapazitätsverhältnisse ausgemittelt
und in Rauschen umgesetzt werden, welches sich aus dem
Signal ausfiltern läßt.
Nach einem weiteren bevorzugten Merkmal der Erfindung wird die
Schaltermatrix von einem Verschlüsselungssteuercode gesteuert,
der durch einen einfachen Digitalzähler erzeugt wird. Der Zähler
zählt kontinuierlich und stellt sich am Ende der Zählung
zurück, so daß die Schaltermatrix die Kondensatoren zyklisch
zwischen den SAR-Schaltergruppenfeldern umgruppiert. Nach einer
erfindungsgemäßen Ausführungsform steuert das am wenigstens signifikante
Bit des Zählers denjenigen Teil der Schaltermatrix,
der an das Bit höchster Signifikanz des A/D-Konverters angeschlossen
ist.
Durch Anwendung des Schaltverfahrens nach der Erfindung wandelt
der Konverter den Effekt der Komponenten-Fehlanpassung in ein
Breitbandrauschen um. Ein Filtern des konvertierten Signals
kann dieses Breitbandrauschen beseitigen, woraus sich ein im
wesentlichen linearer A/D-Konverter ergibt.
Um Siliziumfläche zu sparen, kann eine kaskadenförmige A/D-Konverterkonfiguration
verwendet werden, bei der jede Stufe der
Kaskade das Verschlüsselungsschaltverfahren nach der Erfindung
anwendet. Bei anderen erfindungsgemäßen Ausführungsformen wird
das Schaltschema nur in einer oder mehreren Stufen der Kaskadenanordnung
angewendet.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen
gekennzeichnet.
Weitere Vorteile und Merkmale der Erfindung ergeben sich aus
der folgenden Beschreibung bevorzugter Ausführungsbeispiele im
Zusammenhang mit der beiliegenden Zeichnung. Die Zeichnung
zeigt in:
Fig. 1 ein Schaltbild eines wesentlichen Teils eines A/D-Konverters
aus dem Stande der Technik;
Fig. 2 ein Schaltbild eines wesentlichen Teils eines A/D-Konverters
nach der Erfindung;
Fig. 3 ein Schaltbild einer abgewandelten Ausführungsform nach
der Erfindung.
Erläutert werden ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Beseitigen
der Auswirkungen falsch angepaßter Komponenten in einem
A/D-Konverter. Die folgende Beschreibung umfaßt eine Vielzahl
spezieller Details, wie etwa die Anzahl der Schalter, die Anzahl
der Bits etc., um die vorliegende Erfindung deutlicher
darzustellen. Es sei jedoch darauf hingewiesen, daß der Fachmann
die Erfindung auch ohne diese speziellen Details praktizieren
kann. An anderen Stellen sind bekannte Merkmale nicht im
Detail beschrieben, um das Verständnis der Erfindung nicht zu
erschweren.
Die Erfindung versieht das Kondensatorfeld eines Schaltkonden
sator-A/D-Konverters mit einer Schaltermatrix. Die Schalterma
trix wird von einem Verschlüsselungscode gesteuert, um die
einzelnen Kondensatoren durch die Gruppen der SAR-Schalter
rotieren zu lassen. Um die Auswirkung falsch angepaßter Kon
densatoren zu beseitigen, sollten die Kondensatoren proportio
nal zu dem Relativverhältnis der SAR-Gruppen in Rotation ver
setzt werden. Hat beispielsweise eine SAR-Gruppe M Kondensato
ren eines gesamten Feldes von N Kondensatoren, so sollte sich
irgendeiner der Kondensatoren in dieser SAR-Gruppe M/N der
Zeit aufhalten und den Rest der Zeit in den verbleibenden
Gruppen verbringen. Dies stellt sicher, daß die Auswirkungen
falsch angepaßter Kondensatoren gleichmäßig und vollständig
durch das gesamte Gruppenfeld ausgemittelt werden.
Für ein Kondensatorfeld mit N SAR-Gruppen sind N × 2N
Schalter in der Verschlüsselungsschaltermatrix erforderlich,
um eine angemessene Rotation der Kondensatoren zu erzeugen.
Bei einer abgewandelten Ausführungsform nach der Erfindung
sind mehrere Verschlüsselungsstufen kaskadenförmig zusammen
geschaltet, wobei der Ausgang der einen Verschlüsselungsstufe
als Eingang an einen der Schalter einer zweiten Verschlüsse
lungsstufe angelegt wird.
Ein Beispiel nach der Erfindung ist in Fig. 2 wiedergegeben.
Das Beispiel nach Fig. 2 gilt für einen A/D-Konverter mit drei
SAR-Gruppen. Schalter 1A-1H bis 3A-3H sind jeweils an einen
Anschluß der Kondensatoren C1-C8 und an die SAR-Schalter
SAR(1), SAR(2) und SAR(4) angeschlossen. Die Schaltermatrix
wird gesteuert von einem 3-Bit-Verschlüsselungssteuercode
Der Verschlüsselungssteuercode ist so ausgebildet, daß das
am wenigstens signifikante Bit an die größte SAR-Schaltergrup
pe angeschlossen wird. Das signifikanteste Bit wird an die
kleinste SAR-Schaltergruppe angelegt. Im vorliegenden Fall
wird das am wenigstens signifikante Bit mit der SAR-Schalter
gruppe verbunden, die vier Kondensatoren enthält. Bei dieser
Ausführungsform befinden sich die Schalter 1A-1H, 2A-2H und
3A-3H in der dargestellten Lage, wenn ein Schaltzustand "0" an
die Steuerleitung für die jeweiligen Schaltergruppen angelegt
ist. Wird die Steuerleitung mit einem Schaltzustand "1" beauf
schlagt, so kehrt sich die Schalterstellung um.
Die folgende Tabelle zeigt, welche Kondensatoren bei jedem
Wert des Verschlüsselungssteuercode an jede der SAR-Schal
tergruppen angeschlossen sind.
Für die SAR-Schaltergruppe 4 gilt, daß die Anzahl M der Kon
densatoren in dieser Gruppe vier beträgt. Die gesamte Anzahl N
der Kondensatoren ist acht. Dementsprechend sollte jeder der
Kondensatoren in dieser Schaltergruppe den Anteil M/N, d.h.,
die Hälfte der Zeit verbringen. Wie aus Tabelle 1 ersichtlich,
pendelt die Gruppe SAR(4) zwischen den Kondensatoren C1-C4 und
den Kondensatoren C5 äC8 hin und her, so daß jeder Kondensator
die Hälfte der Zeit in der Schaltergruppe SAR(4) verbringt.
Die SAR-Gruppe 2 verfügt über zwei Kondensatoren aus einer
Gesamtzahl von acht Kondensatoren, so daß jeder Kondensator in
dieser SAR-Gruppe ein Viertel der Zeit verbringen sollte. Wie
aus Tabelle 1 hervorgeht, hält sich jeder Kondensator in die
ser SAR-Gruppe zweimal bei einer Gesamtzahl von acht Möglich
keiten auf, so daß jeder Kondensator in dieser Gruppe ein
Viertel der Zeit verbringt. In gleicher Weise ergibt sich, daß
jeder Kondensator sich in der Gruppe SAR(1) ein Achtel der
Zeit aufhält.
Nach dem bevorzugten Ausführungsbeispiel der Erfindung ist der
Verschlüsselungssteuercode in einen Digitalzähler implemen
tiert. Der Zähler zählt bis zu seinem höchsten Wert und stellt
sich dann auf Null zurück, wobei er diesen Vorgang kontinuier
lich wiederholt. Die Zahl der Bits des Zählers ist gleich der
Zahl der Bits des Steuercode (beispielsweise drei in Fig. 2).
Durch Verwendung einer geeigneten Schaltermatrix wird das
richtige Verhältnis von Kondensatoren in jeder SAR-Gruppe
hergestellt. Das am wenigstens signifikante Bit des Zählers
wird nach der bevorzugten Ausführungsform der Erfindung mit
der größten Schaltergruppe gekoppelt, so daß das stärkste
Pendeln in dieser Gruppe auftreten kann. Der Zähler wird zu
Beginn jedes Umkehrzyklus einmal getaktet.
Im Rahmen der Erfindung kann jedes geeignete Verfahren zur
Schaffung des Verschlüsselungssteuercode angewendet werden.
Beispielsweise kann bei einer alternativen Ausführungsform ein
Pseudozufalls-Zahlengenerator eingesetzt werden, um den Steu
ercode zu bilden. Der Pseudozufalls-Zahlengenerator wird an
stelle eines echten Zufalls-Zahlengenerators verwendet, so daß
man die geeigneten Kapazitätsverhältnisse erhalten kann. Dies
bedeutet, daß das Schalten der Kondensatoren von Gruppe zu
Gruppe in korrektem Verhältnis geschieht, wie es oben be
schrieben wurde.
In Fig. 3 ist ein Beispiel für einen Kaskaden-A/D-Konverter
dargestellt. Bei diesem Ausführungsbeispiel wird eine Anord
nung aus zwei SAR-Schaltergruppen verwendet, die hinter den
Eingang A eines Dreier-SAR-Schaltergruppenfeldes, wie etwa das
Feld nach Fig. 2, geschaltet ist. Gemäß Fig. 3 ist ein SAR-
Schalter 16 zu irgendeiner Zeit an einen einzelnen Kondensator
angeschlossen, während ein SAR-Schalter 17 mit zwei der Kondensa
toren C1′-C3′ verbunden ist. Ein 2-Bit-Verschlüsselungssteuer
code steuert die Schalter 1A′-1D′ und 2A′-2D′, die die Schal
ter-Verschlüsselungsmatrix bilden. Der Ausgang des Knotenpunk
tes 18 des Kondensatorfeldes ist an den Umkehreingang eines
Operationsverstärkers 19 (anstelle des Komparators nach Fig.
2) angeschlossen. Der Ausgang am Knoten 20 des Operationsver
stärkers 19 ist in einer Rückkopplungsschleife an den Ein
gangsknoten 18 angeschlossen, und zwar über einen Kondensator
21 und einen Schalter 22, die parallel zueinander liegen. Der
Ausgangsknoten 20 steht außerdem mit dem A-Eingang des Dreier-
SAR-Steuerfeldes in Verbindung.
Der A-Eingang des Steuerfeldes ist ein Analogsignal, welches
sich zwischen den Endwerten Plus und Minus ändert. Dies ermög
licht der Kondensatoranordnung einen zusätzlichen Grad an
Auflösung. Durch Kaskadenschaltung kann Siliziumfläche einge
spart werden. Werden beispielsweise zwei 6-Bit-Konverter hin
tereinander geschaltet, um einen 12-Bit-A/D-Konverter zu bil
den, sind insgesamt 128 Kondensatoren erforderlich (ein Paar
von 26 Feldern). Wenn ein einzelner 12-Bit-Konverter verwen
det wird, sind 4096 Kondensatoren erforderlich, die sich zu
der Siliziumfläche einer die Erfindung realisierenden inte
grierten Schaltung hinzuaddieren.
Die Funktion der Verschlüsselungsmatrix besteht darin, Konden
satorfelder zu tauschen, um Fehler auszumitteln. Wenn bei
spielsweise ein Kondensator falsch angepaßt ist (beispielswei
se C4), so ist der Kondensator zu groß, sofern das Verschlüs
seler-LSB "1" ist, oder zu klein, sofern das LSB "0" ist. Dieser
Effekt wird ausgemittelt durch das Schalterfeld nach der Erfin
dung. Die Entscheidungen, die das MSB beeinflussen, sind:
wobei FS (= full scale) die angelegte Betriebsspannung ist.
Wenn diese folgendermaßen zusammengemittelt werden:
so heben sie sich auf, wodurch gezeigt wird, daß jeglicher
eingeführte Fehler durch das erfindungsgemäße Verfahren aus
gemittelt wird.
Die von SAR beim nächst-signifikanten Bit getroffenen Entschei
dungen sind:
Nach einem vollen Zyklus des Verschlüsselungscode sind sämtli
che Kondensatorfehler ausgemittelt. Die Entscheidungspunkte
sind exakt. Da der MSB-Fehler normalerweise der schwerwiegendste ist,
sollte er am häufigsten gewechselt werden, wobei man ihn folg
lich an das Verschlüsseler-LSB anlegt.
Durch Anschließen eines Binärzählers an die Verschlüsselungs
eingänge werden Kondensatorfehler beseitigt, wenn ein Gleich
strompegel umgekehrt wird. Was tatsächlich geschieht, ist, daß
ein stationäres Musterrauschen einer codierten Wellenform
hinzuaddiert wird, deren niedrigste Frequenzkomponente
FS/2N ist, wobei FS die Abtastrate darstellt. Wenn FS
10 kHz beträgt und N gleich 9 ist, so liegt die Frequenzkompo
nente bei 19 Hz. Die Rauschkomponente hat einen Mittelwert von
0, wie vorher gezeigt, und die Spitzenamplitude wird gebildet
vom Kondensatorfehler multipliziert mit VFS. Wenn der Eingang
kein Gleichstrom ist, ist das Rauschen nicht so vorhersehbar;
es kann als weißes Rauschen angenähert werden. Da das Signal
bereits durch RMS-Rauschen des VLSB/12 verfälscht ist, wird,
wenn die Genauigkeit des Kapazitätsverhältnisses unter 1/2N
liegt, das vom Verschlüsseler hervorgerufene Rauschen vom
Quantisierungsrauschen beherrscht.
Das Verfahren arbeitet sehr gut, wenn kleine Signale mit ge
ringer Verzerrung zu codieren sind. Typischerweise hat ein
A/D-Konverter seinen größten Fehler im Mittelpunkt (Analogwert
0). Wenn ein kleines, beim Mittelwert 0 liegendes Signal zu
codieren ist, wird der 1/2-Skalenfehler eine nachteilige Feh
lerzunahme bewirken, falls keine Verschlüsselung vorgenommen
wird. Bei Verschlüsselung ist der mittlere 1/2-Skalen-Ent
scheidungspegel exakt, und es ergibt sich kein Verstärkungs
fehler. Die Verschlüsselung wandelt die Überkreuzungsverzer
rung in Rauschen um.
Die Systembandbreite ist wesentlich größer als die Bandbreite
des Signals, das in dem erfindungsgemäßen A/D-Konverter behan
delt wird. Dementsprechend kann eine geeignete Filterung
durchgeführt werden, um das Breitbandrauschen zu beseitigen,
das sich aus der Verschlüsselungsmatrix nach der Erfindung
ergibt. Derartige Filter sind im Stande der Technik bekannt
und werden üblicherweise im Zusammenhang mit vielen A/D-Kon
vertern verwendet.
Zwar wurde die Erfindung im Zusammenhang mit drei SAR-Schal
tergruppen beschrieben, jedoch sei darauf hingewiesen, daß
beim Praktizieren der Erfindung jede beliebige Anzahl von
Schaltergruppen eingesetzt werden kann. Gleichermaßen kann die
Größe der Komponenten eines Kaskaden-A/D-Konverters im Rahmen
der Erfindung in jedem beliebigen Bereich liegen. Ferner sei
darauf hingewiesen, daß die Erfindung zwar anhand von Konden
satorfeldern beschrieben wurde, daß sie jedoch gleichermaßen
anwendbar ist auf Widerstandsketten oder beliebige andere
Impedanzen.
Die Erfindung schafft also ein verbessertes Verfahren zum
Umwandeln von Nichtlinearitäten eines A/D-Konverters in Rau
schen.
Claims (14)
1. Schaltungsanordnung mit
einer Mehrzahl von Impedanzelementen (C1 . . . C8), deren Impedanzen
im wesentlichen gleich sind, dadurch gekennzeichnet,
daß
ein erster Schalter mit einer ersten Anzahl x der Impedanzelemente (C1 . . . C8) verbunden ist;
ein zweiter Schalter mit einer zweiten Anzahl y der Impedanzelemente (C1 . . . C8) verbunden ist, wobei die zweite Anzahl kleiner als die erste Anzahl ist;
eine Schaltermatrix (1A . . . 3H) mit den Impedanzelementen (C1 . . . C8) und den ersten und zweiten Schaltern verbunden ist, um die Impedanzelemente wahlweise mit den Schaltern derart zu verbinden, daß der zeitliche Mittelwert des Verhältnisses der Zeit, in welcher ein jedes der Elemente mit dem ersten Schalter verbunden ist, zu der Zeit, in welcher das Element mit dem zweiten Schalter verbunden ist, näherungsweise gleich dem Verhältnis x/y ist.
ein erster Schalter mit einer ersten Anzahl x der Impedanzelemente (C1 . . . C8) verbunden ist;
ein zweiter Schalter mit einer zweiten Anzahl y der Impedanzelemente (C1 . . . C8) verbunden ist, wobei die zweite Anzahl kleiner als die erste Anzahl ist;
eine Schaltermatrix (1A . . . 3H) mit den Impedanzelementen (C1 . . . C8) und den ersten und zweiten Schaltern verbunden ist, um die Impedanzelemente wahlweise mit den Schaltern derart zu verbinden, daß der zeitliche Mittelwert des Verhältnisses der Zeit, in welcher ein jedes der Elemente mit dem ersten Schalter verbunden ist, zu der Zeit, in welcher das Element mit dem zweiten Schalter verbunden ist, näherungsweise gleich dem Verhältnis x/y ist.
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Impedanzelemente im wesentlichen Kapazitäten
sind.
3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Impedanzelemente Kondensatoren sind.
4. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die Schaltermatrix (1A . . . 3H) von
einem Steuercode steuerbar ist.
5. Schaltungsanordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,
daß der Steuercode von einem Digitalzähler geliefert
wird.
6. Schaltungsanordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet,
daß der Steuercode von einem Pseudozufalls-Zahlengenerator
geliefert wird.
7. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, daß die Schaltungsanordnung Teil eines
A/D-Wandlers ist und die ersten und zweiten Schalter
SAR-Schalter sind.
8. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch
gekennzeichnet, daß die Schaltermatrix (1A . . . 3H) eine
Mehrzahl dritter Schalter (2A . . . 2H), die mit dem zweiten
Schalter verbunden sind, sowie eine Mehrzahl vierter Schalter
(3A . . . 3H) umfaßt, die mit dem ersten Schalter und der Mehrzahl
der dritten Schalter verbunden sind.
9. Schaltungsanordnung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
daß das am wenigsten signifikante Bit des Steuercodes die
Mehrzahl der vierten Schalter steuert.
10. Verfahren zum Mindern der Auswirkungen von Komponenten-Fehlanpassungen
in einem Analog/Digital-(A/D-)Konverter mit
einer Schaltungsanordnung mit einer Mehrzahl von Impedanzelementen
annähernd gleicher Impedanz, die an eine Mehrzahl von
Schaltern angeschlossen sind, wobei jeder der Schalter mit
einer von mehreren Gruppen der Impedanzelemente verbunden ist,
dadurch gekennzeichnet,
daß mindestens eine erste und eine zweite Gruppe von Impedanzelementen definiert wird, wobei die erste Gruppe kleiner als die zweite Gruppe ist;
daß die Schalter selektiv an die erste oder die zweite Gruppe angeschlossen werden;
daß jedes der Impedanzelemente zwischen der ersten und der zweiten Gruppe hin- und hergeschaltet wird;
daß das Schalten der Impedanzelemente so gesteuert wird, daß jedes der Impedanzelemente der ersten und der zweiten Gruppe in einem Verhältnis zugeordnet wird, welches nach zeitlicher Mittelung der Größe dieser Gruppe, bezogen auf die Anzahl der Impedanzelemente, entspricht.
daß mindestens eine erste und eine zweite Gruppe von Impedanzelementen definiert wird, wobei die erste Gruppe kleiner als die zweite Gruppe ist;
daß die Schalter selektiv an die erste oder die zweite Gruppe angeschlossen werden;
daß jedes der Impedanzelemente zwischen der ersten und der zweiten Gruppe hin- und hergeschaltet wird;
daß das Schalten der Impedanzelemente so gesteuert wird, daß jedes der Impedanzelemente der ersten und der zweiten Gruppe in einem Verhältnis zugeordnet wird, welches nach zeitlicher Mittelung der Größe dieser Gruppe, bezogen auf die Anzahl der Impedanzelemente, entspricht.
11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß
beim Schalten der Impedanzelemente letztere durch eine Schaltermatrix
mit den Schaltern verbunden werden.
12. Verfahren nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß
die Schaltermatrix von einem Steuercode gesteuert wird.
13. Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß
der Steuercode von einem Digitalzähler geliefert wird.
14. Verfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß
der Steuercode von einem Pseudozufallszahlengenerator gelie
fert wird.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/311,237 US5006854A (en) | 1989-02-13 | 1989-02-13 | Method and apparatus for converting A/D nonlinearities to random noise |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4003758A1 DE4003758A1 (de) | 1990-08-16 |
DE4003758C2 true DE4003758C2 (de) | 1993-10-14 |
Family
ID=23206021
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4003758A Expired - Fee Related DE4003758C2 (de) | 1989-02-13 | 1990-02-08 | Schaltungsanordnung zum Mindern der Auswirkungen falsch angepaßter Impedanzelemente |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5006854A (de) |
JP (1) | JPH02291721A (de) |
DE (1) | DE4003758C2 (de) |
GB (1) | GB2230909B (de) |
Families Citing this family (43)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE69331170T2 (de) * | 1992-03-31 | 2002-06-20 | Texas Instruments Inc | Mehrmoden-Analog/Digitalwandler und Verfahren |
US5305004A (en) * | 1992-09-29 | 1994-04-19 | Texas Instruments Incorporated | Digital to analog converter for sigma delta modulator |
US5745079A (en) * | 1996-06-28 | 1998-04-28 | Raytheon Company | Wide-band/dual-band stacked-disc radiators on stacked-dielectric posts phased array antenna |
GB2368209B (en) | 1998-01-08 | 2002-06-12 | Fujitsu Ltd | Cell array circuitry |
US6194946B1 (en) | 1998-05-07 | 2001-02-27 | Burr-Brown Corporation | Method and circuit for compensating the non-linearity of capacitors |
US6061551A (en) | 1998-10-21 | 2000-05-09 | Parkervision, Inc. | Method and system for down-converting electromagnetic signals |
US7515896B1 (en) | 1998-10-21 | 2009-04-07 | Parkervision, Inc. | Method and system for down-converting an electromagnetic signal, and transforms for same, and aperture relationships |
US6370371B1 (en) | 1998-10-21 | 2002-04-09 | Parkervision, Inc. | Applications of universal frequency translation |
US7236754B2 (en) | 1999-08-23 | 2007-06-26 | Parkervision, Inc. | Method and system for frequency up-conversion |
US7039372B1 (en) | 1998-10-21 | 2006-05-02 | Parkervision, Inc. | Method and system for frequency up-conversion with modulation embodiments |
US6879817B1 (en) | 1999-04-16 | 2005-04-12 | Parkervision, Inc. | DC offset, re-radiation, and I/Q solutions using universal frequency translation technology |
US6853690B1 (en) | 1999-04-16 | 2005-02-08 | Parkervision, Inc. | Method, system and apparatus for balanced frequency up-conversion of a baseband signal and 4-phase receiver and transceiver embodiments |
US7110435B1 (en) * | 1999-03-15 | 2006-09-19 | Parkervision, Inc. | Spread spectrum applications of universal frequency translation |
US7693230B2 (en) | 1999-04-16 | 2010-04-06 | Parkervision, Inc. | Apparatus and method of differential IQ frequency up-conversion |
US7110444B1 (en) | 1999-08-04 | 2006-09-19 | Parkervision, Inc. | Wireless local area network (WLAN) using universal frequency translation technology including multi-phase embodiments and circuit implementations |
US7065162B1 (en) | 1999-04-16 | 2006-06-20 | Parkervision, Inc. | Method and system for down-converting an electromagnetic signal, and transforms for same |
US8295406B1 (en) | 1999-08-04 | 2012-10-23 | Parkervision, Inc. | Universal platform module for a plurality of communication protocols |
US6420991B1 (en) * | 1999-09-08 | 2002-07-16 | Texas Instruments Incorporated | Dynamic element matching for converting element mismatch into white noise for a pipelined analog to digital converter |
US7010286B2 (en) | 2000-04-14 | 2006-03-07 | Parkervision, Inc. | Apparatus, system, and method for down-converting and up-converting electromagnetic signals |
US7454453B2 (en) | 2000-11-14 | 2008-11-18 | Parkervision, Inc. | Methods, systems, and computer program products for parallel correlation and applications thereof |
US7010559B2 (en) * | 2000-11-14 | 2006-03-07 | Parkervision, Inc. | Method and apparatus for a parallel correlator and applications thereof |
JP3493187B2 (ja) * | 2001-06-13 | 2004-02-03 | 松下電器産業株式会社 | 逐次比較型a/d変換器 |
US7072427B2 (en) | 2001-11-09 | 2006-07-04 | Parkervision, Inc. | Method and apparatus for reducing DC offsets in a communication system |
US7379883B2 (en) | 2002-07-18 | 2008-05-27 | Parkervision, Inc. | Networking methods and systems |
US7460584B2 (en) * | 2002-07-18 | 2008-12-02 | Parkervision, Inc. | Networking methods and systems |
JP3843942B2 (ja) * | 2002-12-25 | 2006-11-08 | 株式会社デンソー | D/a変換器およびa/d変換器 |
CN100345383C (zh) * | 2003-05-20 | 2007-10-24 | 瑞昱半导体股份有限公司 | 具有可调带宽滤波功能的模拟前端装置 |
US7388247B1 (en) | 2003-05-28 | 2008-06-17 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | High precision microelectromechanical capacitor with programmable voltage source |
US7477180B2 (en) * | 2006-04-03 | 2009-01-13 | Realtek Semiconductor Corp. | Noise shaping comparator based switch capacitor circuit and method thereof |
US8502557B2 (en) | 2006-06-05 | 2013-08-06 | Analog Devices, Inc. | Apparatus and methods for forming electrical networks that approximate desired performance characteristics |
US9356568B2 (en) | 2007-06-05 | 2016-05-31 | Analog Devices, Inc. | Apparatus and methods for chopper amplifiers |
JP4934531B2 (ja) * | 2007-07-11 | 2012-05-16 | 株式会社日立製作所 | アナログデジタル変換器及びその制御方法並びに無線トランシーバ回路 |
KR101140349B1 (ko) * | 2008-09-16 | 2012-05-03 | 한국전자통신연구원 | 다단 연속 근사 레지스터 아날로그 디지털 변환기 |
ATE540478T1 (de) * | 2008-09-24 | 2012-01-15 | Austriamicrosystems Ag | Analog-digital-umsetzer und verfahren zur analog- digital-umsetzung |
US7911370B2 (en) * | 2009-06-25 | 2011-03-22 | Mediatek Inc. | Pipeline analog-to-digital converter with programmable gain function |
US10720919B2 (en) | 2011-11-16 | 2020-07-21 | Analog Devices, Inc. | Apparatus and methods for reducing charge injection mismatch in electronic circuits |
US8810443B2 (en) * | 2012-04-20 | 2014-08-19 | Linear Technology Corporation | Analog-to-digital converter system and method |
US9608655B1 (en) | 2016-02-09 | 2017-03-28 | Analog Devices, Inc. | ADC background calibration with dual conversions |
US9882575B1 (en) | 2016-10-14 | 2018-01-30 | Analog Devices, Inc. | Analog-to-digital converter with offset calibration |
US9912343B1 (en) | 2016-12-07 | 2018-03-06 | Analog Devices, Inc. | Analog to digital converter with background calibration techniques |
CN109462399B (zh) * | 2018-10-26 | 2021-09-14 | 电子科技大学 | 一种适用于逐次逼近模数转换器的后台电容失配校准方法 |
US10608655B1 (en) | 2018-12-06 | 2020-03-31 | Analog Devices, Inc. | Inter-stage gain calibration in double conversion analog-to-digital converter |
CN111342847B (zh) * | 2020-02-13 | 2021-11-30 | 芯朴科技(上海)有限公司 | 调整输出功率的方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2803099C3 (de) * | 1978-01-25 | 1986-07-10 | Hans-Ulrich 5810 Witten Post | Digital-Analog-Umsetzer in integrierter Schaltungstechnik |
NL8003948A (nl) * | 1980-07-09 | 1982-02-01 | Philips Nv | Digitaal-analoog omzetter. |
US4404544A (en) * | 1981-04-09 | 1983-09-13 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | μ-Law/A-law PCM CODEC |
US4399426A (en) * | 1981-05-04 | 1983-08-16 | Tan Khen Sang | On board self-calibration of analog-to-digital and digital-to-analog converters |
US4338591A (en) * | 1981-06-09 | 1982-07-06 | Analog Devices, Incorporated | High resolution digital-to-analog converter |
-
1989
- 1989-02-13 US US07/311,237 patent/US5006854A/en not_active Expired - Fee Related
-
1990
- 1990-02-06 GB GB9002606A patent/GB2230909B/en not_active Expired - Fee Related
- 1990-02-08 DE DE4003758A patent/DE4003758C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-02-13 JP JP2032293A patent/JPH02291721A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4003758A1 (de) | 1990-08-16 |
US5006854A (en) | 1991-04-09 |
GB9002606D0 (en) | 1990-04-04 |
JPH02291721A (ja) | 1990-12-03 |
GB2230909B (en) | 1993-09-22 |
GB2230909A (en) | 1990-10-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4003758C2 (de) | Schaltungsanordnung zum Mindern der Auswirkungen falsch angepaßter Impedanzelemente | |
DE3531870C2 (de) | ||
EP0253950B1 (de) | Monolithisch integrierter Digital/Analog-Wandler | |
DE3202789C2 (de) | ||
DE19958049B4 (de) | Transkonduktor und Strommodus D/A-Wandler | |
DE3124333C2 (de) | ||
DE4208702A1 (de) | 2-schrittiger unterbereichs-analog/digital-wandler | |
DE2622970B2 (de) | Elektrische Schaltung zum Melden der Kanalwahl bei einem abstimmbaren Empfänger | |
DE3104904A1 (de) | Hochgenauer digital/analog-umsetzer und einschwingvorgangs-beseitigungssystem dafuer | |
EP0452609A1 (de) | Monolithisch integrierter hochauflösender Analog-Digital-Umsetzer | |
DE3129338A1 (de) | Signalwandler | |
EP0461282B1 (de) | Überabtastender Analog-Digital-Umsetzer mit Rauschfilterung in Switched-Capacitor-Technik | |
DE602004011581T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Entfernen von Tönen mittels Schaltverzögerung, die durch DEM (vergleich dynamische Elemente) verursacht werden bei Schaltverzögerung des Signals. | |
DE3632429C2 (de) | Analog-Digital- oder Digital-Analog-Wandler | |
DE3149494C2 (de) | ||
DE3147578A1 (de) | Analog/digital-wandler-schaltungsanordnung | |
EP0579025B1 (de) | Digital-Analog-Wandler mit gewichtetem kapazitiven Wandlernetzwerk | |
DE2856955C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Digital-Analog- und Analog-Digital-Umwandlung | |
DE60210149T2 (de) | Schaltungsanordnung mit einem digital analog wandler | |
DE102005039622A1 (de) | Schaltung zum Durchführen einer Analog-Digital-Konvertierung und Analog-Digital-Konvertierungsverfahren | |
EP0142182B1 (de) | Schaltungsanordnung zum Umwandeln eines digitalen Eingangssignals in ein analoges Ausgangssignal | |
WO1998004926A1 (de) | Sigma-delta-multiplikationsschaltung für ein leistungs-messgerät | |
DE3734874C2 (de) | ||
DE2439712C2 (de) | PCM-Codierer | |
DE102011102554B4 (de) | Rampen- oder Sägezahngenerator mit Einheitselementen für einen Analog/Digital-Umsetzer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |