DE4307736A1 - Sequence to process electrophoresic sample of human serum quickly - comprises normalisation of measuring sample derived from electrophoresic processing compared to ref. prod., fractionating sample on basis of derived fractionating point, etc. - Google Patents

Sequence to process electrophoresic sample of human serum quickly - comprises normalisation of measuring sample derived from electrophoresic processing compared to ref. prod., fractionating sample on basis of derived fractionating point, etc.

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Abstract

A sequence to process an electrophoresis fraction profile comprises . prepn. and supply of a ref. prod. which has a fractionating point and a peak which serve as ref. points . normalisation of a measuring sample which is derived from electrophoresic processing of a sample . Fractionation of the sample on the basis of a resulting fractionating point which was derived from the fact that a position of the fractionating point of the ref. sample is used as a reference position, and that each ref. sample fractionating point is so positioned that it coincides with a measuring sample fractionating point. USE/ADVANTAGE - The process facilitates the processing of a sample derived from electrophoresic processing of human serum. The process removes the subjective element in assessing the densitometric and electrophoresic differences associated with diagnosis

Description

Vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Ver­ arbeiten eines Fraktionsbilds oder Fraktionierungsbilds, das unter Einsatz eines Elektrophorese-Geräts aus einem Serum er­ halten wurde.The present invention relates to a method of ver work a faction image or fractionation image that using an electrophoresis device from a serum was holding.

Ein menschliches Serum läßt sich in einem Elektrophorese-Gerät unter Einsatz einer Zelluloseacetat-Membran als Träger einer Elektrophorese-Behandlung unterziehen, um ein elektrophoreti­ sches Bild zu erhalten. Die Lichtmenge, die durch das resul­ tierende elektrophoretische Bild hindurchgelangt, wird unter Einsatz eines Densitometers gemessen, um die Dichten der je­ weiligen Bänder des elektrophoretischen Bilds zu erhalten (dieser Schritt wird im folgenden als Photometrie-Schritt be­ zeichnet). Als Ergebnis hat ein Basismuster bzw. grundsätzli­ ches Muster (im folgenden als Bezugsmuster bezeichnet) aus analogen Mustern (im folgenden als densitometrische Muster be­ zeichnet) der resultierenden elektrophoretischen Bilder eine Dichte-Verteilung, wie sie in Fig. 1 gezeigt ist. Es ist be­ kannt, daß ein gesundes menschliches Serum dieses Muster be­ sitzt.A human serum can be electrophoresed in an electrophoresis machine using a cellulose acetate membrane as a support to obtain an electrophoresis image. The amount of light that passes through the resulting electrophoretic image is measured using a densitometer to obtain the densities of the respective bands of the electrophoretic image (this step is hereinafter referred to as a photometry step). As a result, a basic pattern (hereinafter referred to as a reference pattern) of analog patterns (hereinafter referred to as a densitometric pattern) of the resulting electrophoretic images has a density distribution as shown in FIG. 1. It is known that a healthy human serum has this pattern.

Dieses densitometrische Muster wird in fünf Fraktionen bzw. Anteile a, b, c, d und e fraktioniert bzw. unterteilt, die fünf Spitzen enthalten (im folgenden als Referenzspitzen be­ zeichnet), die fünf Punkten p0, p1, p2, p3 und p4 auf der X- Achse entsprechen. Diese fünf Fraktionen sind Albumin, α1-Glo­ bulin, α2-Globulin, β-Globulin und γ-Globulin. Zusätzlich kann β-Globulin weiterhin in zwei Fraktionen β1 und β2 frak­ tioniert werden, was zur einer Fraktionierung in sechs Frak­ tionen mit sechs Spitzen führt, wie es in manchen Ländern wie etwa Italien durchgeführt wird.This densitometric pattern is fractionated or divided into five fractions or portions a, b, c, d and e, which contain five peaks (hereinafter referred to as reference peaks), the five points p 0 , p 1 , p 2 , p 3 and p 4 on the X axis. These five fractions are albumin, α 1 -globulin, α 2 -globulin, β-globulin and γ-globulin. In addition, β-globulin can still be fractionated into two fractions β 1 and β 2 , resulting in fractionation into six fractions with six tips, as is done in some countries such as Italy.

Dieses densitometrische Muster wird als normal oder abnormal in Übereinstimmung mit einer analogen Karte bzw. Darstellung beurteilt, die das densitometrische Muster und den Anteil (%) eines integrierten Werts jeder Fraktion bezüglich des gesamten Integrationswerts dieser analogen Darstellung zeigt, was all­ gemein als "Fraktions%" bezeichnet wird. Dieser Anteil wird als eine belegte Integrationsrate bezeichnet.This densitometric pattern is considered normal or abnormal in accordance with an analog map or representation assesses the densitometric pattern and the percentage (%) an integrated value of each faction in relation to the total Integration value of this analog representation shows what all commonly referred to as "fraction%". This share will referred to as a proven integration rate.

Ein Muster, das durch photometrische Untersuchung eines Frak­ tionsbilds erhalten wurde, das durch eine aktuelle Elektro­ phorese bzw. elektrophoretische Bearbeitung gegenüber einer Probe erzielt wurde, kann zusätzlich zu den Referenzmustern, die bei dem in Fig. 1 gezeigten densitometrischen Standard-Mu­ ster auftreten, Spitzen enthalten, die durch verschiedene Ur­ sachen wie etwa eine Trübung des Serums und eine Verzögerung der Frische bzw. das Alter des Serums hervorgerufen werden können. Wenn andere Spitzen als die Referenzspitzen auftreten, können Probleme bei der automatischen Berechnung einer beleg­ ten Integrationsrate (occupied integration rate) der fünf Fraktionen a bis e mit Hilfe eines Computers auf der Basis von Daten, die aus der colorimetrischen Photometrie erhalten wur­ den, auftreten. Genauer gesagt werden zur Erzielung der beleg­ ten Integrationsrate aus dem in Fig. 1 gezeigten elektrophore­ tischen Standard-Muster minimale Punkte m1, m2, m3 und m4 als die Fraktionierungspunkte erhalten und es werden die Integra­ tionswerte zwischen den benachbarten minimalen Punkten gebil­ det. Wenn jedoch eine Spitze mit Ausnahme der Referenzspitzen auftritt, wird das Muster in sechs oder mehr Fraktionen bzw. Bereiche fraktioniert bzw. unterteilt und es können Integrati­ onswerte für die fünf wahren Fraktionen nicht gebildet werden. Wenn sechs oder mehr Fraktionen erhalten werden, muß ein Be­ nutzer Nachberechnungen durch Zuordnung der fehlerhaften Frak­ tionen zu einer der fünf Fraktionen, d. h. Albumin, α1-Globu­ lin, α2-Globulin, β-Globulin und γ-Globulin in Überein­ stimmung mit dem densitometrischen Muster und dem elektropho­ retischen Bild durchführen. Falls eine Fraktionsabnormalität aufgrund einer Krankheit auftritt, wird eine Fraktionierung subjektiv durch einen erfahrenen Benutzer durchgeführt. Alter­ nativ berichtet der Benutzer lediglich, daß eine Fraktionsab­ normalität aufgetreten ist. Aus diesem Grund kann keine genaue Diagnose vorgenommen werden.A pattern obtained by photometric examination of a fractional image obtained by current electrophoresis or electrophoretic processing on a sample can be in addition to the reference patterns that occur in the standard densitometric pattern shown in FIG. 1 . Contain peaks that can be caused by various causes such as clouding of the serum and a delay in freshness or the age of the serum. If peaks other than the reference peaks occur, problems may arise in the automatic calculation of a occupied integration rate of the five fractions a to e using a computer based on data obtained from colorimetric photometry. More specifically, to obtain the occupied integration rate from the electrophoretic standard pattern shown in FIG. 1, minimum points m 1 , m 2 , m 3 and m 4 are obtained as the fractionation points, and the integration values between the adjacent minimum points are obtained det. However, if a peak occurs with the exception of the reference peaks, the pattern is fractionated or divided into six or more fractions or areas and integration values cannot be formed for the five true fractions. If six or more fractions are obtained, a user must carry out subsequent calculations by assigning the faulty fractions to one of the five fractions, ie albumin, α 1 -globulin, α 2 -globulin, β-globulin and γ-globulin in accordance with perform the densitometric pattern and the electrophoresis image. If a faction abnormality occurs due to illness, fractionation is performed subjectively by an experienced user. Alternatively, the user merely reports that a fractional abnormality has occurred. For this reason, an exact diagnosis cannot be made.

Um die vorstehend beschriebenen Nachteile zu beseitigen, wur­ den die nachstehenden unterschiedlichen Fraktionsverarbei­ tungs-Verfahren vorgeschlagen.In order to eliminate the disadvantages described above, the following different fraction processing tion process proposed.

In der japanischen geprüften Patentanmeldungsveröffentlichung Nr. 61-16019 ist das folgende Verfahren zum Verarbeiten eines Fraktionsbilds offenbart. Wenn ein densitometrisches Muster sechs oder mehr Fraktionen bei einer auf fünf Fraktionen bezo­ genen, jeweils die fünf Referenzspitzen enthaltenden Analyse enthält, werden die Werte der Referenzspitzen p0 bis p4 als Referenzpositionen gegeben und die Positionen der minimalen Punkte, die jeweils zwischen den benachbarten Referenzpositio­ nen vorhanden sind, werden erfaßt. Die Anzahl minimaler Punkte, die zwischen den benachbarten Referenzpositionen vor­ handen sind, wird berechnet. Wenn die berechnete Anzahl mini­ maler Punkte eins ist, wird dieser Punkt als Fraktionierungs­ punkt bestimmt. Falls die berechnete Anzahl minimaler Punkte zwei oder mehr ist, wird ein minimaler Punkt mit der niedrig­ sten Dichte als Fraktionierungspunkt bestimmt. Ein Fraktions­ bild kann dann automatisch durch einen Computer derart verar­ beitet werden, daß die Spitzenwerte mit Ausnahme der Referenz­ spitzen in die fünf normalen Fraktionen unterteilt werden (dieses Verfahren wird im folgenden als erstes herkömmliches Verfahren bezeichnet).In Japanese Examined Patent Application Publication No. 61-16019, the following method for processing a fraction image is disclosed. If a densitometric pattern contains six or more fractions in an analysis relating to five fractions, each containing the five reference peaks, the values of the reference peaks p 0 to p 4 are given as reference positions and the positions of the minimum points, each between the adjacent reference position NEN are present are recorded. The number of minimum points that exist between the neighboring reference positions is calculated. If the calculated number of miniature points is one, this point is determined as the fractionation point. If the calculated number of minimum points is two or more, a minimum point with the lowest density is determined as the fractionation point. A fraction image can then be automatically processed by a computer such that the peaks, with the exception of the reference peaks, are divided into the five normal fractions (this method is hereinafter referred to as the first conventional method).

In der japanischen geprüften Patentanmeldungsveröffentlichung Nr. 82-8142 ist ein anderes Verfahren zum Verarbeiten eines Fraktionsbilds offenbart, bei dem das erste herkömmliche Ver­ fahren eingesetzt wird, eine Referenzposition auf der Basis von in normaler Weise fraktionierten Daten aller Daten der Proben bestimmt wird und eine Fraktionsverarbeitung der Probe unter Bezugnahme auf die Referenzposition durchgeführt wird, wodurch eine korrekte Fraktionsposition ohne Benutzung eines Standard-Serums erhalten wird (dieses Verfahren wird im fol­ genden als zweites herkömmliches Verfahren bezeichnet).In Japanese Examined Patent Application Publication No. 82-8142 is another method of processing one  Fraction image in which the first conventional ver drive is used, a reference position based of normally fractionated data of all data of the Samples are determined and a fraction processing of the sample is carried out with reference to the reference position which ensures a correct fraction position without using a Standard serum is obtained (this procedure is described in fol referred to as the second conventional method).

Die japanische geprüfte Patentanmeldungsveröffentlichung Nr. 62-59772 beschreibt ein Verfahren zum Verarbeiten eines Frak­ tionsbilds, bei dem ein Abtastpunkt (d. h. ein Punkt auf der X-Achse), der einem Spitzenwert oder einem minimalen Punkt des Standard-Serums entspricht, als Referenzposition eingesetzt wird und bei dem die Referenzposition mit einem Abtastpunkt, der einen minimalen Punkt oder einen Spitzenwert eines densi­ tometrischen Musters einer Probe besitzt, verglichen wird, wo­ durch ein genauer Fraktionierungspunkt erhalten wird (dieses Verfahren wird im folgenden als drittes herkömmliches Verfah­ ren bezeichnet).Japanese Examined Patent Application Publication No. 62-59772 describes a method of processing a frak tion image, in which a sampling point (i.e. a point on the X axis), which is a peak or a minimum point of the Standard serum equivalent, used as a reference position and where the reference position with a sampling point, which is a minimum point or a peak of a densi tometric pattern of a sample is compared where is obtained by an exact fractionation point (this The method is hereinafter referred to as the third conventional method ren called).

In der japanischen geprüften Patentanmeldungsveröffentlichung Nr. 83-21860 ist ein Verfahren zum Verarbeiten eines Fraktionsbilds beschrieben, bei dem das Verhältnis des Inter­ valls zwischen Spitzenwerten oder minimalen Punkten eines den­ sitometrischen Musters, das aus einem Fraktionsbild einer Probe erhalten wurde, mit dem entsprechenden Verhältnis des Standard-Serums verglichen wird, um einen normalen Fraktionie­ rungspunkt zu erhalten (dieses Verfahren wird im folgenden als ein viertes herkömmliches Verfahren bezeichnet).In Japanese Examined Patent Application Publication No. 83-21860 is a method of processing a Fraction image described in which the ratio of the Inter valls between peak values or minimum points of one sitometric pattern from a faction image of a Sample was obtained with the appropriate ratio of Standard serum is compared to a normal fractionie point (this procedure is referred to below as called a fourth conventional method).

Die vorstehend beschriebenen herkömmlichen Verfahren zum Ver­ arbeiten von Fraktionsbildern bringen die folgenden Probleme mit sich. The conventional methods for ver Working from faction images brings the following problems with yourself.  

Bei dem ersten herkömmlichen Verfahren wird dann, wenn die An­ zahl normaler Fraktionen als fünf definiert ist, lediglich eine Verarbeitung zur Reklassifizierung bzw. geänderten Unter­ teilung der in sechs oder mehr Fraktionen fraktionierten Ab­ tastwerte in die fünf Fraktionen durchgeführt. Eine Probe, de­ ren Muster in vier oder weniger Fraktionen fraktioniert ist, kann nicht verarbeitet werden.In the first conventional method, when the An number of normal fractions is defined as five, only Processing for reclassification or changed sub Division of the fractionated into six or more fractions sample values carried out in the five fractions. A sample, de the pattern is fractionated into four or fewer fractions, cannot be processed.

Da bei dem zweiten herkömmlichen Verfahren eine normale Probe aus allen Proben anstelle des Standard-Serums benutzt wird, kann dieses Verfahren nicht eingesetzt werden, wenn in allen Proben keine normale Probe enthalten ist.Since the second conventional method is a normal sample from all samples is used instead of the standard serum, this method cannot be used if in all Samples do not contain a normal sample.

Ein dem ersten, zweiten und dritten herkömmlichen Verfahren gemeinsames Problem besteht darin, daß, wenn beispielsweise der elektrophoretische Strom nicht gleichförmig ist, d. h. wenn die Komponenten der Proben unterschiedlich sind oder wenn Vorverarbeitungsvorgänge der Proben gegenseitig unterschied­ lich sind, Veränderungen in der Länge x (als Entwicklungslänge bezeichnet) bei elektrophoretischen Bildern von Proben 11 auf­ treten, wie dies in Fig. 2 gezeigt ist. Zusätzlich wird, wie in Fig. 3 dargestellt ist, die Referenzposition des Referenz­ musters gegenüber dem entsprechenden Spitzenwert oder minima­ len Punkt der Probe verschoben, wenn die Positionen von Bän­ dern von Proben 21 gegenseitig unterschiedlich sind (diese Po­ sitionen werden im folgenden als Elektrophorese-Positionen be­ zeichnet). Als Ergebnis kann kein Fraktionierungspunkt korrekt bestimmt werden.A problem common to the first, second and third conventional methods is that when, for example, the electrophoretic current is not uniform, ie when the components of the samples are different or when preprocessing operations of the samples are mutually different, changes in length x (as Development length) occur in electrophoretic images of samples 11 , as shown in FIG. 2. In addition, as shown in Fig. 3, the reference position of the reference pattern is shifted from the corresponding peak value or minimum point of the sample when the positions of bands of samples 21 are mutually different (these positions are hereinafter referred to as electrophoresis- Designated positions). As a result, no fractionation point can be determined correctly.

Im Gegensatz hierzu treten bei dem vierten herkömmlichen Ver­ fahren die vorgenannten Probleme nicht auf, da das Verhältnis des Abstands zwischen den Spitzenwerten oder minimalen Punkten unabhängig von der Entwicklungslänge und der Elektrophorese- Position vorbestimmt ist. Da jedoch die arithmetische Verar­ beitung in Einheiten von Fraktionen wiederholt wird, benötigt die Fraktionsverarbeitung viel Zeit.In contrast, the fourth conventional ver the aforementioned problems do not arise because of the ratio the distance between the peaks or minimum points regardless of the development length and the electrophoresis Position is predetermined. However, since the arithmetic process processing in units of fractions is required the faction processing a lot of time.

Es ist eine Aufgabe vorliegender Erfindung, ein Verfahren zum Verarbeiten eines Fraktionsbilds bei der Elektrophorese zu schaffen, das frei von Einflüssen aufgrund von Veränderungen der Entwicklungslängen oder der Elektrophorese-Positionen zwi­ schen Proben ist und das eine Position eines Fraktionierungs­ punkts eines Musters innerhalb eines relativ kurzen Zeitinter­ valls genau bestimmen kann.It is an object of the present invention to provide a method for Processing a fraction image during electrophoresis create that free from influences due to change the development lengths or the electrophoresis positions between is a position of a fractionation point of a pattern within a relatively short time interval valls can determine exactly.

Gemäß vorliegender Erfindung wird ein Verfahren zum Verarbei­ ten eines Fraktionsbilds bei der Elektrophorese geschaffen, das die Schritte aufweist: Vorbereitung bzw. Erstellung eines Referenzmusters mit einem Fraktionierungspunkt und einer Spitze, die als Referenzpunkte dienen; Normalisieren eines Meßmusters, das dadurch erhalten wird, daß eine Probe einer Elektrophorese-Bearbeitung unterzogen wird; und Fraktionieren des Meßmusters auf der Basis einer Position eines resultieren­ den Fraktionierungspunkts, der derart erhalten wird, daß eine Position eines Fraktionierungspunkts im Referenzmuster als eine Referenzposition eingesetzt wird, wobei jeder Fraktionie­ rungspunkt im Referenzmuster dazu gebracht wird, einem Fraktionspunkt im Meßmuster zu entsprechen.According to the present invention there is a process for processing created a fraction image during electrophoresis, which has the steps: preparation or creation of a Reference pattern with a fractionation point and one Tips that serve as reference points; Normalize one Measurement pattern obtained by a sample of a Undergoes electrophoresis processing; and fractionating of the measurement pattern based on a position of one result the fractionation point obtained such that a Position of a fractionation point in the reference pattern as a reference position is used, with each fraction point in the reference pattern To correspond to the fraction point in the measurement pattern.

Zusätzliche Aufgaben und Vorteile der Erfindung erschließen sich aus der nachfolgenden Beschreibung und sind teilweise auch aus dieser ersichtlich oder können bei Nacharbeitung der Erfindung in Erfahrung gebracht werden. Die Aufgaben und Vor­ teile der Erfindung können mit Hilfe der technischen Merkmale und Kombinationen realisiert und erhalten werden, wie sie ins­ besondere in den beigefügten Ansprüchen herausgestellt sind.Open up additional objects and advantages of the invention derive from the description below and are partial can also be seen from this or can be reworked Invention to be learned. The tasks and before parts of the invention can be achieved using the technical features and combinations are realized and maintained, as they are ins particular are highlighted in the appended claims.

In den beigefügten Zeichnungen, die hiermit in die Beschrei­ bung eingegliedert werden und einen Teil derselben darstellen, ist ein derzeit bevorzugtes Ausführungsbeispiel der Erfindung gezeigt. Die Zeichnungen dienen zusammen mit der vorstehenden allgemeinen Beschreibung und der nachstehenden detaillierten Beschreibung des bevorzugten Ausführungsbeispiels zur Er­ läuterung der Prinzipien vorliegender Erfindung. Es zeigen:In the accompanying drawings, which are hereby described exercise and be part of it, is a currently preferred embodiment of the invention shown. The drawings serve together with the above general description and the detailed below  Description of the preferred embodiment for Er clarification of the principles of the present invention. Show it:

Fig. 1 eine Ansicht eines Referenzmusters bei einem her­ kömmlichen Fraktionsverarbeitungsverfahren, Fig. 1 is a view of a reference pattern in a conventional forth fraction processing method,

Fig. 2 eine Ansicht eines elektrophoretischen Bilds, bei dem Veränderungen der elektrophoretischen Entwick­ lungslängen aufgetreten sind, Fig. 2 is a view of an electrophoretic image, development lengths in which changes in electrophoretic development have occurred,

Fig. 3 eine Darstellung zur Erläuterung eines elektropho­ retischen Bilds, bei dem Veränderungen der Elektro­ phorese-Positionen aufgetreten sind, Fig. 3 is a diagram for explaining a elektropho retical image in which changes of the electric electrophoresis positions have occurred,

Fig. 4 eine Darstellung eines Teils einer Anordnung eines Densitometers eines Elektrophorese-Geräts, das bei einem in Übereinstimmung mit vorliegender Erfindung stehenden Verfahren zum Verarbeiten eines Frakti­ onsbilds bei der Elektrophorese eingesetzt wird, Fig. 4 is an illustration of a part of an arrangement of a densitometer an electrophoresis apparatus which is used in an upright in accordance with the present invention, methods for processing a Frakti onsbilds in electrophoresis

Fig. 5 eine Darstellung zur Erläuterung einer Abtastrich­ tung eines elektrophoretischen Bilds bei dem in Fig. 4 gezeigten Elektrophorese-Gerät, Fig. 5 is a diagram for explaining a processing Abtastrich an electrophoretic image in which in Fig. Electrophoresis apparatus shown 4,

Fig. 6 ein Blockschaltbild der Anordnung eines Hauptteils einer Datenverarbeitungs-Einheit des in Fig. 4 ge­ zeigten Elektrophorese-Geräts, Fig. 6 is a block diagram showing the arrangement of a main part of a data processing unit of the GE in Fig. 4 showed electrophoresis device,

Fig. 7 ein Ablaufdiagramm, das Schritte bei der Normali­ sierungsverarbeitung eines Musters bei dem erfin­ dungsgemäßen Verfahren veranschaulicht, Fig. 7 is a flow diagram showing steps in a pattern in which Normali sierungsverarbeitung OF INVENTION The method to the invention illustrated,

Fig. 8 eine Darstellung eines densitometrischen Musters zur Erläuterung eines Verfahrens zur Erfassung eines Referenzpunkt bei dem Verfahren gemäß vor­ liegender Erfindung, Fig. 8 is an illustration of a densitometric pattern for explaining a method for detecting a reference point in the method of prior lying invention,

Fig. 9A eine Darstellung eines Referenzmusters des elektro­ phoretischen Bilds, und Fig. 9B eine Darstellung eines Meßmusters des elektrophoretischen Bilds, und FIG. 9A is a representation of a reference pattern of the electro-phoretic image, and Fig. 9B is an illustration of a measurement pattern of the electrophoretic image, and

Fig. 10 ein Ablaufdiagramm, das eine Abfolge zur Bestimmung der Position eines Fraktionierungspunkts bei dem Verfahren gemäß vorliegender Erfindung zeigt. Fig. 10 is a flow diagram showing a sequence for determining the position of a Fraktionierungspunkts in the method according to the present invention.

Die vorliegende Erfindung wird nun unter Bezugnahme auf bevor­ zugte Ausführungsbeispiele näher beschrieben. Eine Position eines Fraktionierungspunkts und einer Spitze werden als X-Ach­ senpunkte, die jeweils einem Fraktionierungspunkt eines Mu­ sters und einem Dichtewert der Spitze, d. h. Punkten im Mu­ ster, entsprechen, definiert. Bei einem mit Elektrophorese ar­ beitenden Fraktionsverarbeitungsverfahren gemäß vorliegender Erfindung wird eine Normalisierung eines Musters (das im fol­ genden als Meßmuster bezeichnet wird), das durch Elektrophore­ sebehandlung einer Probe erzielt wurde, in Übereinstimmung mit einem Verfahren zum Verarbeiten eines elektrophoretischen Mu­ sters durchgeführt, wie es in der japanischen ungeprüften Pa­ tentanmeldungsveröffentlichung Nr. 62-42034 beschrieben ist. Genauer gesagt, werden Referenzpunkte, die mit zumindest zwei vorbestimmten Elektrophorese-Entwicklungslängen bei einem elektrophoretischen Bild verknüpft sind, in einem Meßmuster erfaßt und es wird das Meßmuster normalisiert, so daß diese Referenzpunkte mit vorbestimmten Datenpositionen egalisiert sind, die mit den vorbestimmten Elektrophorese-Entwicklungs­ längen verknüpft sind. Als Ergebnis wird der Wert des Meßmu­ sters auf der Basis der Anzahl bzw. Nummer von Daten der beiden Referenzpunkte und der Anzahl bzw. Nummer von Daten zwischen den vorbestimmten Datenpositionen, die mit der vorbestimmten Elektrophorese-Entwicklungslänge verknüpft sind, normalisiert. The present invention will now be described with reference to FIG drafted embodiments described in more detail. A position a fractionation point and a peak are called X-Ach points, each of which is a fractionation point of a Mu sters and a peak density value, d. H. Points in Mu ster, correspond, defined. In one with electrophoresis ar fraction processing method according to the present Invention becomes a normalization of a pattern (which in the fol gends as a measurement pattern), which by electrophoresis Treatment of a sample was achieved in accordance with a method for processing an electrophoretic Mu sters performed as it is in the Japanese unexamined Pa tent registration publication No. 62-42034. More specifically, reference points are those with at least two predetermined electrophoresis development lengths at one electrophoretic image are linked in a measurement pattern detected and the measurement pattern is normalized so that this Equalized reference points with predetermined data positions are with the predetermined electrophoresis development lengths are linked. As a result, the value of the meas sters based on the number of data of the two reference points and the number or number of data between the predetermined data positions associated with the predetermined electrophoresis development length are linked, normalized.  

Die Positionen der Fraktionierungspunkte und der Spitzen im normalisierten Meßmuster sind frei von Einflüssen aufgrund von Unterschieden in den Entwicklungslängen und Positionen der Elektrophorese. Daher sind, falls die Probe diejenige eines normalen menschlichen Körpers ist, die Positionen der Spitzen und deren Fraktionierungspunkte gegenseitig nahezu gleich.The positions of the fractionation points and the peaks in the Normalized measurement patterns are free from influences due to Differences in the development lengths and positions of the Electrophoresis. Therefore, if the sample is one normal human body is, the positions of the tips and their fractionation points are almost equal to each other.

Ein Referenzmuster kann ein Muster sein, das aus einem elek­ trophoretischen Bild erhalten wurde, das durch Durchführung einer Elektrophoresebearbeitung eines kommerziell erhältlichen Steuer-Serums erhalten wurde, oder das aus einem elektrophore­ tischen Bild erzielt wurde, das durch Durchführung einer Elek­ trophoresebearbeitung einer Probe erhalten wurde und normale Fraktionen zeigt bzw. besitzt. Ein solches Referenzmuster wird vorzugsweise normalisiert, nachdem ein Muster aus dem elektro­ phoretischen Bild eines Steuer-Serums oder dergleichen erhal­ ten wurde. Die Positionen der Fraktionierungspunkte und der Spitzen im Referenzmuster sind vorab bestimmt und in einem Speicher des Geräts gespeichert. Diese Werte können jedesmal dann bestimmt werden, wenn der Typ der Probe oder der Analyse- Bedingungen geändert wird.A reference pattern can be a pattern that consists of an elec trophoretic image was obtained by performing this electrophoresis processing of a commercially available Control serum was obtained, or that from an electrophoric table image was obtained by performing an elec trophore processing of a sample was obtained and normal Shows or owns fractions. Such a reference pattern will preferably normalized after a pattern from the electro get a phoretic image of a control serum or the like was. The positions of the fractionation points and the Peaks in the reference pattern are predetermined and in one Device memory saved. These values can always then be determined when the type of sample or analysis Conditions is changed.

Die Positionen der Fraktionierungspunkte des normalisierten Meßmusters werden als die Positionen der Fraktionierungspunkte des Referenzmusters bestimmt und die Spitzenpositionen werden als die Referenzpositionen bestimmt. Wenn beispielsweise le­ diglich ein minimaler Punkt zwischen zwei benachbarten Spit­ zenpositionen des Referenzmusters im normalisierten Meßmuster vorhanden ist, wird dieser minimale Punkt als die Position des Fraktionierungspunkts des Meßmusters bestimmt. Falls aber zwei oder mehr minimale Punkte vorhanden sind, wird derjenige mini­ male Punkt, der näher bei der Position des Fraktionierungs­ punkts des Referenzmusters liegt, als die Position des Frak­ tionierungspunkts des Meßmusters bestimmt. Ferner wird dann, wenn kein minimaler Punkt vorhanden ist, die Position des ent­ sprechenden Fraktionierungspunkt des Referenzmusters zwangs­ weise als die Position des Fraktionierungspunkts des Meßmu­ sters bestimmt.The positions of the fractionation points of the normalized Measurement patterns are called the positions of the fractionation points of the reference pattern is determined and the top positions are determined determined as the reference positions. For example, if le diglich a minimal point between two neighboring Spit Zen positions of the reference pattern in the normalized measurement pattern is present, this minimum point is considered the position of the Fractionation point of the measurement sample determined. But if two or there are more minimum points, the mini will be mini male point which is closer to the position of the fractionation point of the reference pattern than the position of the Frak tioning point of the measurement sample determined. Then, if there is no minimum point, the position of the ent speaking fractionation point of the reference pattern  as the position of the fractionation point of the meas determined.

Jegliche Fraktionsdaten wie etwa eine belegte Integrationsrate werden auf der Basis der bestimmten Position des Fraktionie­ rungspunkts des Meßmusters erhalten.Any faction data such as a proven integration rate are based on the determined position of the faction obtained point of the measurement sample.

Bei dem mit Elektrophorese arbeitenden Fraktionsverarbeitungs­ verfahren gemäß vorliegender Erfindung, wie es zuvor beschrie­ ben wurde, kann ein Meßmuster mit einer vorbestimmten Elektro­ phorese-Entwicklungslänge oder bei einer vorbestimmten Posi­ tion der Elektrophorese aufgrund der Tatsache, daß das Meßmu­ ster normalisiert wurde, selbst dann erhalten werden, wenn Unterschiede in den Längen und Elektrophorese-Positionen der elektrophoretischen Bilder der Proben vorhanden sind. Daher können die Positionen der Fraktionierungspunkte und die Spit­ zen der Meßmuster, die denjenigen des Referenzmusters entspre­ chen, genau erhalten werden. Als Ergebnis können die Positio­ nen der Fraktionierungspunkte des Meßmusters exakt durch ein­ fache Verarbeitung bestimmt werden.In the fraction processing using electrophoresis method according to the present invention as previously described ben, a measurement pattern with a predetermined electrical development length or at a predetermined position tion of electrophoresis due to the fact that the Meßmu was normalized, even if Differences in the lengths and electrophoresis positions of the electrophoretic images of the samples are present. Therefore the positions of the fractionation points and the Spit zen of the measurement pattern that corresponds to that of the reference pattern chen, be exactly preserved. As a result, the position the fractionation points of the measurement pattern exactly by one multiple processing can be determined.

Ein Ausführungsbeispiel vorliegender Erfindung wird unter Be­ zugnahme auf die beiliegenden Zeichnungen im einzelnen be­ schrieben.An embodiment of the present invention is described under Be reference to the accompanying drawings in detail wrote.

Nachstehend wird ein Verfahren zum Normalisieren eines elek­ trophoretischen Musters beschrieben.A method for normalizing an elec trophoretic pattern.

Wie in Fig. 4 gezeigt ist, wird ein Träger 31, der in einem nicht gezeigten Färbungstank gefärbt, entfärbt und getrocknet wurde, durch Förderwalzen 32 zu einem Photometrie-Abschnitt 34 transportiert, in dem Dekalin 33 gespeichert ist. Der Träger 31 wird durch eine Photometrie-Einheit 35 photometrisch mit konstanter Geschwindigkeit (beispielsweise 8 mm/sec) abge­ tastet und über Ausstoßwalzen 38 ausgetragen. Die Photometrie- Einheit 35 ist derart angeordnet, daß Licht, das von einer Lichtquelle 35a ausgesandt und durch den Träger 31 hindurch­ übertragen wurde, von einem Lichtempfangselement 35b empfangen wird. Die Photometrie-Einheit 35 wird in einer Abtastrichtung b rechtwinklig zur Förderrichtung a des Trägers 31 bewegt, um ein auf dem Träger 31 ausgebildetes elektrophoretisches Bild 37 photometrisch abzutasten, wie in Fig. 5 gezeigt ist.As shown in FIG. 4, a carrier 31 , which has been colored, decolored and dried in a staining tank, not shown, is transported by conveyor rollers 32 to a photometry section 34 , in which decalin 33 is stored. The carrier 31 is scanned by a photometric unit 35 photometrically at a constant speed (for example 8 mm / sec) and discharged via ejection rollers 38 . The photometry unit 35 is arranged such that light, which was emitted by a light source 35 a and transmitted through the carrier 31 , is received by a light receiving element 35 b. The photometry unit 35 is moved in a scanning direction b perpendicular to the conveying direction a of the carrier 31 in order to photometrically scan an electrophoretic image 37 formed on the carrier 31 , as shown in FIG. 5.

Ein Ausgangssignal der Photometrie-Einheit 35 wird bei Beendi­ gung der photometrischen Abtastung durch eine Datenverarbei­ tungseinheit 40 verarbeitet, die in Fig. 6 gezeigt ist. Ge­ nauer gesagt, wird ein photoelektrisch umgewandeltes Ausgangs­ signal des Lichtempfangselements 35b logarithmisch durch einen logarithmischen Verstärker 42 verstärkt und in eine dekadische Extinktion umgewandelt. Diese dekadische Extinktion wird syn­ chron mit einem Takt abgetastet, der einer Abtastrate (bei­ spielsweise 12 ms) entspricht, die in Übereinstimmung mit einer Analyse-Bedingung wie etwa einer elektrophoretischen Zeit bestimmt ist, und zwar durch einen Analog/Digital-Wandler 43, und in ein digitales Signal umgewandelt. Dieses digitale Signal wird in einem Speicher 45 unter der Steuerung durch eine Zentraleinheit (im folgenden als CPU bzw. Zentraleinheit bezeichnet) 44 gespeichert.An output signal of the photometry unit 35 is processed upon completion of the photometric scanning by a data processing unit 40 shown in FIG. 6. More specifically, a photoelectrically converted output signal of the light receiving element 35 b is logarithmically amplified by a logarithmic amplifier 42 and converted into a decadal extinction. This decadal extinction is sampled synchronously with a clock pulse which corresponds to a sampling rate (for example 12 ms) which is determined in accordance with an analysis condition, such as an electrophoretic time, by an analog / digital converter 43 , and converted into a digital signal. This digital signal is stored in a memory 45 under the control of a central processing unit (hereinafter referred to as CPU or central processing unit) 44 .

Die im Speicher 45 gespeicherten abgetasteten Daten werden ei­ ner Glättungsverarbeitung wie etwa einer Verarbeitung mit be­ wegtem Durchschnitt bzw. gleitender Durchschnittsbildung und einer Auto-Null-Verarbeitung bzw. einer automatischen Null- Festlegungsverarbeitung zum Eliminieren einer schwankenden Ba­ siskomponente, die durch die Lichtmenge hervorgerufen ist, un­ terzogen. Die resultierenden Daten werden dann normalisiert.The sampled data stored in the memory 45 is subjected to smoothing processing such as moving averaging processing and auto zero processing or automatic zero setting processing to eliminate a fluctuating base component caused by the amount of light , educated. The resulting data is then normalized.

Das normalisierte Meßmuster und Fraktionsdaten, beispielsweise eine belegte Integrationsrate jeder Fraktion und ein A (Albu­ min)/G (Globulin)-Verhältnis, das auf der Basis des normali­ sierten Meßmusters berechnet wird, werden auf einer Anzeige 47 angezeigt und in vorbestimmten Spalten eines Berichts bzw. Ausdrucks 50 durch einen Drucker 49 gedruckt.The normalized measurement pattern and fraction data, such as a proven integration rate of each fraction and an A (albumin) / G (globulin) ratio calculated based on the normalized measurement pattern, are displayed on a display 47 and in predetermined columns of a report or expression 50 printed by a printer 49 .

Fig. 7 zeigt ein Ablaufdiagramm von Schritten, die abgearbei­ tet werden, wenn das normalisierte Referenzmuster fünf Spitzen besitzt. Fig. 7 shows a flowchart of steps that are processed when the normalized reference pattern has five peaks.

Das Bezugszeichen 51 in Fig. 7 bezeichnet einen Schritt der Verarbeitung der Referenzpunkterfassung, 52 einen Schritt der Verarbeitung der X-Achsen-Normalisierung, 53 einen Schritt der Verarbeitung der Y-Achsen-Normalisierung und 54 einen Schritt der Dichte-Normalisierungsverarbeitung.Reference numeral 51 in FIG. 7 denotes a step of processing the reference point detection, 52 a step of processing the X-axis normalization, 53 a step of processing the Y-axis normalization, and 54 a step of density normalization processing.

Bei diesem Ausführungsbeispiel wurde die Anzahl von Datenpunk­ ten, die mit einer vorbestimmten Elektrophorese-Entwicklungs­ länge verknüpft sind, als 350 gegeben bzw. vorgegeben, wie in Fig. 8 gezeigt ist. Eine Normalisierung wurde unter Heranzie­ hung einer als Referenzpunkt dienenden Spitzenposition von Al­ bumin (Alb), die stabil eine Spitze in dem elektrophoretischen Bild im Bereich von 100 Datenpunkten ausdrückt bzw. darstellt, und einer gleichfalls als Referenzpunkt dienenden Spitzenposi­ tion von β-Globulin (β-G) durchgeführt, die stabil eine Spitze im elektrophoretischen Bild im Bereich von 210 Datenpunkten ausdrückt bzw. darstellt.In this embodiment, the number of data points associated with a predetermined electrophoresis development length was given as 350 as shown in FIG. 8. A normalization was made using a peak position of albumin (Alb) serving as a reference point, which stably expresses or represents a peak in the electrophoretic image in the range of 100 data points, and a peak position of β-globulin (β -G) carried out, which stably expresses or represents a peak in the electrophoretic image in the range of 210 data points.

Bei dem Ablaufdiagramm gemäß Fig. 7 werden Referenzpunkte, die den mit den vorbestimmten Elektrophorese-Entwicklungslängen verknüpften Spitzenpositionen von Alb und β-G entsprechen, aus den abgetasteten Daten der Proben erfaßt, die im Speicher 45 gespeichert sind. Die Referenzpunkte Alb und β-G werden wie folgt erfaßt. Beispielsweise werden, wie in Fig. 8 gezeigt ist, Daten L1 und L2, die einen vorbestimmten Schwellwert überschreiten, derart herausgezogen, daß beide Endpunkte mit beiden Endpunkten des elektrophoretischen Bilds übereinstim­ men, es wird das Vorhandensein/Fehlen von Spitzen innerhalb vorbestimmter Bereiche L1 und L2 erfaßt und Spitzen mit maxi­ malen Dichten werden aus den erfaßten Spitzen ausgewählt und als die Spitzenwerte von Alb und β-G der Probe definiert, wo­ durch die Referenzpunkte bestimmt werden (51).In the flowchart of FIG. 7 are reference points that correspond to the associated with the predetermined lengths electrophoresis development peak positions of Alb and β-G detected from the sampled data of the samples stored in the memory 45. The reference points Alb and β-G are detected as follows. For example, as shown in Fig. 8, data L 1 and L 2 exceeding a predetermined threshold value are extracted so that both end points coincide with both end points of the electrophoretic image, and the presence / absence of peaks within predetermined ranges becomes apparent L 1 and L 2 are detected and peaks with maximum densities are selected from the detected peaks and defined as the peak values of Alb and β-G of the sample, where determined by the reference points ( 51 ).

Die X-Achse des elektrophoretischen Bilds wird derart normali­ siert, daß die erfaßten Spitzenpositionen gleich sind den mit der vorbestimmten Elektrophorese-Entwicklungslänge auf der X- Achse verknüpften Datenpositionen von Alb und β-G (52).The X axis of the electrophoretic image is normalized such that the detected peak positions are equal to the Alb and β-G data positions associated with the predetermined electrophoresis development length on the X axis ( 52 ).

Eine Y-Achsen-Normalisierung des elektrophoretischen Bilds wird auf der Basis des Verhältnisses der Nummer bzw. der An­ zahl von Daten der Probe zur Nummer bzw. Anzahl von Datenpunk­ ten als Referenzpunkt auf der X-Achse durchgeführt, derart, daß der integrierte Wert der Werte der Abtastdaten auf der normalisierten X-Achse gleich groß wird wie derjenige zwischen Abtastdaten-Positionen, die dem integrierten Wert entsprechen (53).A Y-axis normalization of the electrophoretic image is performed based on the ratio of the number or number of data of the sample to the number or number of data points as a reference point on the X-axis such that the integrated value of the Values of the sample data on the normalized X axis become the same as that between sample data positions which correspond to the integrated value ( 53 ).

Eine Dichte-Normalisierungsverarbeitung zum Einstellen des in­ tegrierten Werts jeder Fraktion derart, daß sie dem absoluten Wert der Dichte entspricht, wird durchgeführt. Der integrierte Wert der Alb-Fraktion für die normalisierten Daten wird gebil­ det und das Verhältnis von diesem zu einem Referenz-Integrati­ onswert, der separat vom integrierten Wert auf den bzw. der normalisierten Daten vorbereitet wurde und dem durch eine bio­ chemische Einheit gemessenen Alb-Dichtewert entspricht, wird gebildet. Dieses Verhältnis wird mit dem Datenwert jedes Punkts multipliziert, wodurch die Dichte-Normalisierung abge­ schlossen ist (54).Density normalization processing for setting the integrated value of each fraction to correspond to the absolute value of the density is performed. The integrated value of the Alb fraction for the normalized data is formed and the ratio of this to a reference integration value, which was prepared separately from the integrated value for the normalized data or data and the Alb measured by a bio-chemical unit. Density value is formed. This ratio is multiplied by the data value of each point, completing the density normalization ( 54 ).

Eine Fraktionsverarbeitung zur Bestimmung der Positionen von Fraktionierungspunkten des Meßmusters wird unter Einsatz des vorstehend beschriebenen Normalisierungs-Verarbeitungsverfah­ rens durchgeführt. A fraction processing to determine the positions of Fractionation points of the measurement pattern are determined using the normalization processing method described above rens performed.  

Ein normales menschliches Serum wird einer Elektrophorese un­ terzogen und das resultierende elektrophoretische Bild wird photometrisch abgetastet, wodurch ein densitometrisches Muster erhalten wird. Dieses densitometrische Muster wird in Überein­ stimmung mit dem Normalisierungs-Verarbeitungsverfahren norma­ lisiert, um ein in Fig. 9A gezeigtes Referenzmuster zu erhal­ ten. Bei diesem Ausführungsbeispiel werden zwei Referenzpunkte für die Normalisierung als eine Spitze pa einer Fraktion a und als eine Spitze pd einer Fraktion d definiert und eine Norma­ lisierung wird durchgeführt, um zu erreichen, daß die Nummern bzw. Anzahlen von Datenpunkten 100 bzw. 210 sind.A normal human serum is subjected to electrophoresis and the resulting electrophoretic image is scanned photometrically, thereby obtaining a densitometric pattern. This densitometric pattern is normalized in accordance with the normalization processing method to obtain a reference pattern shown in Fig. 9A. In this embodiment, two reference points for normalization are used as a peak pa of a fraction a and as a peak pd of a fraction d is defined and a normalization is carried out in order to ensure that the numbers of data points are 100 and 210, respectively.

Die durch die Normalisierung erhaltenen Spitzenpositionen wa­ ren 100 für pa, 140 für pb, 170 für pc, 210 für pd und 270 für pe. Die Positionen des Fraktionierungspunkts waren 125 zwi­ schen pa und pb, 151 zwischen pb und pc, 187 zwischen pc und pd und 230 zwischen pd und pe. Diese Werte dienen als die Re­ ferenzpositionen bei der nachfolgenden Fraktionsverarbeitung und werden bzw. wurden im Speicher 45 gespeichert.The top positions obtained by normalization were 100 for pa, 140 for pb, 170 for pc, 210 for pd and 270 for pe. The positions of the fractionation point were 125 between pa and pb, 151 between pb and pc, 187 between pc and pd and 230 between pd and pe. These values serve as the reference positions in the subsequent fraction processing and are stored in the memory 45 .

Das als Probe dienende Serum eines Patienten wird einer Elek­ trophorese unterzogen und das resultierende elektrophoretische Bild wird photometrisch abgetastet, um ein elektrophoretisches Muster zu erhalten. Das resultierende elektrophoretische Mu­ ster wird in Übereinstimmung mit dem vorstehend beschriebenen Normalisierungs-Verarbeitungsverfahren normalisiert, um ein in Fig. 9B gezeigtes Meßmuster zu erhalten. Zu diesem Zeitpunkt wird eine Spitze pa′ einer Fraktion a′ und eine Spitze pd′ ei­ ner Fraktion d′ als Referenzpunkte definiert. Obwohl dieses Muster fünf Fraktionen besitzt, sind die Positionen von Frak­ tionierungspunkten keine vorgeschriebenen Positionen.A patient's sample serum is subjected to electrophoresis and the resulting electrophoretic image is scanned photometrically to obtain an electrophoretic pattern. The resulting electrophoretic pattern is normalized in accordance with the normalization processing method described above to obtain a measurement pattern shown in Fig. 9B. At this time, a peak pa 'of a fraction a' and a peak pd 'of a fraction d' are defined as reference points. Although this pattern has five factions, the positions of fractionation points are not mandatory positions.

Die Positionen der Spitzen und der Fraktionierungspunkte des Referenzmusters werden als Referenzpositionen zur Bestimmung der Positionen von Fraktionierungspunkten des resultierenden Meßmusters in Übereinstimmung mit einem in Fig. 10 dargestell­ ten Ablaufdiagramm eingesetzt.The positions of the peaks and the fractionation points of the reference pattern are used as reference positions for determining the positions of fractionation points of the resulting measurement pattern in accordance with a flowchart shown in FIG. 10.

Zuerst wird PEAK=1 eingegeben (61)First enter PEAK = 1 (61)

Die Anzahl minimaler Punkte m zwischen PEAK und PEAK+1 wird dann beurteilt (62) (im folgenden als Beurteilung bezeichnet). Die nachfolgende Verarbeitung wird in Übereinstimmung mit die­ ser Beurteilung durchgeführt.The number of minimum points m between PEAK and PEAK + 1 is then assessed ( 62 ) (hereinafter referred to as assessment). The subsequent processing is carried out in accordance with this judgment.

  • i) Falls lediglich ein minimaler Punkt m vorhanden ist, wird eine diesem minimalen Punkt m entsprechende X-Ach­ senposition als die Position des Fraktionierungspunkts bestimmt (als Verarbeitung I bezeichnet; 63). Wenn bei­ spielsweise bei dem in Fig. 9B gezeigten Meßmuster der minimale Punkt m zwischen den Spitzen pa und pb, d. h. zwischen dem 100-Datenpunkt und dem 140-Datenpunkt, ge­ sucht wird, ist ein minimaler Punkt vorhanden. Die die­ sem minimalen Punkt m entsprechende X-Achsenposition wird als ein Fraktionierungspunkt f1 zwischen den Frak­ tionen a′ und b′ definiert. Lediglich ein minimaler Punkt m ist zwischen den Spitzen pc und pd, d. h. den 170- bis 210-Datenpunkten, vorhanden. Die diesem mini­ malen Punkt m entsprechende X-Achsenposition wird als ein Fraktionierungspunkt f3 zwischen den Fraktionen c′ und d′ definiert.i) If there is only a minimum point m, an X axis position corresponding to this minimum point m is determined as the position of the fractionation point (referred to as processing I; 63 ). For example, if the minimum point m between the peaks pa and pb, that is, between the 100 data point and the 140 data point, is searched for in the measurement pattern shown in Fig. 9B, a minimum point is present. The X-axis position corresponding to the sem minimum point m is defined as a fractionation point f 1 between the fractions a ′ and b ′. There is only a minimal point m between the peaks pc and pd, ie the 170 to 210 data points. The X-axis position corresponding to this mini paint point m is defined as a fractionation point f 3 between the fractions c 'and d'.
  • ii) Falls eine Mehrzahl von minimalen Punkten m vorhanden ist, wird eine X-Achsen-Position, die dem minimalen Punkt, der am nächsten beim Fraktionierungspunkt des Referenzmusters liegt, entspricht, als der Fraktionie­ rungspunkt definiert (als Verarbeitung II bezeichnet,; 64). Wenn beispielsweise bei dem in Fig. 9B gezeigten Meßmuster miminale Punkte m zwischen dem 210-Datenpunkt und dem 270-Datenpunkt gesucht werden, sind zwei mini­ male Punkte ma und mb vorhanden. Die X-Achsen-Position, die dem näher beim Fraktionierungspunkt (230-Daten­ punkt) des vorbestimmten Referenzmusters liegenden mi­ nimalen Datenpunkts ma entspricht, wird als ein Frak­ tionierungspunkt f4 zwischen den Fraktionen d′ und e′ definiert.ii) If there are a plurality of minimum points m, an X-axis position corresponding to the minimum point closest to the fractionation point of the reference pattern is defined as the fractionation point (referred to as processing II; 64 ) . For example, when looking for minimum points m between the 210 data point and the 270 data point in the measurement pattern shown in Fig. 9B, there are two minimum points ma and mb. The X-axis position, which corresponds to the minimum data point ma closer to the fractionation point (230 data point) of the predetermined reference pattern, is defined as a fractionation point f 4 between the fractions d ′ and e ′.
  • iii) Falls kein minimaler Punkt m vorhanden ist, wird die Fraktionierungspunkt-Position des Referenzmusters zwangsweise als die Fraktionierungspunkt-Position des Meßmusters hinzugefügt (als Verarbeitung III bezeich­ net; 65). Beispielsweise ist bei dem in Fig. 9B gezeig­ ten Meßmuster kein minimaler Punkt zwischen den Spitzen pb und pc, d. h. dem 140-Datenpunkt und dem 170-Daten­ punkt, vorhanden. In diesem Fall wird die Fraktionie­ rungspunkt-Position (151-Datenpunkt) des vorbestimmten Referenzmusters als ein Fraktionierungspunkt f2 zwi­ schen den Fraktionen b′ und c′ hinzugefügt.iii) If there is no minimum point m, the fractionation point position of the reference pattern is forcibly added as the fractionation point position of the measurement pattern (designated as processing III; 65 ). For example, in the measurement pattern shown in FIG. 9B, there is no minimum point between the pb and pc peaks, that is, the 140 data point and the 170 data point. In this case, the fractionation point position (151 data point) of the predetermined reference pattern is added as a fractionation point f 2 between the fractions b 'and c'.

Wie vorstehend beschrieben wurde, wird nach der Bestimmung der Position des Fraktionierungspunkts PEAK auf PEAK+1 gesetzt (86). Dannach wird der Vorgang der Bestimmung von Positionen von Fraktionierungspunkten wiederholt, bis PEAK den Wert sechs erreicht (67). Von der Startposition (0-Datenpunkt) des Meß­ punkts werden die Fraktionierungspunkte f1 bis f4 sequentiell bestimmt. Diese Werte werden im Speicher 45 gemäß Fig. 6 ge­ speichert.As described above, after determining the position of the fractionation point, PEAK is set to PEAK + 1 ( 86 ). Then the process of determining positions of fractionation points is repeated until PEAK reaches six ( 67 ). From the starting position (0 data point) of the measuring point, the fractionation points f 1 to f 4 are determined sequentially. These values are stored in the memory 45 according to FIG. 6.

Danach werden Fraktionsdaten wie etwa eine belegte Integrati­ onsrate jeder Fraktion und ein A/G-Verhältnis auf der Basis der abgetasteten Daten und der bestimmten Positionen der Frak­ tionierungspunkte f1 bis f4, die in dem in Fig. 6 gezeigten Speicher 45 gespeichert sind, berechnet. Das berechnete Ergeb­ nis wird zusammen mit dem normalisierten Muster auf der An­ zeige 47 angezeigt und in vorbestimmten Spalten auf dem Be­ richt bzw. Ausdruck 50 des Druckers 49 gedruckt. Thereafter, fraction data such as a proven integration rate of each fraction and an A / G ratio based on the sampled data and the determined positions of the fractionation points f 1 to f 4 stored in the memory 45 shown in FIG. 6 are calculated. The calculated result is displayed together with the normalized pattern on the display 47 and printed in predetermined columns on the report 50 of the printer 49 .

Wie vorstehend beschrieben wurde, können bei dem normalisier­ ten Meßmuster gemäß dem Fraktionsverarbeitungsverfahren bei diesem Ausführungsbeispiel gewisse Veränderungen in der Elek­ trophorese-Entwicklungslänge auftreten. Das heißt, bei den normalisierten Mustern können Positionen von Spitzen und Frak­ tionspunkten eines Musters mit Positionsfehlern und eine nor­ malisierte Anzahl von Fraktionen so eingestellt werden, daß sie exakt den Positionen der Spitze(n) und dem Fraktionie­ rungspunkt im vorbestimmten Referenzmuster entsprechen. Die Position der Spitzen und des Fraktionierungspunkts kann exakt als die Referenzpositionen durch einfache Verarbeitung inner­ halb eines kurzen Zeitintervalls bestimmt werden. Selbst falls zusätzliche Fraktionierungspunkte vorhanden sind oder kein Fraktionierungspunkt auftritt, kann das Verfahren gemäß diesem Ausführungsbeispiel effektiv eingesetzt werden, da die Posi­ tion des Fraktionierungspunkts eines Meßmusters exakt unter Heranziehung der Positionen der Spitze und des Fraktionie­ rungspunkts des Referenzmusters bestimmt werden kann, und zwar selbst dann, wenn die Anzahl von Fraktionen einer Probe klei­ ner oder größer als die Anzahl von Fraktionen des Referenzmu­ sters ist. Bei dem vorstehend beschriebenen Ausführungsbei­ spiel besitzt das Referenzmuster fünf Fraktionen. Jedoch kann die Fraktionsverarbeitung selbstverständlich in gleicher Weise bei einer Probe mit einem Referenzmuster von sechs oder mehr Fraktionen oder vier oder weniger Fraktionen eingesetzt wer­ den.As described above, the normalized measurement pattern according to the fraction processing method this embodiment certain changes in the elec trophorese developmental length occur. That is, with the normalized patterns can positions of lace and frak points of a pattern with position errors and a nor malized number of fractions can be set so that they exactly the positions of the tip (s) and the fraction approximately in the predetermined reference pattern. The The position of the tips and the fractionation point can be exact than the reference positions by simple processing inside can be determined within a short time interval. Even if additional fractionation points are present or none Fractionation point occurs, the procedure according to this Embodiment can be used effectively because the Posi tion of the fractionation point of a sample exactly below Using the positions of the top and the fractionie point of the reference pattern can be determined even if the number of fractions in a sample is small ner or greater than the number of fractions of the reference mu sters. In the embodiment described above game has the reference pattern five fractions. However, can fraction processing of course in the same way for a sample with a reference pattern of six or more Fractions or four or fewer fractions the.

Zusätzliche Vorteile und Modifikationen erschließen sich für den Fachmann in einfacher Weise. Die Erfindung in ihren brei­ terem Aspekten ist daher nicht auf die spezifischen Details und die gezeigten und beschriebenen Beispiele beschränkt.Additional advantages and modifications open up for the specialist in a simple manner. The invention in its porridge The other aspect is therefore not on the specific details and the examples shown and described are limited.

Bei dem beschriebenen Verfahren wird ein elektrophoretisches Muster, das durch Elektrophorese-Behandlung eines normalen menschlichen Serums erhalten wurde, derart normalisiert, daß Referenzpunkte (pa, pb), die mit zumindest zwei vorbestimmten Elektrophorese-Entwicklungslängen bei einem elektrophoreti­ schen Bild verknüpft sind, erfaßt werden. Diese Referenzpunkte werden so eingestellt, daß sie mit vorbestimmten Datenpositio­ nen (100, 200), die mit den vorbestimmten Elektrophorese-Ent­ wicklungslängen verknüpft sind, egalisiert sind. Ein Meßmu­ ster, das dadurch erhalten wird, daß eine Probe einer Elektro­ phorese unterzogen wird, wird in gleicher Weise normalisiert. Ein minimaler Punkt des Meßmusters zwischen Spitzenpositionen des Referenzmusters wird erfaßt und Positionen von Fraktionie­ rungspunkt-Positionen (f1, f2, f3, f4) zwischen Fraktionen (a′, b′, c′, d′, e′) im Meßmuster werden auf der Basis der Er­ fassungsergebnisse bestimmt. Gemäß dieser Erfindung können die Positionen des Fraktionierungspunkts des Musters exakt inner­ halb eines kurzen Zeitintervalls ohne jegliche Einflüsse auf­ grund von Veränderungen der Entwicklungslängen oder Elektro­ phorese-Positionen zwischen den Proben bestimmt werden.In the described method, an electrophoretic pattern obtained by electrophoresis treatment of normal human serum is normalized so that reference points (pa, pb) associated with at least two predetermined electrophoresis development lengths in an electrophoretic image are detected . These reference points are set so that they are equalized with predetermined data positions (100, 200) associated with the predetermined electrophoresis development lengths. A measuring pattern obtained by subjecting a sample to electrophoresis is normalized in the same way. A minimum point of the measurement pattern between peak positions of the reference pattern is detected and positions of fractionation point positions (f 1 , f 2 , f 3 , f 4 ) between fractions (a ′, b ′, c ′, d ′, e ′) in the Measurement patterns are determined based on the detection results. According to this invention, the positions of the fractionation point of the pattern can be determined exactly within a short time interval without any influences due to changes in the development lengths or electrophoresis positions between the samples.

Claims (9)

1. Verfahren zum Verarbeiten eines Fraktionsbilds bei der Elektrophorese, mit den Schritten:
Vorbereiten bzw. Erstellen eines Referenzmusters mit einem Fraktionierungspunkt und einer Spitze, die als Referenzpunkte dienen,
Normalisieren eines Meßmusters, das durch Elektrophorese-Bearbeitung einer Probe erhalten wurde, und,
Fraktionieren des Meßmusters auf der Basis einer Position eines resultierenden Fraktionierungspunkts, der derart erhalten wurde, daß eine Position eines Fraktionierungspunkts des Referenzmusters als eine Referenzposition eingesetzt wird, wobei jeder Fraktionierungspunkt des Referenzmusters dazu gebracht wird, einem Fraktionierungspunkt des Meßmusters zu ent­ sprechen.
1. A method for processing a fraction image in electrophoresis, comprising the steps:
Prepare or create a reference pattern with a fractionation point and a tip, which serve as reference points,
Normalizing a measurement pattern obtained by electrophoresis processing a sample, and,
Fractionating the measurement pattern based on a position of a resulting fractionation point obtained by using a position of a fractionation point of the reference pattern as a reference position, each fractionation point of the reference pattern being made to correspond to a fractionation point of the measurement pattern.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Fraktionierungspunkt bei derselben Position wie derjenigen im Referenzmuster zum Meßmuster hinzugefügt wird, wenn im Meßmuster kein dem Referenzmuster ent­ sprechender Fraktionierungspunkt vorhanden ist.2. The method according to claim 1, characterized in that a fractionation point in the same position as of those in the reference pattern added to the measurement pattern will, if none of the reference pattern in the measurement pattern speaking fractionation point is present. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeich­ net, daß dann, wenn im Meßmuster zusätzliche Fraktio­ nierungspunkte, die denjenigen des Referenzmusters nicht entsprechen, vorhanden sind, der Schritt der Fraktionierung des Meßmusters unter Ausschluß dieser zusätzlichen Fraktionierungspunkte durchgeführt wird. 3. The method according to claim 1 or 2, characterized net that if additional fracture in the measurement pattern dots that match those of the reference pattern do not match, are present, the step of Fractionation of the measurement pattern to the exclusion of this additional fractionation points is carried out.   4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ge­ kennzeichnet durch die weiteren Schritte:
Zählen (62) einer Anzahl von minimalen Punkten des Meß­ musters, die zwischen zwei benachbarten Spitzen des Meßmusters vorhanden sind, und
  • i) wenn die Anzahl gezählter minimaler Punkte eins ist, Definieren (63) des einen minimalen Punkts als den Fraktionierungspunkt des Meßpunkts,
  • ii) wenn die Anzahl gezählter minimaler Punkte nicht kleiner als zwei ist, Definieren (64) desjenigen mini­ malen Punkts, der am nächsten der Position des Fraktio­ nierungspunkts im Referenzmuster ist, als den Fraktio­ nierungspunkt, oder
  • iii) wenn keine gezählten minimalen Punkte vorhanden sind, Hinzufügen (65) der Position des entsprechenden Fraktionierungspunkts im Referenzmuster als den Frak­ tionierungspunkt.
4. The method according to any one of the preceding claims, characterized by the further steps:
Counting ( 62 ) a number of minimum points of the measurement pattern which are present between two adjacent peaks of the measurement pattern, and
  • i) if the number of minimum points counted is one, defining ( 63 ) the one minimum point as the fractionation point of the measurement point,
  • ii) if the number of minimum points counted is not less than two, defining ( 64 ) the minimum point closest to the position of the fractionation point in the reference pattern as the fractionation point, or
  • iii) if there are no counted minimum points, add ( 65 ) the position of the corresponding fractionation point in the reference pattern as the fractionation point.
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß eine Verarbeitung des Frakti­ onsbilds, das durch Elektrophorese-Bearbeitung eines Serums erhalten wurde, durchgeführt wird.5. The method according to any one of the preceding claims characterized in that processing of the fracture onsbilds by electrophoresis processing a Serum was obtained is carried out. 6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß das Referenzmuster ein densitometrisches Muster ist, das durch Elektrophorese-Bearbeitung eines Standard-Se­ rums erhalten wurde.6. The method according to claim 5, characterized in that the reference pattern is a densitometric pattern, by electrophoresis processing a standard Se rums was obtained. 7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch ge­ kennzeichnet, daß das Referenzmuster ein densitometri­ sches Muster ist, das durch Elektrophorese-Behandlung eines normalen menschlichen Serums erhalten wurde.7. The method according to any one of claims 1 to 5, characterized ge indicates that the reference pattern is a densitometri cal pattern is by electrophoresis treatment of normal human serum was obtained. 8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß zumindest eine der Positionen der Fraktionierungspunkte von Fraktionen Albumin, α1- Globulin, α2-Globulin, β-Globulin und γ-Globulin des Referenzmusters als der Referenzpunkt definiert wird.8. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that at least one of the positions of the fractionation points of fractions albumin, α 1 - globulin, α 2 -globulin, β-globulin and γ-globulin of the reference pattern is defined as the reference point. 9. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, ge­ kennzeichnet durch den weiteren Schritt der Berechnung von Fraktionsdaten für jede Fraktion des Meßmusters.9. The method according to any one of the preceding claims, ge characterized by the further step of the calculation of fraction data for each fraction of the measurement pattern.
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