DE69636335T2 - Integrierte Schaltungspackung und Verfahren zu ihrem Zusammenbau - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 26
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 68
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 68
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 29
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 15
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 13
- 238000011049 filling Methods 0.000 claims description 6
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 claims description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 33
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 16
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 14
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 9
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 5
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 4
- 238000011161 development Methods 0.000 description 4
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 3
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 2
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 238000005058 metal casting Methods 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 241000511976 Hoya Species 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 238000010125 resin casting Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000005368 silicate glass Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
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-
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- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/16—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits
- H01L25/167—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different main groups of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. forming hybrid circuits comprising optoelectronic devices, e.g. LED, photodiodes
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/93—Batch processes
- H01L24/95—Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
- H01L24/97—Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0203—Containers; Encapsulations, e.g. encapsulation of photodiodes
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/93—Batch processes
- H01L2224/95—Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips
- H01L2224/97—Batch processes at chip-level, i.e. with connecting carried out on a plurality of singulated devices, i.e. on diced chips the devices being connected to a common substrate, e.g. interposer, said common substrate being separable into individual assemblies after connecting
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01004—Beryllium [Be]
-
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01005—Boron [B]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01027—Cobalt [Co]
-
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01033—Arsenic [As]
-
- H—ELECTRICITY
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01057—Lanthanum [La]
-
- H—ELECTRICITY
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01078—Platinum [Pt]
-
- H—ELECTRICITY
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01082—Lead [Pb]
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/095—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00 with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials provided in the groups H01L2924/013 - H01L2924/0715
- H01L2924/097—Glass-ceramics, e.g. devitrified glass
- H01L2924/09701—Low temperature co-fired ceramic [LTCC]
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/12—Passive devices, e.g. 2 terminal devices
- H01L2924/1204—Optical Diode
- H01L2924/12041—LED
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/12—Passive devices, e.g. 2 terminal devices
- H01L2924/1204—Optical Diode
- H01L2924/12042—LASER
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- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/14—Integrated circuits
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- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15313—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a land array, e.g. LGA
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/156—Material
- H01L2924/15786—Material with a principal constituent of the material being a non metallic, non metalloid inorganic material
- H01L2924/15787—Ceramics, e.g. crystalline carbides, nitrides or oxides
-
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- H01L2924/181—Encapsulation
-
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- H01L33/483—Containers
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Description
- HINTERGRUND DER ERFINDUNG
- Gebiet der Erfindung
- Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf eine Einheit für integrierte Schaltungen und deren Herstellungsverfahren.
- Verwandter Stand der Technik
- Um einen IC-Chip auf einer Schaltungsplatine herzustellen, wird der IC-Chip zuerst in einer harzversiegelten Einheit unter Verwendung eines Führrahmens, wie jene gemäß den
1 bis5 gezeigten, oder in einer Einheit mit einem hohlen Abschnitt, wie jene gemäß6 gezeigte, hergestellt. - Das gemäß den
1 bis5 gezeigte Herstellungsverfahren für harzversiegelte Einheiten ist nachstehend beschrieben. - Zuerst werden Fotosensor-IC-Chips auf einem Führrahmen platziert (gemäß
1 gezeigt), der aus einer dünnen Metallplatte besteht, auf der ein vorbestimmtes Schaltungsmuster durch Pressen oder Ätzen gebildet wird, es werden Verbindungen unter Verwendung von Bonding-Drähten5 hergestellt (gemäß2 gezeigt), und es werden die Fotosensor-IC-Chips mit einem transparenten, wärmehärten den Harz6 umgossen (gemäß3 gezeigt). Danach werden Leitungen geschnitten und in eine vorbestimmte Konfiguration geformt (gemäß4 gezeigt). Dieses Verfahren wird weithin eingesetzt, da eine Massenproduktion möglich und ein Verlöten mit einer Schaltungsplatine vergleichsweise einfach ist. - Um einen ein Fotosensorelement aufweisenden IC zu verpacken, wird ein lichtdurchlässiges Element
9 wie gemäß5 gezeigt gebondet, um Schäden an einer Lichteinfallebene vorzubeugen und um unnötige Lichtreflexion zu beseitigen (japanische Patentoffenlegung Anmeldungs-Nr. 63-21878). - Zur Herstellung der gemäß
6 gezeigten Einheit wird ein Fotosensor-IC-Chip4 in einem hohlen Abschnitt10 eines Keramik- oder Harzgusses platziert, werden Verbindungen unter Verwendung von Bonding-Drähten hergestellt, und wird der hohle Abschnitt10 mit einem lichtdurchlässigen Element9 bedeckt, um ihn hermetisch zu versiegeln. Anhand dieser Struktur muss eine Bonding-Zugabe zum Aufrechterhalten der hermetischen Versiegelung ausgebildet werden, was zu einer großen Einheitsgröße führt. - Die Druckschrift JP-62-043139 offenbart eine Halbleitervorrichtung, die ein Leitungsmuster aufweist, das aus einem Oberflächenmuster, das auf der peripheren Fläche eines Chipträgers gebildet ist, einem Seitenflächenmuster, das mit eine näherungsweise halbkreisförmige Form aufweisenden Durchgangslöchern gebildet ist, und einem Rückflächenmuster besteht.
- Die Druckschrift JP-63-021878 offenbart eine optische Halbleitervorrichtung zum Vereinheitlichen eines elektrischen Signals, das durch eine Vielzahl von optischen Re zeptoren durch Bonden eines aus Glas oder lichtdurchlässigem Harz hergestellten Elements an die lichtdurchlässige Oberfläche eines Versiegelungsprofils mit einem lichtdurchlässigen Harz oder einer anderen Art von lichtdurchlässigem Harz erhalten wird.
- Die Druckschrift EP-A-0 689 245 fällt unter die Bestimmungen von Artikel 54(3) EPÜ und offenbart eine elektronische Vorrichtung einer leitungslosen Einheitsart, die ein rechteckiges Substrat enthält, das eine Vielzahl von externen Elektroden in dessen Peripherie, ein elektronisches Element, das auf der Oberfläche des Substrats platziert ist, während es elektrisch mit den externen Elektroden verbunden ist, und ein Gussharz zum Umgießen des Elements auf der Oberfläche des Substrats aufweist, wobei die Oberfläche des Gussharzes gebildet ist, um flach zu sein, und jede Seitenoberfläche des Gussharzes und jede Seitenoberfläche des Substrats dieselbe Oberfläche aufweisen. Die Offenbarung dieser Druckschrift ist lediglich für die Benennungsstaaten Deutschland, Frankreich und Großbritannien der vorliegenden Patentanmeldung relevant.
- Die Druckschrift US-A-5,098,630 offenbart ein Verfahren zum Gießen einer Festkörperbildaufnahmevorrichtung mit einem Halbleiterchip, eine Einheit mit einer Aussparung, in der der Halbleiterchip fixiert ist, und einem transparenten Schutzelement zum Schützen einer Bildaufnahmeoberfläche des Halbleiterchips und Führen eines Lichtbilds auf die Bildaufnahmeoberfläche. Die Anordnung dieser Druckschrift erfordert jedoch eine Gussform, und es werden Führbeine jeweils in in der Basis gebildete Löcher eingeführt.
- Diese herkömmlichen Verfahren sind mit verschiedenen zu lösenden Problemen assoziiert. Es sind beispielsweise teure Metallgussformen erforderlich, die für jede Art von Einheit ausgebildet werden müssen. Die Produktion von verschiedenen Arten von Einheiten erfordert eine immense Investition in Einrichtungen. Es nimmt viel Zeit in Anspruch, um einen Satz zu vollenden, der neue Metallgussformen erfordert. Führungen werden wahrscheinlich zerstört, abhängig davon, wie mit der Einheit umgegangen wird. Ein zusätzlicher Prozess zum Bonden des lichtdurchlässigen Elements
9 ist erforderlich, und die Herstellungskosten steigen. - Eine Einheit einer führungslosen Struktur wurde unter Verwendung einer beidseitig bedruckten Schaltungsplatine anstelle eines Führrahmens vorgeschlagen (japanische Patentoffenlegung Anmeldungs-Nr. 2-2150). Dieses Verfahren verwendet jedoch Metallgussformen wie die vorstehend beschriebenen Verfahren, so dass es mit ähnlichen Problemen assoziiert ist.
- KURZFASSUNG DER ERFINDUNG
- Eine Aufgabe der Erfindung liegt im Bereitstellen einer IC-Einheit und von deren Herstellungsverfahren, das in der Lage ist, Metallgussformen einzusparen, für das sogar für eine Produktion von verschiedenen Arten von Einheiten keine immense Investition in Einrichtungen erforderlich ist, das für eine Massenproduktion mit niedrigen Herstellungskosten anwendbar ist, und das leicht einen IC-Chip mit einer Schaltungsplatine verlötet.
- Für die Benennungsstaaten Deutschland, Frankreich und Großbritannien wird diese Aufgabe erfindungsgemäß durch eine IC-Einheit gemäß Patentanspruch 1 und durch ein Verfahren des Herstellens einer IC-Einheit gemäß Patentanspruch 5 gelöst.
- Weitere vorteilhafte Entwicklungen sind in den abhängigen Patentansprüchen 2 bis 4 und 6 bis 8 dargelegt.
- Für den Benennungsstaat Italien wird diese Aufgabe erfindungsgemäß durch eine IC-Einheit gemäß Patentanspruch 1 und durch ein Verfahren des Herstellens einer IC-Einheit gemäß Patentanspruch 5 gelöst.
- Weitere vorteilhafte Entwicklungen sind in den abhängigen Patentansprüchen 2 bis 4 und 6 bis 20 dargelegt.
- Gemäß der Erfindung wird eine Vielzahl von Durchgangslöchern in einer Schaltungsplatine als externe Verbindungsanschlüsse anstelle einer Verwendung von herkömmlichen Leitungen verwendet. Deshalb sind keine Metallgussformen für Führrahmen erforderlich, die für jede Art von IC-Chips wie in herkömmlichen Fällen ausgebildet werden müssen.
- Da das Durchgangsloch mit einem Isolierfilm bedeckt oder mit einem leitenden Material gefüllt ist, fließt kein Harz durch das Durchgangsloch auf die Rückoberfläche des Substrats, und es ist nicht erforderlich, Metallgussformen zum Anhalten eines Harzflusses auszubilden.
- Da die Seitenwand des vertikal durchschnittenen Durchgangslochs oder das leitende Material in dem durchschnittenen Durchgangsloch als ein externer Verbindungsanschluss verwendet wird, werden Leitungen in geringerem Maße als herkömmliche Leitungen zerstört.
- Wird, falls erforderlich, transparentes Harz verwendet, und wird ein eine hohe Festigkeit aufweisendes, lichtdurchlässiges Element, wie Glas, auf dem transparenten Harz platziert, dann wird es möglich, Schäden auf der Oberfläche des transparenten Harzes vorzubeugen, und es wird leicht, eine optische Planheit zu bewahren. Eine IC-Einheit dieser Erfindung wird vorzugsweise für optische Halbleiterelemente, wie optische Sensoren, lichtemittierende Dioden und Halbleiterlaser verwendet.
- Da das lichtdurchlässige Element zum selben Zeitpunkt verklebt wird, zu dem das Harz aufgebracht und ausgeheilt wird, kann einem Ansteigen in der Anzahl von Prozessen vorgebeugt werden. Da außerdem keine zusätzliche Zugabe erforderlich ist, kann die äußere Abmessung der IC-Einheit klein realisiert werden.
- KURZBESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
- Es zeigen:
-
1 bis4 Draufsichten von Herstellungsprozessen gemäß herkömmlichen Techniken, -
5 eine Schnittzeichnung eines Herstellungsprozesses gemäß einer herkömmlichen Technik, -
6 eine Schnittzeichnung einer Einheit gemäß einer herkömmlichen Technik, -
7A und7B eine Perspektivansicht der Struktur einer IC-Einheit und eine Perspektivansicht einer Schaltungsplatine gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel der Erfindung, -
8 eine vertikale Schnittzeichnung der IC-Einheit, die entlang der Linie 8–8 gemäß7A genommen wurde, -
9A und9B eine Perspektivansicht und eine vergrößerte Teilansicht jeweils des Herstellungsprozesses für die IC-Einheit des ersten Ausführungsbeispiels, -
10A und10B eine Perspektivansicht und eine vergrößerte Teilansicht jeweils des Herstellungsprozesses der IC-Einheit des ersten Ausführungsbeispiels, -
11 und12 vergrößerte Teilansichten der Herstellungsprozesse für die IC-Einheit des ersten Ausführungsbeispiels, -
13A und13B eine Perspektivansicht der Struktur einer IC-Einheit und eine Perspektivansicht einer Schaltungsplatine gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung, -
14 eine vertikale Schnittzeichnung der IC-Einheit, die entlang der Linie 14–14 gemäß13A genommen wurde, -
15 eine Perspektivansicht der Struktur einer IC-Einheit gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel der Erfindung, -
16 eine vertikale Schnittzeichnung der IC-Einheit, die entlang der Linie 16–1b gemäß15 genommen wurde, -
17A und17B eine Perspektivansicht und eine vergrößerte Teilansicht jeweils des Herstellungsprozesses für die IC-Einheit des dritten Ausführungsbeispiels, -
18A und18B eine Perspektivansicht und eine vergrößerte Teilansicht jeweils des Herstellungsprozesses für die IC-Einheit des dritten Ausführungsbeispiels, -
19 bis22 Schnittzeichnungen der Herstellungsprozesse für die IC-Einheit des dritten Ausführungsbeispiels, -
23 eine Perspektivansicht einer IC-Einheit gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel der Erfindung, und -
24 eine schematische Schnittzeichnung einer Modifikation der gemäß13 gezeigten IC-Einheit. - AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSBEISPIELE
- Ausführungsbeispiele der Erfindung sind nachstehend ausführlich unter Bezugnahme auf die beiliegenden Zeichnungen beschrieben.
-
7A und7B zeigen eine Perspektivansicht der Struktur einer IC-Einheit und eine Perspektivansicht einer Schaltungsplatine gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel der Erfindung.8 zeigt eine vertikale Schnittzeichnung der IC-Einheit, die entlang der Linie 8–8 gemäß7A genommen wurde. - Gemäß
7A und7B und8 stellt Bezugszeichen1a eine Schaltungsplatine dar, auf der ein IC eines Halbleiterspeichers, eines Mikroprozessors, eines digitalen Signalprozessors, eines Fotosensors, eines Halbleiterlasers, einer LED oder dergleichen angebracht ist, stellt Bezugszeichen2 ein Schaltungsmuster dar, stellt Bezugszeichen3 einen Isolierfilm dar, stellt Bezugszeichen4 einen IC-Chip dar, stellt Bezugszeichen5 einen Bonding-Draht dar, und stellt Bezugszeichen6 ein Versiegelungsharz dar. Das Schaltungsmuster2 ist auf der Schaltungs platine1a gebildet und wird durch einen Aussparungsabschnitt2a , einen Anschlussabschnitt2b , einen IC-Chipanbringungsabschnitt2c und einen Verdrahtungsabschnitt2d zum Verbinden dieser Abschnitte dargestellt. Die Seitenwand des Aussparungsabschnittes2a ist mit einem verlötbaren Metall überzogen, so dass eine externe Schaltung elektrisch mit diesem gelöteten Bereich verbunden werden kann, der ein externer Verbindungsanschluss wird. Das Material der Schaltungsplatine1a kann Polyimid, Glasepoxidharz oder Keramik sein. In diesem Beispiel werden die Aussparungsabschnitte2a (die durch Durchschneiden der Schaltungsplatine entlang der Mittellinien der aufgereihten Durchgangslöcher gebildet sind) an allen vier Seiten der Schaltungsplatine1a gebildet. Die Aussparungsabschnitte2a können bei gewünschten Positionen abhängig von den Bedingungen von Verbindungen zu externen Schaltungen gebildet werden. Die Aussparungsabschnitte2a können beispielsweise lediglich längsseits der Schaltungsplatine1a einer rechteckigen Form gebildet sein. Nicht durchschnittene Durchgangslöcher können in der Schaltungsplatine1a belassen werden. - Das Herstellungsverfahren der IC-Einheit ist nachstehend unter Bezugnahme auf die
9A und9B bis12 beschrieben. - Zuerst wird eine Schaltungsplatine
1 ausgebildet, die mit einem vorgeschriebenen Schaltungsmuster2 die gemäß den9A und9B gezeigt gebildet wird.9A und9B zeigen eine Perspektivansicht und eine vergrößerte Teilansicht jeweils der Schaltungsplatine. Die Seitenwand eines jeden Durchgangslochs einer zylindrischen oder Prismaform, das in der Schaltungsplatine gebildet wurde, wurde mit verlötbarem Metall überzogen. Das Schaltungsmuster2 wird durch einen Durchgangslochabschnitt2a , einen Anschlussabschnitt2b , einen IC-Chipanbringungsabschnitt2c und einen Verdrahtungsabschnitt2d zum Verbinden dieser Abschnitte gebildet. Die Durchgangslöcher sind in einem Gittermuster angeordnet. - Als nächstes wird wie gemäß
10A und10B gezeigt ein Isolierfilm3 verklebt, der die Öffnungen aller Durchgangslöcher in der Schaltungsplatine1 bedeckt.10A zeigt eine Perspektivansicht der Schaltungsplatine1 , und10B zeigt eine vergrößerte Teilansicht davon (11 und12 zeigen lediglich die vergrößerten Teilansichten). Einige nicht erforderliche Bereiche des Isolierfilms3 können im Vorhinein in einer Gitterform durchschnitten werden, um die Bereiche der Anschlussabschnitte2b und IC-Chipanbringungsabschnitte2c freizulegen, oder es kann der Isolierfilm3 zuerst über die gesamte Oberfläche verklebt werden, und danach werden nicht erforderliche Bereiche entfernt. In diesem Ausführungsbeispiel wurden die nicht erforderlichen Bereiche durch die Prozesse der Maskenbelichtung und Entwicklung entfernt, nachdem ein fotosensitiver Fotolackfilm verklebt wurde. - Danach werden wie gemäß
11 gezeigt IC-Chips angebracht und mit dem Schaltungsmuster2 durch Bonding-Drähte5 durch ein Bonding-Verfahren oder dergleichen verbunden. - Als nächstes wird wie gemäß
12 gezeigt ein flüssiges Versiegelungsharz6 auf die Schaltungsplatine1 aufgebracht, um den IC-Chip4 und die Bonding-Drähte5 zu schützen. In diesem Fall tritt das Versiegelungsharz6 nicht in die Durchgangslöcher2a ein und fließt nicht auf die Rückoberfläche der Schaltungsplatine1 , da die Öffnungen der Durchgangslöcher mit dem Isolierfilm3 bedeckt sind. Es ist deshalb nicht erforderlich, den Aufbringbereich durch Verwenden einer Gussform, eines Gussrahmens oder dergleichen zu bestimmen. Obwohl in diesem Ausführungsbeispiel das Versiegelungsharz6 die gesamte Oberfläche der Schaltungsplatine1 bedeckt, kann es lediglich den IC-Chip4 und Bonding-Drähte5 bedecken. - Nachdem das Versiegelungsharz
6 durch Verbringen in Umgebungsatmosphäre, Erwärmen, ultravioletter Bestrahlung oder dergleichen ausgeheilt ist, wird die Schaltungsplatine1 entlang einer Linie durchschnitten, auf der Durchgangslöcher aufgereiht sind. In diesem Ausführungsbeispiel wird die Schaltungsplatine1 zusammen mit dem Versiegelungsharz6 entlang einer gemäß12 gezeigten Linie7 durchschnitten, um jene wie gemäß7A gezeigte führungslose Einheit zu erhalten, die Aussparungsabschnitte auf der Seitenwand und externe Verbindungsanschlüsse des Leitelements bei den Aussparungsabschnitten aufweist. Bei dem IC-Einheitsherstellungsverfahren dieses Ausführungsbeispiels, die auf der Schaltungsplatine angebrachten IC-Chips können, vor einem Abdecken der Öffnungen von Durchgangslöchern mit dem Isolierfilm, drahtgebondet werden. - Wie aus der vorstehenden Beschreibung offensichtlich, liegt eine Ausgestaltung der Erfindung darin, dass herkömmliche Schaltungsplatinenherstellungsprozesse ohne eine Verwendung von Metallgussformen für eine Harzversiegelung und Führrahmenherstellung verwendet werden können.
- Eine führlose Einheit dieser Struktur kann mit externen Schaltungen bei den Aussparungen
2a durch ein übliches Oberflächenanbringverfahren (Rückschmelzlötung oder dergleichen) verlötet werden, so dass ein Anbringen leicht und kosteneffizient ist. - Ist das Versiegelungsharz ein lichtdurchlässiges Epoxidharz, wie NT-8000 (Produktname), das durch die Nitto Electric Industry Co. Ltd. hergestellt wird, und werden IC-Chips von fotoaktiven Elementen verwendet, wie ein Fotosensor, eine lichtemittierende Diode, dann können optische Halbleitervorrichtungen ohne ein Verwenden von Metallgussformen hergestellt werden.
- Wie vorstehend beschrieben, kann gemäß dem ersten Ausführungsbeispiel eine Vielzahl von Durchgangslöchern in einer Schaltungsplatine als externe Verbindungsanschlüsse verwendet werden. Deshalb ist es nicht erforderlich, Metallgussformen für Führrahmen und eine Harzversiegelung für jede Art von IC-Chips auszubilden, wie in herkömmlichen Fällen.
- Dementsprechend ist keine immense Investition in Einrichtungen selbst für eine Produktion einer kleinen Anzahl von Produkten aus einer Vielfalt von Produktarten, und selbst für eine Massenproduktion mit niedrigen Herstellungskosten erforderlich.
- Da die Seitenwände der Aussparungen, die durch Durchschneiden der Schaltungsplatine entlang einer Linie von aufgereihten Durchgangslöchern freigelegt sind, als die externen Verbindungsanschlüsse verwendet werden, ist die mechanische Struktur robust, und es besteht eine geringere Bruchwahrscheinlichkeit.
- Als nächstes ist das zweite Ausführungsbeispiel der Erfindung nachstehend ausführlich unter Bezugnahme auf die beiliegenden Zeichnungen beschrieben.
-
13A und13B zeigen eine Perspektivansicht der Struktur einer IC-Einheit und eine Perspektivansicht einer Schaltungsplatine gemäß dem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung.14 zeigt eine vertikale Schnittzeichnung der IC-Einheit, die entlang der Linie 14–14 gemäß13A genommen wurde. - In
13A und13B und14 stellt Bezugszeichen1a eine Schaltungsplatine dar, auf der ein IC eines Halbleiterspeichers, eines Mikroprozessors, eines digitalen Signalprozessors, eines Fotosensors, eines Halbleiterlasers, einer LED oder dergleichen angebracht ist, stellt Bezugszeichen2 ein Schaltungsmuster dar, stellt Bezugszeichen3 einen Isolierfilm dar, stellt Bezugszeichen4 einen IC-Chip dar, stellt Bezugszeichen5 einen Bonding-Draht dar, stellt Bezugszeichen6 ein Versiegelungsharz dar und stellt Bezugszeichen9 ein lichtdurchlässiges Element dar. Das Schaltungsmuster2 ist auf der Schaltungsplatine1a gebildet und wird durch einen Aussparungsabschnitt (Durchgangslochabschnitt)2a , einen Anschlussabschnitt2b , einen IC-Chipanbringungsabschnitt2c und einen Verdrahtungsabschnitt2d zum Verbinden dieser Abschnitte dargestellt. Die Seitenwand des Aussparungsabschnittes2a ist mit einem verlötbaren Metall überzogen, so dass eine externe Schaltung elektrisch mit diesem verlöteten Bereich verbunden werden kann, der ein externer Verbindungsanschluss wird. Die Aussparungsabschnitte sind durch Durchschneiden der Schaltungsplatine entlang der Mittellinien der aufgereihten Durchgangslöcher gebildet. -
15 zeigt eine Perspektivansicht der Struktur einer IC-Einheit gemäß dem dritten Ausführungsbeispiel der Erfindung.16 zeigt eine vertikale Schnittzeichnung der IC-Einheit, die entlang der Linie 16-16 gemäß15 genommen wurde. - In
15 und16 stellt Bezugszeichen1a eine Schaltungsplatine dar, auf der ein IC eines Halbleiterspeichers, eines Mikroprozessors, eines digitalen Signalprozessors, eines Fotosensors, eines Halbleiterlasers, einer LED oder dergleichen angebracht ist, stellt Bezugszeichen2 ein Schaltungsmuster dar, stellt Bezugszeichen3 einen Isolierfilm dar, stellt Bezugszeichen4 einen IC-Chip dar, stellt Bezugszeichen5 einen Bonding-Draht dar, stellt Bezugszeichen6 ein Versiegelungsharz dar und stellt Bezugszeichen9 ein lichtdurchlässiges Element dar. Das Schaltungsmuster2 ist auf der Schaltungsplatine1a gebildet und wird durch einen Durchgangslochabschnitt2a , einen Anschlussabschnitt2b , einen IC-Chipanbringungsabschnitt2c und einen Verdrahtungsabschnitt2d zum Verbinden dieser Abschnitte dargestellt. Der Durchgangslochabschnitt2a ist mit einem leitenden Material3a derart gefüllt, dass eine externe Schaltung elektrisch mit diesem leitenden Material durch Verlöten verbunden werden kann, wobei das leitende Material ein externer Verbindungsanschluss wird. - Das Material der Schaltungsplatine
1a kann Polyimid, Glasepoxidharz oder Keramik sein. In dem zweiten und dritten Ausführungsbeispiel werden Durchgangslochabschnitte2a an allen vier Seiten der Schaltungsplatine1a gebildet. Die Durchgangslochabschnitte2a können bei gewünschten Positionen abhängig von den Bedingungen von Verbindungen zu externen Schaltungen gebildet werden. Es können beispielsweise die Durchgangslochabschnitte2a lediglich längsseits der Schaltungsplatine1a einer rechteckigen Form gebildet werden. Nicht durchschnittene Durchgangslöcher können in der Schaltungsplatine1a belassen werden. - Das Herstellungsverfahren der IC-Einheit ist nachstehend unter Bezugnahme auf
17A bis22 beschrieben. Bei diesem Verfahren wird beispielbezogen ein IC eines Fotosensors als ein optisches Halbleiterelement verwendet. - Zuerst wird eine Schaltungsplatine ausgebildet, die mit einem vorgeschriebenen Schaltungsmuster
2a wie gemäß17A und17B gezeigt gebildet ist.17A und17B zeigen eine Perspektivansicht und eine vergrößerte Teilansicht jeweils der Schaltungsplatine. Die Seitenwand eines jeden Durchgangslochs, das in der Schaltungsplatine gebildet ist, wurde mit verlötbarem Metall überzogen. Das Schaltungsmuster2 wird durch einen Durchgangslochabschnitt2a , einen Anschlussabschnitt2b , einen IC-Chipaufbringabschnitt2c und einen Verdrahtungsabschnitt2d zum Verbinden dieser Abschnitte dargestellt. - Als nächstes werden alle Durchgangslöcher in der Schaltungsplatine
1 mit leitendem Material3a wie gemäß19 gezeigt gefüllt, oder werden mit einem Isolierfilm3b bedeckt.18A zeigt eine Perspektivansicht der Schaltungsplatine, die mit den Isolierfilmen bedeckt ist, und18B zeigt eine vergrößerte Schnittteilansicht der Schaltungsplatine.19 zeigt eine vergrößerte Schnittteilansicht der Schaltungsplatine mit Durchgangslöchern, die mit einem leitenden Material gefüllt sind (20 bis22 zeigen lediglich die vergrößerte Schnittteilansicht). Obwohl die Durchgangslöcher, nach einem Überziehen, mit dem leitenden Material3a gefüllt sind, können sie durch denselben einzelnen Prozess gefüllt werden. Beim Abdecken der Durchgangslöcher mit dem Isolierfilm3b können einige nicht erforderliche Bereiche des Isolierfilms3b im Vorhinein durchschnitten werden (beispielsweise in einer Gitterform) oder er kann zuerst über die gesamte Oberfläche verklebt werden, und danach werden nicht erforderliche Bereiche entfernt. In diesem Ausführungsbeispiel wurden die nicht erforderlichen Bereiche durch die Prozesse einer Maskenbelichtung und Entwicklung entfernt, nachdem ein fotosensitiver Fotolackfilm verklebt wurde. In20 bis22 ist zur Vereinfachung der Zeichnungen die Schaltungsplatine mit mit dem leitenden Material3a gefüllten Durchgangslöchern ausgelassen, und lediglich die den Isolierfilm3b verwendende Schaltungsplatine ist gezeigt. Es werden dieselben Prozesse für beide Arten von Schaltungsplatinen durchgeführt. - Danach werden wie gemäß
20 gezeigt IC-Chips angebracht und mit dem Schaltungs- oder Leitungsmuster2 durch Bonding-Drähte5 durch ein Drahtbondingverfahren oder dergleichen verbunden. - Als nächstes wird wie gemäß
21 gezeigt flüssiges Versiegelungsharz6 auf die Schaltungsplatine1 aufgebracht, um den IC-Chip4 und die Bonding-Drähte5 zu schützen. Da in diesem Fall die Öffnungen der Durchgangslöcher mit dem leitenden Material3a (nicht gezeigt) gefüllt sind oder mit dem Isolierfilm3 bedeckt sind, dringt das Versiegelungsharz6 nicht in die Durchgangslöcher2a ein und fließt nicht auf die Rückoberfläche der Schaltungsplatine1 . Es ist deshalb nicht erforderlich, den Aufbringbereich durch Verwenden einer Gussform, eines Gussrahmens oder dergleichen zu bestimmen. - Es wird wie gemäß
22 gezeigt vor einem Ausheilen des transparenten Harzes6 das lichtdurchlässige Element9 auf dem transparenten Harz6 parallel zu der Schaltungsplatine1 platziert, um dafür zu sorgen, dass die Lücke zwischen der Schaltungsplatine1 und dem lichtdurchlässigen Element9 mit dem transparenten Harz6 gefüllt sei. - Nachdem das transparente Harz
6 durch Verbringen in eine Umgebungsatmosphäre, Erwärmen, ultraviolette Strahlung oder dergleichen ausgeheilt ist, während die Lücke zwischen der Schaltungsplatine1 und dem lichtdurchlässigen Element9 durch Verwenden einer Schablone (nicht gezeigt) oder dergleichen konstant gehalten ist, wird die Schaltungsplatine1 entlang einer Linie durchschnitten, auf der Durchgangslöcher aufgereiht sind. In diesen Ausführungsbeispielen wird die Schaltungsplatine1 zusammen mit dem Versiegelungsharz6 und dem lichtdurchlässigen Element9 entlang einer Linie7 wie gemäß22 gezeigt durchschnitten, um jede führlose Einheit wie gemäß den13A bis14 des zweiten Ausführungsbeispiels gezeigt, und jede führlose Einheit, wie gemäß16 des dritten Ausführungsbeispiels gezeigt, zu erhalten. Bei dem Fotosensor-IC-Einheitsherstellungsverfahren dieses Ausführungsbeispiels können die auf der Schaltungsplatine angebrachten IC-Chips vor einem Füllen in den Öffnungen der Durchgangslöcher drahtgebondet werden. - Wie aus der vorstehenden Beschreibung offensichtlich, liegt eine Ausgestaltung der Erfindung darin, dass herkömmliche Schaltungsplatinenherstellungsprozesse ohne ein Verwenden von Metallgussformen für eine Harzversiegelung und eine Führrahmenherstellung verwendet werden können.
- Eine führlose Einheit dieser Struktur kann mit externen Schaltungen durch ein übliches Oberflächenaufbringverfahren (Aufschmelzlöten oder dergleichen) verlötet werden, so dass ein Aufbringen leicht und kosteneffizient ist.
- In den vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispielen wurde BT-Harz (Produktname), das durch die Mitsubishi Gas Chemical Co. Ltd. hergestellt wird, für die Schaltungsplatine
1 verwendet, wurde ein fotosensitiver Fotolackfilm für den Isolierfilm3b verwendet, wurden World Lock Nr. 801 SE-L und XVL-01L (Produktnamen), die durch die Kyoritsu Chemical Industry Co. Ltd. hergestellt wurden, als das transparente Harz6 verwendet, und wurde eine Phosporsilikatglasplatte als das lichtdurchlässige Element9 verwendet. Es war möglich, IC-Einheiten herzustellen, die hinsichtlich Wärmewiderstandsfähigkeit des Verlötens und der optischer Leistung hervorragend sind. - Wird ein Infrarotausschneidfilter, der aus CM-5000 (Produktname) hergestellt ist, das durch die HOYA CORP. hergestellt ist, anstelle des lichtdurchlässigen Elements
9 verwendet, dann kann die Spektralempfindlichkeit des Fotosensors eingestellt werden, um den Fotosensor mit gewünschten Eigenschaften zu bilden. Ist eine spezifische Farbe auszuschneiden, dann kann ein gefärbtes Harz oder lichtdurchlässiges Element verwendet werden. Im Falle eines kein Licht verwendenden ICs kann ein nichtlichtdurchlässiges Harz oder können andere Materialien verwendet werden. -
23 zeigt eine Perspektivansicht einer IC-Einheit gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel der Erfindung. - Als externe Verbindungsanschlüsse zu verwendende Aussparungen
2a sind auf vier Seiten einer Schaltungsplatine1a bereitgestellt. Es ist ein IC-Chip4 auf einem Chipanbringungsabschnitt2c auf der oberen Oberfläche der Platine1a angeordnet. - Bonding-Anschlüsse des IC-Chips
4 und Bonding-Anschlussbereiche eines Verdrahtungsmusters sind elektrisch durch Bonding-Drähte5 verbunden. - Die Länge des Verdrahtungsmusters
2d wurde verlängert, so dass eine Korrosion vermieden werden kann, die ansonsten durch ein Wasserfüllen verursacht wird, das durch die Ränder der IC-Einheit eindringt. Um ein längeres Verdrahtungsmuster in einem schmalen Raum anzulegen, ist das Verdrahtungsmuster2d wie gemäß23 gezeigt an mehreren Punkten umgelenkt. - Ein Wasserfüllen tritt entlang eines leitenden Verdrahtungsmusters in die Einheit auf. Wird deshalb die effektive Länge von dem externen Verbindungsanschluss
2a an bis hin zu dem Bonding-Anschlussbereich2b verlängert, dann kann die Lebensdauer der IC-Einheit verbessert werden. - Bezugszeichen
3b stellt einen Isolierfilm dar, Bezugszeichen6 stellt Harz dar und Bezugszeichen9 stellt ein Schutzelement dar. - In diesem Ausführungsbeispiel wird ein optisch aktives Element als der IC-Chip
4 verwendet, wurde transparentes Harz als das Harz6 ausgewählt und wurde ein lichtdurchlässiges starres Element als das Element9 ausgewählt. - Für die IC-Einheit, insbesondere eine ein optisch aktives Element verwendende IC-Einheit, ist es für die Dicke (Länge) von der Einheitsoberfläche an bis hin zu dem Lichtempfangsabschnitt (oder Lichtemittierabschnitt) erforderlich, vergleichsweise stark zu sein, um durch reflektiertes Licht nachteilhaft beeinflusst zu werden (japanische Patentoffenlegung Anmeldungs-Nr. 63-21878). In diesem Ausführungsbeispiel ist das Element
9 verklebt, um die Dicke zwischen der Oberfläche des Elements9 bis hin zu dem Lichtempfangsabschnitt4a zu verstärken. - Diese IC-Einheit kann durch das unter Bezugnahme auf
17A bis22 gezeigte Verfahren hergestellt werden. - Wird ein IC-Chip mit einer optischen Halbleitervorrichtung verwendet, dann kann ein Element mit dem Einheitsharz
6 verklebt werden, kann das Element9 verklebt werden, nachdem jede Einheit nach Ausheilen des Harzes durchschnitten wird, oder kann mit jedem ausgeheilten Harz verklebt werden, wonach jede Einheit durchschnitten wird. Daher können diese Verfahren einen Durchsatz verringern. Deshalb wird wie gemäß17A bis22 beschrieben, vorzugsweise nachdem das Element9 angeordnet ist, das Harz ausgeheilt, und dann werden das Element9 , das ausgeheilte Harz6 und die Schaltungsplatine1 zur selben Zeit durchschnitten. - Wie vorstehend beschrieben, kann erfindungsgemäß eine Vielzahl von Durchgangslöchern in einer Schaltungsplatine als externe Verbindungsanschlüsse verwendet werden. Deshalb ist es nicht erforderlich, Metallgussformen für Führrahmen und Harzversiegelung für jede Art von IC-Chips auszubilden, wie in herkömmlichen Fällen. Dementsprechend ist keine immense Investition in Einrichtungen selbst für eine Produktion aus einer kleinen Anzahl von Produkten einer Vielzahl von Produktarten und selbst für eine Massenproduktion mit niedrigen Herstellungskosten erforderlich.
- Da keine Verlötzugabe für das lichtdurchlässige Element erforderlich ist, kann die äußere Abmessung der IC-Einheit sehr klein realisiert werden.
- Da die Seitenwände der Aussparungen, die durch Durchschneiden der Schaltungsplatine entlang einer Linie von aufgereihten Durchgangslöchern freigelegt werden, als die externen Verbindungsanschlüsse verwendet werden, ist die mechanische Struktur robust und es besteht eine geringere Bruchwahrscheinlichkeit.
Claims (18)
- IC-Einheit mit: einem Substrat (
1a ), das eine Hauptoberfläche aufweist, wobei in dem Substrat eine Aussparung (2a ) gebildet ist, die sich entlang einer Seite des Substrats in einer Dickenrichtung von der Hauptoberfläche zu einer entgegengesetzten Oberfläche des Substrats erstreckt, einem IC-Chip (4 ), der auf der Hauptoberfläche des Substrats (1a ) angebracht ist, einem leitenden Abschnitt, der in der Aussparung (2a ) zur Verwendung als ein externer Verbindungsanschluss für den IC-Chip (4 ) gebildet ist, Harz (6 ), das auf dem Substrat (1a ) über der Aussparung (2a ) gebildet ist und den IC-Chip (4 ) versiegelt, und einem Isolierfilm (3 ), der zwischen dem Harz (6 ) und der Aussparung (2a ) oder einem die Aussparung (2a ) füllenden, leitenden Material (3a ) gebildet ist, wobei der Isolierfilm (3 ) die Öffnungen der Aussparungen (2a ) derart bedeckt oder das leitende Material (3a ) die Aussparungen (2a ) derart füllt, dass weder der Isolierfilm (3 ) noch das Harz (6 ) den in der Aussparung (2a ) gebildeten, leitenden Abschnitt in der Dickenrichtung des Substrats (1a ) bedecken, wobei eine obere Oberfläche des Harzes (6 ) flach ist, wobei ein starres Element (9 ) auf dem Harz (6 ) angeordnet ist, und wobei die Peripherie des Harzes (6 ) und die Peripherie des starren Elements (9 ) an Seitenoberflächen des Substrats (1a ) miteinander bündig sind. - IC-Einheit gemäß Anspruch 1, wobei die gesamte Hauptoberfläche des Substrats (
1a ) mit dem Harz versiegelt ist. - IC-Einheit gemäß Anspruch 1, wobei der Isolierfilm (
3 ,3b ) lediglich eine Öffnung der Aussparung (2a ) und deren umgebenden Bereich bedeckt. - IC-Einheit gemäß Anspruch 1, wobei das Substrat (
1a ) ein Schaltungsmuster (2 ) aufweist, das einen Anschlussabschnitt (2b ) zur elektrischen Verbindung mit dem IC-Chip (4 ), einen IC-Chip-Anbringungsabschnitt (2c ) und einen Verdrahtungsabschnitt (2d ) zur Verbindung des Anschlussabschnitts (2b ) und des IC-Chip-Anbringungsabschnitts (2c ) mit dem leitenden Abschnitt enthält. - Verfahren zum Aufbauen einer IC-Einheit mit den Schritten: Bilden eines Substrats (
1a ), das eine Vielzahl von Durchgangslöchern (2a ) von einer Hauptoberfläche zu einer entgegengesetzten Oberfläche des Substrats aufweist, Bereitstellen eines leitenden Abschnitts in den Durchgangslöchern (2a ), Bedecken der Öffnungen von jedem Durchgangsloch (2a ) zu der Hauptoberfläche durch einen Isolierfilm (3 ,3b ) derart, oder Füllen der Durchgangslöcher (2a ) mit einem leitenden Material (3a ) derart, dass der Isolierfilm (3 ,3b ) nicht den in den Durchgangslöchern (2a ) gebildeten, leitenden Abschnitt in der Dickenrichtung des Substrats (1a ) bedeckt, Anbringen von einem oder mehreren IC-Chips (4 ) auf der Hauptoberfläche des Substrats (1a ), und elektrisches Verbinden des IC-Chips (4 ) und der Durchgangslöcher (2a ), Bilden eines starren Elements auf dem Harz derart, dass die Peripherie des Harzes und die Peripherie des starren Elements an Seitenoberflächen des Substrats miteinander bündig sind, und Versiegeln des Substrats (1a ) mit dem darauf angebrachten IC-Chip (4 ) und Isolierfilm (3 ,3b ) derart, oder Füllen der Durchgangslöcher (2a ) mit einem Harz (6 ) derart, dass eine obere Oberfläche des Harzes (6 ) flach ist, so dass das Harz (6 ) nicht den in den Durchgangslöchern (2a ) gebildeten, leitenden Abschnitt in der Dickenrichtung des Substrats (1a ) bedeckt, und Schneiden des Substrats (1a ) mit dem darauf angebrachten IC-Chip (4 ) zum Freilegen der Seitenwand jedes Durchgangslochs (2a ), um dadurch Aussparungen (2a ) in dem Substrat (1a ) zu bilden, die sich entlang einer Seite des Substrats (1a ) in einer Dickenrichtung von der Hauptoberfläche zu der entgegengesetzten Oberfläche des Substrats (1a ) erstrecken. - Verfahren gemäß Anspruch 5, wobei der Schritt des elektrischen Verbindens des IC-Chips mit den Durchgangslöchern ein Drahtbinden zwischen dem IC-Chip (
4 ) und mit den Durchgangslöchern verbundenen Anschlussabschnitten (2b ) durchführt. - Verfahren gemäß Anspruch 5, wobei der IC-Chip ein optisch aktives Element aufweist und das Harz (
6 ) lichtdurchlässiges Harz ist. - Verfahren gemäß Anspruch 5, wobei die Vielzahl von Durchgangslöchern (
2a ) in einer Gitterform angeordnet ist. - IC-Einheit gemäß Anspruch 1, wobei die Aussparung (
2a ) eine gekrümmte Oberfläche aufweist. - IC-Einheit gemäß Anspruch 1, wobei die Aussparung (
2a ) von einer Form eines Zylinderschnitts ist. - IC-Einheit gemäß Anspruch 1, wobei die Aussparung (
2a ) von einer Form eines Prismaschnitts ist. - IC-Einheit gemäß Anspruch 1, wobei die Aussparung (
2a ) ein geschnittenes Durchgangsloch ist. - IC-Einheit gemäß Anspruch 1, wobei der IC-Chip (
4 ) ein optisch aktives Element ist, und das Harz (6 ) transparent ist und ein auf dessen Oberfläche gebildetes, lichtdurchlässiges Element (9 ) aufweist. - IC-Einheit gemäß Anspruch 1, wobei an der Oberfläche des Harzes (
6 ) ein lichtdurchlässiges Element (9 ) angebracht ist, das im Wesentlichen den gleichen Bereich wie jener des Substrats (1a ) aufweist. - Verfahren gemäß Anspruch 5, wobei der IC-Chip (
4 ) ein optisch aktives Element ist, das Harz (6 ) transparent ist, und das Verfahren ferner den Schritt des Bildens eines lichtdurchlässigen Elements (9 ) auf dem Harz (6 ) umfasst. - Verfahren gemäß Anspruch 5, wobei das starre Element (
9 ) auf dem geheilten Harz gebildet wird. - Verfahren gemäß Anspruch 5, wobei nachdem das starre Element (
9 ) auf dem Harz angebracht ist, das Harz (6 ) geheilt und das Substrat (1a ) geschnitten wird. - Verfahren gemäß Anspruch 5, wobei nachdem das starre Element (
9 ) auf dem Harz angebracht ist, sowohl das Substrat (1a ) als auch das Harz (6 ) geschnitten werden.
Applications Claiming Priority (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22529795 | 1995-09-01 | ||
JP22529695 | 1995-09-01 | ||
JP22529795 | 1995-09-01 | ||
JP22529695 | 1995-09-01 | ||
JP22807996 | 1996-08-29 | ||
JP22807996A JP3507251B2 (ja) | 1995-09-01 | 1996-08-29 | 光センサicパッケージおよびその組立方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE69636335D1 DE69636335D1 (de) | 2006-08-24 |
DE69636335T2 true DE69636335T2 (de) | 2007-08-09 |
Family
ID=27331024
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE69636335T Expired - Lifetime DE69636335T2 (de) | 1995-09-01 | 1996-08-30 | Integrierte Schaltungspackung und Verfahren zu ihrem Zusammenbau |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6383835B1 (de) |
EP (1) | EP0790653B1 (de) |
JP (1) | JP3507251B2 (de) |
DE (1) | DE69636335T2 (de) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6962829B2 (en) * | 1996-10-31 | 2005-11-08 | Amkor Technology, Inc. | Method of making near chip size integrated circuit package |
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US7041527B2 (en) * | 1997-07-29 | 2006-05-09 | Harvatek Corp. | Charge coupled device package |
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- 1996-08-30 US US08/707,046 patent/US6383835B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-08-30 DE DE69636335T patent/DE69636335T2/de not_active Expired - Lifetime
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition |