DE4304344A1 - Method for the elimination of the reflective element of light radiation reflected from an object - Google Patents

Method for the elimination of the reflective element of light radiation reflected from an object

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DE4304344A1 DE19934304344 DE4304344A DE4304344A1 DE 4304344 A1 DE4304344 A1 DE 4304344A1 DE 19934304344 DE19934304344 DE 19934304344 DE 4304344 A DE4304344 A DE 4304344A DE 4304344 A1 DE4304344 A1 DE 4304344A1
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Abstract

By the elimination of the signal element returning after being reflected, the new method is intended to enhance the security of, for example, driverless transportation vehicles and similar devices, such that people or objects who or which reflect diffuse light are identified without any doubt. Depending on the scanning process (sampling process), a probing transmitted light beam is emitted which has a low transmitted power (which prevents diffuse reflection) and whose current intensity (ISP) is stored. If a return signal is received, both output currents from the position sensor (14) are measured and stored. The main transmitted light beam is then emitted using the transmitting current (ISH) and the current elements (IF3, IN3) produced in the position sensor (14) by the reflectively reflected element are calculated from the current intensities (ISP, ISH) of the probing and main transmitted light beams and from the output currents (IF1, IN1), generated by the probing return signal, from the position sensor (14). The current elements (IF2, IN2) produced by diffuse reflection are then obtained and evaluated by subtraction of the reflected current elements (IF3, IN3) from the total output currents (IF2, IN2) from the position sensor (14). <IMAGE>

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren gemäß dem Oberbegriff des An­ spruchs 1.The invention relates to a method according to the preamble of the An saying 1.

Beim Abtasten von Objekten mit diffuser Oberfläche mittels Reflex-Lichttaster wirkt sich der Neigungswinkel des Objekts zur Achse des Lichtsenders nicht oder zumindest nicht nennenswert auf das durch die reflektierte Lichtstrahlung generierte Empfangssignal aus. Das heißt, die Position des Lichtfleckschwer­ punkts auf einem als Positionssensor (PSD) ausgebildeten Lichtempfänger wird durch die Oberfläche eines geneigten Objekts nicht beeinträchtigt. Hingegen ist bei spiegelnden Objektoberflächen der Reflexionswinkel abhängig vom Nei­ gungswinkel der Objektoberfläche zur optischen Achse des Lichtsenders. Dem­ zufolge führt eine Neigungsänderung der Objektoberfläche zu einer Änderung des Lichtfleckschwerpunkts auf den Lichtempfänger und damit zu einer Ver­ schiebung des Schaltpunkts.When scanning objects with a diffuse surface using a reflex light scanner the angle of inclination of the object to the axis of the light transmitter has no effect or at least not significantly due to the reflected light radiation generated reception signal. That is, the position of the light spot is difficult points on a light receiver designed as a position sensor (PSD) not affected by the surface of an inclined object. However, is with reflecting object surfaces the angle of reflection depends on the Nei angle of the object surface to the optical axis of the light transmitter. The according to an inclination change of the object surface leads to a change of the light spot center of gravity on the light receiver and thus to a ver shift of the switching point.

Dieser Sachverhalt kann unter Umständen schwerwiegende Folgen haben. So kann beispielsweise durch ein fahrerloses Transportfahrzeug, das seine Umge­ bung mittels eines Lichttasters abtastet, aufgrund spiegelnder Reflexionen eine Person oder ein Gegenstand nicht erkannt werden.This may have serious consequences. So can, for example, by a driverless transport vehicle, the reverse exercise using a light button, due to specular reflections Person or object cannot be recognized.

Ausgehend von diesem Sachverhalt liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, Objekte mit Oberflächen, die sowohl diffuse als auch spiegelnde Reflexionsei­ genschaften aufweisen, durch Elimination des auf spiegelnde Reflexion zurück­ gehenden Signalanteils im Empfänger sicher zu erfassen.Based on this fact, the object of the invention is Objects with surfaces that are both diffuse and specular reflection have properties, by eliminating the reflecting reflection secure signal component in the receiver to be detected.

Diese Aufgabe ist erfindungsgemäß mit den kennzeichnenden Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst. This task is according to the invention with the characterizing features of Claim 1 solved.  

Durch diese Lösung können sich Änderungen des Neigungswinkels der Objekt­ oberfläche nicht mehr negativ auswirken. Außerdem können die Objektanord­ nungen herkömmlicher Lichttaster verwendet werden.This solution can change the angle of inclination of the object no longer have a negative impact on the surface. In addition, the object arrangement conventional light sensors can be used.

Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen charakterisiert.Further developments of the invention are characterized in the subclaims.

Die Erfindung wird im nachstehenden anhand der Zeichnung erläutert.The invention is explained below with reference to the drawing.

Es zeigen: Fig. 1 eine Prinzipdarstellung eines Reflex-Lichttasters mit Lichtsender, Lichtempfänger und Probe-Sendestrom.In the drawings: Figure 1 is a schematic diagram of a diffuse sensor with the light transmitter, light receiver, and specimen transmission. Electricity.

Fig. 2 eine Prinzipdarstellung des Lichttasters gemäß Fig. 1 mit Messung und Speicherung der Ausgangsströme des Licht­ empfängers, Fig. 2 is a schematic representation of the light sensor of FIG. 1 with measurement and storage of the output currents of the light receiver,

Fig. 3 eine Prinzipdarstellung des Lichttasters mit Haupt-Sende­ strom, Fig. 3 is a schematic representation of the light sensor current with the main transmission,

Fig. 4 einen Microcontroller mit in Blockdarstellung veran­ schaulichter Anordnung zur Bestimmung der durch spie­ gelnde Reflexion erzeugten Signalanteile, Fig. 4 shows a microcontroller with, in block diagram veran looking lights arrangement for determining the signal components generated by reflection terrain spat

Fig. 5 eine Prinzipdarstellung der Elimination der durch spie­ gelnde Reflexion bewirkten Signalanteile, Fig. 5 is a schematic representation of the elimination of the spat caused by terrain reflection signal components,

Fig. 6 eine Anordnung mit Microcontroller und nur einer Re­ chenstrecke für beide Meßkanäle, Fig. 6 shows an arrangement with only one microcontroller and Re chenstrecke for both measuring channels,

Fig. 7 einen Hauptarbeitstakt mit einem Takt für die Probe- und Hauptsendestrahlung (Probe- und Hauptsignal). Fig. 7 is a main working stroke with a clock for the sample and prime radiation (sample and major).

In den Fig. 1 bis 3 und 5 ist mit 10 ein beispielsweise als GAS- oder Laser­ diode ausgebildeter Lichtsender mit Sendeoptik 11, mit 12 ein abzutastendes Objekt, mit 13 eine Empfangsoptik und mit 14 ein als Positionssensor (PSD) ausgebildeter Lichtempfänger bezeichnet. Diese Anordnung verkörpert einen Reflex-Lichttaster.In Figs. 1 to 3 and 5, numeral 10 designates a diode, for example, as a gas or laser formed light emitter with transmission optics 11, with 12 an object to be scanned, at 13 a receiving optical system with 14 designed as a position sensor (PSD) light receiver. This arrangement embodies a reflex light scanner.

Wie aus Fig. 1 hervorgeht, wird das Objekt 12 bzw. dessen Oberfläche zuerst mittels eines Probesendelichtbündels 15 (Probe-Sendesignal) mit dem Sende­ strom ISP auf spiegelndes und diffuses Reflexionsverhalten überprüft.As can be seen from FIG. 1, the object 12 or its surface is first checked for specular and diffuse reflection behavior by means of a test beam 15 (test send signal) with the send current I SP .

Das Probe-Sendelichtbündel 15 wird mit sehr kleiner Sendeleistung ausgegeben, wobei der Sendestrom ISP bei jedem Arbeitstakt über einen Widerstand erneut gemessen und in einem Analogspeicher 16 gespeichert wird. Da diffus reflek­ tiertes Licht sehr stark von der jeweiligen Entfernung abhängig ist, kann davon ausgegangen werden, daß bei sehr kleinen Sendeleistungen kein durch diffuse Reflexion erzeugtes Signal auftreten wird.The test transmission light bundle 15 is output with a very low transmission power, the transmission current I SP being measured anew with each work cycle via a resistor and being stored in an analog memory 16 . Since diffusely reflected light is very dependent on the respective distance, it can be assumed that at very low transmission powers no signal generated by diffuse reflection will occur.

Abhängig von der Beschaffenheit der Oberfläche des Objekts 10 bzw. des Ob­ jekts als solchem wird im Lichtempfänger ein oder kein Signal erzeugt. Tritt am Lichtempfänger 14 kein Signal auf, so weist die Objektoberfläche ent­ weder keine spiegelnde Eigenschaft oder einen solchen Neigungswinkel auf, daß der zurückgespiegelte Strahlungsanteil nicht auf den Lichtempfänger gelangt.Depending on the nature of the surface of the object 10 or the object as such, one or no signal is generated in the light receiver. If no signal occurs at the light receiver 14 , then the object surface either has no reflective property or such an angle of inclination that the reflected radiation portion does not reach the light receiver.

Im ersteren Fall kann das Objekt mit dem Haupt-Sendelichtbündel (Hauptsignal) ohne weiteres abgetastet werden. Im zweiten Fall kann entweder der auf diffuse Reflexion zurückgehende Signalanteil gemessen und bewertet werden oder die­ ser Anteil ist so gering, daß die Empfangsleistung für eine definierte Messung nicht ausreicht.In the former case, the object can be combined with the main beam of light (main signal) can be easily scanned. In the second case, either the diffuse Reflecting declining signal component can be measured and evaluated or the This proportion is so low that the received power for a defined measurement not enough.

Wird im Lichtempfänger 10 ein Signal generiert, so weist das Objekt bzw. des­ sen Oberfläche Spiegeleigenschaften und einen solchen Neigungswinkel auf, daß ein Anteil des Probe-Sendelichtbündels 15, wie durch den Sendelichtstrahl 15′ und den spiegelnd reflektierten Lichtstrahl 15′′ veranschaulicht ist, auf den Lichtempfänger 14 zurückgelangt.A signal is generated in the light receiver 10, so has the object or the sen surface mirror properties and such an inclination angle that a portion of the sample transmitted light beam 15, as illustrated by the transmitted light beam 15 'and the specularly reflected light beam 15' ', returned to the light receiver 14 .

In diesem Fall werden beide Ausgangsströme IF1 und IN1 des Lichtempfängers 14 gemessen und, wie aus Fig. 2 ersichtlich ist, jeweils in einem Analogspei­ cher 17, 18 gespeichert, das heißt, die Position des durch spiegelnde Reflexion erhaltenen Lichtflecks 19 wird erfaßt und festgehalten.In this case, both output currents I F1 and I N1 of the light receiver 14 are measured and, as can be seen from FIG. 2, are each stored in an analog memory 17 , 18 , that is, the position of the light spot 19 obtained by specular reflection is detected and captured.

Zur Einstellung der geringen Sendeleistung für das Probesignal (Probe-Sende­ lichtbündel) wird ein Objekt mit weißer diffus reflektierender Oberfläche im ge­ gebenen oder gewählten Mindest-Abstand (Reichweite) vom Lichttaster aufge­ stellt und die Leistung so eingestellt, daß gerade noch kein Empfangssignal er­ zeugt wird. Ersetzt man dieses Objekt durch einen Gegenstand mit einer wenig­ stens teilweise Spiegeleigenschaften aufweisenden Oberfläche, so wird im Lichtempfänger ein der Spiegeleigenschaft entsprechendes Empfangssignal ge­ neriert.For setting the low transmission power for the test signal (test transmission light beam) is an object with a white diffusely reflecting surface in the ge given or selected minimum distance (range) from the light switch provides and the power set so that just no reception signal is fathered. If you replace this object with an object with a little least partially surface with mirror properties, so in Light receiver ge a reception signal corresponding to the mirror property nerated.

Nach dem Aussenden und Auswerten des Probesignals wird, wie Fig. 3 sche­ matisch veranschaulicht, das Haupt-Sendelichtbündel 20 (Hauptsignal) mit der Sendeleistung PH und dem Sendestrom ISH ausgesandt. Vom reflektierten Anteil des Haupt-Sendelichtstrahlenbündels 20, veranschaulicht durch die Strahlen 20′ und 20′′, werden auf dem Lichtempfänger 14 zwei Lichtflecke 21, 22 mitunter­ schiedlichen Schwerpunkten abgebildet, wobei der eine Lichtfleck 21 durch spiegelnde Reflexion und der andere Lichtfleck 22 durch diffuse Reflexion zu­ stande gekommen ist.After the transmission and evaluation of the test signal, as schematically illustrated in FIG. 3, the main transmission light bundle 20 (main signal) is transmitted with the transmission power P H and the transmission current I SH . From the reflected portion of the main transmitted light beam 20 , illustrated by the rays 20 'and 20 '', two light spots 21 , 22, sometimes different focal points, are imaged on the light receiver 14 , one light spot 21 by specular reflection and the other light spot 22 by diffuse Reflection has come about.

Fig. 4 zeigt im Prinzip die Ermittlung der durch den spiegelnd reflektierten Anteil des Hauptsendelichtstrahlenbündels (Hauptsignal) im Lichtempfänger zu­ sätzlich zum diffus reflektierten Anteil generierten Stromanteile IF3 und IN3 Diese beiden Stromanteile ergeben sich aus den Beziehungen Fig. 4 shows in principle the determination by the specularly reflected portion of the main light beam (main signal) in the light receiver to additionally generated for the diffusely reflected portion of current components I F3 I N3 These two current components are derived from the relationship

Dabei sind IF1 und IN1 die beim Empfang des spiegelnd reflektierten Strahlungs­ anteils des Probe-Sendelichtbündels (Probesignal) erhaltenen Ausgangsströme des Lichtempfängers und ISH sowie ISP die Sendeströme der Haupt- und Probe- Sendelichtstrahlung (Haupt- und Probesignal). Durch Subtraktion der durch spie­ gelnde Reflexion erzeugten Stromanteile (Spiegel-Stromanteile) IF3 und IN3 von den durch die Haupt-Sendelichtstrahlung erzeugten Ausgangsströmen IF2 und IN2 des Lichtempfängers 14 (siehe hierzu Fig. 5) ergeben sich die infolge diffuser Reflexion entstandenen Stromanteile (Diffus-Stromanteile):I F1 and I N1 are the output currents of the light receiver and I SH as well as I SP are the transmission currents of the main and sample transmission light radiation (main and sample signal) received on receipt of the specularly reflected radiation portion of the sample transmission light bundle (sample signal). By subtracting the current components (mirror current components) generated by mirroring reflection (mirror current components) I F3 and I N3 from the output currents I F2 and I N2 of the light receiver 14 generated by the main transmitted light radiation (see also FIG. 5), the arises as a result of diffuse reflection Current components (diffuse current components):

IF und IN zu IF = IF2 - IF3 und IN = IN2 - UN3. Damit sind die Spiegelstromanteile IF3 und IN3 eliminiert und die Diffus-Stromanteile IF und IN bewertbar. Diese Be­ wertung führt zu einem 1 oder 0-Signal am Ausgang des Lichttasters. Zugleich können diese Stromanteile addiert und mit einem vorgegebenen Sollwert vergli­ chen werden, wobei bei Nichtübereinstimmung des Sollwerts mit dem Istwert der Hauptsendestrom IHS selbsttätig nachgeregelt und die Sendeleistung für das nächste Haupt-Sendelichtstrahlenbündel (Haupt-Signal) entsprechend eingestellt wird.I F and I N to I F = I F2 - I F3 and I N = I N2 - U N3 . The mirror current components I F3 and I N3 are thus eliminated and the diffuse current components I F and I N can be evaluated. This evaluation leads to a 1 or 0 signal at the output of the light button. At the same time, these current components can be added and compared with a predefined setpoint, the main transmission current I HS being automatically readjusted if the setpoint does not match the actual value, and the transmission power for the next main transmission light beam (main signal) is set accordingly.

Für die Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens wird vorzugsweise ein Microcontroller benutzt, der die Speicher- und Rechenoperationen übernimmt. Damit reduziert sich der erforderliche Aufwand auf ein Mindestmaß.A is preferably used for carrying out the method according to the invention Microcontroller used, which takes over the storage and computing operations. This reduces the effort required to a minimum.

Die beiden Rechenstrecken 24 und 25 (siehe hierzu Fig. 4 und 5) zur Berechnung der durch spiegelnde Reflexion erzeugten Stromanteile IF3, IN3 bzw. Spannungsanteile UF3, UN3 sind symmetrisch aufgebaut und müssen identisch sein.The two computing sections 24 and 25 (see FIGS. 4 and 5) for calculating the current components I F3 , I N3 and voltage components U F3 , U N3 generated by specular reflection are symmetrical and must be identical.

Um durch Toleranzen von Bauelementen und Temperatureinflüssen bedingte Abweichungen in den beiden Rechenstrecken 24 und 25 von vornherein auszu­ schließen, wird nach einem weiteren Gedanken der Erfindung nur eine einzige Rechenstrecke 28 für die Berechnung der durch spiegelnde Reflexion erzeugten Signale verwendet, die selbsttätig vom einen auf den anderen Empfangskanal 26, 27 (siehe Fig. 2 und 5) mittels eines elektronischen Umschalters 29 umge­ schaltet wird.In order to exclude deviations in the two computing sections 24 and 25 from the outset due to tolerances of components and temperature influences, according to a further idea of the invention, only a single computing section 28 is used for calculating the signals generated by specular reflection, which automatically move from one to the other another receiving channel 26 , 27 (see FIGS. 2 and 5) is switched by means of an electronic switch 29 .

Der Funktionsablauf während eines Arbeitstakts ist in diesem Fall folgender (siehe hierzu Fig. 6): Das Probe-Sendelichtstrahlenbündel 15 (Probe-Signal) wird ausgesandt und der Sendelichtstrom ISP bzw. die Sendeleistung wird in einem Register 16′ eines mit 23 bezeichneten Microcontrollers abgelegt. Die Probe-Empfangssignale IF1, IN1 werden zuerst von Kanal 26 und dann von Kanal 27 abgetastet und in zwei Registern 17′, 18′ des Microcontrollers 23 gespei­ chert. Daraufhin wird das Hauptsendelichtbündel (Hauptsignal) mit dem Sen­ delichtstrom ISH ausgesandt und die Ströme IF2, IN2 des Haupt-Empfangssignals zuerst von Kanal 26 und dann nach Umschalten des Schalters 29 von Kanal 27 abgetastet und in zwei weiteren Registern 30, 31 des Microcontrollers 23 abge­ legt. Die auf spiegelnde Reflexion zurückgehenden Stromanteile IF3, IN3 werden dann in der Signalpause auf die bereits angegebene Weise vom Microcontroller (Rechenstrecke 28) berechnet, von den durch das Hauptsendelichtbündel gene­ rierten Hauptempfangssignalen IF2, IN2 abgezogen und danach die durch diffuse Reflexion in Lichtempfänger 14 durch das Haupt-Sendelichtbündel generierten Stromanteile IE und IN bewertet.The functional sequence during a work cycle is the following in this case (see FIG. 6): The sample transmit light beam 15 (sample signal) is emitted and the transmit luminous flux I SP or the transmit power is recorded in a register 16 'of a microcontroller 23 filed. The sample receive signals I F1 , I N1 are first sampled by channel 26 and then by channel 27 and stored in two registers 17 ', 18 ' of the microcontroller 23 . Thereupon the main transmission light bundle (main signal) is emitted with the sen delichtstrom I SH and the currents I F2 , I N2 of the main received signal are first sampled by channel 26 and then after switching switch 29 by channel 27 and in two further registers 30 , 31 des Microcontrollers 23 filed. The current components I F3 , I N3 due to specular reflection are then calculated in the signal pause in the manner already specified by the microcontroller (computing path 28 ), subtracted from the main reception signals I F2 , I N2 generated by the main transmission light bundle, and then by diffuse reflection in Light receiver 14 evaluated by the main transmitted light bundle current components I E and I N.

Der Hauptarbeitstakt tA wird mittels eines Oszillators erzeugt. Wie Fig. 7 zeigt, besteht der Sendetakt aus zwei einzelnen Takten, dem Takt tP für die Probe-Sen­ delichtstrahlung (Probe-Signal) und dem Takt tH für die Haupt-Sendelichtstrah­ lung (Hauptsignal).The main operating cycle t A is generated by means of an oscillator. As shown in FIG. 7, the transmission clock consists of two individual clocks, the clock t P for the sample transmission light (sample signal) and the clock t H for the main transmission light radiation (main signal).

Das Umschalten von einen auf den anderen Kanal 26, 27 erfolgt im Falle des Probesignals während der Taktpause tP und beim Hauptsignal während des Taktpause tH1.Switching from one to the other channel 26 , 27 takes place in the case of the test signal during the clock pause t P and in the case of the main signal during the clock pause t H1 .

Claims (4)

1. Verfahren zum Eliminieren des spiegelnden Anteils einer von einem mit Sendelicht beaufschlagten Objekt auf einen als Positionssensor (PSD) ausge­ bildeten Lichtempfänger reflektierten Lichtstrahlung, dadurch gekennzeich­ net, daß je Abtastvorgang ein Probesendelichtbündel (15) mit geringer, ein durch diffuse Reflexion erzeugtes Empfangssignal ausschließender Sendelei­ stung ausgesandt und die Sendestromstärke (ISP) des Probesendelichtbündels in einem Analogspeicher (16) gespeichert wird, beim Empfang eines Rück­ signals vom Objekt (12) her beide Ausgangsströme (IF1, IN1) des Lichtemp­ fängers (14) gemessen und die Meßwerte gespeichert werden, daraufhin ein Haupt-Sendelichtbündel (20) mit normaler Sendeleistung mit dem Sende­ strom (ISH) ausgegeben wird und die durch den spiegelnd reflektierten Anteil des Haupt-Sendelichtbündels (20) im Lichtempfänger (14) generierten Stromanteile (IF3, IN3) jeweils aus den Stromstärken (ISP, ISH) des Probe- und Hauptsendelichtbündels (15, 20) und dem durch das Proberücksignal im Lichtempfänger (14) erzeugten Ausgangsstrom (IF1 bzw. IN1) berechnet wer­ den und die durch diffuse Reflexion erzeugten Stromanteile (IF, IN) durch Subtraktion der Spiegel-Stromanteile (IF3, IN3) von den durch das Haupt- Sendelichtbündel (20) erzeugten Gesamt-Ausgangsströmen (IF2, IN2) des Lichtempfängers (14) gewonnen und ausgewertet werden.1. A method for eliminating the reflective portion of a light from an object with transmitted light onto a light receiver formed as a position sensor (PSD) reflected light radiation, characterized in that each scanning process a sample light beam ( 15 ) with low, a received signal generated by diffuse reflection excluding Transmitting power emitted and the transmission current (I SP ) of the sample transmission light bundle is stored in an analog memory ( 16 ), upon receipt of a return signal from the object ( 12 ) both output currents (I F1 , I N1 ) of the light receiver ( 14 ) measured and the Measured values are stored, then a main transmission light bundle ( 20 ) with normal transmission power is output with the transmission current (I SH ) and the current components (I F3 ,) generated by the specularly reflected portion of the main transmission light bundle ( 20 ) in the light receiver ( 14 ) I N3 ) each from the currents (I SP , I SH ) of the sample and Main transmission light bundle ( 15 , 20 ) and the output current (I F1 or I N1 ) generated by the sample return signal in the light receiver ( 14 ) and the current components (I F , I N ) generated by diffuse reflection by subtracting the mirror current components ( I F3 , I N3 ) of the total output currents (I F2 , I N2 ) of the light receiver ( 14 ) generated by the main transmission light bundle ( 20 ) are obtained and evaluated. 2. Verfahren nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch die Verwendung eines Microcontrollers (23) für die Durchführung der Rechenoperationen und Meßwertspeicherungen.2. The method according to claim 1, characterized by the use of a microcontroller ( 23 ) for performing the arithmetic operations and storing measured values. 3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß je Abtastvorgang die Stärke (gemessen und der Meßwert in einem Register (16′) des Microcontrollers (23) abgelegt wird, die beiden vom Probe-Rücksignal im Lichtempfänger (14) erzeugten Ausgangsströme (IF1, IN1) des Lichtempfängers (14) jeweils in einem Register (17′, 18′) des Microcontrollers gespeichert werden, daraufhin des Haupt-Sendelichtbündel (20) mit dem Sendestrom ISH ausgesandt und die hierdurch im Lichtempfän­ ger (14) generierten Gesamt-Empfangsströme (IF2, IN2) in jeweils einem wei­ teren Register (30, 31) abgelegt werden, die durch spiegelnde Reflexion erzeugten Stromanteile (IF3, IN3) des Haupt-Sendelichtbündels (20) in einer einzigen, von einen Abtastkanal (26) für die Stromanteile IF1 bzw. IF2 auf den anderen Abtastkanal (27) umschaltbaren Rechenstrecken (28) berechnet, von den Empfangsströmen (IF2, IN2) des Haupt-Sendelichtbündels (20) subtra­ hiert und die dadurch bestimmten, durch diffuse Reflexion erzeugten Strom­ anteile (IF, IN) des Haupt-Sendelichtbündels bewertet werden.3. The method according to claim 2, characterized in that the strength (measured and the measured value is stored in a register ( 16 ') of the microcontroller ( 23 ), the two output currents (I) generated by the sample return signal in the light receiver ( 14 ) F1 , I N1 ) of the light receiver ( 14 ) are each stored in a register ( 17 ', 18 ') of the microcontroller, then the main transmitted light bundle ( 20 ) is emitted with the transmission current I SH and the gene thereby generated in the light receiver ( 14 ) Total received currents (I F2 , I N2 ) are each stored in a further register ( 30 , 31 ), the current components (I F3 , I N3 ) of the main transmitted light beam ( 20 ) generated by specular reflection in a single one Scanning channel ( 26 ) for the current components I F1 and I F2 on the other scanning channel ( 27 ) switchable computing paths ( 28 ) calculated, subtracted from the receiving currents (I F2 , I N2 ) of the main transmitted light beam ( 20 ) and the thereby determined, generated by diffuse reflection current components (I F , I N ) of the main transmitted light beam. 4. Verfahren nach Anspruch 1 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die durch den spiegelnd reflektierten Anteil des Hauptsignals (HS) im Lichtempfänger (14) erzeugten Stromanteile (IF3, IN3) nach der Bezeichnung berechnet werden.4. The method according to claim 1 or 3, characterized in that by the specularly reflected portion of the main signal (H S ) in the light receiver ( 14 ) generated current portions (I F3 , I N3 ) according to the name be calculated.
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