DE69831728D1 - Vorspannungsvorrichtung für integrierte Speicherzellenstruktur - Google Patents

Vorspannungsvorrichtung für integrierte Speicherzellenstruktur

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DE69831728D1
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memory cell
cell structure
biasing device
integrated memory
integrated
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DE69831728T
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English (en)
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Giovanni Campardo
Stefano Zanardi
Maurizio Branchetti
Stefano Ghezzi
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STMicroelectronics SRL
Original Assignee
STMicroelectronics SRL
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10BELECTRONIC MEMORY DEVICES
    • H10B69/00Erasable-and-programmable ROM [EPROM] devices not provided for in groups H10B41/00 - H10B63/00, e.g. ultraviolet erasable-and-programmable ROM [UVEPROM] devices
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/205Substrate bias-voltage generators
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10012105B4 (de) * 2000-03-13 2007-08-23 Infineon Technologies Ag Verfahren zum Auslesen von nichtflüchtigen Halbleiter-Speicheranordnungen
FR2921756B1 (fr) * 2007-09-27 2009-12-25 Commissariat Energie Atomique Matrice de pixels dotes de regulateurs de tension.
FR2921788B1 (fr) 2007-10-01 2015-01-02 Commissariat Energie Atomique Dispositif microelectronique a matrice de pixels dote de moyens generateurs de compensation de chute ohmique sur des almentations
CN103109525B (zh) * 2008-10-08 2016-04-06 法国原子能委员会 一种矩阵微电子装置
US9779788B1 (en) * 2015-08-24 2017-10-03 Ambiq Micro, Inc. Sub-threshold enabled flash memory system

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4825142A (en) * 1987-06-01 1989-04-25 Texas Instruments Incorporated CMOS substrate charge pump voltage regulator
US5243559A (en) * 1990-12-12 1993-09-07 Nippon Steel Corporation Semiconductor memory device
US5461338A (en) * 1992-04-17 1995-10-24 Nec Corporation Semiconductor integrated circuit incorporated with substrate bias control circuit
JP3522788B2 (ja) * 1992-10-29 2004-04-26 株式会社ルネサステクノロジ 半導体集積回路装置
EP0714099A1 (de) * 1994-11-24 1996-05-29 STMicroelectronics S.r.l. Integrierte CMOS-Schaltung für niedrige Leistungsversorgung und mit geringem Leistungsverlust im Stand-by
JP3162264B2 (ja) * 1995-05-30 2001-04-25 シャープ株式会社 フラッシュメモリの書換え方法

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US6304490B1 (en) 2001-10-16

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