DE60314915T2 - Kommunikationschnittstelle für diagnoseschaltungen einer integrierten schaltung - Google Patents

Kommunikationschnittstelle für diagnoseschaltungen einer integrierten schaltung Download PDF

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Description

  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf das Gebiet der integrierten Schaltkreise. Genauer gesagt, bezieht sich die Erfindung auf integrierte Schaltkreise, die eine integrierte Diagnoseschaltung haben, welche über eine Diagnoseschnittstelle kommunizieren soll.
  • Es ist bekannt, integrierte Schaltkreise mit darin bzw. darauf angebrachten Diagnosesystemen zu versehen. Beispiele derartiger Systeme sind BIST-Steuerungen zum Testen von Speicher auf einem Chip, Zellenketten mit Randabtastung und allgemeine Zellenketten mit Abtastung. Es ist bekannt, integrierte Schaltkreise mit entsprechenden Schnittstellen für Diagnoseschaltungen zu versehen, z. B. mit Schnittstellen, wie sie durch die TAP-Steuerungen von JTAG-Diagnose-Systemen verwendet werden, die gemäß dem IEEE-Standard 11 49 aufgebaut sind. Die JTAG-Schnittstelle erfordert typischerweise auf dem integrierten Schaltkreispaket vier bis sechs externe Anschlüsse für diesen Zweck.
  • Mit der Zunahme der Komplexität, Größe und Leistungsstärke integrierter Schaltkreise besteht eine generelle Forderung nach einer Steigerung der Anzahl externer Anschlüsse bzw. Anschluss-Stifte, die an dem integrierten Schaltkreis angebracht werden können, damit er seine normale (nicht diagnostische) Funktion erfüllen kann. Es ist wünschenswert, dass integrierte (on-board) Diagnosesysteme eines integrierten Schaltkreises nur einen geringen Einfluss auf das funktionelle Verhalten und die Leistungsfähigkeit des integrierten Schaltkreises haben sollten.
  • Die US-A-5,734,660 offenbart einen integrierten Schaltkreis, in welchem ein bidirektionales Abtastnachrichtensignal in Form einzelner Bits eine Einstellung des Abtastbetriebes und die Eingabe/Ausgabe von eingescannten und ausgescannten Daten durchführt. Ein getrenntes Abtastsignal für den Abtasttest wird ebenfalls bereit gestellt und verwendet.
  • Gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung stellt diese einen integrierten Schaltkreis für die Verarbeitung von Daten bereit, wobei der integrierte Schaltkreis aufweist:
    einen funktionellen Schaltkreis, der in der Weise betreibbar ist, dass er Datenverarbeitungsvorgänge ausführt,
    einen Diagnoseschaltkreis, der in der Weise betreibbar ist, dass er Diagnosevorgänge mit dem Funktionsschaltkreis ausführt, und
    einen Schnittstellenschaltkreis, der in der Weise betreibbar ist, dass er Kommunikation zwischen dem Diagnoseschaltkreis und einer externen Diagnoseeinrichtung bereitstellt, wobei
    der Schnittstellenschaltkreis ein bidirektionales serielles Signal verwendet, um zu übertragen:
    • (i) Steuersignale von der externen Diagnoseeinrichtung zu dem Diagnoseschaltkreis, um die Diagnosevorgänge des Diagnoseschaltkreises zu steuern, und
    • (ii) Diagnosedaten zwischen der externen Diagnoseeinrichtung und dem Diagnoseschaltkreis, dadurch gekennzeichnet, dass der Schnittstellenschaltkreis in der Weise betreibbar ist, dass er in einem Übungs- bzw. Trainingsbetrieb auf ein Trainingssignal einer vorbestimmten Form reagiert, das von der externen Diagnoseeinrichtung unter Verwendung des bidirektionalen seriellen Signals gesendet wurde, um Abtastpunkte zum Abtasten des bidirektionalen seriellen Signals zeitgerecht zu bestimmen bzw. deren Zeitablauf zu bestimmen.
  • Die Erfindung geht von der Erkenntnis aus, dass mehrere externe Anschlüsse bzw. Anschluss-Stifte, die den integrierten Diagnosesystemen entsprechen, eine nachteilige Zusatzlast bei der Bereitstellung derartiger Diagnosesysteme darstellen. Die vorliegende Technik verwendet ein bidirektionales serielles Signal, um sowohl Steuersignale als auch Diagnosedaten zu überfragen, wie Sie zwischen den integrierten Diagnosesystemen und einer externen Diagnoseeinrichtung, wie z.B. einem Computer mit einer Schnittstellenkarte, erforderlich sind. Dies ermöglicht eine vorteilhafte Reduzierung der Anzahl der für die Unterstützung der Diagnosefunktion erforderlichen Anschluss-Stifte, und in einigen Fällen kann dies auf das Erfordernis eines einzigen externen Anschluss-Stiftes reduziert werden. Der integrierte Schaltkreis kann ein Taktverhältnis (Anzahl der IC-Takte im Verhältnis zu Trainingstaktimpulsen) finden oder der externe Diagnoseschaltkreis kann den Zeitablauf herunterregeln, bis das korrekte Trainings- bzw. Übungssignal stabil empfangen wird. Auf diese Weise kann der integrierte Schaltkreis mit der externen Diagnoseeinrichtung "synchronisiert" werden, wobei diese Synchronisierung durch Erfassen von Signalflanken oder dergleichen in den seriellen Daten kontinuierlich aufrecht werden muss, um zu vermeiden, dass die Synchronisierung verloren geht.
  • Die Diagnoseschaltung kann eine Vielfalt von Diagnoseschemata ausführen, wie z.B. Debugging-Vorgänge und die Herstellung bzw. Erzeugung von Testvorgängen. Der Diagnoseschaltkreis kann auch wiederverwendet werden, um eine Funktionalität, wie z.B. die Herstellung einer Programmierungs- oder Herstellungskonfiguration, zu erzeugen bzw. herzustellen, die normalerweise nicht als Diagnosevorgänge betrachtet werden würden und dennoch durch die Diagnoseschaltung in einer Art und Weise unterstützt werden können, die ihre Verwendung außerhalb des Gebietes der Diagnose ermöglicht.
  • Die durch das bidirektionale serielle Signal weitergeleiteten Steuersignale können eine Vielfalt unterschiedlicher Formen annehmen. Ein bevorzugter Typ eines Steuersignals ist ein Rückstellsignal (Reset-Signal), welches in der Weise betreibbar ist, dass es den Diagnoseschaltkreis zu rücksetzt. Dieses Reset-Signal kann in vorteilhafter Weise in Form des Haltens des bidirektionalen seriellen Signals auf einem vorbestimmten Reset-Niveau für eine vorbestimmte Reset-Dauer bereitgestellt werden.
  • Eine weitere sehr vorteilhafte Form eines Steuersignals ist ein Temposignal aus dem Diagnose-Schaltkreis an die externe Diagnose-Einrichtung. Der Diagnose-Schaltkreis kann auf diese Weise in dem Sinne sein Tempo selbst bestimmen, dass er der externen Diagnose-Einrichtung anzeigen kann, wenn er bereit ist, mehr Daten zu empfangen und wann er einen Diagnosevorgang, wie z. B. einen langandauernden komplexen Vorgang, abgeschlossen hat.
  • Das Tempo-Signal kann in vorteilhafter Weise bereitgestellt werden durch Zuordnen eines Zeitfensters innerhalb des seriellen Signalprotokolls, welches dem Tempo-Signal zugewiesen ist, wobei in diesem Zeitfenster der Diagnose-Schaltkreis ein Signal-Niveau auf das bidirektionale serielle Signal in einer Art und Weise aufbringen kann, die durch die externe Diagnoseeinrichtung erfasst und verwendet werden kann, um die Tempoinformation zu kommunizieren.
  • Eine weitere Form eines Steuersignals ist ein Startsignal, welches durch die externe Diagnoseeinrichtung erzeugt wird, und welches verwendet werden kann, um den Beginn eines Frames (definierte Gruppe) serieller Daten anzuzeigen.
  • Am Ende eines Frames serieller Daten kann auch ein Stopp-Signal bereitgestellt und verwendet werden, um einen Abbruch des Betriebs oder des Frames anzuzeigen. Wenn das Stopp-Signal auf einem vorbestimmten Niveau gehalten wird, so erzwingt dies einen Leerlaufzustand.
  • In vorteilhafter Weise initialisiert der integrierte Schaltkreis den Trainingsbetrieb, wie z.B. im Anschluss an ein Reset des Schnittstellenschaltkreises. Das Temposignal kann verwendet werden, um anzuzeigen, dass der integrierte Schaltkreis das Trainingssignal erfolgreich empfangen hat und sich selbst synchronisiert hat.
  • Es versteht sich, dass der Diagnose-Schaltkreis, mit welchem über den Schnittstellenschaltkreis eine Kommunikation hergestellt wird, und das bidirektionale Signal eine breite Vielfalt unterschiedlicher Formen annehmen können. Bevorzugte Beispiele sind eine oder mehrere Abtastketten zum Aufnehmen von Daten aus dem Funktionsschaltkreis oder das Anwenden auf oder Zuführen von Daten zu dem Funktionsschaltkreis, ebenso wie einer oder mehrere Buszugriffsschaltkreise für die Fehlersuche (Debugging), die so betreibbar sind, dass sie eine Kommunikation mit dem Bus des Funktionsschaltkreises bereitstellen. Andere Formen von Diagnoseschaltungen sind ebenfalls möglich.
  • Ebenso wie der Schnittstellenschaltkreis in dem oben erläuterten, nicht getakteten Betrieb arbeitet, kann er in vorteilhafter Weise auch in einem getakteten Betrieb arbeiten, in welchen die Kommunikation durch ein getrenntes Taktsignal getaktet wird, das auch durch den integrierten Schaltkreis verwendet wird. Die Verwendung eines getrennten Taktsignals auf diese Art und Weise, welche durch den integrierten Schaltkreis erzeugt werden kann, wobei das Taktsignal auf den integrierten Schaltkreis aufgebracht oder aus einer dieser Möglichkeiten abgeleitet wird, ermöglicht, dass man höhere Datenraten erzielt, da die Synchronisation sicherer ist als ein Bezug auf Abtastpunkte, die nachfolgend überprüft werden.
  • Der integrierte Schaltkreis ist vorzugsweise zwischen dem getakteten und dem nicht getakteten Betrieb umschaltbar, initialisiert jedoch den nicht getakteten Betrieb, da dieses im Allgemeinen der langsamere und weniger anspruchsvolle Betrieb der zu unterstützenden Betriebsarten ist.
  • Unter einem anderen Aspekt gesehen stellt die vorliegende Erfindung eine Diagnoseeinrichtung zum Durchführen von Diagnosevorgängen mit einem integrierten Schaltkreis bereit, wobei die Diagnoseeinrichtung aufweist: Einen Schnittstellenschaltkreis, der in der Weise betreibbar ist, dass er eine Kommunikation zwischen der Diagnoseeinrichtung und einem Diagnoseschaltkreis in dem integrierten Schaltkreis bereit stellt, wobei der Schnittstellenschaltkreis ein bidirektionales, serielles Signal verwendet, um zu übertragen:
    • (i) Steuersignale von der Diagnoseeinrichtung in den integrierten Schaltkreis, um Diagnoseoperationen, die durch den integrierten Schaltkreis durchgeführt werden, zu steuern, und
    • (ii) Diagnosedaten zwischen der Diagnoseeinrichtung und dem integriertem Schaltkreis, dadurch gekennzeichnet, dass der Schnittstellenschaltkreis in einem Übungs- bzw. Trainingsmodus betreibbar ist, so dass er ein Trainingssignal einer vorbestimmten Form verwendet, welches von der Diagnoseeinrichtung unter Verwendung des bidirektionalen seriellen Signals gesendet wurde, um zeitgerechte Abtastpunkte bzw. den Zeitablauf von Abtastpunkten zum Abtasten des bidirektionalen seriellen Signals zu bestimmen.
  • Unter einem weiteren Aspekt gesehen, stellt die vorliegende Erfindung ein Verfahren zum Kommunizieren innerhalb eines Diagnoseschaltkreises bereit, der in der Weise arbeiten kann, dass er Diagnoseoperationen mit einem Funktionsschaltkreis innerhalb eines integrierten Schaltkreises ausführt, wobei das Verfahren die Schritte aufweist:
    Verwenden eines bidirektionalen seriellen Signals, um zu übertragen:
    • (i) Steuersignale von einer externen Diagnoseeinrichtung an den Diagnoseschaltkreis, um die Diagnoseoperationen des Diagnoseschaltkreises zu steuern, und
    • (ii) Diagnosedaten zwischen der externen Diagnoseeinrichtung und dem Diagnoseschaltkreis, dadurch gekennzeichnet, dass in einem Trainingsbetrieb ein Trainingssignal einer vorbestimmten Form von der externen Diagnoseeinrichtung unter Verwendung des bidirektionalen seriellen Signals gesendet wird, um zeitgerechte Abtastpunkte bzw. den Zeitablauf für bzw. die Zeitpunkte für Abtastpunkte zum Abtasten des bidirektionalen seriellen Signals zu bestimmen.
  • Ausführungsformen der Erfindung werden nun lediglich beispielhaft unter Bezug auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben, von denen:
  • 1 Schematisch einen integrierten Schaltkreis darstellt, welcher integrierte (On-Board) Diagnosesysteme umfasst, welche mit einer externen Diagnoseeinrichtung verbunden sind,
  • 2 einen seriellen Datenframe (definierte Gruppe von Daten) für die Verwendung beim Kommunizieren zwischen einer externen Diagnoseeinrichtung und einem Schnittstellenschaltkreis eines integrierten Schaltkreises darstellt,
  • 3 ein Flussdiagramm ist, welches schematisch die Schnittstellentrainingsvorgänge eines Schnittstellenschaltkreises veranschaulicht,
  • 4 ein Flussdiagramm ist, welches schematisch die Datenaufnahmevorgänge eines integrierten Schaltkreises veranschaulicht,
  • 5 ein Diagramm ist, welches schematisch einen integrierten Schaltkreis veranschaulicht, der einen diagnostischen Bus-Master-Schaltkreis in einem nicht getakteten Betrieb umfasst, um Bustransaktionen auszugeben, um Diagnosevorgänge mit einem integrierten Schaltkreis durchzuführen,
  • 6 ein Diagramm ist, welches schematisch einen integrierten Schaltkreis zeigt, der einen diagnostischen Bus-Master-Schaltkreis in einem getakteten Betrieb umfasst, um Bustransaktionen auszugeben, um Diagnosevorgänge mit einem integrierten Schaltkreis durchzuführen, und
  • 7 und 8 Aspekte einer Kommunikationstechnik für die Verwendung zwischen einer externen Diagnoseeinrichtung einem integriertem Schaltkreis veranschaulichen.
  • 1 zeigt einen integrierten Schaltkreis 2, der mit einer externen Diagnoseeinrichtung 4 verbunden ist. Die Verbindung zwischen der externen Diagnoseeinrichtung 4 und dem integriertem Schaltkreis 2 erfolgt über eine bidirektionale serielle Schnittstelle, wie z. B. SWJ. Innerhalb des integrierten Schaltkreises 2 empfängt ein Schnittstellenschaltkreis 6 das bzw. die bidirektional(e) Signal(e). Die aus diesem seriellen Signal dekodierten Daten und Steuersignale, die aus diesem seriellen Signal dekodiert werden, werden an einen Diagnoseschaltkreis 8 weitergeleitet, der Diagnosevorgänge mit den anderen Elementen des integrierten Schaltkreises 2 in Abhängigkeit von diesen Steuersignalen und Daten durchführt. Daten und Steuersignale können auch von dem integrierten Schaltkreis an die externe Diagnoseeinrichtung 4 über das bidirektionale serielle Signal zurückgeleitet werden. Der integrierte Schaltkreis 2 ist typischerweise ein auf einem Chip integrierter Systemschaltkreis (SoC).
  • Die Funktionsschaltkreise innerhalb des integrierten Schaltkreises 2 umfassen einen Prozessorkern 10, einen Co-Prozessor 12, einen Speicher 14 und eine serielle UART-Einrichtung 16. Diese Funktionsschaltkreise sind durch einen Funktionsbus 18 (beispielsweise einen AMBA, AHB oder sonstigen Bus zum Verbinden funktioneller Schaltkreise) miteinander verbunden. Der Diagnoseschaltkreis 8 ist schematisch als ein Block innerhalb des integrierten Schaltkreises 2 dargestellt. Es versteht sich, dass dieser Diagnoseschaltkreis eine Vielfalt unterschiedlicher Formen annehmen könnte und beispielsweise serielle Abtastketten umfassen könnte, die sich entlang des Umfanges des integrierten Schaltkreises 2 erstrecken, mit gewissen Funktionselementen oder innerhalb gewisser Funktionselemente, je nach dem, was erforderlich. Die Diagnoseschaltung 8 kann auch eine andere Form annehmen, wie z. B. die einer BIST-Einrichtung und dergleichen.
  • Im Gebrauch gibt ein Ingenieur, der die externe Diagnoseeinrichtung verwendet, Befehle für gewisse Diagnosevorgänge aus, die mit dem integrierten Schaltkreis 2 in Reaktion auf Steuersignale und Daten, welche an den integrierten Schaltkreis 2 über die bidirektionale serielle Schnittstelle und den Schnittstellenschaltkreis 6 weitergeleitet werden, durchgeführt werden sollen. Die Ergebnisdaten werden durch den Schnittstellenschaltkreis 6 entlang der bidirektionalen Schnittstelle an die externe Diagnoseeinrichtung 4 zurückgeleitet.
  • 2 veranschaulicht einen Frame (formatierte Datengruppe) serieller Daten. Dieser Frame weist ein Start-Bit auf, auf welches acht Daten-Bits, ein Stopp-Bit und ein Fortsetzungsbit folgen. Das Stopp-Bit und das Fortsetzungsbit können als Teil eines Stoppsignals betrachtet werden, welches den seriellen Frame bzw. die serielle Datengruppe abschließt. Die Verwendung dieses seriellen Datenframe-Protokolls für die Weiterleitung von 8-Bit-Datenwerten, welche reine Datenwerte sein können oder welche eingebettete Steuerbefehle enthalten können, an den Diagnoseschaltkreis 8, ebenso wie auch die Steuerfunktionen, die durch das Start-Bit, das Stopp-Bit und das Fortsetzungsbit selbst bereit gestellt werden, werden im folgenden beschrieben. Es versteht sich, dass in anderen Ausführungsformen die Anzahl von Bits in einem Frame eine andere sein könnten, einschließlich unterschiedlicher Anzahlen von Daten-, Start- und/oder Stopp-Bits.
  • 3 ist ein Flußdiagramm, welches das Training bzw. den Übungsbetrieb des Schnittstellenschaltkreises 6 veranschaulicht. Der Schnittstellenschaltkreis 6 ist einem nicht getakteten Betriebsmodus betreibbar, um exakte Zeitablaufinformation aus dem seriellen Datensignal selbst ableiten kann, was die zu verwendeten Abtastpunkte angeht. Dies wird erreicht durch Trainieren des Schnittstellenschaltkreises 6. Das Training nimmt die Form der externen Diagnoseeinrichtung 4 an, welche einen bekannten, seriellen Datenstrom (beispielsweise abwechselnde Werte von 0 und 1) sendet, wobei der Schnittstellenschaltkreis versucht, dieses Trainingsmuster in einer Art und Weise abzutasten, dass die korrekte Sequenz ordnungsgemäß empfangen wird. Der Schnittstellenschaltkreis 6 initialisiert nach dem Herauffahren oder im Anschluss an ein Reset den Trainingsbetrieb, währenddessen er versucht, das Trainingsmuster zu empfangen. Wenn er dieses Trainingsmuster empfängt, so gibt er ein Fortsetzungssignal aus, welches die externe Diagnoseeinrichtung 4 so interpretieren kann, dass sie bedeutet, dass das Trainingsmuster erfolgreich empfangen wurde und dass dementsprechend der Schnittstellenschaltkreis 6 nunmehr Abtastpunkte verwendet, die für den seriellen Datenstrom passend bzw. angemessen sind. Die externe Diagnoseeinrichtung kann die Datengeschwindigkeit der seriellen Daten verändern (z. B. Absenken), bis der Schnittstellenschaltkreis 6 in der Lage ist, ihn korrekt zu empfangen und die passende Anzeige auszugeben, dass er geübt bzw. trainiert ist.
  • 3 veranschaulicht, wie der Schnittstellenschaltkreis 6 wartet, bis er von dem Reset bei Schritt 20 zurückkehrt. In Schritt 22 erfolgt der Eintritt in den Trainingsbetrieb. Bei Schritt 24 tastet der Schnittstellenschaltkreis 6 das bidirektionale serielle Signal mit einer Folge von Punkten ab, die versuchen, das Trainingsmuster alternativer 0- oder 1-Werte zu identifizieren. Die Abtastpunkte werden normalerweise definiert durch das Taktsignal, welches innerhalb des integrierten Schaltkreises 2 verwendet wird, wobei die Abtastpunkte normalerweise bei einem festen Vielfachen oder einer sonstigen Ableitung dieser Taktfrequenz liegen.
  • In Schritt 26 überprüft der Schnittstellenschaltkreis 6, nachdem er das, was er als einen Frame serieller Daten angesehen hat, abgetastet hat, das empfangene Muster, um festzustellen, ob es mit dem Muster der Trainingsdaten zusammenpasst. Wenn eine solche Übereinstimmung bzw. ein solches Zusammenpassen nicht festgestellt wird, so geht die Verarbeitung zurück zu Schritt 24 und die Abtastung wird fortgesetzt. Es versteht sich, dass es in dieser Ausführungsform in der Verantwortung der externen Diagnoseeinrichtung 4 liegt, die Daten des bidirektionalen Signals zu variieren, bis sie durch den integrierten Schaltkreis ordnungsgemäß empfangen werden können. Dies erfolgt generell in Übereinstimmung mit dem Prinzip des Verlagerns der Bereitstellung von Diagnosevorgängen in externe Einrichtungen 4 anstatt diese innerhalb des integrierten Schaltkreises 2 vorsehen zu müssen.
  • Wenn Schritt 26 festgestellt hat, dass das Trainingsmuster erfolgreich empfangen wurde, so dient Schritt 28 dazu, die seriellen Datenwerte während der Dauer des Fortsetzungsbits auf ein Niveau 0 herunterzuziehen. Das Fortsetzungsbit befindet sich üblicherweise potentialfrei auf einem Niveau, welches einer 1 entspricht, es sei denn, es wird durch den integrierten Schaltkreis aktiv heruntergezogen. Das Herunterziehen des Fortsetzungsbits während des Trainingsbetriebs, d. h. nach einer Initialisierung, zeigt der externen Diagnoseeinrichtung 4 an, dass der integrierte Schaltkreis 2 erfolgreich auf die Datenrate des bidirektionalen seriellen Signals der externen Einrichtung 4 trainiert worden ist und nunmehr in der Lage ist, über den Schnittstellenschaltkreis 6 zu kommunizieren. In Schritt 30 wird der Trainingsbetrieb verlassen, und in Schritt 32 erfolgt der Eintritt in den Datenbetrieb.
  • 4 ist ein Flussdiagramm, welches schematisch die Arbeitsweise bzw. den Betrieb des Schnittstellenschaltkreises 6 während des normalen Datenaufnahmebetriebes zeigt. In Schritt 34 wartet der Schaltkreis 6 auf den Empfang eines Start-Bits am Beginn eines seriellen Daten-Frames. Ein Start-Bit ist in diesem Beispiel immer ein Wert von 0. Dementsprechend fährt der Schnittstellenschaltkreis 6, wenn die externe Diagnoseeinrichtung 4 das bidirektionale serielle Signalniveau auf einer Eins hält, fort, auf ein Start-Bit zu warten und wird effektiv im Leerlaufzustand gehalten.
  • Sobald das Start-Bit erfasst worden ist, geht die Verarbeitung weiter zu Schritt 36, bei welchem acht Daten-Bits unter Verwendung der Abtastzeitabläufe bzw. Abtastzeitpunkte abgetastet werden, welche in dem Trainingsbetrieb, der in Bezug auf 3 beschrieben wurde, bereit gestellt wurden. Im Anschluss daran dient Schritt 38 dazu, zu erfassen, ob ein Stopp-Bit vorhanden ist, welches in diesem Beispiel immer einen Wert von 1 hat. Die Anwesenheit des Stopp-Bits kann verwendet werden als Überprüfung darauf, ob der Frame ordnungsgemäß empfangen wurde, und kann durch die externe Diagnoseeinrichtung auch verwendet werden, um die dem Stopp-Bit vorangehenden seriellen Daten effektiv abzubrechen.
  • Wenn das Stopp-Bit erfolgreich erfasst wurde, so dient Schritt 40 dazu, die 8-Datenbits an den Diagnoseschaltkreis 8 weiterzuleiten. Diese acht Datenbits können Datenwerte sein, die dem integrierten Schaltkreis als Auslöser zugeführt werden, oder Steuerungsbefehle für den Diagnoseschaltkreis 8, damit dieser seine Aktionen konfiguriert, oder sie können andere Zwecke haben. Es versteht sich, dass dann, wenn der Zustand des Diagnoseschaltkreises 8 derart ist, dass die erforderliche Diagnoseoperation im Ausleiten von Daten aus dem integrierten Schaltkreis in die externe Diagnoseeinrichtung 4 liegt, dass dann anstelle des Abtastens von acht Daten-Bitwerten in Schritt 36 der Schnittstellenschaltkreis statt dessen geeignete Datenbitwerte vorbringen kann, die nach seinem Wunsch an die externe Diagnoseeinrichtung 4 herausgeleitet werden sollen, wobei diese dann durch die externe Diagnoseeinrichtung 4 erfasst und aufgezeichnet werden.
  • Im Anschluss an Schritt 40 stellt Schritt 42 fest, ob der Schnittstellenschaltkreis bereit ist, fortzufahren oder nicht. Es kann sein, dass der Diagnoseschaltkreis damit beschäftigt ist, einen Diagnosevorgang auszuführen, der ein komplexer Vorgang sein kann, welcher eine relativ lange Zeit benötigt, bis er abgeschlossen ist, und dass es nicht zweckmäßig oder nicht möglich ist, dass weitere Daten aus der externen Diagnoseeinrichtung gesendet werden, bis dieser Vorgang abgeschlossen ist. Die weiteren Daten aus der externen Diagnoseeinrichtung 4 können ein Befehl für einen folgenden Diagnosevorgang sein, wobei es nicht möglich ist, diesen zu beginnen, bis die vorangehende Operation beendet ist. Wenn der Schnittstellenschaltkreis 6 nicht bereit ist, fortzufahren, so geht die Bearbeitung weiter zu Schritt 44, in welchem der Schnittstellenschaltkreis 6 das serielle Datenniveau während der Dauer des Fortsetzungsbits auf ein Niveau 0 herabzwingt. Dies zeigt der externen Diagnoseeinrichtung 4 an, dass die serielle Kommunikation nicht fortgesetzt werden sollte. Die Verarbeitung kehr dann zurück zu Schritt 42, bis der Schnittstellenschaltkreis 6 bereit ist, fortzufahren.
  • Wenn die Feststellung bei Schritt 38 ergeben hat, dass das Stopp-Bit nicht ordnungsgemäß erfasst wurde, so geht die Verarbeitung weiter zu Schritt 46. Schritt 46 bestimmt, ob sieben aufeinander folgende, unmittelbar vorangehende Abbrüche (kein Vorliegen des Stopp-Bits) aufgetreten sind, wobei in diesem Fall dieses der Achte ist und bei Schritt 50 ein Reset ausgelöst wird. Wenn der Test bei Schritt 46 nicht erfüllt wird bzw. nicht erfolgreich ist, so leitet der Schritt 48 einen Abbruch an den externen Diagnoseschaltkreis.
  • Es versteht sich, dass die Signalniveaus des Trainingsmusters mit ihrer speziellen Bedeutung und andere Merkmale des seriellen Datenprotokolls allesamt variiert werden könnten, während die vorliegende Technik dennoch realisiert wird.
  • Eine weitere Beschreibung der oben erwähnten bidirektionalen Kommunikation wird im folgenden wiedergegeben:
  • Begriffe und Abkürzungen
  • Die folgende Beschreibung verwendet Begriffe und Abkürzungen, wie sie hier angegeben sind:
    Begriff Bedeutung
    SWO Single Wire Output (Ausgang auf einem Einzeldraht). Eine anwendungsspezifische Nachführkomponente (nicht zu verwechseln mit allgemeiner Nachführung, die prozessor-spezifisch ist).
    DBT Dies ist ein TAT-Block, der als ein AMBA-(AHB- oder AHB-Lite-)Master für den Zugriff auf einen Systembus wirkt. Er kann optional auch einen Abtastkettenzugriff bereitstellen.
    AMBA Der ARM-Bus-Standard innerhalb eines Chips.
    JTAG Die Spezifikation der IEEE Joint Test Access Group für Schnittstellen mit 4 bis 6 Drähten bzw. -Anschlüssen zur Steuerung einer seriellen Schnittstelle mit Abtastketten. JTAG wird verwendet für die Fehlersuche, ebenso wie auch als Test. SWJ beruht auf dem zugrunde liegenden JTAG-Model für das Debugging. ScanTAP beruht auf dem Test-Teil von JTAG.
    Emulator Eine Fehlbezeichnung, welche als Bezug auf eine Laufsteuerbox (Teil von HW) verwendet wird, die zum Debugging an einem Chip angebracht ist. Normale Emulatoren beruhen auf JTAG. Eine an eine SWJ-Schnittstelle angeschlossene Box würde aus historischen Gründen ebenfalls ein Emulator genannt werden.
    OCRC On-Chip Run-Control (auf dem Chip integrierte Laufsteuerungs-)Komponente von SWJ. Diese stellt die aktuelle Protokollhandhabung für DBT und Abtastketten bereit.
  • Einführung
  • Das Folgende ist ein Vorschlag für eine kleine JTAG-Komponente mit einem Einzeldraht bzw. einem einzelnen Anschluss. Die SWJ-Komponente wird verwendet für das Debugging und das Testen von Prozessoren (einschließlich solcher mit mehreren Kernen) auf ARM-Basis unter Verwendung einer Schnittstelle mit einem einzelnen Draht bzw. Kabel anstelle der typischen JTAG-Schnittstelle mit 4 bis 6 Drähten. Die Einzeldrahtschnittstelle verwendet im Wortsinne nur einen Draht bzw. einen Anschluss für die Kommunikation in beiden Richtungen. Die Hochgeschwindigkeits-SWJ-Unterstützung erfordert die Sichtbarkeit für ein zusätzliches Signal/zusätzlichen Anschluss-Stift, welcher einen Takt enthält (wobei dies jedoch kein für SWJ bestimmter Takt sein muss). Der Takt (welcher wiederum aufgeteilt sein kann) ermöglicht hohe Geschwindigkeiten durch Bereitstellen einer sauberen Flanke für das Abtasten.
  • Der nicht getaktete Betrieb ermöglicht Geschwindigkeiten bis herauf zu etwa 3 MHz (Datenrate ist 8/11 dieser Geschwindigkeit). Der getaktete Betrieb ermöglicht Raten bis zu etwa 40 MHz (die Datenrate beträgt 8/11 dieser Geschwindigkeit). Das generelle Drahtprotokoll ist in einer seriellen Gruppe mit einem Start-Bit, einem Stopp-Bit und einem Fortsetzungs-Bit für jeweils 8 Daten-Bits ausgestattet. Ein gehaltenes Stopp-Bit erlaubt eine unbegrenzte Leerlaufzeit. Ein Halten von Null ist ein Bus-Reset. Der Emulator treibt die Schnittstelle, wobei das Fortsetzungs-Bit anzeigt, wenn zurückgelieferte Daten durch das Ziel bereit gestellt werden. Dies ermöglicht es dem Emulator, dass er anhängig bleibt, bis das Ziel den Abschluss eines Betriebes anzeigt. Im Gegensatz zu JTAG kann also das Tempo des Emulators in geeigneter Weise eingestellt werden.
  • Der andere Teil von SWJ ist die Laufsteuerung auf dem Chip (OCRC). Die OCRC unterstützt das für DBT-Zugriff, JTAG-Zugriff und optionalen direkten Abtastkettenzugriff (über DBT) verwendete Protokoll. Die OCRC hat Zulassungen für spezielle, konstante ROM-Zeichenketten, um die Leistungsfähigkeit irgendwelcher TAPs in dem System (Kerne, Geräte, etc.) zu erhöhen. Im Allgemeinen ist das Protokoll der OCRC in hohem Maße für SWJ optimiert, um die höchstmöglichen Geschwindigkeiten sicherzustellen. Im Allgemeinen bedeutet dies, dass SWJ in den selben Geschwindigkeitsstufen viel schneller ist als ein einfaches bzw. direktes JTAC.
  • Beim Betrachten der elektrischen SWJ-Schnittstelle ist es wichtig festzuhalten, dass dieses Modell sorgfältig ausgewählt wurde, um die Kosten für die Zieleinrichtung minimal zu machen und um sehr preiswert Emulatoren zu ermöglichen. Im Allgemeinen erlaubt SWJ die Auswahl von Emulator-Klassen, um einen Ausgleich zwischen Kosten und Geschwindigkeit bereitzustellen. Auf diese Weise ist eine einfach nur knapp mit Anschluss-Stiften ausgestattete MCU in der Lage, einen sehr preiswerten Emulator zu verwenden, und ein schnelles Hochleistungsteil ist in der Lage, einen wesentlich leistungsstärkeren Emulator zu verwenden. Die Schnittstelle ist jedoch dafür ausgelegt, sowohl die langsamen als auch die Hochgeschwindigkeitsformen zu unterstützen (nicht getaktet und getaktet), so dass für beide Teile jeder Emulator verwendet werden kann.
  • Elektrisches Design von SWJ
  • 5 zeigt das Blockdiagramm einer nicht getakteten Verbindung. 6 zeigt das Blockdiagramm einer getakteten Verbindung. Alle Emulatoren müssen den nicht getakteten Betrieb unterstützen, der getaktete Betrieb ist jedoch optional. Dies deshalb, weil SWJ immer in einem nicht getakteten Betrieb (von Reset) erscheint. Die Schaltkreise sind dafür ausgelegt, ein Umschalten zwischen den beiden in einfacher Weise sowohl für den Emulator als auch für das Ziel durchzuführen.
  • Man beachte, dass der Herabzieh-Widerstand von 200 K auf der Zielseite auch in dem Chip oder auf der Platine sein kann.
  • Elektrische Details des nicht getakteten Betriebs
  • Der Signalwandler in dem Emulator in dem nicht getakteten Betrieb wird verwendet, um das Signal schnell von LOW auf HIGH umzuschalten. Der 10 K-Widerstand lässt das Signal nur auf HIGH schweben (floaten), der Signalwandler (Rückkopplungsschaltkreis im Bus-Haltestil) erfasst jedoch die Veränderung im aktuellen Strom und treibt das Signal auf HIGH über den Effektivwert hinaus. An diesem Punkt steigt er aus und lässt den 10 K-Widerstand das Signal auf HIGH halten. Die Form der Flanke wird sauber genug für die niedrigeren Geschwindigkeiten (3 MHz oder weniger) des nicht getakteten Betriebs.
  • Für einfache Teile (mit geringer Leistung) ist es möglich, dass nicht getaktete Heraufziehmodell zu verwenden, um das SWJ-Debugging-Ende dieses Teiles mit Strom zu versorgen. Dies ist nicht das normale Modell, ist jedoch möglich unter Verwendung von Kapazitätsabzug.
  • Elektrische Details des getakteten Betriebs
  • Normalerweise führt der Zielort bzw. das Ziel den Takt für den getakteten zu. Der Takt kann von dem Chip (Ausgang) oder von der Zielortplatine auf den Chip (Eingang) kommen. Es ist auch möglich, einen Pod (Emulatorverbindung) zu konstruieren, welcher den Takt über einen Kristall oder einen PLL erzeugt, jedoch erzeugt der Emulator den Takt nicht immer direkt. In jedem Fall muss es kein spezieller Takt für SWJ sein (kann auch für andere Zwecke mitverwendet werden), er muss jedoch sauber sein.
  • Es sei angenommen, das in den meisten Fällen der Takt geteilt wird. Es wird empfohlen, den Takt in dem Bereich von 10 MHz bis 100 MHz zu halten. Jede Teilung wird vereinbart und festgelegt, während man sich noch in dem nicht getakteten Betrieb befindet und das Befehlprotokoll verwendet. Der Grund für das Verwenden eines Teiles liegt darin, dass derselbe Takt für Hochgeschwindigkeits-SWO (oder andere Zwecke) verwendet werden kann, die gerne eine schnellere Taktquelle hätten. Das Protokoll von SWJ definiert, wie ein geteilter Takt sauber verwendet werden soll. Man beachte, dass SWJ den Takt als seine Taktquelle verwenden muss (auch wenn dieser umgeschaltet werden kann, wenn man zwischen dem getakteten und dem nicht getakteten Betrieb wechselt). Der Grund für dieses Modell (gegenüber Abtasten) liegt darin, dass die Taktflanken verwendet werden, um die bi-direktionale Schnittstelle mit einem einzigen Anschluss-Stift zu unterstützen.
  • Kabelprotokoll für SWJ
  • Die SWJ-Kabelschnittstelle beruht lose auf dem RS-232-Modell (sei sie getaktet oder nicht). Jedes 8-Bit-Datenpaket ist in einem Frame mit einem Start-Bit und zwei Stopp-Bits aufgenommen. Jedoch ist das zweite Stopp-Bit in Wirklichkeit eine spezielle Antwortmarkierung, wie es nachstehend erläutert wird. Das Format ist:
    0 = Start 8-Bits-Daten (in jede Richtung) 1 = stop 1 = fortsetzen, 0 = nicht fortsetzen
  • Der besondere Unterschied liegt in dem zweiten Stopp-Bit. Jedes zweite Bit bleibt auf high, wenn das Paket angenommen wird und der Emulator fortfahren soll. Es wird auf low gesteuert, wenn das Paket zurückgesendet werden sollte. Dieser Mechanismus erlaubt es dem Zielort, den Emulator auf die Geschwindigkeit einzustellen, die er handhaben kann. Diese Tempobestimmung kann sowohl für eine bit-weise Verwaltung (wie z. B. wenn die SWF-Taktgeschwindigkeit schneller als ein Kern (von z. B. 32 KHz) ist), ebenso wie für den Abschluss einer Operation verwendet werden (wie z.B. als eine DBT-Speicher-Transaktion).
  • Man beachte, dass im nicht getakteten Betrieb das Ziel (bzw. das Zielobjekt) einfach die Leitung auf high lässt (aktives Heraufziehen), wenn fortgefahren werden soll (CONTINUE), und ansonsten die Leitung auf low herabzieht. Für den getakteten Betrieb muss das Ziel für ein Fortsetzen auf high halten, ansonsten auf low herabziehen.
  • KABELPROTOKOLL-BETRIEBSARTEN UND -ZUSTÄNDE
  • Im Allgemeinen gibt es 4 Kabelprotokoll-Betriebsarten oder -zustände:
    • 1. Reset. Dieser tritt auf, wenn das Kabel für acht oder mehr Pakete auf low gehalten wird. Das Ziel erfasst dies, weil das Stopp-Bit fehlt. Dies wird ein Alarm- oder Warnsignal genannt. Wenn mehr als 8 Warnsignale erfasst wurden, kann das Ziel davon ausgehen, dass ein Reset (Rücksetzen) der Schnittstelle erfolgt ist (dies hat ausschließlich Einfluss auf SWJ). Die SWJ-Schnittstelle kehrt in den nicht getakteten Betrieb zurück. Man beachte, dass ein nicht angeschlossener Emulator wegen des Herabzieh-Widerstandes einen Reset verursacht.
    • 2. Übungsbetrieb (Training) – nur im nicht getakteten Betriebszustand. Nach einem Reset sendet der Emulator ein Datenpaket mit 0 × 55 (0b01010101). Das Ziel verwendet dies, um automatisch die Baud-Rate in der nicht getakteten Abfolge einzustellen oder um den Teiler bei einem getakteten System zu verifizieren. Das Trainingspaket wird weiterhin gesendet, wenn das zweite Stopp-Bit auf CONTINUE (1) gesetzt ist. Der Übungsbetrieb wird beendet, wenn das zweite Stopp-Bit auf NOT CONTINUE (0) gesetzt ist. Wenn mehr als 8 CONTINUE-Bits durch den Emulator erfasst werden, kann er wahlweise erneut ein Reset versuchen und dann die Geschwindigkeit für den Übungsbetrieb verlangsamen. Dies bewirkt eine Anpassung für den Fall eines sehr langsamen Chips (der keine ausreichende Überabtastung bei einem nicht getakteten 3 MHz-Betrieb durchführen kann).
    • 3. Daten. Der Datenbetrieb ist der normale Paketbetrieb. Dieser Betrieb wird aufgenommen, nachdem der Übungsbetrieb verlassen wurde. Zwischen jedem Datenpaket können Leerlaufzustände sein (wenn der Stopp bzw. die Unterbrechung länger als einen Takt dauert). Auf diese Weise bewirkt die Einführung eines Start-Bits immer die Wiederherstellung des normalen Datenbetriebs und Datenzustandes.
    • 4. Leerlauf. Ein Leerlaufzustand besteht darin, dass die Leitung im Stopp-Zustand gehalten wird (kein Start gesendet wird). Dies bedeutet, dass der Anschluss-Stift auf high gehalten wird. Der Leerlaufzustand kann so lange wie erforderlich gehalten werden. Er wird beendet durch einführen eines Startbits. Im nicht getakteten Betrieb erscheint das Start-Bit bei dem nächsten natürlichen internen Takt (für den Emulator). Im getakteten Betrieb kommt der Start von einer Taktflanke.
  • RESET BETRIEB
  • Der Reset-Betrieb ist definiert als 8 oder mehr Pakete mit einem nicht vorgebrachten Stopp-Bit (Stopp ist 0 anstatt von 1). Mit anderen Worten, 8 Pakete, die verworfen werden müssen, bewirken einen Reset.
  • Die Definition dafür, welche Aktionen bei einem Reset durchgeführt werden müssen, sind spezifisch für SWJ und den OCRC-Block. Die Hauptabsicht besteht darin, nur die Leitung frei zu machen, so dass das Verwerfen irgendeines anhängigen OCRC-Betriebs/-Befehls das Hauptziel ist, ebenso wie auch das Löschen irgendeines internen Zustandes des SWJ-Blockes.
  • ÜBUNGSBETRIEB
  • Der Übungs- bzw. Trainingsbetrieb wird nur nach einem Reset aufgenommen. Der Trainingsbefehl liegt in Form der Daten 0 × 55 vor. Der Trainingsbetrieb wird nur verlassen, wenn das Ziel das zweite Stopp-Bit auf low steuert. Dies ermöglicht es, dass die Zielobjektzeit automatisch die Baud-Rate (Geschwindigkeit des Datentaktes im nicht getakteten Betrieb) erfasst, ebenso wie es sicherstellt, dass das Ziel bzw. Zielobjekt die Daten verfolgen kann. Wenn der Datentakt zu schnell ist, bleibt das zweite Stopp-Bit in dem schwebenden Zustand high – dies ermöglicht es dem Emulator zu erfassen, dass das Ziel nicht folgen kann (und so langsamere Geschwindigkeiten versuchen kann).
    Start = 0 1 0 1 0 1 0 1 0 Stop CONTINUE
    0)
  • Daten betrieb
  • Der Datenbetrieb folgt unmittelbar nachdem der Übungsbetrieb durch das NOT CONTINUE-Bit (0) beendet worden ist. Der Datenbetrieb ist der normale Arbeitsbetrieb für SWJ, sei er getaktet oder nicht getaktet. Der Datenbetrieb ermöglicht die Ausgabe von Befehlen auf dem Niveau der obigen SWJ-Kabelprotokolle. Befehle im Datenbetrieb umfassen Befehle, die an die SWJ-Schnittstelle gerichtet sind, ebenso wie solche, die als Teil des Blockes für die Laufsteuerung auf dem Chip (OCRC) – On-Chip Run-Control geleitet werden. Die hauptsächlichen Befehle im SWJ-Datenbetrieb umfassen:
    • • Get-ID – liest die ID des SWJ-Moduls zurück. Dies kann sich in einen OCRC-Befehl umwandeln. Dieser Befehl zeigt auch an, ob ein Taktbetrieb möglich ist.
    • • Setze den Teilungszähler für den Taktbetrieb. Dieser Befehl ermöglicht das Einstellen des Zählers und dann das Durchführen des Umschaltens in den getakten Betrieb. Auf die Umschaltung in den getakten Betrieb folgen 8 Pakete im Wert des Leerlaufzustandes (siehe unten) und dann ein Get-ID-Befehl im getakteten Betrieb. Wenn der Get-ID-Befehl fehlschlägt, kann der Emulator ein Reset verwenden, um in den nichtgetakteten Betrieb zurückzukehren.
    • • Abbruch des aktuellen OCRC-Vorgangs. Im Falle kontinuierlicher NOT CONTINUE-Antworten von der SWJ-Schnittstelle auf einen Datenbefehl kann der Emulator den Abbruchbefehl verwenden, um anzufordern, dass die OCRC ihre aktuelle Aktion abbricht (falls möglich) und in einen bekannten Zustand zurückkehrt. Man beachte, dass Abbruch in allen Teilsystemen derselbe Befehl ist wie er in SWJ vorliegt.
  • Die Haupt-OCRC-Befehle umfassen:
    • • Get-ID – liest die SWJ und OCRC-ID-Information zurück. Diese Information umfasst die Version der Blöcke ebenso wie Information bezüglich der Parameter des Systemmodells (einschließlich ob getakteter Betrieb unterstützt wird, ob DBT-ScanTAP unterstützt wird, ob ein JTAG-Zugriff unterstützt wird, und ob DBT MemTAP unterstützt wird).
    • • Auswahl von DBT MemTAP. Dieses wählt den MemTAP für die Befehlszufuhr aus. Bis zur Beendigung (über eine MemTAP-Beendigungsanforderung oder Abbruch) werden die Befehle, die folgen, der MemTAP-Komponente zugeführt. Man beachte, dass Abbruch in allen Teilsystemen derselbe Befehl ist wie er in SWJ vorliegt. Daraufhin werden 34 Bit-Daten und Optimierungsbefehle zugeführt (wie z. B. mehrere 32-Bit-Daten mit derselben 2-Bit-Erweiterung, Wiederholungen, etc.).
    • • Wähle DBT-Scan TAP aus. Dies wählt Scan-TAP für die Befehlszuführung aus. Dies arbeitet in derselben Weise wie die Befehlszuführung über MemTAP. Dies arbeitet in derselben Weise wie die Befehlszuführung über MemTAP.
    • • Wähle JTAG-Befehl. Dies wählt die JTAG-Umhüllung innerhalb von OCRC aus. Dies ermöglicht die Zufuhr von JTAG-Operationen für Systeme, in welchen eine JTAG-Kette in Gebrauch ist. Die Befehle, die an diese Einheit gesendet werden, sind dafür ausgelegt, den JTAG-Verkehr zu optimieren, einschließlich des Betreibens bzw. Ansteuerns von TCK-Sequenzen, optimierten Verschiebungen (Shifts) und ROM-Konstanten-Zuführungen für gemeinsame Vorgänge, die auf die TAPs in dem System anwendbar sind (so weit durch den Systementwickler gesteuert).
    • • Wähle anderen Befehl. Dies wählt andere OCRC-Befehlszuführungen – reserviert.
  • Ein Beispiel eines Befehls im Datenbetrieb sieht folgendermaßen aus:
    Start = 0 1 1 0 0 0 1 0 0 Stop = 1 CONTINUE (1/0)
    der einen Wert von 0 × 23 hat. Das CONTINUE-Bit bleibt auf 1, wenn das Byte akzeptiert wird, und wird auf Null gesteuert, wenn es wiederholt werden muss. Das heisst, der NOT CONTINUE-Bit-Zustand zeigt an, dass das Byte (0 × 23) von dem Ziel bzw. Bestimmungsort nicht akzeptiert wurde und erneut gesendet werden sollte (und nochmals, wenn es immer noch nicht akzeptiert werden sollte). Dieses bildet den Tempo-Bestimmungs-Mechanismus.
  • Man beachte, dass die CONTINUE oder NOT CONTINUE-Anzeige aus einem der folgenden drei Gründe auftreten kann:
    • • Die OCRC-Taktrate ist zu langsam, um im Allgemeinen das nächste Byte anzunehmen (Taktrate von OCRC ist dieselbe wie die des Systems, wohingegen die Taktrate von SWJ davon verschieden sein kann).
    • • Die OCRC oder das Teilsystem verarbeitet immer noch das vorangehende Byte (wie z. B. laufende TCKs, Busoperationen oder Abtastungen).
    • • Die OCRC führt einen wiederholten Test durch (wie z. B. das Lesen einer Abtastkette und Vergleichen mit einem erwarteten Wert).
  • Diese drei Gründe ermöglichen die Tempofestlegung der Rohdatenrate (wie schnell der Emulator Bytes generell zuführen kann), die Befehlsabschluss- bzw. Ausführungsrate (wie schnell das Teilsystem den Befehl selbst ausführen kann), und komplexe Operationsraten. Die Tempofestlegung kann sich dynamisch verändern auf der Basis von Veränderungen in der internen Taktrate, ebenso wie auf Grund von Änderungen in der Art der Operationen (beispielsweise können einige Arten von Speicher langsamer sein als andere). Dies bildet einen leistungsfähigen Teil der SWJ-Strategie und hilft vielen Fällen SWJ dabei, viel schneller zu sein als direktes JTAG (wobei Abfrage- und Tempobestimmungsvorgänge viele Probleme verursachen können).
  • LEERLAUFZUSTAND
  • Der Leerlaufzustand ist ein Zustand innerhalb des Datenbetriebs. Der Leerlaufzustand bildet eine Lücke oder ein Füllteil zwischen Datenpaketen. Der Emulator hält einfach den Stopp-Zustand (high) so lange aufrecht wie gewünscht, bevor er das nächste Datenpaket einführt (wie es durch das Start-Bit angezeigt wird, welches low ist).
    Stop = 1 1 1 1 ... 1 1 1 Start = 0 Command...
  • SWJ UND OCRC-ANPASSUNG IN DEM SYSTEM
  • Die 7 und 8 zeigen, wie sich SWJ und OCRC in das System einpassen können. 7 zeigt das Standard SWJ-Modell für ein System mit JTAG TAPs (einschließlich ARM EICE). 8 zeigt ein neues hybrides SWJ-Modell, welches es existierenden JTAG-Systemen erlaubt, mit demselben Chip zu arbeiten. Ein SWJ-Emulator kann unter Verwendung einer festen Sequenz das Ziel von JTAG auf SWJ umschalten.
  • Die Anordnung nach 7 verwendet SWJ, um auf DBT (MemTAP und möglicherweise Scan-TAP) und auf eine JTAG-Abtastkette zuzugreifen (wie z. B. für ARM EICE-Blöcke, ebenso wie für andere Einrichtungen).
  • Die Anordnung nach 8 verwendet einen hybriden Ansatz für Verkäufer, die eine alte bzw. hinterlassene JTAG-Unterstützung haben müssen. Verkäufer von dritter Seite können weiterhin JTAG-Emulatoren (als plug-in) einstecken und die TAPs wie üblich verwenden. Emulatoren einer neuen Generation senden eine spezifische JTAG-Sequenz (ein nicht benutztes IR an ein TAP) um auf SWJ umzuschalten. Dies verwendet dieselben Anschlüsse bzw. Stifte (drei von Ihnen), wobei TCK nicht verwendet wird (um Probleme zu vermeiden) und nTRST ebenfalls unbenutzt bleibt (falls es überhaupt verkabelt ist). Das Modell hierfür liegt darin, dass TMS das SWJ-Daten-Signal ist, TDO ist das SWO-Signal, falls es verwendet wird, und TDI ist die Taktquelle, wenn der Taktbetrieb unterstützt wird. Ein SWJ-Emulator kann erfassen, ob er im JTAG- oder SWJ-Betrieb ist, indem er TCK low hält und TMS durch den Reset und dann durch den Übungsbetrieb steuert. Wenn das zweite Stopp-Bit nach 8 Paketen nicht auf low gesteuert wird, kann der Emulator davon ausgehen, dass er irgendwie zurück im JTAG-Betrieb ist (da TCK auf low gehalten wird, ist es für JTAG gleich, ob TMS verändert wird). Für den Fall, dass er sich im JTAG-Betrieb befindet, steuert der Emulator ein Muster auf Basis der 1 an, um die IR-Länge zu erfassen und sendet dann ein festes Muster an den ersten TAP in der Abtastkette mit der unbenutzten ARM EICE IR-Sequenz – dieses schaltet das Ziel bzw. Zielobjekt in den SWJ-Betrieb um. Nachdem der Emulator sich nunmehr im nicht getakteten SWJ befindet, kann er, falls dies unterstützt wird, in den getakteten SWJ-Betrieb umschalten. Er kann auch die SWO-Ausgabe an den TDO unterstützen. Man beachte, dass der Emulator kein vollständiger JTAG-Emulator sein muss, um diesen minimalen Satz von Operationen auszuführen.

Claims (60)

  1. Integrierter Schaltkreis (2) zur Verarbeitung von Daten, wobei der integrierte Schaltkreis aufweist: einen funktionellen Schaltkreis (10, 12, 14, 16), der in der Weise betreibbar ist, daß er Datenverarbeitungsvorgänge ausführt, einen diagnostischen Schaltkreis (8), der in der Weise betreibbar ist, daß er Diagnosevorgänge mit dem Funktionsschaltkreis ausführt, und einen Schnittstellenschaltkreis (6), der in der Weise betreibbar ist, daß er Kommunikation zwischen dem Diagnoseschaltkreis und einer externen Diagnoseeinrichtung (4) bereitstellt, wobei der Schnittstellenschaltkreis ein bidirektionales serielles Signal verwendet, um zu übertragen: (i) Steuersignale, von der externen Diagnoseeinrichtung zu dem Diagnoseschaltkreis, um die Diagnosevorgänge des Diagnoseschaltkreises zu steuern, und (ii) Diagnosedaten zwischen der externen Diagnoseeinrichtung und dem Diagnoseschaltkreis, dadurch gekennzeichnet, daß der Schnittstellenschaltkreis in der Weise betreibbar ist, daß er in einem Übungsbetrieb auf ein Übungssignal einer vorbestimmten Form reagiert, das von der externen Diagnoseeinrichtung unter Verwendung des bidirektionalen seriellen Signals gesendet wurde, um zeitgerechte Abtastpunkte zum Abtasten des bidirektionalen seriellen Signals zu bestimmen.
  2. Integrierter Schaltkreis nach Anspruch 1, wobei der Diagnoseschaltkreis in der Weise betreibbar ist, daß er eine oder mehrere der folgenden durchführt: Debugging-Operationen, Herstellungstestoperationen, Herstellungsprogrammieroperationen, und Herstellungskonfigurationsoperationen.
  3. Integrierter Schaltkreis nach einem der Ansprüche 1 oder 2, wobei das bidirektionale serielle Signal in der Weise betreibbar ist, daß es ein Reset-Signal von der externen Diagnoseeinrichtung an den Diagnoseschaltkreis kommuniziert, wobei das Reset-Signal in der Weise betreibbar ist, daß es den Diagnoseschaltkreis zurücksetzt.
  4. Integrierter Schaltkreis nach Anspruch 3, wobei das Reset-Signal aufweist, daß die externe Diagnoseeinrichtung das bidirektionale Signal für eine vorbestimmte Reset-Dauer auf einem vorbestimmten Reset-Niveau hält.
  5. Integrierter Schaltkreis nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei das bidirektionale serielle Signal in der Weise betreibbar ist, daß es ein Schrittsteuerungssignal von dem Diagnoseschaltkreis an die externe Diagnoseeinrichtung kommuniziert, wobei das Schrittsteuerungssignal in der Weise betreibbar ist, daß es anzeigt, ob der Diagnoseschaltkreis für die Kommunikation bereit ist oder nicht.
  6. Integrierter Schaltkreis nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei das bidirektionale serielle Signal in der Weise betreibbar ist, daß es ein Schrittsteuerungssignal von dem Diagnoseschaltkreis an die externe Diagnoseeinrichtung kommuniziert, wobei das Schrittsteuerungssignal in der Weise funktioniert, daß es anzeigt, ob der Diagnoseschaltkreis einen Vorgang abgeschlossen hat oder nicht.
  7. Integrierter Schaltkreis nach einem der Ansprüche 5 oder 6, wobei das bidirektionale serielle Signal ein serielles Signalprotokoll hat, welches unterschiedliche Zeitfenster für die Kommunikation unterschiedlicher Signale aufweist, wobei der Diagnoseschaltkreis das bidirektionale serielle Signal während eines Zeitfensters für das Schrittsteuerungssignal auf ein vorbestimmtes Schrittsteuerungsniveau zwingt.
  8. Integrierter Schaltkreis nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei das bidirektionale serielle Signal ein serielles Signalprotokoll hat, welches unterschiedliche Zeitfenster für die Kommunikation unterschiedlicher Signale hat, wobei das bidirektionale serielle Signal in der Weise funktioniert, daß es ein Startsignal kommuniziert, welches den Start eines Frames aus seriellen Daten anzeigt, wobei das Startsignal das bidirektionale serielle Signal ist, welches auf ein vorbestimmtes Startniveau gesteuert wird, um ein Zeitfenster für ein Startsignal zu definieren.
  9. Integrierter Schaltkreis nach Anspruch 8, wobei die Kommunikation durch die externe Diagnoseeinrichtung im Leerlauf gehalten wird, wobei die Diagnoseeinrichtung das bidirektionale serielle Signal auf einem Niveau hält, welches von einem vorbestimmten Startniveau unterschiedlich ist und dadurch das Zeitfenster für das Startsignal verzögert, bis das bidirektionale serielle Signal sich auf das vorbestimmte Startniveau verändert, worauf ein nächster Frame von Daten folgt, der kommuniziert wird.
  10. Integrierter Schaltkreis nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei das bidirektionale serielle Signal ein serielles Signalprotokoll hat, das unterschiedliche Zeitfenster für die Kommunikation unterschiedlicher Signale aufweist, wobei das bidirektionale serielle Signal in der Weise funktionsfähig ist, daß es ein Stopsignal kommuniziert, welches das Ende eines Frames aus seriellen Daten anzeigt, wobei das Stopsignal das das während eines Stopsignalzeitfensters auf ein vorbestimmtes Stopniveau gesteuerte bidirektionale serielle Signal ist.
  11. Integrierter Schaltkreis nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei der Schnittstellenschaltkreis in einem nicht-getakteten Betriebszustand betreibbar ist, in welchem die Kommunikation abhängig von Übergängen getaktet wird, die innerhalb des bidirektionalen seriellen Signals erfaßt werden.
  12. Integrierter Schaltkreis nach einem der Ansprüche 10 oder 11, wobei der Diagnoseschaltkreis den Empfang eines ersten Teils des Stopsignals verwendet, um einen Abbruch der Diagnoseoperationen anzuzeigen.
  13. Integrierter Schaltkreis nach einem der Ansprüche 10, 11 oder 12, wobei der Diagnoseschaltkreis den Empfang eines zweiten Teiles des Stopsignals verwendet, um den Empfang des Frames aus seriellen Daten durch den Diagnoseschaltkreis zu bestätigen.
  14. Integrierter Schaltkreis nach Anspruch 1, wobei der Schnittstellenschaltkreis die Aufnahme des Trainingsbetriebs auslöst.
  15. Integrierter Schaltkreis nach Anspruch 14, wobei das Auslösen auf ein Reset des Schnittstellenschaltkreises folgt.
  16. Integrierter Schaltkreis nach den Ansprüchen 5 und 15, wobei der Schnittstellenschaltkreis in einem Übungs- bzw. Trainingsbetrieb betreibbar ist, so daß er auf ein Trainingssignal einer vorbestimmten Form reagiert, welches von der externen Diagnoseeinrichtung gesendet wurde, um den Zeitablauf bzw. den Zeitpunkt eines Abtastpunktes für das Abtasten des bidirektionalen seriellen Signals zu bestimmen, und wobei das Schrittsteuerungssignal anzeigt, daß die Übung erfolgreich abgeschlossen wurde.
  17. Integrierter Schaltkreis nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei der Diagnoseschaltkreis eines oder mehrere der folgenden aufweist: (i) eine oder mehrere Abtastketten, die in der Weise betreibbar sind, daß sie Diagnosedaten von dem Funktionsschaltkreis aufnehmen, (ii) eine oder mehrere Abtastketten, die in der Weise betreibbar sind, daß sie Diagnosedaten dem Funktionsschaltkreis zuführen bzw. auf diesen anwenden, und (iii) einen oder mehrere Buszugriffsschaltkreise für das Debugging, welche in der Weise betreibbar sind, daß sie über den Bus eine Kommunikation mit dem Funktionsschaltkreis bereitstellen.
  18. Integrierter Schaltkreis nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei der Schnittstellenschaltkreis betreibbar ist: (i) in einem getakteten Betrieb, in welchem die Kommunikation durch ein getrenntes Taktsignal getaktet wird, welches durch den integrierten Schaltkreis verwendet wird, und (ii) in einem nicht-getakteten Betrieb, in welchem das Kommunikationssignal in Abhängigkeit von Übergängen getaktet wird, welche in dem bidirektionalen seriellen Signal erfaßt werden.
  19. Integrierter Schaltkreis nach Anspruch 18, wobei in dem getakteten Betrieb die Kommunikation durch ein Taktsignal getaktet wird, welches ein Vielfaches eines von dem integrierten Schaltkreis verwendeten Taktsignals beträgt.
  20. Integrierter Schaltkreis nach den Ansprüchen 18 und 19, wobei der Schnittstellenschaltkreis in der Weise betreibbar ist, daß er in dem nicht-getakteten Betrieb den getakteten Betrieb auslöst und in diesen umschaltbar ist.
  21. Diagnoseeinrichtung (4) zum Durchführen von Diagnosevorgängen mit einem integrierten Schaltkreis (2), wobei die Diagnoseeinrichtung aufweist: einen Schnittstellenschaltkreis, der in der Weise betreibbar ist, daß er eine Kommunikation zwischen der Diagnoseeinrichtung (4) und einem Diagnoseschaltkreis (8) in dem integrierten Schaltkreis bereitstellt, wobei der Schnittstellenschaltkreis ein bidirektionales serielles Signal verwendet, um zu übertragen: (i) Steuersignale von der Diagnoseeinrichtung in den integrierten Schaltkreis, um Diagnoseoperationen, die durch den integrierten Schaltkreis durchgeführt werden, zu steuern, und (ii) Diagnosedaten zwischen der Diagnoseeinrichtung und dem integrierten Schaltkreis, dadurch gekennzeichnet, daß der Schnittstellenschaltkreis in einem Übungsmodus betreibbar ist, so daß er ein Übungssignal einer vorbestimmten Form verwendet, welches von der Diagnoseeinrichtung unter Verwendung des bidirektionalen seriellen Signals gesendet wurde, um zeitgerechte Abtastpunkte zum Abtasten des bidirektionalen seriellen Signals zu bestimmen.
  22. Diagnoseeinrichtung nach Anspruch 21, wobei die Diagnoseeinrichtung in der Weise betreibbar ist, daß sie eines oder mehrere der folgenden steuert: Debugging-Operationen, Herstellungstestoperationen, Herstellungsprogrammieroperationen, und Herstellungskonfigurationsoperationen.
  23. Diagnoseeinrichtung nach den Ansprüchen 21 und 22, wobei das bidirektionale serielle Signal in der Weise betreibbar ist, daß es ein Reset-Signal von der Diagnoseeinrichtung an den Diagnoseschaltkreis kommuniziert, wobei das Reset-Signal in der Weise betreibbar ist, daß es den Diagnoseschaltkreis zurücksetzt.
  24. Diagnoseeinrichtung nach Anspruch 23, wobei das Reset-Signal aufweist, daß die Diagnoseeinrichtung das bidirektionale serielle Signal für eine vorbestimmte Reset-Periode auf einem vorbestimmten Reset-Niveau hält.
  25. Diagnoseeinrichtung nach einem der Ansprüche 21 bis 24, wobei das bidirektionale serielle Signal in der Weise betreibbar ist, daß es ein Schrittsteuerungssignal von dem Diagnoseschaltkreis an die Diagnoseeinrichtung kommuniziert, wobei das Schrittsteuerungssignal so betreibbar ist, daß es anzeigt, ob der Diagnoseschaltkreis für eine Kommunikation bereit ist.
  26. Diagnoseeinrichtung nach einem der Ansprüche 21 bis 25, wobei das bidirektionale serielle Signal in der Weise betreibbar ist, daß es ein Schrittsteuerungssignal von dem Diagnoseschaltkreis an die externe Diagnoseeinrichtung kommuniziert, wobei das Schrittsteuerungssignal in der Weise funktioniert, das es anzeigt, ob der Diagnoseschaltkreis eine Operation abgeschlossen hat oder nicht.
  27. Diagnoseeinrichtung nach den Ansprüchen 25 und 26, wobei das bidirektionale serielle Signal ein serielles Signalprotokoll hat, welches unterschiedliche Zeitfenster für die Kommunikation unterschiedlicher Signale aufweist, wobei der Diagnoseschaltkreis das bidirektionale serielle Signal während eines Zeitfensters für ein Schrittsteuerungssignal auf ein vorbestimmtes Schrittsteuerungsniveau zwingt.
  28. Diagnoseeinrichtung nach einem der Ansprüche 21 bis 27, wobei das bidirektionale serielle Signal ein serielles Signalprotokoll hat, welches unterschiedliche Zeitfenster für die Kommunikation unterschiedlicher Signale hat, wobei das bidirektionale serielle Signal in der Weise funktioniert, daß es ein Startsignal kommuniziert, das den Beginn eines Frames aus seriellen Daten anzeigt, wobei das Startsignal das auf ein vorbestimmtes Startniveau für das Definieren eines Zeitfensters des Startsignals gesteuerte bidirektionale serielle Signal ist.
  29. Diagnoseeinrichtung nach Anspruch 28, wobei die Kommunikation dadurch in den Leerlauf gesetzt wird, daß die Diagnoseeinrichtung das bidirektionale serielle Signal auf einem Niveau hält, welches von dem vorbestimmten Startniveau verschieden ist und dadurch das Zeitfenster für das Startsignal verzögert bis sich das bidirektionale serielle Signal auf das vorbestimmte Startniveau verändert, worauf ein nächster Frame aus Daten folgt, die kommuniziert werden.
  30. Diagnoseeinrichtung nach einem der Ansprüche 21 bis 29, wobei das bidirektionale serielle Signal ein serielles Signalprotokoll hat, das unterschiedliche Zeitfenster für die Kommunizierung unterschiedlicher Signale hat, wobei das bidirektionale serielle Signal in der Weise arbeiten kann, daß es ein Stopsignal kommuniziert, welches das Ende eines Frames serieller Daten anzeigt, wobei das Stopsignal das während eines Stopsignal-Zeitfensters auf ein vorbestimmtes Stopniveau gesteuerte bidirektionale serielle Signal ist.
  31. Diagnoseeinrichtung nach einem der Ansprüche 21 bis 30, wobei der Schnittstellenschaltkreis in einem nicht-getakteten Modus betreibbar ist, in welchem die Kommunikation in Abhängigkeit von Übergängen getaktet wird, welche innerhalb des bidirektionalen seriellen Signals erfaßt werden.
  32. Diagnoseeinrichtung nach einem der Ansprüche 30 oder 31, wobei der Diagnoseschaltkreis den Empfang eines ersten Teils des Stopsignals verwendet, um einen Abbruch von Diagnosevorgängen anzuzeigen.
  33. Diagnoseeinrichtung nach einem der Ansprüche 30 bis 32, wobei der Diagnoseschaltkreis den Empfang eines zweiten Teils eines Stopsignals verwendet, um den Empfang des Frames aus seriellen Daten und durch den Diagnoseschaltkreis zu bestätigen.
  34. Diagnoseeinrichtung nach Anspruch 21, wobei der Schnittstellenschaltkreis den Beginn des Trainings- bzw. Übungsmodus auslöst.
  35. Diagnoseeinrichtung nach Anspruch 34, wobei das Auslösen auf ein Reset des Schnittstellenschaltkreises folgt.
  36. Diagnoseeinrichtung nach den Ansprüchen 25 und 35, wobei der Schnittstellenschaltkreis in einem Übungsmodus betreibbar ist, so daß er auf ein Übungssignal einer vorbestimmten Form, welches von der Diagnoseeinrichtung gesendet wird, so zu reagieren, daß er einen zeitgerechten Abtastpunkt für das Abtasten des bidirektionalen seriellen Signals bestimmt und das Schrittsteuerungssignal anzeigt, daß die Übung erfolgreich abgeschlossen wurde.
  37. Diagnoseeinrichtung nach einem der Ansprüche 21 bis 36, wobei der Diagnoseschaltkreis eines oder mehrere der folgenden aufweist: (i) eine oder mehrere Abtastketten, die in der Weise betreibbar sind, daß sie Diagnosedaten von dem Funktionsschaltkreis aufnehmen, (ii) eine oder mehrere Abtastketten, die in der Weise betreibbar sind, daß sie Diagnosedaten auf den Funktionsschaltkreis anwenden bzw. diesem zuführen, und (iii) einen oder mehrere Buszugriffsschaltkreise für das Debugging, welche in der Weise betreibbar sind, daß sie innerhalb des Funktionsschaltkreises eine Kommunikation über einen Bus bereitstellen.
  38. Diagnoseeinrichtung nach einem der Ansprüche 21 bis 37, wobei der Schnittstellenschaltkreis betreibbar ist: (i) in einem Taktmodus, in welchem die Kommunikation durch ein getrenntes Taktsignal, welches durch den integrierten Schaltkreis verwendet wird, getaktet wird, und (ii) in einem nicht-getakteten Modus, in welchem die Kommunikation in Abhängigkeit von Übergängen, die in dem bidirektionalen seriellen Signal erfaßt werden, getaktet wird.
  39. Diagnoseeinrichtung nach Anspruch 38, wobei in dem Taktmodus die Kommunikation durch ein Taktsignal getaktet wird, welches ein Vielfaches eines Taktsignals ist, das durch den integrierten Schaltkreis verwendet wird.
  40. Diagnoseeinrichtung nach den Ansprüchen 38 und 39, wobei der Schnittstellenschaltkreis in der Weise betreibbar ist, daß er in dem nicht-getakteten Modus auslöst und auf den getakteten Modus umschaltbar ist.
  41. Verfahren zum Kommunizieren innerhalb eines Diagnoseschaltkreises, der in der Weise arbeiten kann, daß er Diagnoseoperationen mit einem Funktionsschaltkreis innerhalb eines integrierten Schaltkreises ausführt, wobei das Verfahren die Schritte aufweist: Verwenden eines bidirektionalen seriellen Signals, um zu übertragen: (i) Steuersignale von einer externen Diagnoseeinrichtung an den Diagnoseschaltkreis, um die Diagnoseoperationen des Diagnoseschaltkreises zu steuern, und (ii) Diagnosedaten zwischen der externen Diagnoseeinrichtung und dem Diagnoseschaltkreis, dadurch gekennzeichnet, daß in einem Übungsmodus ein Übungssignal einer vorbestimmten Form von der externen Diagnoseeinrichtung unter Verwendung des bidirektionalen seriellen Signals gesendet wird, um zeitgerechte Abtastpunkte zum Abtasten des bidirektionalen seriellen Signals zu bestimmen.
  42. Verfahren nach Anspruch 41, wobei der Diagnoseschaltkreis in der Weise betreibbar ist, daß er eine oder mehrere der folgenden Operationen ausführt: Debugging-Operationen, Herstellungstestoperationen, Herstellungsprogrammieroperationen, und Herstellungskonfigurationsoperationen.
  43. Verfahren nach den Ansprüchen 41 und 42, wobei das bidirektionale serielle Signal so betrieben werden kann, daß es ein Reset-Signal von der externen Diagnoseeinrichtung an den Diagnoseschaltkreis kommuniziert, weil das Reset-Signal so funktionsfähig ist, daß es den Diagnoseschaltkreis zurücksetzt.
  44. Verfahren nach Anspruch 43, wobei das Reset-Signal aufweist, daß die externe Diagnoseeinrichtung das bidirektionale serielle Signal für eine vorbestimmte Reset-Dauer auf einem vorbestimmten Reset-Niveau hält.
  45. Verfahren nach einem der Ansprüche 41 bis 44, wobei das bidirektionale Signal in der Weise betrieben werden kann, daß es Schrittsteuerungssignal von dem Diagnoseschaltkreis an die externe Diagnoseeinrichtung kommuniziert, wobei das Schrittsteuerungssignal in der Weise funktionsfähig ist, daß es anzeigt, ob der Diagnoseschaltkreis für die Kommunikation bereit ist oder nicht.
  46. Verfahren nach einem der Ansprüche 41 bis 45, wobei das bidirektionale serielle Signal in der Weise betreibbar ist, daß es ein Schrittsteuerungssignal von dem Diagnoseschaltkreis an die externe Diagnoseeinrichtung kommuniziert, wobei das Schrittsteuerungssignal so funktionieren kann, daß es anzeigt, ob der Diagnoseschaltkreis eine Operation abgeschlossen hat oder nicht.
  47. Verfahren nach den Ansprüchen 45 oder 46, wobei das bidirektionale serielle Signal ein serielles Signalprotokoll hat, daß unterschiedliche Zeitfenster (Time Slots) zum Kommunizieren unterschiedlicher Signale hat, wobei der Diagnoseschaltkreis das bidirektionale seri elle Signal während eines Zeitfensters für ein Schrittsteuerungssignal bzw. auf ein vorbestimmtes Schrittsteuerungsniveau bringt.
  48. Verfahren nach einem der Ansprüche 41 bis 47, wobei das bidirektionale serielle Signal ein serielles Signalprotokoll hat, welches unterschiedliche Zeitfenster für das Kommunizieren unterschiedlicher Signale hat, wobei das bidirektionale serielle Signal in der Weise betrieben werden kann, daß es ein Startsignal kommuniziert, welches den Beginn eines Frames aus seriellen Daten anzeigt, wobei das Startsignal das auf ein vorbestimmtes Startniveau gesteuerte bidirektionale serielle Signal ist, um ein Zeitfenster für eine Startsignal zu definieren.
  49. Verfahren nach Anspruch 48, wobei die Kommunikation durch die externe Diagnoseeinrichtung im Leerlauf gehalten wird, indem das bidirektionale serielle Signal auf einem Niveau gehalten wird, welches gegenüber dem vorbestimmten Startniveau unterschiedlich ist, wodurch das Zeitfenster für das Startsignal verzögert wird, bis sich das bidirektionale serielle Signal auf das vorbestimmte Startniveau geändert hat, worauf ein nächster Frame aus Daten kommuniziert wird.
  50. Verfahren nach einem der Ansprüche 41 bis 49, wobei das bidirektionale serielle Signal ein serielles Signalprotokoll hat, das unterschiedliche Zeitfenster für das Kommunizieren unterschiedlicher Signale hat, wobei das bidirektionale serielle Signal in der Weise betreibbar ist, daß es ein Stopsignal kommuniziert, welches das Ende eines Frames aus seriellen Daten anzeigt, wobei das Stopsignal das während eines Stopsignalzeitfensters auf ein vorbestimmtes Stopniveau getriebene bidirektionale serielle Signal ist.
  51. Verfahren nach einem der Ansprüche 41 bis 50, wobei die Kommunikation in einem nichtgetakteten Modus in Abhängigkeit von Übergängen getaktet wird, die innerhalb des bidirektionalen seriellen Signals erfaßt werden.
  52. Verfahren nach einem der Ansprüche 50 oder 51, wobei der Diagnoseschaltkreis den Empfang eines ersten Teils des Stopsignals verwendet, um einen Abbruch von Diagnosevorgängen anzuzeigen.
  53. Verfahren nach einem der Ansprüche 50 bis 52, wobei der Diagnoseschaltkreis den Empfang eines zweiten Teils des Stopsignals verwendet, um den Empfang des Frames aus seriellen Daten durch den Diagnoseschaltkreis zu bestätigen.
  54. Verfahren nach Anspruch 41, wobei der Schnittstellenschaltkreis das Auslösen des Übungs- bzw. Trainingsmodus bewirkt.
  55. Verfahren nach Anspruch 54, wobei das Auslösen auf ein Reset des Schnittstellenschaltkreises folgt.
  56. Verfahren nach einem der Ansprüche 45 und 55, wobei in einem Übungsmodus ein Übungssignal einer vorbestimmten Form, welches von der externen Diagnoseeinrichtung gesendet wird, den zeitgerechten Abtastpunkt für das Abtasten des bidirektionalen seriellen Signals bestimmt und das Schrittsteuerungssignal anzeigt, daß die Übung erfolgreich abgeschlossen wurde.
  57. Verfahren nach einem der Ansprüche 51 bis 56, wobei der Diagnoseschaltkreis eines oder mehrere der folgenden aufweist: (i) eine oder mehrere Abtastketten, die in der Weise betreibbar sind, daß sie Diagnosedaten von dem Funktionsschaltkreis aufnehmen, (ii) eine oder mehrere Abtastketten, die in der Weise betreibbar sind, daß sie Diagnosedaten auf den Funktionsschaltkreis anwenden bzw. diesem zuführen, und (iii) einen oder mehrere Buszugriffsschaltkreise für das Debugging, die in der Weise betreibbar sind, daß sie innerhalb des Funktionsschaltkreises eine Kommunikation über einen Bus bereitstellen.
  58. Verfahren nach einem der Ansprüche 41 bis 57, wobei (i) in einem getakteten Modus die Kommunikation durch ein separates Taktsignal, welches durch den integrierten Schaltkreis verwendet wird, getaktet wird, und (ii) in einem nicht getakteten Modus die Kommunikation in Abhängigkeit von Übergängen getaktet wird, die innerhalb des bidirektionalen seriellen Signals erfaßt werden.
  59. Verfahren nach Anspruch 58, wobei in dem getakteten Modus die Kommunikation durch ein Taktsignal getaktet wird, welches ein Vielfaches eines durch den integrierten Schaltkreises verwendeten Taktsignals ist.
  60. Verfahren nach den Ansprüchen 58 und 59, wobei das Initialisieren bzw. Auslösen in dem nicht-getakteten Modus erfolgt und in den getakteten Modus umschaltbar ist.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102015218959A1 (de) 2015-09-30 2017-03-30 Zf Friedrichshafen Ag Diagnose eines Steuergeräts

Families Citing this family (77)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7444571B1 (en) * 2003-02-27 2008-10-28 Marvell International Ltd. Apparatus and method for testing and debugging an integrated circuit
US7496818B1 (en) 2003-02-27 2009-02-24 Marvell International Ltd. Apparatus and method for testing and debugging an integrated circuit
US7216276B1 (en) 2003-02-27 2007-05-08 Marvell International Ltd. Apparatus and method for testing and debugging an integrated circuit
US7567592B2 (en) * 2003-05-01 2009-07-28 Genesis Microchip Inc. Packet based video display interface enumeration method
US7088741B2 (en) * 2003-05-01 2006-08-08 Genesis Microchip Inc. Using an auxilary channel for video monitor training
US20040221312A1 (en) * 2003-05-01 2004-11-04 Genesis Microchip Inc. Techniques for reducing multimedia data packet overhead
US7839860B2 (en) 2003-05-01 2010-11-23 Genesis Microchip Inc. Packet based video display interface
US8059673B2 (en) 2003-05-01 2011-11-15 Genesis Microchip Inc. Dynamic resource re-allocation in a packet based video display interface
US7405719B2 (en) * 2003-05-01 2008-07-29 Genesis Microchip Inc. Using packet transfer for driving LCD panel driver electronics
US7620062B2 (en) * 2003-05-01 2009-11-17 Genesis Microchips Inc. Method of real time optimizing multimedia packet transmission rate
US7733915B2 (en) 2003-05-01 2010-06-08 Genesis Microchip Inc. Minimizing buffer requirements in a digital video system
US6992987B2 (en) * 2003-05-01 2006-01-31 Genesis Microchip Inc. Enumeration method for the link clock rate and the pixel/audio clock rate
US7068686B2 (en) 2003-05-01 2006-06-27 Genesis Microchip Inc. Method and apparatus for efficient transmission of multimedia data packets
US7424558B2 (en) * 2003-05-01 2008-09-09 Genesis Microchip Inc. Method of adaptively connecting a video source and a video display
US8068485B2 (en) 2003-05-01 2011-11-29 Genesis Microchip Inc. Multimedia interface
US8204076B2 (en) 2003-05-01 2012-06-19 Genesis Microchip Inc. Compact packet based multimedia interface
US7800623B2 (en) 2003-09-18 2010-09-21 Genesis Microchip Inc. Bypassing pixel clock generation and CRTC circuits in a graphics controller chip
US7487273B2 (en) * 2003-09-18 2009-02-03 Genesis Microchip Inc. Data packet based stream transport scheduler wherein transport data link does not include a clock line
US7634090B2 (en) * 2003-09-26 2009-12-15 Genesis Microchip Inc. Packet based high definition high-bandwidth digital content protection
US20050204221A1 (en) * 2004-03-15 2005-09-15 Swoboda Gary L. Apparatus and method for exchanging non-JTAG signals with a core processor during selected JTAG modes
DE102004016387A1 (de) * 2004-04-02 2005-10-27 Texas Instruments Deutschland Gmbh Schnittstellenschaltung für einen einzelnen Logik-Eingangspin eines elektronischen Systems
US7779321B2 (en) * 2004-12-02 2010-08-17 Texas Instruments Incorporated Entering command based on number of states in advanced mode
US8219863B2 (en) * 2004-12-02 2012-07-10 Texas Instruments Incorporated TAP state count specifying advanced mode command and command data
US7552360B2 (en) 2005-03-21 2009-06-23 Texas Instruments Incorporated Debug and test system with format select register circuitry
KR100688516B1 (ko) * 2005-01-11 2007-03-02 삼성전자주식회사 단일 라인을 이용한 직렬 데이터 통신 방법 및 그 장치
US7701240B2 (en) * 2005-03-04 2010-04-20 Arm Limited Integrated circuit with error correction mechanisms to offset narrow tolerancing
US7558984B2 (en) 2005-04-27 2009-07-07 Texas Instruments Incorporated Apparatus and method for test and debug of a processor/core having advanced power management
US7676698B2 (en) * 2005-04-27 2010-03-09 Texas Instruments Incorporated Apparatus and method for coupling a plurality of test access ports to external test and debug facility
US7536597B2 (en) * 2005-04-27 2009-05-19 Texas Instruments Incorporated Apparatus and method for controlling power, clock, and reset during test and debug procedures for a plurality of processor/cores
JP2009528535A (ja) * 2006-03-01 2009-08-06 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ Jtagインターフェースを用いた試験アクセス制御回路を有するic回路
US7533315B2 (en) * 2006-03-06 2009-05-12 Mediatek Inc. Integrated circuit with scan-based debugging and debugging method thereof
US7526693B1 (en) * 2006-03-09 2009-04-28 Semiconductor Components Industries, Llc Initial decision-point circuit operation mode
US7650546B2 (en) * 2006-03-17 2010-01-19 Alcatel Lucent Flexible JTAG architecture
KR100817031B1 (ko) * 2006-08-25 2008-03-26 주식회사 케이이씨 단선 직렬 통신 모듈
US7818641B2 (en) 2006-10-18 2010-10-19 Texas Instruments Incorporated Interface to full and reduce pin JTAG devices
US7870455B2 (en) * 2007-12-12 2011-01-11 Infineon Technologies Ag System-on-chip with master/slave debug interface
US8046650B2 (en) * 2008-03-14 2011-10-25 Texas Instruments Incorporated TAP with control circuitry connected to device address port
EP2105750B1 (de) * 2008-03-28 2011-01-19 Micronas GmbH Schaltungsanordnung, Vorrichtung bzw. Verfahren zum seriellen Senden von Daten über einen Anschlusskontakt
WO2009127902A1 (en) * 2008-04-15 2009-10-22 Freescale Semiconductor, Inc. Microcontroller device, microcontroller debugging device, method of debugging a microcontroller device, microcontroller kit.
US20090262667A1 (en) * 2008-04-21 2009-10-22 Stmicroelectronics, Inc. System and method for enabling topology mapping and communication between devices in a network
US20100183004A1 (en) * 2009-01-16 2010-07-22 Stmicroelectronics, Inc. System and method for dual mode communication between devices in a network
US8332641B2 (en) * 2009-01-30 2012-12-11 Freescale Semiconductor, Inc. Authenticated debug access for field returns
US8375250B2 (en) * 2009-03-04 2013-02-12 Infineon Technologies Ag System and method for testing a module
US8156238B2 (en) 2009-05-13 2012-04-10 Stmicroelectronics, Inc. Wireless multimedia transport method and apparatus
US8860888B2 (en) 2009-05-13 2014-10-14 Stmicroelectronics, Inc. Method and apparatus for power saving during video blanking periods
US8429440B2 (en) 2009-05-13 2013-04-23 Stmicroelectronics, Inc. Flat panel display driver method and system
US8760461B2 (en) * 2009-05-13 2014-06-24 Stmicroelectronics, Inc. Device, system, and method for wide gamut color space support
US8370554B2 (en) 2009-05-18 2013-02-05 Stmicroelectronics, Inc. Operation of video source and sink with hot plug detection not asserted
US8582452B2 (en) 2009-05-18 2013-11-12 Stmicroelectronics, Inc. Data link configuration by a receiver in the absence of link training data
US8468285B2 (en) 2009-05-18 2013-06-18 Stmicroelectronics, Inc. Operation of video source and sink with toggled hot plug detection
US8291207B2 (en) 2009-05-18 2012-10-16 Stmicroelectronics, Inc. Frequency and symbol locking using signal generated clock frequency and symbol identification
US8638792B2 (en) 2010-01-22 2014-01-28 Synopsys, Inc. Packet switch based logic replication
US8397195B2 (en) * 2010-01-22 2013-03-12 Synopsys, Inc. Method and system for packet switch based logic replication
TWI476422B (zh) * 2010-02-12 2015-03-11 Synopsys Shanghai Co Ltd Scanning Chain Reconfiguration Method and Device Based on Bidirectional Optimization Selection in Entity Design
US8671234B2 (en) 2010-05-27 2014-03-11 Stmicroelectronics, Inc. Level shifting cable adaptor and chip system for use with dual-mode multi-media device
US8949756B2 (en) 2010-12-10 2015-02-03 Apple Inc. Debug access with programmable return clock
US8781807B2 (en) * 2011-01-28 2014-07-15 Raymond E. Floyd Downhole sensor MODBUS data emulator
US10642709B2 (en) * 2011-04-19 2020-05-05 Microsoft Technology Licensing, Llc Processor cache tracing
US8732526B1 (en) * 2011-06-24 2014-05-20 Maxim Integrated Products, Inc. Single-wire data interface for programming, debugging and testing a programmable element
CN102662782B (zh) * 2012-04-17 2014-09-03 华为技术有限公司 一种监控系统总线的方法及装置
KR101910972B1 (ko) * 2012-10-24 2018-10-23 삼성전자주식회사 연료 전지 시스템 및 그것을 제어하는 전자 기기
US20150019775A1 (en) * 2013-03-14 2015-01-15 Microchip Technology Incorporated Single Wire Programming and Debugging Interface
DE102016109387A1 (de) 2015-05-26 2016-12-01 Samsung Electronics Co., Ltd. Ein-Chip-System mit Taktverwaltungseinheit und Verfahren zum Betreiben des Ein-Chip-Systems
KR102384347B1 (ko) 2015-05-26 2022-04-07 삼성전자주식회사 클록 관리 유닛을 포함하는 시스템 온 칩 및 그 동작방법
TWI625534B (zh) * 2015-12-21 2018-06-01 瑞昱半導體股份有限公司 透過掃描測試的掃描鏈所執行的除錯方法及相關電路系統
US10067814B2 (en) 2016-04-28 2018-09-04 International Business Machines Corporation Method and system to decrease measured usage license charges for diagnostic data collection
US20180052203A1 (en) * 2016-08-22 2018-02-22 Prateek Sikka Method for enabling cpu-jtag debugger connection or improving its performance for multi-clock designs running on fpga or emulation systems
JP6342028B1 (ja) 2017-03-13 2018-06-13 三菱電機株式会社 車両用交流発電機の発電制御装置
TWI639847B (zh) * 2017-06-27 2018-11-01 Powerchip Technology Corporation 積體電路晶片及其檢查方法
US10361838B2 (en) * 2017-07-27 2019-07-23 Texas Instruments Incorporated Two-wire communication interface system
US11681843B2 (en) * 2018-01-17 2023-06-20 Siemens Industry Software Inc. Input data compression for machine learning-based chain diagnosis
US10963328B2 (en) 2018-09-05 2021-03-30 Mikroelektronika D.O.O. WiFi programmer and debugger for microcontroller and method thereof
US11119966B2 (en) * 2018-09-07 2021-09-14 Qualcomm Incorporated Mixed-mode radio frequency front-end interface
CN109857082B (zh) * 2018-12-29 2021-12-07 盛瑞传动股份有限公司 自动变速器诊断方法及装置
CN110032482A (zh) * 2019-04-11 2019-07-19 盛科网络(苏州)有限公司 片上调试装置和方法
CN113010344B (zh) * 2019-12-19 2022-10-11 瑞昱半导体股份有限公司 联合测试工作组存取接口装置、主机端以及目标系统
CN112527710B (zh) * 2020-12-17 2023-07-25 西安邮电大学 一种jtag数据捕获分析系统

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2768910B2 (ja) 1995-02-27 1998-06-25 日本モトローラ株式会社 半導体集積装置におけるスキャンテスト回路
GB9622683D0 (en) * 1996-10-31 1997-01-08 Sgs Thomson Microelectronics Message protocol
GB9622682D0 (en) 1996-10-31 1997-01-08 Sgs Thomson Microelectronics An integrated circuit device and method of communication therewith
US5842007A (en) * 1996-12-26 1998-11-24 Northern Telecom Limited Method and system for transferring high level control messaging framing and payload data in a serial stream in a communications system
US6041406A (en) * 1997-04-08 2000-03-21 Advanced Micro Devices, Inc. Parallel and serial debug port on a processor
US20020108011A1 (en) 2000-12-11 2002-08-08 Reza Tanha Dual interface serial bus
US6968472B2 (en) * 2002-04-22 2005-11-22 Silicon Labs Cp. Inc. Serial data interface

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102015218959A1 (de) 2015-09-30 2017-03-30 Zf Friedrichshafen Ag Diagnose eines Steuergeräts
US11293971B2 (en) 2015-09-30 2022-04-05 Zf Friedrichshafen Ag Diagnosis of a control device

Also Published As

Publication number Publication date
TWI285303B (en) 2007-08-11
IL167671A (en) 2009-09-22
CN100487472C (zh) 2009-05-13
EP1613971A1 (de) 2006-01-11
AU2003267574A1 (en) 2004-11-19
US20060242501A1 (en) 2006-10-26
CN1764847A (zh) 2006-04-26
JP3761562B1 (ja) 2006-03-29
WO2004095041A1 (en) 2004-11-04
TW200422811A (en) 2004-11-01
JP2006514296A (ja) 2006-04-27
KR20060009260A (ko) 2006-01-31
US7412633B2 (en) 2008-08-12
EP1613971B1 (de) 2007-07-11
DE60314915D1 (de) 2007-08-23
US7197680B2 (en) 2007-03-27
MY138464A (en) 2009-06-30
KR100981997B1 (ko) 2010-09-13
US20040210805A1 (en) 2004-10-21
RU2005132166A (ru) 2006-02-10

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