DE60028410T2

DE60028410T2 - Plattenlaufwerk

Info

Publication number: DE60028410T2
Application number: DE60028410T
Authority: DE
Inventors: Timothy John Muncaster; William Albert Saville
Original assignee: Xyratex Technology Ltd
Current assignee: Seagate Systems UK Ltd
Priority date: 1999-11-29
Filing date: 2000-11-23
Publication date: 2007-06-06
Anticipated expiration: 2020-11-24
Also published as: GB9928211D0; EP1234308A1; WO2001041148A1; JP4646476B2; DE60028410D1; JP2003515871A; MY123430A; EP1234308B1; US6826046B1

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft einen Plattenlaufwerkseinheit-Träger, ein Plattenlaufwerks-Testgerät, ein Datenspeichergerät, ein Verfahren zum Testen mehrerer Plattenlaufwerkseineinheiten und ein Verfahren zum Betreiben mehrerer Plattenlaufwerkseinheiten.
Bei der Herstellung von Plattenlaufwerkseinheiten ist es notwendig, die Plattenlaufwerkseinheiten zu testen, um sicherzustellen, dass sie die geforderten Spezifikationen erfüllen. Als Teil des Testbetriebes ist es notwendig, die Temperatur der Plattenlaufwerkseinheiten zu steuern. Die Temperatur der Plattenlaufwerkseinheiten verändert sich über einen weiten Bereich während des Testens. Bei einem der eigenen bekannten Testgeräte des Anmelders wird die Temperatur mehrerer Plattenlaufwerkseinheiten gesteuert, indem man Kühlluft oder Heizluft einsetzt, die allen Plattenlaufwerkseinheiten gemeinsam ist.
Es ist auch erwünscht, die Temperatur einer Plattenlaufwerkseinheit während eines normalen Betriebes der Plattenlaufwerkseinheit, d.h. wenn die Plattenlaufwerkseinheit von einem Endverbraucher im normalen Einsatz betrieben wird, so zu halten, dass sie innerhalb eines vorgegebenen Bereiches liegt. Es ist übliche Praxis bei Computern, ein Kühlgebläse vorzusehen, welches Luft ansaugt und diese Kühlluft veranlasst, über Komponenten in dem Computer, einschließlich insbesondere die CPU, zu strömen, um die Temperatur der Komponenten niedrig zu halten. Das bedeutet jedoch einen groben Kühlmechanismus und sieht keine getrennte Steuerung der Temperatur der einzelnen Komponenten des Computers und insbesondere der Plattenlaufwerkseinheit vor.
Beispielsweise ist in der US-A-5,414,591 ein Plattenspeichersystem offenbart, in welchem Plattenlaufwerke gekühlt werden können, und bei welchem auch dann, wenn eine Blasluftvorrichtung für eines der Plattenlaufwerke Schwierigkeiten macht oder seinen Betrieb einstellt, der Temperaturanstieg dieses Plattenlaufwerkes auf das Minimum gedrückt werden kann. Allerdings befasst sich die Offenbarung damit, eine allgemeine Kühlung der Plattenlaufwerke zu erreichen.
US-A-4,967,155 offenbart ein Defektdetektiersystem für Plattenlaufwerke, umfassend einen Testschrank, welcher in zwei Sektionen aufgeteilt ist. Die erste Sektion wird bei einer umweltgemäß gesteuerten, angehobenen Temperatur zum Testen von Plattenlaufwerken gehalten, die oberhalb einer Umgebungsraumtemperatur liegt. Das System erlaubt keine individuelle Temperatursteuerung von Plattenlaufwerken während des Testens.
US-A-5,851,143 offenbart eine Plattenlaufwerk-Testkammer, welche eine Umgebung für zu testende Plattenlaufwerke mit einem Luftzirkulationssystem schafft, welches einen gleichmäßigen Luftstrom über jedem Laufwerk zum Zwecke einer Äquivalenz bei den Testbedingungen vorsieht.
EP-A-0 356 977 offenbart eine Drehplattenvorrichtung, bei der eine Montage der die Vorrichtung bildenden Komponenten mit hoher Dichte möglich ist. Es sind Kühlmittel vorgesehen, um die Energiezufuhreinheit, die Speichereinheit und andere Komponenten zu kühlen.
Gemäß einem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Plattenlaufwerkseinheit-Träger zum Aufnehmen einer Plattenlaufwerkseinheit vorgesehen, wobei der Träger dazu ausgelegt ist, eine und nur eine Plattenlaufwerkseinheit zu tragen, gekennzeichnet durch: eine Temperatursteuereinrichtung zum Steuern der Temperatur einer in dem Träger aufgenommenen Plattenlaufwerkseinheit so, dass diese während des Betriebes der Plattenlaufwerkseinheit bei einer vorgegebenen Temperatur liegt, und wobei dieser Plattenlaufwerkseinheit-Träger so ausgebildet ist, dass er lösbar in einem Gerät montierbar ist, welches mehrere derartiger Plattenlaufwerkseinheit-Träger aufnehmen kann, wobei es eine unabhängige Temperatursteuerung einer derartigen, in diesem Träger aufgenommenen Plattenlaufwerkseinheit relativ zu anderen Plattenlaufwerkseinheiten ermöglicht, die in anderen, in diesem Gerät montierten Trägern aufgenommen sind.
Der Träger ermöglicht es, dass die Temperatur einer Plattenlaufwerkseinheit in dem Träger so gesteuert wird, dass sie während des Betriebes der Plattenlaufwerkseinheit bei einer vorgegebenen Temperatur liegt. Es versteht sich, dass in der Praxis die Temperatur so gesteuert wird, dass sie innerhalb bestimmter Grenzen einer vorgegebenen Temperatur liegt, und der Ausdruck "vorgegebene Temperatur" soll entsprechend ausgelegt werden. Wenn der Plattenlaufwerkseinheit-Träger dazu eingesetzt wird, eine Plattenlaufwerkseinheit während des Testens der Plattenlaufwerkseinheit als Teil des Herstellungsprozesses aufzunehmen, wie weiter unten ausführlicher diskutiert wird, dann kann der Träger mit anderen ähnlichen Trägern zusammen untergebracht werden, die jeweils ihre eigenen zugeordneten Plattenlaufwerkseinheiten tragen. In diesem Fall erlaubt die vorliegende Erfindung es, dass die Temperatur individueller Plattenlaufwerkseinheiten unabhängig gesteuert wird. Dies wiederum bedeutet, dass unterschiedliche Plattenlaufwerkseinheiten zur gleichen Zeit bei unterschiedlichen Temperaturen liegen können, was von Vorteil ist, indem dies ein vollständig unabhängiges Testen der Plattenlaufwerkseinheiten einschließlich einem Einsetzen bzw. Entfernen der Plattenlaufwerkseinheiten in die Träger bzw. aus den jeweiligen Trägern erlaubt. Darüber hinaus können die verschiedenen Plattenlaufwerkseinheiten mit Energie auf unterschiedlichem Niveau versorgt werden, was bei dem Gerät gemäß dem Stand der Technik unvermeidlich bedeuten würde, dass die unterschiedlichen Plattenlaufwerkseinheiten normalerweise bei unterschiedlichen Temperaturen liegen würden; im Gegensatz dazu können mit Trägern gemäß der vorliegenden Erfindung die Temperaturen von Plattenlaufwerkseinheiten, die auf unterschiedlichen Energieniveaus arbeiten, falls gewünscht gleich gehalten werden.
Die Temperatursteuereinrichtung in einer bevorzugten Ausgestaltung umfasst eine Luftstromsteuereinrichtung, die die Luft veranlasst, um eine in dem Träger aufgenommene Plattenlaufwerkseinheit herum zu strömen. Wie weiter unten diskutiert wird, kann die Luft zum Kühlen oder zum Wärmen der Plattenlaufwerkseinheit und/oder dazu verwendet werden, die Temperatur der Plattenlaufwerkseinheit konstant zu halten.
Der Träger kann einen Wärmetauscher zum wahlweisen Aufnehmen und Kühlen von wenigstens einem Teil der Luft umfassen, die über eine in dem Träger aufgenommene Plattenlaufwerkseinheit hinweggeströmt ist, um so abgekühlte Luft zur Verfügung zu stellen, wobei die Luftstromsteuereinrichtung wahlweise be trieben werden kann, um die Luft direkt um eine in dem Träger aufgenommene Plattenlaufwerkseinheit herum rezirkulieren zu lassen, oder um wenigsten einen Teil der Luft, welcher über eine in dem Träger aufgenommene Plattenlaufwerkseinheit hinweggeströmt ist, durch den Wärmetauscher hindurchtreten zu lassen, um abgekühlte Luft zur Verfügung zu stellen, und diese abgekühlte Luft zu veranlassen, um eine in dem Träger aufgenommene Plattenlaufwerkseinheit herum zu strömen, oder um eine Mischung von direkt rezirkulierter Luft und abgekühlter Luft um eine in dem Träger aufgenommene Plattenlaufwerkseinheit herum strömen zu lassen.
Die Luftstromsteuereinrichtung kann wahlweise betrieben werden, um Luft um eine in dem Träger aufgenommene Plattenlaufwerkseinheit herum rezirkulieren zu lassen, oder um frische Luft von außerhalb des Träges um eine in dem Träger aufgenommene Plattenlaufwerkseinheit herum strömen zu lassen, oder um eine Mischung von rezirkulierter Luft und frischer Luft von außerhalb des Trägers um eine in dem Träger aufgenommene Plattenlaufwerkseinheit herum strömen zu lassen.
Typischerweise wird die Tatsache, Luft um eine Plattenlaufwerkseinheit herum rezirkulieren zu lassen, dazu führen, dass die Temperatur der Plattenlaufwerkseinheit ansteigt, bis der Wärmeverlust von dem Träger mit dem Energieverbrauch der Plattenlaufwerkseinheit übereinstimmt. Frische Luft hat normalerweise eine Temperatur, die niedriger ist als die Temperatur der Plattenlaufwerkseinheit, und sie wird infolgedessen die Tendenz haben, die Plattenlaufwerkseinheit zu kühlen. Andererseits kann ein Wärmetauscher eingesetzt werden, um abgekühlte Luft zur Verfügung zu stellen. Die Luftströmungsmittel können so betrieben werden, dass sie eine Mischung von rezir kulierter Luft und frischer oder abgekühlter Luft veranlassen, um die Plattenlaufwerkseinheit herum zu strömen, was es ermöglicht, dass Zwischentemperaturen erreicht und gehalten werden.
In einer bevorzugten Ausgestaltung umfasst die Luftstromsteuereinrichtung eine Umlenkeinrichtung, die wahlweise bewegbar ist.
Eine Servosteuerung kann vorgesehen sein, um die Bewegung der Umlenkeinrichtung zu steuern.
Der Träger kann eine wahlweise betreibbare, in dem Träger aufgenommene Heizeinrichtung in dem Luftstromweg zu einer Plattenlaufwerkseinheit umfassen, um wahlweise die Luft aufzuheizen, bevor diese Luft um eine in dem Träger aufgenommene Plattenlaufwerkseinheit herum strömt. Das erlaubt es, die Temperatur der Plattenlaufwerkseinheit anzuheben oder schneller als sonst anzuheben.
In einer Ausgestaltung ist der Plattenlaufwerkseinheit-Träger ein Plattenlaufwerkseinheit-Testträger zum Aufnehmen einer Plattenlaufwerkseinheit während des Testens der Plattenlaufwerkseinheit.
Gemäß einem zweiten Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Plattenlaufwerkseinheit-Testgerät zum Aufnehmen mehrerer Plattenlaufwerkseinheiten vorgesehen, wobei das Testgerät mehrere Träger umfasst, wie sie oben beschrieben wurden, deren jeder zum Aufnehmen einer jeweiligen Plattenlaufwerkseinheit dient, um zu ermöglichen, dass die Temperatur der jeweiligen Plattenlaufwerkseinheiten während des Testens der Plattenlaufwerkseinheiten unabhängig gesteuert wird.
Wie oben schon kurz erwähnt wurde, ermöglicht ein solches Testgerät, dass mehrere Plattenlaufwerkseinheiten unabhängig voneinander als Teil des Herstellungsprozesses getestet werden, wobei eine unabhängige Steuerung der Temperatur einer jeden der Plattenlaufwerkseinheiten möglich ist. Das schafft eine Flexibilität während des Testens, die zuvor nicht zur Verfügung stand.
Gemäß einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Datenspeichergerät vorgesehen, wobei das Gerät mehrere Träger umfasst, wie oben beschrieben wurde, deren jeder zum Aufnehmen einer jeweiligen Plattenlaufwerkseinheit dient, um zu ermöglichen, dass die Temperatur der jeweiligen Plattenlaufwerkseinheiten während des Betriebes der Plattenlaufwerkseinheiten unabhängig gesteuert wird.
Die Tatsache, eine unabhängige Steuerung der Temperatur der mehreren Plattenlaufwerkseinheiten in einem Datenspeichergerät zur Verfügung zu haben, bietet effektiv eine vollständige Kontrolle über die Temperatur der individuellen Plattenlaufwerkseinheiten während des Einsatzes in dem Datenspeichergerät. Das bedeutet wiederum, dass die Plattenlaufwerkseinheiten jeweils wahrscheinlich innerhalb eines spezifizierten sicheren Temperaturbereiches arbeiten, was die Leistung des Datenspeichergerätes als Ganzes zuverlässiger macht. Im Gegensatz dazu kann beim Stand der Technik, wo es nur eine einzige Temperatursteuerung gibt, die für alle der mehreren Plattenlaufwerkseinheiten gemeinsam ist, die Temperatur einer individuellen Plattenlaufwerkseinheit aus dem sicheren Temperaturbereich heraus abweichen; ebenso wie es diese individuelle Plattenlaufwerkseinheit unzuverlässiger macht oder sogar die Wahr scheinlichkeit eines Versagens bedingt, bedeutet das auch, dass die Temperatur der anderen Plattenlaufwerkseinheiten beeinträchtigt werden kann. Diese Probleme werden mit einem Datenspeichergerät gemäß der vorliegenden Erfindung überwunden.
Jedes der oben beschriebenen Geräte kann ein Steuerungsgerät für eine unabhängige Steuerung der Temperatur Steuereinrichtungen der Plattenlaufwerkseinheit-Träger umfassen.
Gemäß einem anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Verfahren zum Testen mehrerer Plattenlaufwerkseinheiten vorgesehen, wobei die mehreren Plattenlaufwerkseinheiten in einem einzigen Plattenlaufwerkseinheit-Testgerät angeordnet sind, dadurch gekennzeichnet, dass die Temperatur einer jeden der Plattenlaufwerkseinheiten während des Testens der Plattenlaufwerkseinheiten unabhängig gesteuert wird.
In einer bevorzugten Ausgestaltung umfasst das Verfahren den Schritt, einen Luftstrom um jede der Plattenlaufwerkseinheiten herum unabhängig zu steuern und dadurch die Temperatur einer jeden der Plattenlaufwerkseinheiten unabhängig zu steuern.
Das Verfahren kann den Schritt umfassen, unabhängig für jede Plattenlaufwerkseinheit den Luftstrom um die Plattenlaufwerkseinheit herum in einer Weise zu steuern, um Luft direkt um die Plattenlaufwerkseinheit herum rezirkulieren zu lassen, oder um abgekühlte Luft, die man dadurch erhält, dass man wenigstens einen Teil der Luft, die über die Plattenlaufwerkseinheit geströmt ist, durch einen Wärmetauscher hindurch treten lässt, um die Plattenlaufwerkseinheit herum strömen zu lassen, oder um eine Mischung von direkt rezirkulierender Luft und abgekühlter Luft um die Plattenlaufwerkseinheit herum strömen zu lassen.
Das Verfahren kann den Schritt umfassen, unabhängig für jede Plattenlaufwerkseinheit den Luftstrom um die Plattenlaufwerkseinheit herum in einer Weise zu steuern, um Luft um die Plattenlaufwerkseinheit herum rezirkulieren zu lassen, oder um frische Luft um die Plattenlaufwerkseinheit herum strömen zu lassen, oder um eine Mischung von rezirkulierter Luft und frischer Luft um die Plattenlaufwerkseinheit herum strömen zu lassen.
Gemäß einem noch anderen Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Verfahren für den Betrieb mehrerer Plattenlaufwerkseinheiten vorgesehen, bei welchem jede der Plattenlaufwerkseinheiten in einem Plattenlaufwerkseinheit-Träger aufgenommen ist und die Plattenlaufwerkseinheit-Träger lösbar in einem einzigen Datenspeichergerät montiert sind, welches mehrere derartiger Plattenlaufwerkseinheit-Träger aufnehmen kann; dadurch gekennzeichnet, dass die Temperatur einer jeden der Plattenlaufwerkseinheiten während des Betriebes der Plattenlaufwerkseinheiten unabhängig gesteuert wird.
Vorzugsweise umfasst das Verfahren den Schritt, einen Luftstrom um jede der Plattenlaufwerkseinheiten herum unabhängig zu steuern und dadurch die Temperatur einer jeden der Plattenlaufwerkseinheiten unabhängig zu steuern.
In einer Ausgestaltung kann das Verfahren den Schritt umfassen, unabhängig für jede Plattenlaufwerkseinheit den Luftstrom um die Plattenlaufwerkseinheit herum in einer Weise zu steuern, um Luft direkt um die Plattenlaufwerkseinheit herum re zirkulieren zu lassen, oder um abgekühlte Luft, die man dadurch gewinnt, dass man wenigstens einen Teil der Luft, die über die Plattenlaufwerkseinheit geströmt ist, durch einen Wärmetauscher hindurch treten lässt, um die Plattenlaufwerkseinheit herum strömen zu lassen, oder um eine Mischung von direkt rezirkulierender Luft und abgekühlter Luft um die Plattenlaufwerkseinheit herum strömen zu lassen.
In einer anderen Ausgestaltung umfasst das Verfahren den Schritt, unabhängig für jede Plattenlaufwerkseinheit den Luftstrom um die Plattenlaufwerkseinheit herum in einer Weise zu steuern, um Luft um die Plattenlaufwerkseinheit herum rezirkulieren zu lassen, oder um frische Luft um die Plattenlaufwerkseinheit herum strömen zu lassen, oder um eine Mischung von rezirkulierter Luft und frischer Luft um die Plattenlaufwerkseinheit herum strömen zu lassen.
Eine Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung wird jetzt beispielhaft mit Bezug auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben, in denen zeigen:
1 eine perspektivische Ansicht, teilweise als Phantomansicht und mit aus Gründen der besseren Klarheit entfernten Teilen, eines Beispiels eines Trägers für eine Plattenlaufwerkseinheit gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung;
2 eine perspektivische Ansicht des Trägers der 1, teilweise als Phantomansicht und mit aus Gründen der besseren Klarheit entfernten Teilen, in einem Luftrezirkulationsmodus;
3 eine perspektivische Ansicht des Trägers der 1 und 2, teilweise als Phantomansicht und mit aus Gründen einer besseren Klarheit entfernten Teilen, in einem Abkühlungsluftmodus;
4 eine perspektivische Ansicht eines für den Träger der 1 bis 3 geeigneten Gebläses und
5 eine perspektivische Ansicht, teilweise als Phantomansicht, eines zweiten Beispiels eines Trägers für eine Plattenlaufwerkseinheit gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung.
In der 1 ist, teilweise als Phantomansicht, eine perspektivische Ansicht eines Beispiels eines Plattenlaufwerkseinheit-Trägers 1 gemäß der vorliegenden Erfindung gezeigt. Der Träger 1 ist eine kastenartige Konstruktion mit allgemein rechteckigem Querschnitt. Eine Plattenlaufwerkseinheit 2 ist in einem vorderen Abschnitt des Träges 1 aufgenommen. Der Träger 1 hat an der Vorderseite eine Tür 3, die geöffnet oder entfernt werden kann, um zu ermöglichen, dass eine Plattenlaufwerkseinheit 2 in den Träger 1 eingesetzt oder aus diesem entnommen wird. Die Plattenlaufwerkseinheit 2 ist typischerweise eine komplette Einheit mit einer oder mehreren drehbaren Magnetplatten, auf denen Daten gespeichert werden können, einem oder mehreren Lese-/Schreibköpfen, die an einem oder mehreren Lese-/Schreibarmen montiert sind, wenigstens einem Motor zum Bewegen des Armes oder der Arme, und geeigneten internen elektrischen Verbindungen. Elektrische Verbindungen für die Zufuhr von Leistung und Steuersignalen zu und von der Plattenlaufwerkseinheit 2 sind vorgesehen; sie sind jedoch in den Zeichnungen aus Gründen einer besseren Klarheit nicht gezeigt.
Der hintere Bereich des Trägers 1 umfasst eine Temperatursteuereinrichtung 4 zum Steuern der Temperatur der Plattenlaufwerkseinheit 2 in einer Weise, dass sie während des Betriebes der Plattenlaufwerkseinheit 2 bei einer vorgegebenen Temperatur liegt. "Betrieb" der Plattenlaufwerkseinheit 2 umfasst einen Betrieb während des Testens der Plattenlaufwerkseinheit 2 und auch einen Betrieb der Plattenlaufwerkseinheit 2 während des normalen Einsatzes durch einen Endverbraucher. Eine Trennwand 21 ist zwischen dem vorderen und dem hinteren Bereich des Trägers 1 vorgesehen, wobei die Trennwand 21 Durchgangsöffnungen 20 aufweist, die sich an ihrer untersten Kante befinden und sich nicht ganz bis zur vollen Höhe in dem Träger 1 erstrecken.
In dem gezeigten Beispiel umfasst die Temperatursteuereinrichtung 4 ein Zentrifugalgebläse 5, welches um eine vertikale Achse in der in den Zeichnungen gezeigten Ausrichtung dreht, sowie eine Umlenkeinrichtung 6, um den Luftstrom in geeigneter Weise zu lenken. Die Umlenkeinrichtung 6 hat die Form einer aufrecht stehenden, halbkreisförmigen Wand, die um eine vertikale Achse durch einen Motor 8 geschwenkt werden kann. Das Zentrifugalgebläse 5, welches auch in der 4 gezeigt ist, ist in einem allgemein kreisförmigen Gehäuse 10 aufgenommen, welches den das Gebläse 5 verlassenden Luftstrom zu der Plattenlaufwerkseinheit 2 hin lenkt. Das Gehäuse 10 hat einen zu dem Gebläse 5 hin führenden Lufteinlass 11 im Zentrum von dessen Unterseite, sowie einen allgemein tangentialen Luftauslass 12 an dessen Oberseite, welcher zu der Plattenlaufwerkseinheit 2 hin gerichtet ist.
Zwei Abschnitte einer Seitenwand 15 des Trägers 1 zum hinteren Bereich des Trägers 1 hin fehlen, und sie bilden zwei benachbarte Öffnungen 16, 17 in der Seitenwand 15 in einer Position nahe dem Gebläse 5. Die Seitenwand 15 hat einen kurzen Wandabschnitt 7 zwischen den Öffnungen 16, 17, welcher allgemein einwärts des Trägers 1 zu dem Gebläse 5 hin gerichtet ist. Ein Wärmetauscher 18 ist an dem Träger 1 über den Öffnungen 16, 17 in der Seitenwand 15 so befestigt, dass den Träger 1 durch die vordere Öffnung 16 hindurch verlassende Luft durch den Wärmetauscher 18 hindurch tritt, wo die Luft gekühlt wird, und sodann zurück in den Träger 1 über die hintere Öffnung 17.
Es wird jetzt auf die 2 Bezug genommen; diese zeigt die Temperatursteuereinrichtung 4, die in einer Weise konfiguriert ist, dass sie bewirkt, dass Luft einfach um die Plattenlaufwerkseinheit 2 herum rezirkuliert wird; man wird sehen, dass die halbkreisförmige Umlenkeinrichtung 6 durch den Umlenkeinrichtungsmotor 8 so gedreht worden ist, dass sie sich über den Spalt zwischen dem einwärts gerichteten Wandabschnitt 7 und der gegenüberliegenden Seitenwand 19 des Trägers 1 erstreckt und in einer Position ist, um den Lufteinlassweg zu dem Einlass 11 zum Gebläse 5 hin von der hinteren Öffnung 17 in der Seitenwand 15 zu schließen. Das Dreh-Zentrifugalgebläse 5 drückt demnach Luft aus dem Auslass 12 des Gebläsegehäuses 10 über die Oberseite der Trennwand 21 und über die Oberseite der Plattenlaufwerkseinheit 2 zu dem vorderen Bereich des Trägers 1. Die Tür 3 des Trägers 1 lenkt sodann die Luft um die Vorderseite der Plattenlaufwerkseinheit 2 herum. Die Luft wird sodann von dem Boden 13 des Trägers 1 unter der Plattenlaufwerkseinheit 2 zurück durch die Öffnungen 20 in der Trennwand 21 zwischen der Plattenlaufwerkseinheit 2 und der Temperatursteuereinrichtung 4 gelenkt, und sodann direkt zu dem Einlass 11 des Gebläsegehäuses 10 zum Gebläse 5. Die Luft wird sodann durch das Gebläse 5 wieder nach oben gesaugt, so dass sie über die Oberseite der Plattenlaufwerkseinheit 2 zurück fließt. Die Luft kann nicht durch die vordere Öffnung 16 austreten, weil die geschlossene hintere Öffnung 17 verhindert, dass Luft durch den Wärmetauscher 18 hindurchtritt.
Es wird jetzt auf die 3 Bezug genommen; die Temperatursteuereinrichtung 4 ist in einer Luftabkühlungskonfiguration gezeigt. In dieser Konfiguration hat der Umlenkeinrichtungsmotor 8 die Umlenkeinrichtung 6 um 180° um das Gebläsegehäuse 10 herum gedreht, um den Gebläseeinlass 11 für den Lufteinlassweg von der hinteren Öffnung 17 in der Seitenwand 15 des Trägers 1 freizugeben. In dieser Konfiguration wird Luft, die über die Plattenlaufwerkseinheit 2 hinweg und unter dieser hindurch sowie durch die Öffnungen 20 geflossen ist, durch die Umlenkeinrichtung 6 durch die vordere Öffnung 16 in der Seitenwand 15 hindurch gelenkt, so dass sie abgekühlt wird, indem sie von dem Gebläse 5 durch den Wärmetauscher 18 hindurch gesaugt wird. Die abgekühlte Luft tritt sodann durch die hintere Öffnung 17 in der Seitenwand 15 hindurch und in das Gebläse 5 ein, so dass sie wieder gezwungen wird, über die Oberseite, an der Vorderseite nach unten und unter der Plattenlaufwerkseinheit 2 hindurch zu strömen. Wie verständlich ist, verhindert in dieser Konfiguration die Umlenkeinrichtung 6, dass Luft, die von unterhalb der Plattenlaufwerkseinheit 2 ausströmt, direkt zurück zu dem Gebläseeinlass 11 fließt. Im Gegensatz dazu wird in dieser Konfiguration der von unterhalb der Plattenlaufwerkseinheit 2 austretende Luftstrom zu der vorderen Öffnung 16 in der Seitenwand 15 und durch den Wärmetauscher 18 zu der hinteren Öffnung 17 in der Seitenwand 15 gelenkt.
Wie man erkennt, wird dann, wenn Luft veranlasst wird, einfach um die Plattenlaufwerkseinheit 2 herum zu rezirkulieren, wie in der in 2 gezeigten Konfiguration, die Temperatur der Plattenlaufwerkseinheit 2 ansteigen, bis der Wärmeverlust über den Träger 1 sich im wesentlichen mit dem Leistungsverbrauch der Plattenlaufwerkseinheit 2 deckt. Das sorgt für ein schnelles Aufheizen der Plattenlaufwerkseinheit 2. Das ist insbesondere dann von Vorteil, wenn ein Testen der Plattenlaufwerkseinheit 2 bei höheren Temperaturen gefordert wird, da es ermöglicht, diese höheren Temperaturen schneller zu erreichen, was einen schnellen Durchlauf von Plattenlaufwerkseinheiten 2 während des Testens erlaubt. In der in den Zeichnungen gezeigten bevorzugten Ausgestaltung ist eine elektrische Heizeinrichtung 14 in dem Luftstromweg von dem Auslass 12 zu der Plattenlaufwerkseinheit 2 vorgesehen, die wahlweise betrieben werden kann, um die Luft aufzuheizen und auf diese Weise eine schnellere Erwärmung der Plattenlaufwerkseinheit 2 zu erreichen, falls gewünscht.
Wenn der Träger 1 in dem in 3 gezeigten Abkühlungsluftmodus arbeitet, dann wird abgekühlte Luft veranlasst, über die Plattenlaufwerkseinheit 2 hinweg zu strömen, womit es ermöglicht wird, die Plattenlaufwerkseinheit 2 wie erforderlich zu kühlen. Die Verwendung von abgekühlter Luft erlaubt es, dass eine schnellere Kühlung der Plattenlaufwerkseinheit 2 erreicht wird.
Durch eine geeignete Positionierung der Umlenkeinrichtung 6 zwischen den in den 2 und 3 gezeigten extremen Positionen kann eine Mischung von abgekühlter Luft und direkt rezirkulierter Luft veranlasst werden, um die Plattenlaufwerkseinheit 2 herum zu strömen, wobei die Mischung in irgendeiner ge wünschten Proportion vorliegt. Die Umlenkeinrichtung 6 kann demnach in einer Weise positioniert werden, um die Temperatur der Plattenlaufwerkseinheit 2 auf ein vorgegebenes Niveau einzustellen und auf diesem zu halten.
Ein zweites Beispiel eines Trägers 1 gemäß der vorliegenden Erfindung ist in der 5 gezeigt. In der Zeichnung und in der Beschreibung dieses zweiten Beispiels sind die gleichen Bezugszahlen verwendet worden, um die gleichen oder entsprechende Teile wie in dem ersten Beispiel des Trägers 1 zu bezeichnen, welcher oben beschrieben wurde, und eine ins Einzelne gehende Beschreibung der gemeinsamen Teile wird hier nicht mehr vorgelegt. Das zweite Beispiel des Trägers 1 unterscheidet sich von dem ersten Beispiel insoweit, als kein Wärmetauscher 18 über der vorderen und hinteren Öffnung 16, 17 in der Seitenwand 15 des Trägers 1 vorgesehen ist. Im Gegensatz dazu ist bei dem zweiten Beispiel eine Klappe 30 über der vorderen Öffnung 16 schwenkbar befestigt. Die Klappe 30 kann durch einen (nicht gezeigten) Motor betätigt werden, oder sie kann einfach frei angelenkt sein, so dass sie die vordere Öffnung 16 aufmacht und es so der Luft, die über die Plattenlaufwerkseinheit 2 geflossen ist, erlaubt, aus dem Träger 1 auszutreten, oder dass sie die vordere Öffnung 16 zumacht, um zu bewirken, dass die Luft direkt zurück zu dem Gebläse 5 rezirkuliert wird. Die hintere Öffnung 17 ist einfach ein Frischlufteinlass, durch den frische Luft wahlweise von außerhalb in den Träger 1 eintreten kann.
Für einen Betrieb des zweiten Beispiels in dem Frischluftmodus wird demnach die Umlenkeinrichtung 6 so bewegt, dass die hintere Öffnung 17 geöffnet wird, um der Frischluft zu erlauben, in den Träger 1 einzutreten, wobei es sich versteht, dass fri sche Luft von außerhalb des Trägers 1 typischerweise viel kühler als die im Betrieb befindliche Plattenlaufwerkseinheit 2 ist. Gleichzeitig wird die Klappe 30 über der vorderen Öffnung 16 geöffnet, um warmer Luft, die über die Plattenlaufwerkseinheit 2 geflossen ist, zu erlauben, aus dem Träger 1 auszutreten. In dem Luftrezirkulationsmodus ist die Umlenkeinrichtung 6 so bewegt worden, dass sie die hintere Öffnung 17 schließt, und die Klappe 30 ist so bewegt worden, dass sie die vordere Öffnung 16 schließt, so dass Luft, die über die Plattenlaufwerkseinheit 2 geflossen ist, direkt zurück zu dem Gebläse 5 fließt. Durch eine geeignete Positionierung der Umlenkeinrichtung 6 und der Klappe 30 kann eine Mischung von zirkulierter und frischer Luft veranlasst werden, über die Plattenlaufwerkseinheit 2 zu fließen.
In jedem der oben beschriebenen Beispiele kann ein Betrieb des Umlenkeinrichtungsmotors 8 unter Servosteuerung erfolgen. Eine Steuerung der Bewegung der Umlenkeinrichtung 6 und der Klappe 30 (falls vorgesehen) und ein Betrieb der Heizeinrichtung 14 kann mittels einer zweckmäßigen Software durchgeführt werden, die auf einem geeigneten Computer läuft. Ein oder mehrere Temperatursensoren können vorgesehen sein, um die Temperatur der Plattenlaufwerkseinheit 2 zu überwachen und ein oder mehrere Steuersignale an die Servorsteuerungen zu geben.
Es versteht sich, dass die in den Zeichnungen gezeigten Luftstromanordnungen nur Beispiele darstellen, und dass alternative Anordnungen für einen Luftstrom über die Plattenlaufwerkseinheit 2 möglich sind. Beispielsweise könnte Luft dazu veranlasst werden, in der gleichen Richtung über die Oberseite der Plattenlaufwerkseinheit 2 und unterhalb derselben zu strömen, und sie kann zu dem Gebläse 5 entlang einer oder beider Längsseiten der Plattenlaufwerkseinheit 2 zurückgeführt werden. Diese Anordnung kann von Vorteil sein, wenn Kabel mit der Rückseite der Plattenlaufwerkseinheit 2 verbunden sind, da solche Kabel andernfalls die Luftströmungseigenschaften beeinträchtigen könnten, auch wenn das dazu führt, dass der Träger 1 geringfügig breiter wird als andernfalls, so dass man zusätzlichen Einbauraum zum Unterbringen des Trägers 1 benötigt.
Jeder der oben beschriebenen Träger 1 kann dazu eingesetzt werden, die Temperatur einer Plattenlaufwerkseinheit 2 während des Testens der Plattenlaufwerkseinheit 2 als Teil des normalen Herstellungsprozesses der Plattenlaufwerkseinheit 2 zu steuern. Jeder der Träger 2 kann auch verwendet werden, um die Temperatur der Plattenlaufwerkseinheit 2 während eines normalen Betriebes der Plattenlaufwerkseinheit 2 durch einen Endverbraucher zu steuern.
Mehrere Träger 1 können in einem Plattenlaufwerkseinheit-Testgerät, wie beispielsweise einem Testgestell vereinigt sein oder in dieses eingebaut werden. Auf diese Weise können mehrere Plattenlaufwerkseinheiten unabhängig voneinander getestet werden, wobei eine unabhängige Steuerung der Temperatur einer jeden der Plattenlaufwerkseinheiten 2 stattfindet. Dies erlaubt es, dass individuelle Plattenlaufwerkseinheiten 2 in das Testgerät hinein bzw. aus diesem heraus bewegt werden, ohne das Testen anderer Plattenlaufwerkseinheiten 2 in dem Gerät zu beeinträchtigen, ein Merkmal, welches zuvor nicht zur Verfügung stand. Die Temperatur individueller Plattenlaufwerkseinheiten 2 in dem Testgerät kann erheblich verschieden von der Temperatur anderer Plattenlaufwerkseinheiten 2 in dem Gerät sein. Die Temperatur einer jeden der Plattenlaufwerkseinheiten 2 kann so gesteuert werden, dass sie bei einem vorgegebenen Niveau liegt, welches gleich für alle Plattenlaufwerkseinheiten 2 sein kann oder auch nicht, ungeachtet des Energieverbrauchs der individuellen Plattenlaufwerkseinheiten 2.
Zusätzlich zu einer Verwendung bei der Steuerung der Temperatur von Plattenlaufwerkseinheiten 2 während des Testens kann jeder der oben beschriebenen Träger 1 dazu eingesetzt werden, die Temperatur einer Plattenlaufwerkseinheit 2 zu steuern, wenn sie von einem Endverbraucher als Datenspeicherprodukt genutzt wird. In ähnlicher Weise können mehrere Träger 1 vereinigt oder zusammenmontiert sein, um ein Datenspeichergerät mit mehreren Plattenlaufwerkseinheiten zu bilden, die unabhängig betreibbar sind, wobei die Temperatur einer jeden von ihnen unabhängig gesteuert werden kann. Indem man die individuellen Plattenlaufwerkseinheiten 2 in einem solchen Datenspeichergerät vollständig unabhängig voneinander macht, kann ein Betrieb der Plattenlaufwerkseinheiten 2 in dem Datenspeichergerät effektiv vollständig unbeeinträchtigt bleiben, wenn beispielsweise individuelle Plattenlaufwerkseinheiten 2 zum Zwecke einer Wartung oder eines Austausches entfernt werden, oder wenn eine der Plattenlaufwerkseinheiten 2 aus irgendeinem Grund überhitzt oder seinen Betrieb aufgibt.
Die Träger 1 können in einfacher Weise mit relativ geringen Kosten massengefertigt werden. Der Träger 1 ist effektiv modular insoweit, als viele Träger 1 ohne eine Beeinträchtigung des Betriebes anderer Träger 1 zusammengebaut werden können.
In einem besonderen Beispiel kann die Temperatur der Plattenlaufwerkseinheit 2 so gesteuert werden, dass sie innerhalb ±1°C der Zieltemperatur in dem Bereich der Umgebungstemperatur von +3°C bis 70°C liegt. Die maximale Rate einer Temperaturzunahme, die erreichbar ist, kann in der Größenordnung von +6°C pro Minute liegen, und die maximale Rate einer Temperaturabnahme kann in der Größenordnung von 2°C pro Minute liegen.
Vorzugsweise liegt der Luftstrom über die Plattenlaufwerkseinheit 2 bei einer relativ hohen Rate, da dieses sicherstellt, dass die Temperatur der Plattenlaufwerkseinheit 2 weniger empfindlich für Änderungen der Luftgeschwindigkeit oder der Wärmeabgabe der Plattenlaufwerkseinheit 2 ist. Außerdem ergeben hohe Luftstromraten gute Wärmeübergangsraten zu bzw. von der Plattenlaufwerkseinheit 2.
Eine Ausgestaltung der vorliegenden Erfindung wurde mit spezieller Bezugnahme auf die dargestellten Beispiele beschrieben. Es versteht sich jedoch, dass Änderungen und Abwandlungen an den beschriebenen Beispielen innerhalb des Umfanges der vorliegenden Erfindung, wie sie durch die beigefügten Ansprüche definiert sind, vorgenommen werden können.

Claims

Plattenlaufwerkseinheit-Träger (1) zur Aufnahme einer Plattenlaufwerkeinheit (2), wobei der Träger zur Aufnahme einer und nur einer Plattenlaufwerkeinheit (2) ausgelegt ist, gekennzeichnet durch: eine Temperatursteuereinrichtung (4) zur Steuerung der Temperatur einer Plattenlaufwerkeinheit (2), die in dem Träger (1) aufgenommen ist, um beim Betrieb der Plattenlaufwerkeinheit (2) auf einer festgelegten Temperatur gehalten zu werden, und wobei der Plattenlaufwerkseinheit-Träger (1) ausgelegt ist, um lösbar in einer Vorrichtung angebracht zu werden, die mehrere derartige Plattenlaufwerkseinheit-Träger (1) aufnehmen kann, wobei eine unabhängige Temperatursteuerung der in dem Träger (1) aufgenommenen Plattenlaufwerkeinheit (2) gegenüber weiteren Plattenlaufwerkeinheiten (2) ermöglicht wird, die in weiteren Trägern (1) aufgenommen sind, die in der Vorrichtung angebracht sind.
Träger (1) nach Anspruch 1, wobei die Temperatursteuereinrichtung (4) eine Luftstromsteuereinrichtung (5) umfasst, um Luft um eine in dem Träger aufgenommene Plattenlaufwerkeinheit (2) herum strömen zu lassen.
Träger (1) nach Anspruch 2, und umfassend einen Wärmetauscher (18) zur selektiven Aufnahme und Kühlung zumindest eines Teils der Luft, die über eine in dem Träger (1) aufgenommene Plattenlaufwerkeinheit (2) geströmt ist, wodurch gekühlte Luft bereitgestellt wird, wobei die Luftstromsteuereinrichtung se lektiv betreibbar ist, um Luft direkt um eine in dem Träger (1) aufgenommene Plattenlaufwerkeinheit (2) herum zurückströmen zu lassen oder zumindest einen Teil der Luft, die über eine in dem Träger (1) aufgenommene Plattenlaufwerkeinheit (2) geströmt ist, durch den Wärmetauscher (18) strömen zu lassen, um gekühlte Luft bereitzustellen, und die gekühlte Luft um eine in dem Träger (1) aufgenommene Plattenlaufwerkeinheit (2) herum strömen zu lassen, oder ein Gemisch von direkt zurückgeführter Luft und gekühlter Luft um eine in dem Träger (1) aufgenommene Plattenlaufwerkeinheit (2) herum strömen zu lassen.
Träger (1) nach Anspruch 2, wobei die Luftstromsteuereinrichtung (5) selektiv betreibbar ist, um Luft um eine in dem Träger (1) aufgenommene Plattenlaufwerkeinheit (2) herum zurückströmen zu lassen oder Frischluft von der Außenseite des Trägers um eine in dem Träger (1) aufgenommene Plattenlaufwerkeinheit (2) herum strömen zu lassen oder ein Gemisch aus zurückgeführter Luft und Frischluft von der Außenseite des Trägers (1) um eine in dem Träger (1) aufgenommene Plattenlaufwerkeinheit (2) herum strömen zu lassen.
Träger (1) nach Anspruch 3 oder 4, wobei die Luftstromsteuereinrichtung (5) eine Leiteinrichtung (6) umfasst, die selektiv verfahrbar ist.
Träger (1) nach Anspruch 5, umfassend eine Servosteuerung (8) zur Steuerung der Bewegung der Leiteinrichtung (6).
Träger (1) nach einem der Ansprüche 2 bis 6, umfassend einen selektiv betreibbaren Heizer (14) in dem zu einer in dem Träger (1) aufgenommenen Plattenlaufwerkeinheit (2) führenden Luftströmungspfad zur selektiven Erwärmung von Luft, bevor diese um eine in dem Träger (1) aufgenommene Plattenlaufwerkeinheit (2) herumströmt.
Träger nach einem der Ansprüche 1 bis 7, wobei der Plattenlaufwerkseinheit-Träger (2) ein Plattenlaufwerkeinheitsprüfträger zur Aufnahme einer Plattenlaufwerkeinheit (2) beim Prüfen der Plattenlaufwerkeinheit (2) ist.
Plattenlaufwerkeinheitsprüfvorrichtung zur Aufnahme mehrerer Plattenlaufwerkeinheiten (2), wobei die Prüfvorrichtung mehrere Träger (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 8 jeweils zur Aufnahme einer einzelnen Plattenlaufwerkeinheit (2) umfasst, um die Temperatur der betreffenden Plattenlaufwerkeinheiten (2) beim Prüfen der Plattenlaufwerkeinheit (2) unabhängig steuern zu können.
Datenspeichervorrichtung, umfassend mehrere Träger (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 8, jeder zur Aufnahme einer einzelnen Plattenlaufwerkeinheit (2), um die Temperatur der einzelnen Plattenlaufwerkeinheiten (2) beim Betrieb der Plattenlaufwerkeinheiten (2) unabhängig steuern zu können.
Vorrichtung nach Anspruch 9 oder 10, umfassend einen Controller zur unabhängigen Steuerung der Temperatursteuereinrichtungen (4) der Plattenlaufwerkseinheit-Träger (1).
Verfahren zum Prüfen mehrerer Plattenlaufwerkeinheiten (2), wobei die mehreren Plattenlaufwerkeinheiten (2) in einer einzigen Vorrichtung zur Prüfung von Plattenlaufwerkeinheiten angeordnet sind, dadurch gekennzeichnet, dass die Temperatur jeder der Plattenlaufwerkeinheiten (2) beim Prüfen der Plattenlaufwerkeinheiten (2) unabhängig gesteuert wird.
Verfahren nach Anspruch 12, umfassend den Schritt eines unabhängigen Steuerns eines Luftstroms um jede der Plattenlaufwerkeinheiten (2) herum, wodurch die Temperatur jeder der Plattenlaufwerkeinheiten (2) unabhängig gesteuert wird.
Verfahren nach Anspruch 13, umfassend den Schritt einer Steuerung des Luftstroms um die Plattenlaufwerkeinheit (2) herum, um Luft direkt um die Plattenlaufwerkeinheit (2) herum zurückströmen zu lassen, oder um abgekühlte Luft, welche dadurch erhalten wird, dass zumindest ein Teil der Luft, der die Plattenlaufwerkeinheit (2) überquert hat, durch einen Wärmetauscher (18) strömt, um die Plattenlaufwerkeinheit (2) herumströmen zu lassen, oder um ein Gemisch aus direkt zurückgeführter Luft und abgekühlter Luft um die Plattenlaufwerkeinheit (2) herumströmen zu lassen, und zwar unabhängig für jede Plattenlaufwerkeinheit (2).
Verfahren nach Anspruch 13, umfassend den Schritt eines Steuerns des Luftstroms um die Plattenlaufwerkeinheit (2) herum, um Luft um die Plattenlaufwerkeinheit (2) herum zurückströmen zu lassen, oder um Frischluft um die Plattenlaufwerkeinheit (2) herumströmen zu lassen, oder um ein Gemisch aus zurückgeführter Luft und Frischluft um die Plattenlaufwerkeinheit (2) herumströmen zu lassen, und zwar unabhängig für jede Plattenlaufwerkeinheit (2).
Verfahren zum Betreiben einer Vielzahl von Plattenlaufwerkeinheiten (2), wobei jede der Plattenlaufwerkeinheiten (2) in einem Plattenlaufwerkseinheit-Träger (1) aufgenommen ist und die Plattenlaufwerkseinheit-Träger (1) lösbar in einer einzigen Datenspeichervorrichtung angebracht sind, die mehrere derartige Plattenlaufwerkseinheit-Träger aufnehmen kann, dadurch gekennzeichnet, dass die Temperatur jeder der Plattenlaufwerkeinheiten (2) beim Betrieb der Plattenlaufwerkeinheiten (2) unabhängig gesteuert wird.
Verfahren nach Anspruch 16, umfassend den Schritt eines unabhängigen Steuerns eins Luftstroms um jede der Plattenlaufwerkeinheiten (2) herum, wodurch die Temperatur der Plattenlaufwerkeinheiten (2) unabhängig gesteuert wird.
Verfahren nach Anspruch 17, umfassend den Schritt eines Steuerns des Luftstroms um die Plattenlaufwerkeinheit (2) herum, um Luft direkt um die Plattenlaufwerkeinheit (2) herum zurückströmen zu lassen, oder um abgekühlte Luft, die dadurch gewonnen wird, dass zumindest ein Teil der Luft, die über die Plattenlaufwerkeinheit (2) geströmt ist, durch einen Wärmetauscher (18) geleitet wird, um die Plattenlaufwerkeinheit (2) herumströmen zu lassen, oder um ein Gemisch aus direkt zurückgeführter Luft und abgekühlter Luft um die Plattenlaufwerkeinheit (2) herum strömen zu lassen, und zwar unabhängig für jede Plattenlaufwerkeinheit (2).
Verfahren nach Anspruch 17, umfassend den Schritt eines Steuerns des Luftstroms um die Plattenlaufwerkeinheit (2) herum, um Luft um die Plattenlaufwerkeinheit (2) herum zurückströmen zu lassen, oder um Frischluft um die Plattenlaufwerkeinheit (2) herum strömen zu lassen, oder um ein Gemisch aus zurückgeführter Luft und Frischluft um die Plattenlaufwerkeinheit (2) herum strömen zu lassen, und zwar unabhängig für jede Plattenlaufwerkeinheit (2).