DE4238822A1 - - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 44
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 43
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 39
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 25
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 17
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims description 16
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 claims 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 4
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 4
- 241000132092 Aster Species 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 229910013641 LiNbO 3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
- H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
- H04B10/071—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using a reflected signal, e.g. using optical time domain reflectometers [OTDR]
Description
Die Erfindung bezieht sich auf die Prüfung und Überwachung von
Lichtleitfasern, die in Nachrichtenverbindungen wie z. B. im
öffentlichen Fernsprechnetz verwendet werden.
Das Fernsprechnetz enthält Verbindungen der Teilnehmertelefone
mit einem zentralen Amt (diese Verbindungen werden häufig als
Teilnehmerschleifen bezeichnet und sind typischerweise durch
Paare von Kupferdrähten realisiert) und Verbindungen zwischen
den zentralen Ämtern, die benötigt werden, wenn die beiden
Parteien eines Ferngesprächs an verschiedene Ämter angeschlossen
sind. Zur Herstellung der Verbindung zwischen verschiedenen
Ämtern werden in großem Umfang Lichtleitfasern verwendet. Solche
Fasern werden außerdem benutzt für die Verbindung von einem
zentralen Amt zu einer fernen Digitalanschlußstelle (FDA), und
von da an werden derzeit Kupferdrähte über eine kurze Entfernung
verwendet, um die Verbindung von der FDE zu den Teilnehmer
apparaten herzustellen. Ferne Digitalanschlußstellen können sich
z. B. auf einem Geschäftsgrundstück von Kunden oder an einem
fernen Straßenrand befinden, von wo aus mehrere Häuser bedient
werden. Mit dem Wunsch, die Bandbreite zu erhöhen und die
Investition in Kupferdraht zukünftig zu vermindern, ist ein
Anwachsen der Verwendung von Lichtleitfasern in der Teilnehmer
schleife zu erwarten.
Wegen der Unterschiede zwischen Kupferdrähten und Lichtleit
fasern (im folgenden kurz als /Lichtleiter. bezeichnet) können
die automatischen Telefonprüfsysteme, die derzeit benutzt
werden, um eine große Anzahl kupferner Telefonleitungen mit
hoher Geschwindigkeit zu prüfen, nicht für die Prüfung von
Telefonleitungen aus Lichtleitern verwendet werden. H. Takasugi
u. a. beschreiben in ihrer Arbeit /Design and Evaluation of
Automatic Optical Fiber Operation Support System" (veröffent
licht in International Wire Cable Symposium Proceedings 1990,
Seiten 623-629) ein System zur automatischen Prüfung von
Lichtleiter-Kabelnetzen durch Fernsteuerung. Dieses System
enthält ein Prüfsteuergerät, das sich im zentralen Amt befindet
und mit einem zu prüfenden Lichtleiter in der Teilnehmerschleife
über einen Lichtleiterwähler und einen optischen Verzweigungs
modul verbunden ist, der einen optischen Koppler zu dem zu
prüfenden Lichtleiter enthält. Zwischen den Lichtleitern und den
Einheiten an den fernen Enden der Lichtleiter sind mit Filtern
gebettete Verbinder vorgesehen, um Filter vorzusehen, die
Betriebssignale mit 1310 nm Wellenlänge durchlassen und
Prüflicht mit einer Wellenlänge von 1550 nm reflektieren. Das
Prüfsteuergerät enthält ein optisches Zeitdomänen-Reflektometer
(OZDR), einen optischen Leistungsmesser (OLM) und eine
Lichtquelle.
Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist die Prüfung eines in
der Fernmeldetechnik verwendeten Lichtleiters mittels einer
Lichtquelle und eines Detektors an einem Ende des Lichtleiters
(z. B. in einem zentralen Amt) und eines Reflektors am anderen
Ende des Lichtleiters (z. B. an einem fernen Ort). Das Licht
wandert durch den Lichtleiter zum Reflektor und zurück, und die
Leistung reflektierten Lichts wird am Detektor gemessen. Es wird
ein Basismeßwert erhalten, und anschließende Meßwerte werden
mit dem Basismeßwert verglichen, um festzustellen, ob eine
Verschlechterung des Lichtleiters eingetreten ist. Die optische
Leistungsmessung benutzt nicht mehr als einen einzigen Licht
impuls von der Quelle, was eine einfache und schnelle Durchfüh
rung der Messung und die Überwachung einer großen Anzahl von
Leitungen in einer kurzen Zeit erlaubt. Der Reflektor hat kleine
Ausdehnung, ist billig, wartungsfrei und zuverlässig und
ermöglicht die Überwachung einer großen Anzahl von Lichtleitern
mit geringen Kosten.
Die optischen Leistungsmessungen können Messungen der mittleren
Leistung sein, beruhend auf Dauerstrichlicht aus der Quelle.
Alternativ können die optischen Leistungsmessungen auch durchge
führt werden, indem ein einziger Lichtimpuls geliefert wird, der
wesentlich kürzer ist als die Zeit zum Durchlaufen des Lichtlei
ters und zurück, und indem die optische Leistung in einer Zeit
gemessen wird, die der Zeit entspricht, welche das Licht
braucht, um entlang dem Lichtleiter hin und zurück zu laufen.
Die Betriebsart, die mit der Messung mittlerer Leistung und mit
Dauerstrichlicht arbeitet, kann zweckmäßigerweise angewendet
werden, wenn die Fresnelschen und Rayleighschen Reflexionen
entlang des Lichtleiters schwach im Vergleich zu dem am Reflek
tor reflektierten Licht sind. Die gepulste Betriebsart wird
durch diese Reflexionen nicht beeinträchtigt und kann vorteil
hafterweise auch dann angewendet werden, wenn diese Reflexionen
beträchtlich sind.
Der zu prüfende Lichtleiter kann ein Reserve-Lichtleiter sein,
der nicht in Gebrauch ist, aber in einem Bündel aktiver Licht
leitfasern verwendet wird, um als Indikator für die Unversehrt
heit des Bündels zu wirken; in diesem Fall kann der Reflektor
eine reflektierende Metalloberfläche sein, die an einem
Abschlußstück am Ende des Lichtleiters vorgesehen ist. Alterna
tiv kann der Lichtleiter ein aktives Exemplar sein; in diesem
Fall werden für den Nachrichtenverkehr und für die Prüfung
unterschiedliche Wellenlängen verwendet; das reflektierende
Element ist dann ein reflektierendes Filter, das die Wellenlänge
des Nachrichtenverkehrs durchläßt und die Prüfwellenlänge
blockiert, und im zentralen Amt kann ein Wellenlängen-
Multiplexersystem verwendet werden, um die Wellenlänge des
Nachrichtenverkehrs zu den Fernmeldeeinrichtungen und die
Prüfwellenlänge zu den Prüfeinrichtungen zu lenken.
In bevorzugten Ausführungsformen wird ein optischer Schalter
verwendet, um die Lichtquelle und den Detektor wahlweise mit
einem Lichtleiter einer Vielzahl von Lichtleitern zu verbinden.
Ein optischer Teiler wird verwendet, um die Lichtquelle und den
Detektor mit einem einzigen Lichtleiter zu verbinden. Die
Lichtquelle ist eine Laserdiode, die durch einen Laserdioden-
Treiber gesteuert wird. Der Detektor enthält eine Fotodiode, die
einen Empfänger speist, der seinerseits eine Signalverarbei
tungsstufe speist, die ein Lichtleistungssignal ausgibt.
Andere Vorteile und Merkmale der Erfindung gehen aus den
Patentansprüchen und aus der nachstehenden Beschreibung hervor,
in der bevorzugte Ausführungsformen anhand von Zeichnungen
erläutert werden.
Fig. 1 ist ein Blockschaltbild eines Systems zum Prüfen von
Lichtleitfasern gemäß der Erfindung;
Fig. 2 zeigt in einer grahischen Darstellung die gemessene
Lichtleistung abhängig von der Zeit während einer mit
Dauerstrichlicht arbeitenden Betriebsart des Systems nach
Fig. 1;
Fig. 3 zeigt schematisch Leistungspegel und Verluste während der
Lichtleiterprüfung;
Fig. 4 zeigt in einer graphischen Darstellung die gemessene
optische Leistung abhängig von der Zeit für eine
Einzelimpuls-Betriebsart des Systems nach Fig. 1.
Die Fig. 1 zeigt ein System zum Prüfen von Lichtleitern, die in
Fernmeldeverbindungen verwendet werden, z. B. im öffentlichen
Fernsprechnetzwerk. Der zu prüfende Lichtleiter (Prüfling) kann
ein Reserve- oder Ersatz-Lichtleiter 12 sein, der an seinem
fernen Ende nicht mit irgendwelchen Fernsprecheinrichtungen
verbunden ist, oder ein aktiver Lichtleiter 14, der zwischen
einem Sender 16 und einem Empfänger 18 liegt. (Alternativ könnte
sich der Sender am fernen Ort und der Empfänger zusammen mit der
Prüfeinrichtung im zentralen Amt befinden.)
Das System 10 enthält ein Prüfsystem-Steuergerät (PSS) 20, das
sich in einer Wartungszentrale 22 befindet, eine Lichtmeßeinheit
(LME) 24 und eine Lichtprüfungs-Zugangseinheit (LPZE), die sich
beide im zentralen Amt 28 befinden. Die PSS 20 enthält eine
Arbeitsstation, die über Modemverbindungen 30 oder Datenpaket-
Schaltnetzwerke Informationen von der LME 24 und der LPZE 26
empfängt und Steuerbefehle zu diesen Einheiten sendet. Die
Prüfung wird von der PSS 20 koordiniert und gesteuert, und in
der Wartungszentrale 22 können auf der Grundlage der Prüfergeb
nisse Abfertigungsbefehle erteilt werden.
Der Sender 16 erfüllt die Funktionen der Konzentration, Querver
bindung und der elektro-optischen Umsetzung und wird dazu
verwendet, die Signale des aktiven Lichtleiters mit dem Wähler
bzw. Verteiler des Fernsprechamtes und schließlich mit einem
Teilnehmerapparat am anderen Ende des Nachrichtenverkehrsweges
zu verbinden (beides nicht gezeigt). Der Sender 16 ist mit dem
aktiven Lichtleiter 14 über einen Wellenlängen-Multiplexer (WM)
32 verbunden (z. B. eine Einrichtung, wie sie unter der Handels
bezeichnung SWM-57-42-1-B-1-TR von der Aster Corporation,
Milford, MA, USA erhältlich ist). Der Wellenlängen-Multiplexer
32 multiplexiert und demultiplexiert die Wellenlänge von 1313
Nanometern (λ2), die für den Nachrichtenverkehr benutzt wird,
und die Wellenlänge von 1550 Nanometern λ1), die für die
Prüfung benutzt wird. (Natürlich können auch andere Wellenlängen
verwendet werden.) Die kombinierten Wellenlängen im aktiven
Lichtleiter 14, die zum Anschluß 2-1 des WM 32 geliefert werden,
werden im WM 32 aufgespalten, so daß das Licht der Prüfwellen
länge über den Anschluß 1-1 zu einem optischen 1·N-Schalter 34
und die für den Nachrichtenverkehr verwendete Wellenlänge über
den Anschluß 1-2 zum Sender 16 durchgelassen wird. Der Anschluß
2-2 des WM 32 endet in einem abschließenden Gel 52, das den
Brechungsindex anpaßt, so daß das Licht am Anschluß 2-2 absor
biert und nicht reflektiert wird.
Der optische 1·N-Schalter 34 hat einen einzigen Eingang, der mit
dem Anschluß 2-1 eines in der LME 24 befindlichen 3dB-Teilers 36
verbunden ist (z. B. eine Einrichtung, wie sie unter der Warenbe
zeichnung SW 35O2 B1S von der Aster Corporation erhältlich ist),
und N Ausgänge, von denen einer im dargestellten Fall mit dem WM
32 der Fig. 1 und ein anderer mit dem Ersatz-Lichtleiter 12 in
Fig. 1 verbunden ist. Die anderen N minus 2 Ausgänge könnten mit
anderen zusätzlichen zu prüfenden Ersatz-Lichtleitern oder mit
zusätzlichen Wellenlängen-Multiplexern 32 verbunden sein, die
mit aktiven Lichtleitern verbunden sind. Der Ersatz-Lichtleiter
12 ist typischerweise eine einzige Lichtleitfaser aus einem
Bündel von Lichtleitfasern. Die restlichen Lichtleiter im Bündel
könnten aktive Lichtleiter sein, und der Ersatz-Lichtleiter wäre
dann zu benutzen, um einen Zustand anzuzeigen, der alle Licht
leiter im Bündel beeinflußt.
Die Lichtmeßeinheit (LNE) 24 enthält einen Laserdioden-Treiber
38 und eine Laserdiode 40, die so angeschlossen ist, daß sie als
Quelle Prüflicht über den Anschluß 1-1 zum Teiler 36 sendet. Die
Laserdiode 40 kann z. B. ein Einmoden-Laserdiodenmodul mit Licht
leitfaseranschlüssen und Fabry-Perot-Resonanzraum sein, der z. B.
mit einer Wellenlänge von 1550 nm arbeitet, für den anzunehmen
den Fall, daß die Wellenlänge des Nachrichtenverkehrs 1310 nm
beträgt. Der Anschluß 1-2 des Teilers 36 ist so angeschlossen,
daß er empfangenes Licht zu einer Fotodiode 42 liefert, die ein
Ausgangssignal zum Empfänger 44 gibt, der seinerseits sein
Ausgangssignal an einen Signalprozessor 46 liefert. Die Foto
diode 42 kann z. B. ein mit Lichtleitfaseranschlüssen versehenes
Bauelement aus einer III-V-Verbindung sein, wie es von der Firma
Epitaxx unter der Warenbezeichnung ETX75FJ erhältlich ist. Der
Empfänger 44 enthält einen Transimpedanz-Vorverstärker gefolgt
von einem oder mehreren Nachverstärkern, einem diesem nachge
schalteten elektrischen Tiefpaßfilter, gefolgt von einem
Analog/Digital-Wandler. Der Signalprozessor 46 ist mikroprozes
sorgestützt und liefert am Ausgang ein Digitalsignal, welches
die gemessene Leistung anzeigt. Der Laserdioden-Treiber 38 und
der Signalprozessor 46 sind mit einer Rechnerbus-Schnittstelle
48 verbunden, um das Prüfverfahren durch den Rechner 60 zu
steuern. Der Anschluß 2-2 des Teilers 36 ist mit einem den
Brechungsindex anpassenden Gel 50 verbunden, um am Anschluß 2-2
alles Licht zu absorbieren und kein Licht zu reflektieren.
Am fernen Ende des zu prüfenden Ersatz-Lichtleiters 12 befindet
sich ein reflektierendes Element 54, z. B. ein rückwärtiger
Spiegel mit Goldbelag am Ende eines Lichtleitersteckers.
Ein Empfänger 18 am fernen Ende eines aktiven Lichtleiters 14
befindet sich entweder in einem zentralen Amt oder an einer
fernen End- oder Anschlußstelle am Ort 56. Der Empfänger ist mit
dem aktiven Lichtleiter 14 über ein reflektierendes Filter 58
verbunden, welches Licht dem Prüfwellenlänge λ1 reflektiert und
Licht der Nachrichtenverkehrs-Wellenlänge λ2 durchläßt. Das
reflektive Filter 58 kann z. B. ein Element sein, wie es von der
Amphenol Corporation unter der Handelsbezeichnung 94599999-10085
erhältlich ist. Obwohl die Lichtmeßeinheit (LME) 24 und die
Lichtprüfungs-Zugangseinheit (LPZE) 26 in der Fig. 1 in einem
gemeinsamen zentralen Amt 28 dargestellt sind, können sie sich
auch an voneinander entfernten Orten befinden.
Im Betrieb ist die LME 24 mit einem der N Lichtleiter verbunden,
die gleichzeitig mit dem optischen Schalter 34 verbunden sind.
Zunächst erfolgt eine Basiswertmessung der reflektierten
Leistung für alle Lichtleiter und eine Speicherung der Basismeß
werte. Dann wird in gewünschten Zeitabständen die Leistung für
jeden der Lichtleiter nacheinander gemessen und mit den Basis
meßwerten verglichen, um festzustellen, ob eine Änderung
stattgefunden hat, welche anzeigt, daß sich irgendeiner der
Lichtleiter möglicherweise verschlechtert hat. Die Vergleiche
können automatisch oder manuell durchgeführt werden. Während
einer solchen Prüfung und Überwachung kann das System 10
entweder im Dauerstrichbetrieb oder im Einzelimpulsbetrieb
gefahren werden.
Im Dauerstrichbetrieb liefert die Laserdiode 40 Licht der
Wellenlänge λ1 kontinuierlich unter Steuerung durch den Hilfs
rechner 60. Das Prüflicht tritt in den Teiler 36 am Anschluß 1-1
ein, und 50% des Lichtes verlassen den Teiler über den Anschluß
2-1, und 50% treten über den Anschluß 2-2 aus. Das durch den
Anschluß 2-1 austretende Licht gelangt zum optischen Schalter 34
und zu dem angeschlossenen zu prüfenden Lichtleiter 12 oder 14.
Im angenommenen Fall, daß der Ersatz-Lichtleiter 12 angeschlos
sen ist, läuft das Licht entlang dem zu prüfenden Lichtleiter 12
zum reflektierenden Element 54, wo es reflektiert wird und dann
zurück durch den Lichtleiter 12 und über den Schalter 34 zum
Anschluß 2-1 des optischen Teilers 36 läuft. 50% des zurückge
kehrten Lichts gelangen zum Anschluß 1-1, und 50% laufen zum
Anschluß 1-2 und werden zur Fotodiode 42 übertragen. Die Fig. 2
zeigt die Lichtleistung, die an der Fotodiode 42 während des
Dauerstrichbetriebs gefühlt wird. Die Fotodiode 42 liefert einen
Signalstrom, dessen Betrag proportional zu der von ihr erfaßten
Lichtleistung PD ist. Das Stromsignal wird durch den Transimpe
danz-Verstärker des Empfängers 44 in ein Spannungssignal
umgesetzt, das dann verstärkt und im A/D-Wandler des Empfängers
44 in eine digitale Binärzahl umgewandelt wird, die auf den
Signalverarbeitungsmodul 46 gegeben wird. Dieser Signalprozessor
46 liefert eine Ausgangsgröße, die einen Mittelwert der digita
len Eingangswerte darstellt, welche vom Prozessor zwischen zwei
aufeinanderfolgenden Befehlen aus dem Rechner 60 empfangen
worden sind, wobei der eine Befehl dem Prozessor 46 den Start
der Mittelwertbildung und der andere Befehl das Ende der
Mittelwertbildung befiehlt. Die Ausgangsgröße dem Signalprozes
sor 46 wird vom Rechner 60 ausgelesen.
Die Fig. 3 zeigt die Verluste in der Lichtleistung während der
Messung. Die Lichtleistung PSist die Leistung, die von der
Laserdiode 40 zum Anschluß 1-1 des optischen Teilers 36 gelie
fert wird. PL ist der Gesamtverlust der Lichtleistung beim
einmaligen Durchwandern des zu prüfenden Lichtleiters. PL
enthält Verluste, die verursacht werden durch Unvollkommenheiten
des Teilers und des Reflektors, durch Spleißstellen, Verbinder
und irgendwelche anderen zeitinvariante Ursachen. Die Basiswert-
Lichtleistung PD1 (d. h. die Leistung vor einem dämpfungsändern
den Ereignis), wie sie zur Fotodiode 42 gelangt, ist durch die
nachstehende Gleichung (1) gegeben:
PD1 = Ps - 2PL - 6dB (1).
Die Lichtleistung PD2, die von der Fotodiode 42 bei einer
nachfolgenden Messung nach einem dämpfungsändernden Ereignis
gefühlt wird, ist durch die nachstehende Gleichung (2) gegeben:
PD2 = PS - 2PL - 2PP - 6dB (2),
wobei PP die Dämpfung infolge der Verschlechterung ist. Aus den
Gleichungen (1) und (2) folgt
PP = (PD1 - PD2)/2 (3).
Der Dauerstrichbetrieb ist nur dann genau, wenn das Maß der
Fresnel- und Rayleigh-Reflexionen klein gegenüber der reflek
tierten Leistung ist; beispielsweise führt ein Maß, das um 13dB
kleiner ist als PD, zu einem Fehler von weniger als 5%.
Bei der gepulsten Betriebsart wird von der Laserdiode 40 ein 10
Mikrosekunden dauernder Impuls abgegeben, und der Signalprozes
sor 46 mißt die Lichtleistung PD zu einer Zeit, die derjenigen
Zeit entspricht, die das Licht für die Hin- und Rückwanderung
entlang dem Lichtleiter braucht. Auch hier läuft das Licht durch
den Teiler 36 und durch den Lichtleiter zum reflektierenden
Element und zurück zur Fotodiode 42, wo das Stromsignal der
Fotodiode in eine Spannung umgesetzt und im Empfänger 44
verstärkt und digitalisiert wird. Wie in der Fig. 4 gezeigt,
nimmt der Signalprozessor 46 Abtastproben während einer
Tastperiode von 3τ, wobei τ die Impulsbreite von 10 Mikrosekun
den ist. Aus den Abtastproben von PD gewinnt der Signalprozessor
den Spitzenwert der reflektierten Leistung. Weil die Impuls
amplituden während des oben erwähnten Zeitintervalls gemessen
werden, tragen Rayleigh- und Fresnel-Reflexionen aus dem zu
prüfenden Lichtleiter nicht zur Leistung PD bei. Somit kann der
Impulsbetrieb angewendet werden, wenn starke Fresnel- und
Rayleigh-Reflexionen vorhanden sind.
Wenn ein aktiver Lichtleiter 14 geprüft wird, ist die Arbeits
weise die gleiche wie für den Lichtleiter 12, nur daß das Licht
auf seinem Weg vom optischen Schalter 34 zum Lichtleiter 14 den
Wellenlängen-Multiplexer (WM) 32 durchläuft. Im Prozeß ergibt
sich eine kleine Dämpfung beim Durchlaufen des WM 32.
Der Einsatz des reflektierenden Elementes 54 oder des reflektie
renden Filters 58 am fernen Ende hat gegenüber der Verwendung
der Lichtquelle am fernen Ende den Vorteil, daß Zugang und
Messung auf derselben Seite möglich ist und am fernen Ende weder
elektrische Leistung noch kontrollierte Umgebungsbedingungen
erforderlich sind und daß dort die Benutzung wartungsfrei und
das benutzte Bauteil kleine Abmessung hat. Außerdem ist, wenn
für eine Leistungsmessung nicht mehr als ein einziger Impuls aus
der Laserdiode 40 verwendet wird, das Meßsystem billiger, und
die Meßzeit ist viel kürzer als bei Messungen mit optischem
Zeitdomänen-Reflektometer (OZDR). Außerdem leidet die Messung
nicht unter Sättigungseffekten, wie sie manchmal bei OZDR-
Messungen vorkommen. Außerdem ist das System billiger und
zuverlässiger als bei Verwendung einer Lichtquelle am fernen
Ende.
Neben der beschriebenen Ausführungsform sind natürlich auch
andere Ausgestaltungen der Erfindung möglich. So kann z. B. der
optische Teiler bzw. Koppler 36 ersetzt werden durch ein
Bauelement der Bulk- oder Kompaktoptik, einen Schalter in opto
elektronischer integrierter Schaltung (z. B. Ti:LiNbO3) oder
einen akusto-optischen Schalter. Außerdem kann ein einziges
Prüfsystem-Steuergerät 20 eine Vielzahl von Lichtmeßeinheiten 24
steuern, die sich in verschiedenen zentralen Ämtern 28 befinden.
Claims (30)
1. Anordnung zum Prüfen einer in der Fernmeldetechnik
verwendeten Lichtleitfaser, gekennzeichnet durch folgende
Einrichtungen:
eine Lichtquelle (40), die derart anschließbar ist, daß sie Licht an ein Ende einer Lichtleitfaser (12 oder 14) liefert;
einen Lichtleistungsdetektor (42, 44), der so anschließbar ist, daß er Licht aus dem besagten einen Ende einer zu prüfenden Lichtleitfaser empfängt;
einen Reflektor (54 oder 58) am anderen Ende der zu prüfenden Lichtleitfaser, und
eine Kontrolleinrichtung (46, 48, 60), die operativ mit der Lichtquelle und dem Detektor gekoppelt ist, um eine Basiswert messung der vom Reflektor reflektierten Lichtleistung und nachfolgende Messungen der vom Reflektor reflektierten Licht leistung durchzuführen und die nachfolgenden Messungen mit der Basiswert-Messung zu vergleichen, um festzustellen, ob sich die vom Reflektor reflektierte Lichtleistung geändert hat,
wobei die Basiswertmessung und die nachfolgenden Messungen nicht mehr als einen einzigen Impuls von Licht aus der Licht quelle benutzen.
eine Lichtquelle (40), die derart anschließbar ist, daß sie Licht an ein Ende einer Lichtleitfaser (12 oder 14) liefert;
einen Lichtleistungsdetektor (42, 44), der so anschließbar ist, daß er Licht aus dem besagten einen Ende einer zu prüfenden Lichtleitfaser empfängt;
einen Reflektor (54 oder 58) am anderen Ende der zu prüfenden Lichtleitfaser, und
eine Kontrolleinrichtung (46, 48, 60), die operativ mit der Lichtquelle und dem Detektor gekoppelt ist, um eine Basiswert messung der vom Reflektor reflektierten Lichtleistung und nachfolgende Messungen der vom Reflektor reflektierten Licht leistung durchzuführen und die nachfolgenden Messungen mit der Basiswert-Messung zu vergleichen, um festzustellen, ob sich die vom Reflektor reflektierte Lichtleistung geändert hat,
wobei die Basiswertmessung und die nachfolgenden Messungen nicht mehr als einen einzigen Impuls von Licht aus der Licht quelle benutzen.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Basiswertmessung und die nachfolgenden Messungen den
Leistungsmittelwert auf der Grundlage von Dauerstrichlicht aus
der Lichtquelle (40) messen.
3. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Basiswertmessung und die nachfolgenden Messungen erfolgen
durch Lieferung eines einzigen Lichtimpulses, dessen Dauer
wesentlich kürzer ist als die Zeit des Hin- und Rücklaufs durch
die Lichtleitfaser, und durch Messung der Amplitude des Lichtes
am Detektor (42, 44) zu einer Zeit, die der benötigten Zeit für
den Hin- und Rücklauf des Lichtes entlang der Lichtleitfaser (12
oder 14) entspricht.
4. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die zu prüfende Lichtleitfaser (12) eine Ersatz-Lichtleitfaser
ist, die nicht in Gebrauch ist, aber in einem Bündel aktiver
Lichtleitfasern verwendet wird, um als Indikator für Zustände
der aktiven Fasern zu dienen.
5. Anordnung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß
der Reflektor (54) eine reflektierende Metalloberfläche ist, die
sich an einem Abschlußstück am Ende der zu prüfenden Lichtleit
faser (12) befindet.
6. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die zu prüfende Lichtleitfaser (14) eine aktive Faser ist und
daß die Lichtquelle (40) und der Detektor (42, 44) mit einer
Prüfwellenlänge arbeiten, die anders ist als die für Nachrich
tenverkehr verwendete Wellenlänge.
7. Anordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß
das reflektierende Element (58) ein reflektierendes Filter ist,
das die Wellenlänge des Nachrichtenverkehrs durchläßt und die
Prüfwellenlänge blockiert.
8. Anordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß
sich am besagten einen Ende der Lichtleitfaser (14) ein
Wellenlängen-Multiplexer (32) befindet, um die Wellenlänge des
Nachrichtenverkehrs zu einem Sender (16) zu lenken und von einem
Sender zu empfangen, der beim Nachrichtenverkehr verwendet wird,
und um die Prüfwellenlänge von der Lichtquelle (40) zu empfangen
und zum Detektor (42, 44) zu lenken.
9. Anordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch einen
optischen Schalter (34) zum wahlweisen Koppeln der Lichtquelle
(40) und des Detektors (42, 44) mit einer von vielen Lichtleit
fasern (12, 14).
10. Anordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch einen
optischen Teiler (36) zum Koppeln der Lichtquelle (40) und des
Detektors (42, 44) mit einer einzigen Lichtleitfaser (12 oder
14).
11. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Lichtquelle eine Laserdiode (40) ist, die durch einen
Laserdioden-Treiber (38) gesteuert wird.
12. Anordnung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß
der Detektor (42, 44) eine Fotodiode (42) enthält, die als
Ausgangsgröße ein Stromsignal liefert, und einen Empfänger (44),
der das Stromsignal in ein Digitalsignal umwandelt, das auf die
Überwachungseinrichtung (46, 48, 60) gegeben wird.
13. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Lichtquelle (40) und der Lichtleistungsdetektor (42, 44) und
die Überwachungseinrichtung (46, 48, 60) in einem zentralen Amt
(28) angeordnet sind.
14. Anordnung nach Anspruch 13, gekennzeichnet durch ein
fern angeordnetes Prüfsystem-Steuergerät (20), das die Licht-
Quelle (40), den Lichtleistungsdetektor (42, 44) und die
Überwachungseinrichtung (46, 48, 60) steuert.
15. Anordnung nach Anspruch 13, gekennzeichnet durch eine
Zugangseinheit (28) für das Lichtprüfsystem, um die Lichtquelle
(40) und den Lichtleistungsdetektor (42, 44) mit der zu prüfen
den Lichtleitfaser (12 oder 14) zu verbinden.
16. Verfahren zum Prüfen einer Lichtleitfaser, die in der
Fernmeldetechnik verwendet wird, dadurch gekennzeichnet,
daß Licht an ein Ende einer zu prüfenden Lichtleitfaser geliefert wird;
daß das Licht am anderen Ende der zu prüfenden Lichtleit faser reflektiert wird;
daß das vom anderen Ende der zu prüfenden Lichtleitfaser reflektierte Licht erfaßt wird, um eine Basiswertmessung der Lichtleistung und nachfolgende Messungen der Lichtleistung zu erhalten und
daß die nachfolgenden Messungen mit der Basiswertmessung verglichen werden, um festzustellen, ob sich die Lichtleistung geändert hat,
wobei die Basiswertmessung und die nachfolgenden Messungen nicht mehr als einen einzigen Lichtimpuls aus der Lichtquelle benutzen.
daß Licht an ein Ende einer zu prüfenden Lichtleitfaser geliefert wird;
daß das Licht am anderen Ende der zu prüfenden Lichtleit faser reflektiert wird;
daß das vom anderen Ende der zu prüfenden Lichtleitfaser reflektierte Licht erfaßt wird, um eine Basiswertmessung der Lichtleistung und nachfolgende Messungen der Lichtleistung zu erhalten und
daß die nachfolgenden Messungen mit der Basiswertmessung verglichen werden, um festzustellen, ob sich die Lichtleistung geändert hat,
wobei die Basiswertmessung und die nachfolgenden Messungen nicht mehr als einen einzigen Lichtimpuls aus der Lichtquelle benutzen.
17. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß
die Basiswertmessung und die nachfolgenden Messungen den
Leistungsmittelwertes auf der Grundlage von Dauerstrichlicht aus
der Lichtquelle messen.
18. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß
die Basiswertmessung und die nachfolgenden Messungen durchge
führt werden, indem ein einziger Lichtimpuls geliefert wird,
dessen Dauer wesentlich kürzer ist als die für den Hin- und
Rücklauf des Lichtes entlang der Lichtleitfaser benötigten Zeit,
und durch Messung der Amplitude des Lichts zu einer Zeit, die
der Zeit entspricht, welche das Licht zum Hin- und Rücklauf
durch die Lichtleitfaser benötigt.
19. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß
die zu prüfende Faser eine Ersatzfaser ist, die nicht in
Gebrauch ist, aber in einem Bündel aktiver Lichtleitfasern als
Indikator für Zustände der aktiven Fasern verwendet wird.
20. Verfahren nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß
das Reflektieren durch eine reflektierende Metalloberfläche
erfolgt, die an einem Abschlußstück am Ende der zu prüfenden
Faser vorgesehen wird.
21. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß
die zu prüfende Faser eine aktive Faser ist und daß das an die
Faser gelieferte und an der Faser erfaßte Licht eine Prüfwellen
länge hat, die anders ist als die für den Nachrichtenverkehr
benutzte Wellenlänge.
22. Verfahren nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, daß
das Reflektieren durch ein reflektierendes Filter erfolgt, das
die Wellenlänge des Nachrichtenverkehrs durchläßt und die
Prüfwellenlänge blockiert.
23. Verfahren nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, daß
an einem Ende der Lichtleitfaser ein Wellenlängen-Multiplexer
vorgesehen wird, um die Wellenlänge des Nachrichtenverkehrs an
einen beim Nachrichtenverkehr benutzten Sender zu liefern und
von dort zu empfangen und um die Testwellenlänge von einer
Lichtquelle zu empfangen und zu einem Lichtdetektor zu lenken.
24. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß
ein optischer Schalter verwendet wird, um eine Lichtquelle und
einen Lichtdetektor wahlweise mit einer von vielen Lichtleit
fasern zu verbinden.
25. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß
ein optischer Teiler verwendet wird, um eine Lichtquelle und
einen Lichtdetektor mit einer einzigen Lichtleitfaser zu
verbinden.
26. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß
das Licht von einer Laserdiode geliefert wird, die durch einen
Laserdioden-Treiber gesteuert wird.
27. Verfahren nach Anspruch 26, dadurch gekennzeichnet, daß
die Erfassung durch eine Fotodiode erfolgt, die ausgangsseitig
ein Stromsignal liefert, und einen Empfänger, der das
Stromsignal in ein Digitalsignal umwandelt.
28. Verfahren nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß
das Licht von einer Lichtquelle geliefert wird und daß das
reflektierte Licht von einem Lichtleistungsdetektor erfaßt wird
und daß sich beide Einrichtungen in einem zentralen Amt
befinden.
29. Verfahren nach Anspruch 28, dadurch gekennzeichnet, daß
ein fern angeordnetes Prüfsystem-Steuergerät die Lichtquelle und
den Lichtleistungsdetektor steuern.
30. Verfahren nach Anspruch 28, dadurch gekennzeichnet, daß
eine Zugangseinheit für das Lichtprüfsystem die Lichtquelle und
den Lichtleistungsdetektor mit der zu prüfenden Lichtleitfaser
verbindet.
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |